「minute object」を含む例文一覧(238)
＜前へ 1 2 3 4 5 次へ＞- To provide a simple and inexpensive minute angle detection sensor detecting a minute displacement angle of a detection object with high accuracy.
簡易かつ安価な構成で検出対象の微小な変位角度を高精度に検出することができる微小角度検出センサを提供すること。 - 特許庁 - To provide a manipulation method surely separating a minute object from the tip part of a probe without being influenced by conditions such as the size of the minute object and to provide a manipulation device.
微小物体の大きさ等の条件に影響されることなく、確実に微小物体をプローブの先端部から離脱させることができるマニピュレーション方法およびマニピュレーション装置を提供する。 - 特許庁 - In this conveyance roller arranging a plurality of minute projections biting on a surface layer of the conveyed object and using kicking-out force for the conveyed object as conveyance force of the conveyed object on a surface, height of the minute projections can be changed depending on a central part and both end parts of the conveyed object in the axial direction.
被搬送物表層に食い込み、被搬送物に対する蹴り出す力を、被搬送物の搬送力とする複数の微小突起を表面上に配する搬送ローラにおいて、前記微小突起の高さを、軸方向の被搬送物中央部と両端部とで変えることを特徴とする。 - 特許庁 - A set of the minute elements obtained by dividing an object of analysis is divided into a plurality of subset regions.
解析対象を微小要素に分割した集合を複数の部分集合領域に分割する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device capable of dealing with a minute component as an observation object.
観察対象となる微細部品を取り扱うことの可能な荷電粒子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁 - An infrared thermography device (1c) measures minute variation in temperature of the object to be measured (1b) to obtain temperature images of the object to be measured (1b).
赤外線サーモグラフィ装置（１ｃ）は、測定対象物（１ｂ）の微小な温度変化を測定し、測定対象物（１ｂ）の温度画像を得る。 - 特許庁 - To provide techniques of removing a minute foreign matter to efficiently remove a minute foreign matter in a recessed region on an object surface while giving no damage to the surface.
対象物表面の凹部領域内の微小異物を効率的に除去すると共に、表面を損傷することのない微小異物除去技術の提供を目的とする。 - 特許庁 - To execute ion beam machining by allowing a reference object to be always recognized in process of the machining to carry out accurate drift correction even when a minute hole or a minute pattern is used as the reference object in correcting the drift of an irradiation position of an ion beam using the reference object.
参照対象を用いてイオンビームの照射位置のドリフトを補正する際に、参照対象として微細穴や微細パターンを用いた場合でも、加工途中で参照対象を常に認識できるようにし、高精度のドリフト補正をし、イオンビーム加工を行なう。 - 特許庁 - To provide a dimension measuring method capable of accurately measuring a minute dimension of a pattern of an object to be measured, without damaging the measured object, and its instrument.
被測定物にダメージを与えず、正確に被測定物のパターンの微細寸法を測定することができる寸法測定方法とその装置を提供すること。 - 特許庁 - To accurately and easily allow the distance with an object to be measured to collide with a preset distance even if a measuring point or a measuring object is minute.
測定点や測定対象が微小な場合でも、測定対象との距離を予め設定された距離に正確に一致させることが容易に行える。 - 特許庁 - Thereby, the minute object attached to the tip part 10A of the probe 10 can surely be separated.
これにより、プローブ１０の先端部１０Ａに付着した微小物体を確実に離脱させることができる。 - 特許庁 - Further, a hole 41 of a level equivalent to minute surface defects of a checkup object is formed in advance in the calibration plate 40.
また、校正板４０には、検査対象の微小表面欠陥と同等レベルの穴４１を形成しておく。 - 特許庁 - An object lens 18 projects a light flux emitted by a light source 13 on a surface 23a to be inspected as a minute spot.
対物レンズ１８は、光源１３が発した光束を被検面２３ａ上に微小スポットとして投射する。 - 特許庁 - To provide a surface defect inspection method and apparatus capable of detecting a minute surface defect and setting and changing in accordance with the depth of the minute surface defect, a criterion for determining the quality of an object under test.
微細な表面欠陥を検出し、さらには微細な欠陥の深さに基づいて被検査物の良否の判定を設定、変更できる表面検査方法及び装置を得る。 - 特許庁 - Photographing timing of a plurality of arranged cameras is synchronized, images photographed with minute parallax and minute time difference are integrally analyzed to simultaneously detect the three-dimensional position and the speed of a target object.
配列した複数のカメラの撮影タイミングを同期させて、微小視差、微小時差で撮影した画像を統合的に分析して、対象物体の３次元位置と速度を同時に検出する。 - 特許庁 - To provide a colored object colored in metallic tone with minute concave and convex impression and its production process.
微小な凹凸感を有する金属調の着色が施された着色体とその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The microscope measuring apparatus carries out a spectroscopic measuring of reflected light from a minute spot imaged on the test object B.
被検体Ｂ上に結像した微小スポットからの反射光の分光測定を行う顕微鏡測定装置である。 - 特許庁 - The device is simplified and miniaturized compared with a conventional device which moves such a minute object by using laser light.
このような微小物体の運動をレーザー光を利用して行う従来の装置に比べ、装置が簡素化・小型化される。 - 特許庁 - Further a suction means Q3 for sucking the bottom part side of the minute object C via the opening 5d is provided.
また、上記開口５ｄを介して微小物体Ｃの底部側を吸引する吸引手段Ｑ３が設けられている。 - 特許庁 - An object lens 18 projects a light flux emitted by a light source 13 on a surface 23a to be inspected as minute beam light.
対物レンズ１８は、光源１３が発した光束を被検面２３ａ上に微小なビーム光として投射する。 - 特許庁 - The distribution information measuring means 111 measures the distribution information of a minute object formed on the surface of the photoreceptor.
分布情報測定手段１１１は、感光体の表面に形成されている微小物の分布情報を測定する。 - 特許庁 - While applying stress to the object to be measured, a Raman spectrum is measured and strain generated in a minute region of a component is measured.
被測定物に応力を付与しつつ、ラマンスペクトルを測定し、部品の微小領域に生じた歪を測定する。 - 特許庁 - To provide a novel tool for micromanipulation easily and positively manipulating a minute object.
微小な対象物に対して容易かつ確実に操作を行うことができる新規のマイクロマニピュレーション用ツールを提供する。 - 特許庁 - To provide a minute object detector capable of effectively aggregating minute objects at a sensor part and finely detecting the number of the minute objects without being affected by a detection environment such as the temperature or ion concentration of the solvent of an aqueous solution.
本発明は微小物体を効果的にセンサ部に凝集させ、水溶液の溶媒の温度やイオン濃度といった検出環境の影響を受けず、精密な微小物体数の検出が可能な微小物体検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a transferring mold which transfers a minute pattern to an object to be shaped by pussing it to the object and producing it with ease.
被成形対象に押し当てることによって前記被成形対象に微細なパターンを転写する転写用の型であって、製造が容易である転写用の型を提供する。 - 特許庁 - To reduce assembly man-hours and to obtain proper contact pressure against an object, by adapting to a minute pattern of the object or a signal electrode having many pins.
組み立て工数を削減すると共に被測定物の微細なパターンまたは多ピン化された信号電極に適応しかつ被測定物に対する適切な接触圧を得ること。 - 特許庁 - To reduce deterioration of a random pattern by friction or the like, in a system deciding authenticity of an inspection object by use of the minute random pattern of the surface of the inspection object.
検査対象物の表面の微細なランダムパターンを用いてその検査対象物の真贋を判定するシステムにおいて、摩擦等によるランダムパターンの劣化を低減する。 - 特許庁 - To provide a metal detector capable of stably and with high sensitivity detecting a minute metal in an object to be inspected, regardless of the moving speed of the object to be inspected.
被検査物の移動速度に関わらず被検査物中の微小な金属を安定して高感度で検出することができる金属検出装置を提供すること。 - 特許庁 - An object of evaluation is divided into minute elements and modeled (step S101), and the model is modally analyzed to find the characteristic frequency of the object (step S102).
評価対象物を微小要素に分割してモデル化し（ステップＳ１０１）、このモデルをモーダル解析して、評価対象物の固有振動数を求める（ステップＳ１０２）。 - 特許庁 - To provide a signal processing method for an output signal from a solid-state image pickup element, which can reduce a color error in a very minute object with high resolution and a contour of an object.
固体撮像素子からの出力信号に対する信号処理方法により、微細で高精細な被写体や被写体の輪郭部における色誤差を低減する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a microfabricated object having a minute rugged pattern on a curved surface such as a spherical surface and a columnar surface.
球面や円柱面などの曲面上に微細な凹凸パターンを有する微細加工体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a micromanipulator capable of easily and appropriately manipulating a minute object without complicating the entire part of the device.
装置全体を複雑にすることなく微小物体を容易かつ適切に操作することができるマイクロマニピュレータを提供する。 - 特許庁 - To provide a thickness measurement device accurately measuring thickness values of an object to be measured which has minute irregularities on its surface.
その表面に微細な凹凸を有する測定対象体の厚みを正確に測定し得る厚み測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnetic sensor that is light in weight and thin, and approaches an object and accurately detects a minute amount of machine displacement.
軽量で薄型にし、対象物に近接して高精度に微小な機械変位量を検出できる磁気センサを提供する。 - 特許庁 - The method for removing a minute foreign matter aims to remove a minute foreign matter 11 on the surface of an object 12 having a predetermined projections and recesses by using a fine needle-like body 10 having elastic force.
弾性力を有する微細針状体１０を用いて所定の凹凸部を有する対象物１２表面から微小異物１１を除去する微小異物除去方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of highly precisely detecting minute displacement and a minute displacement gauge which is small, low-cost, and with high sensitivity, even when the measurement object is a low reflecting or light-absorbing material.
測定対象物が低反射性或いは光吸収性材質の場合でも、その微小変位を高感度に検出する方法、および小型で安価な高感度微小変位計を提供する。 - 特許庁 - First, a minute foreign matter in a recessed region 12a of the object surface is detected, the minute foreign matter is pushed on the side to move by the fine needle-like body to be into contact with the side face 12b of the recessed region.
まず、対象物表面の凹部領域１２ａにある微小異物を検出し、微細針状体により微小異物を側方から押圧して移動し、凹部領域側面１２ｂに当接させる。 - 特許庁 - This microstructure transfer device transferring a minute pattern of a stamper to an object to be transferred by bringing the stamper with the minute pattern formed thereon into contact with the object to be transferred has a mechanism providing an elastic force distribution so that bubbles are led outside in the transfer region of the mimnute pattern in the object to be transferred.
本発明は、微細パターンが形成されたスタンパを被転写体に接触させ、被転写体にスタンパの微細パターンを転写する微細構造転写装置において、被転写体における微細パターンの転写領域で、前記の気泡を外部に導くような弾性力分布を持たせる機構とする。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for inspecting an object, particularly a small and long electrical object like a minute capacitor which is susceptible to damages during inspection process.
微小なコンデンサなどの対象物は、検査プロセス中に損傷することがあり、殊に小さくて長い電気的対象物などの対象物を検査するための装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To increase the dropping frequency per minute while a satisfactory drop impact is applied to an object in a machine such as a rice cake making machine adapted to apply a drop impact to the object to be denatured.
餅つき機などの落下衝撃を対象物に与えて変性させる機械装置において、対象物に充分な落下衝撃を与えつつ、毎分の落下回数を増大させる。 - 特許庁 - To provide a new device capable of independently and sensitively detecting each of plural minute records included in the object.
物体に含まれる複数の微小記録を各々独立して且つ高感度で検出することができる新規なデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a smooth surface inspection apparatus for avoiding a damage in an object to be measured and a slider, and detecting a minute defect.
測定対象物及びスライダの損傷を回避して、微小な欠陥を検出することが可能な平滑面検査装置を提供する。 - 特許庁 - To rapidly inspect shape defects in a minute pattern on a magnetic recording medium, formed from patterned media, that is an object of inspection.
被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。 - 特許庁 - OBSERVING DEVICE FOR MINUTE OBSERVATION OBJECT, HOLDING MEMBER USED FOR THE DEVICE, OBSERVATION SYSTEM AND OBSERVATION METHOD HAVING THE OBSERVATION DEVICE
微小観察対象物用の観察装置及びこれに用いる保持部材、並びにこの観察装置を備えた観察システム、観察方法 - 特許庁 - CAMERA EQUIPMENT ATTACHABLE/DETACHABLE ENLARGING DISPLAY UNIT, CAPSULE FOR OBSERVING MINUTE OBJECT USING SAME, ENLARGING DISPLAY UNIT, AND ENLARGING DISPLAY SYSTEM
カメラ機器が着脱する拡大表示器、及び該拡大表示器を用いた微小物観察用カプセル、拡大表示ユニット、拡大表示システム。 - 特許庁 - Object registering reference positions 12 are set at the printing object 1 and marks to be plate registering reference positions 22 are provided on the screen 2, while minute-diameter light sources 3 are provided between the printing object 1 and the screen 2 so that they can be projected and retracted.
印刷被写体１に被写体位置合せ基準位置１２を設定し、スクリーン２に版位置合せ基準位置２２となるマークを設け、印刷被写体１とスクリーン２との間に微小径光源３を出没自在に設ける。 - 特許庁 - An object OB2 different in rendering information (shading information) from that of an object OB1 is shifted upward from the object OB1 by a minute offset value OFS, and an image from a viewpoint V in an object space is produced while the negative image is deleted according to a Z-buffer method.
オブジェクトＯＢ１とはレンダリング情報（陰影づけ情報）が異なるオブジェクトＯＢ２を、ＯＢ１から上方向側に微少オフセット値ＯＦＳだけずらして配置し、Ｚバッファ法による陰面消去を行いながら、オブジェクト空間の視点ＶＰでの画像を生成する。 - 特許庁 - To provide inexpensively a method and a device for inspecting automatically the existence of minute irregularities on the surface of an inspection object having a non-mirror finished surface such as a rolled band steel, and to increase an object region where the minute irregularities are to be inspected in the whole length of the band steel.
圧延帯鋼のように非鏡面の表面を有する被検査体について、表面の微小凹凸の有無を自動的に検査する方法及び装置を安価に提供するとともに、帯鋼全長のうち微少凹凸を検査する対象領域を増大する。 - 特許庁 - To provide the method and device for arraying minute bodies by which a lot of minute bodies can closely be arrayed uniformly in the height direction with high efficiency to an object on which adhesive materials are arranged.
粘着材が配置された対象物に対して、多数の微小体を高さ方向を均一に隙間なく高い効率で配列することができる微小体の配列装置及び配列方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.
電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁
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