SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM APPLYING APPARATUS AND MICROSCOPING METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE 走査型荷電粒子線応用装置ならびにそれを用いた顕微方法および半導体装置製造方法 - 特許庁
Since the shading area 16c of the shading member 16 shades a part of lighting light for microscoping ophthalmic surgery corresponding to the position where the reflected images are observed. 遮光部材16の遮光領域16cは、上記反射像が観察される位置に対応する照明光の一部を遮光する。 - 特許庁