「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 109 110 111 112 113 114 115 116 117 .... 179 180 次へ＞- To provide a laser scanning microscope capable of highly accurately detecting light from a sample while shortening a period of time required for scanning.
走査に要する時間を短縮しつつ、標本からの光を高感度に検出することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscopic optical system and microscope, capable of changing the focal distance of an imaging optical system, without having to replace an imaging lens.
結像レンズを交換することなく、結像光学系の焦点距離を変更可能な顕微鏡光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of highly accurately observing the internal structure of an observation sample having a non-linear optical effect.
非線形光学効果を有する観察試料の内部構造を高精度に観察することが可能な構成の顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - This is related to the manipulator for an optical instrument, especially for a particle optical instrument, especially a lens stop manipulator in an electron microscope or a sample manipulator.
本発明は光学機器、特に粒子光学機器用マニピュレータ、特に電子顕微鏡における絞りマニピュレータまたは試料マニピュレータに関する。 - 特許庁 - Besides, this microscope is constituted so that the axial line A of the first reflector 3 thereof forms an angle α deviated from the optical axis O and from 0°.
該望遠鏡は、望遠鏡第１のリフレクタ（３）の軸線（Ａ）が光軸（Ｏ）と０゜からずれた角度（α）を形成することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an optical element switching turret which can be attached to/detached from a microscope main body by easy operation regardless of condenser lens.
コンデンサレンズに拘わらずに、顕微鏡本体に対して簡単な操作で着脱できる光学要素切換ターレットを提供することを目的とする。 - 特許庁 - The height of the fine waving on the above waving is measured by using a three dimension surface structure analysis microscope and expressed by a coercivity curve.
うねり上に発生した微小うねりの高さは三次元表面構造解析顕微鏡を用いて測定され、粗さ曲線で示される。 - 特許庁 - The sample body 30 is set as a sample for an atomic force microscope, and the sample body 30 is moved in the Z-axis direction very slowly.
この様な試料体３０を原子間力顕微鏡の試料としてセットし、試料体３０をＺ軸方向に極めてゆっくり移動させる。 - 特許庁 - To provide a dyeing agent for electron microscope observation which indicates a high dyeing property over a wide application range, is easy to handle and improves safety.
適用範囲が広く高い染色性を示し、取り扱いが容易で安全性の高い電子顕微鏡観察用染色剤を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact transmission electron microscope allowing a fluorescent plate to be disposed on an optical axis of an electron beam and to be retreated from the electron beam optical axis.
蛍光板を電子線光軸上に配置および電子線光軸上から退避できるコンパクトな透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The electric microscope 1 includes an optical element switching device 31 that switches between observation cubes 29-1 and 29-2 disposed on an observation optical axis OA2.
電動顕微鏡１は、観察光軸ＯＡ２上に配置する観察キューブ２９−１，２を切り換える光学素子切換装置３１を備える。 - 特許庁 - To provide a compact and high-resolution objective lens for stereoscopic microscope inspection having not only a flat image plane but large work distance.
平坦な像面だけでなく大きな作業距離も併せ持つ、立体顕微鏡検査用のコンパクトで高解像度の対物レンズを提供する。 - 特許庁 - On the stage of visual field search, a client 11 can observe a scanning electronic microscope image to be changed with the passage of time by a terminal 6.
依頼者１１は視野探しの段階において、刻々と変化する走査電子顕微鏡画像を端末６によって観察することができる。 - 特許庁 - To provide an illuminating light radiation mechanism for an infrared microscope, which realizes accurate visible light observation without using a complicated optical system.
複雑な光学系を用いずに、正確な可視光観察を可能にする、赤外顕微鏡のための照明光照射機構を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope that accurately detects luminance at each point by eliminating interaction between the points where data are obtained from corresponding specimens.
データ取得を行う標本の点相互の影響を排除して個々の点の輝度を正しく検出する走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a dispenser-attached microscope in which a liquid such as a reagent can be dispensed on a specimen under observation without moving transmitted illumination.
透過照明を移動することなく観察中の試料に試薬等の液体を分注することができる分注付き顕微鏡の提供。 - 特許庁 - To enhance a through-put while restraining deterioration of measuring precision in height measurement carried out using a confocal scanning optical microscope.
共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う高さ測定における測定精度の劣化を抑制しつつスループットを向上させる。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope of high flexibility in a multi-beam scanning system by making programmable the number of irradiation spots and a pin hole size.
照射スポット数やピンホールサイズをプログラマブルにし、マルチビームスキャン方式において非常にフレキシビリティの高い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - In the etching process, the end point of the etching is controlled based on the result obtained by measuring the etching depth of the silicon substrate by an optical microscope.
エッチング工程では、光学顕微鏡によりシリコン基板のエッチング深さを測定した結果に基づいて、エッチングの終点を管理する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope of high stability which prevents a specimen from causing defocus and movement (drift) of an object point (object) during observation.
観測中に試料が焦点ボケを生じたり、物点（対象物）の移動（ドリフト）を起こさない安定性の高い光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a proper shading correction effects in correspondence flexibly to changes in the installation environment of a microscope system or illumination unevenness.
顕微鏡システムの設置環境または照明ムラの変化に柔軟に対応して、良好なシェーディング補正効果を得ることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a microscope, a position control method, and a position control program that are able to exert position control of a stage at a high speed and with a simple configuration.
簡易な構成で高速にステージの位置制御を行い得る顕微鏡、位置制御方法及び位置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of maintaining the amount of a liquid in a Petri dish to be approximately constant even when the liquid such as a culture medium is repeatedly discharged and injected.
培地等の液体の排出と注入を繰り返してもシャーレ内の液体の量を略一定に維持可能な顕微鏡システム。 - 特許庁 - By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.
保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope system enabling a user to easily observe a specimen by using an image obtaining means and an image display means.
画像取得手段および画像表示手段を用いて試料を容易に観察することができる光学顕微鏡システムを提供する - 特許庁 - To provide a withstand voltage optical fiber resistant to deterioration in insulation, as well as being heavily insulated for an ultra-high voltage electron microscope and realize a manufacturing method thereof.
絶縁劣化を起こし難く、高耐圧を有する超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a virtual microscope system capable of acquiring a photographed image of a dyed sample and a spectral statistical data in a short time.
染色標本を撮像した染色標本画像とスペクトルの統計データとを短時間で取得できるバーチャル顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - The present invention enables at least the partial automation of inspection which has been conducted by human eyes using a microscope.
本発明によれば、顕微鏡を使用して人間の目で検査が行われていた検査の少なくとも一部の自動化を可能とすることができる。 - 特許庁 - To provide a highly durable cantilever usable for a scanning type probe microscope for observing a minute object.
微細な対象物を観察する走査型プローブ顕微鏡に用いることができ、かつ、耐久性の高いカンチレバーを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a microscope and an operation method of the same to facilitate a positioning of a sample and focusing.
本発明では、標本の位置決めや焦点合わせがしやすい顕微鏡装置および顕微鏡装置操作方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The microscope lens barrel 10 is constituted so that a first position with the lowest ratio and a second position with the highest ratio are adjacent to each other.
さらに、顕微鏡鏡筒１０は、比率が最も低い第１の位置と比率が最も高い第２の位置が隣接するように構成される。 - 特許庁 - To provide an electron microscope achieving such a function that the position of a crossover can be freely adjusted while potentials of an extraction electrode and an acceleration electrode are fixed.
電子顕微鏡に於いて、引出電極や加速電極の電位を固定のままでクロスオーバの位置を自由に調整できる機能を実現する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional image construction method and a transmission electron microscope in which a three-dimensional image with better image quality than conventional arts can be obtained.
従来よりも像質の良い３次元像像を得ることができる３次元像構築方法および透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - As a focusing optical system adjusting device, a microscope object lens 21 is arranged opposing an exposure object lens 1 of the optical disk master exposure machine.
フォーカス光学系調整装置として、光ディスク原盤露光機の露光対物レンズ１に対向して、顕微鏡対物レンズ２１を配置する。 - 特許庁 - To provide a microscope stage by which a mechanism capable of smoothing micromovement and sustaining the operability thereof for a long period of time can be inexpensively obtained.
微少な移動がスムーズにでき、その操作性を長期に渡って持続できる機構を、安価にして得られる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁 - To provide a sample producing device for an electron microscope, capable of drying a sample without damaging the shape of the sample containing moisture.
水分を含有する試料の形態を損傷せずに試料を乾燥させることができる電子顕微鏡用試料作製装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a focusing device for measuring microscope capable of improving the operability of focusing, and preventing the contamination of a simple.
焦準に際し操作性の向上を図ると共に試料に対する汚染を防止できる測定顕微鏡の焦準装置を提供すること。 - 特許庁 - It is preferable that particulate iron having a particle diameter of ≥1 nm is not observed by microscopic observation with a transmission electron microscope (TEM).
好ましくは、透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）観察により、粒子径１ｎｍ以上の粒子状の鉄が観測されない多孔質構造体。 - 特許庁 - To provide a well plate, a biological microscope, and an organism observation apparatus capable of surely acquiring images by facilitating auto-focusing operations.
オートフォーカス動作を容易にして、画像を確実に取得することのできるウェルプレート、生物顕微鏡及び生物観察装置を提供する - 特許庁 - To provide a sample holder and a sample table that enable examination of the samples for examination, from many directions in the electron microscope.
電子顕微鏡内において観察対象となる試料を多方向から観察することができる試料ホルダーおよび試料台を提供する。 - 特許庁 - To facilitate the adjusting operation of a plurality of image forming positions by making a plurality of relay lens barrels common in the assembly stage of a microscope.
顕微鏡の組み立て工程において、複数のリレー鏡筒の共通化を図って複数の結像位置の調整作業が容易にする。 - 特許庁 - To provide the probe of a scanning probe microscope(SPM) having the channel structure of a field effect transistor formed at the tip thereof, and its fabricating method.
チップの先に電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM)の探針及びその製作方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce a Q value of resonance of a probe by taking Q/ω as a parameter into a design item in a scanning-type scanning probe microscope.
走査型走査探針顕微鏡においてパラメータとしてのＱ／ωを設計事項に取り入れてプローブの共振のＱ値を小さくする。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable securely positioning observation position of a sample without being affected by the size or weight of the sample.
標本の大きさや重さに影響されることなく標本の観察位置合わせを確実に行うことができる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.
構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁 - To make an illumination device common by easily optimizing an illuminating condition for each of a uniaxial microscope and a stereomicroscope.
単軸顕微鏡および実体顕微鏡のそれぞれに対し、容易に照明条件を最適化可能として装置の共通化を実現できること。 - 特許庁 - To provide a microscope which has the improved degree of freedom of microscopic observation, and can easily be applied to various microscopic method and made compact and lightweight.
観察の自由度が高く様々な顕鏡方法に簡単に対応でき、しかも小型、軽量化を実現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SENSITIVITY ADJUSTING METHOD FOR PHOTOMULTIPLIER, SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE INTRODUCING THE SAME METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING SENSITIVITY ADJUSTING PROGRAM
フォトマルチプライヤの感度調整方法、該感度調整方法を採用した走査型レーザ顕微鏡および感度調整プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide an autofocusing method which is capable of stably and efficiently detecting a focusing position under all conditions, and to provide a UV microscope.
あらゆる状況下で安定的に効率良く合焦位置を検出できる自動合焦方法及び紫外線顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of observation by a scanning probe microscope which allows the observation of the configuration and the dispersed state of particles such as powders.
粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。 - 特許庁
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