「microscope microscopy」を含む例文一覧(21)
- MICROSCOPY AND MICROSCOPE
顕微鏡法および顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE AND MICROSCOPY
顕微鏡および顕微鏡検査法 - 特許庁 - MICROSCOPE SYSTEM, MICROSCOPY AND STORAGE MEDIUM
顕微鏡システム、顕微鏡法、及び記憶媒体 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPE
走査型レーザ顕微法及び走査型レーザ顕微鏡 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR DETERMINING LIGHT POWER LEVEL, MICROSCOPE, AND METHOD FOR MICROSCOPY
光パワーレベルを決定するための装置、顕微鏡および顕微鏡法 - 特許庁 - To provide a microscope used for total reflection fluorescent microscopy(TIREM).
全反射蛍光検鏡(TIRFM)に使用するための顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD
走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME
電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁 - INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE
原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.
それ故、波長特異的位相顕微鏡検査を可能にするために有効な対物位相リングは、例えば、蛍光顕微鏡検査のような他の適用のための顕微鏡の一般的な使用法を阻害しない。 - 特許庁 - A SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) having a y-direction illumination light source and a z-direction detection light camera is disclosed.
ｙ方向の照明光源とｚ方向検出光カメラとを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁 - To remove a loss of exciting light or detection light in a main beam splitter, for a scanning microscopy and a confocal scanning microscope.
走査型顕微鏡法または共焦点走査型顕微鏡において、主ビームスプリッタでの励起光または検出光の損失を除去する。 - 特許庁 - An SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) has a y-direction illumination light source 4 and a z-direction detection light camera 16.
ｙ方向の照明光源４とｚ方向検出光カメラ１６とを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁 - To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope.
光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。 - 特許庁 - A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.
強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁 - To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.
共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁 - To provide microscopy and a microscope capable of observing desired information of samples with an extremely high S/N ratio in a short time without having to raise the intensity of a light source.
試料の所望の情報を、短時間で、しかも光源の強度を高くすることなく、極めて高いＳ／Ｎで顕微鏡観察できる顕微鏡法および顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.
電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁 - The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.
電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁 - This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.
第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁
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