「multiprobe」を含む例文一覧(11)
- METHOD FOR MANUFACTURING MULTIPROBE
マルチプローブの製造方法 - 特許庁 - MULTIPROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
マルチプローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - DISPLACEMENT QUANTITY MEASURING INSTRUMENT USING MULTIPROBE AND DISPLACEMENT QUANTITY MEASURING METHOD USING IT
マルチプローブを用いた変位量測定装置及びそれを用いた変位量測定方法 - 特許庁 - MULTIPROBE PROVIDED WITH STIMULATION SUPPLY FUNCTION AND FUNCTION OF DETECTING PHYSICAL PHENOMENON OR CHEMICAL PHENOMENON BASED ON IT
刺激供給機能およびそれに基づく物理現象または化学現象の検出機能を有するマルチプローブ - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING NANOWIRE BY UTILIZING POROUS TEMPLATE, MULTIPROBE BY USING NANOWIRE, AND FIELD EMISSION-CHIP AND -ELEMENT
多孔性テンプレートを利用するナノワイヤの製造方法、ならびにナノワイヤを用いたマルチプローブ、電界放出チップおよび素子 - 特許庁 - To provide a multiprobe capable of supplying specified stimulation to an object and recognizing a physical phenomenon or a chemical phenomenon based on it.
対象物に特定の刺激を与え、それに基づく物理現象または化学現象を把握することが可能なマルチプローブを提供すること目的とする。 - 特許庁 - The electric characteristic judging apparatus (200) comprises a vacuum chuck (210) for retaining a bottom surface (205) of the semiconductor wafer (206), and a multiprobe holder (216) having a plurality of probes (218).
電気特性判定装置（２００）は、半導体ウェハ（２０６）の底面（２０５）を保持する真空チャック（２１０）と、複数のプローブ（２１８）を有するマルチプローブホルダ（２１６）とを備える。 - 特許庁 - To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.
マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF SURFACE CHARACTERISTIC AND ELECTRIC CHARACTERISTIC BY SCANNING PROBE AND APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF SURFACE CHARACTERISTIC AND ELECTRIC CHARACTERISTIC BY MULTIPROBE CONSTITUTED OF THEM AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR OBSERVATION
走査型プローブによる表面特性・電気的特性の検出装置と検出方法、およびこれらにより構成されたマルチプローブによる表面特性・電気的特性の検出装置と検出方法、並びに観察装置と観察方法 - 特許庁 - The multiprobe is provided with a plurality of probes formed by crystal growth with a semiconductor substrate 1 as a base, and the probe 2a having a stimulation supply function and a probe 2b having a function of detecting the physical phenomenon or the chemical phenomenon based on it are a part of components.
半導体基板１を下地として結晶成長させた突起（プローブ）を複数有するマルチプローブであって、刺激供給機能を有するプローブ２ａおよびそれに基づく物理現象または化学現象の検出機能を有するプローブ２ｂを構成要素の一部とすることを特徴とする。 - 特許庁 - The sensor of a multiprobe type is provided with a plurality of probes formed by crystal growth with a semiconductor substrate 1 as a base, and is provided with a function, with the biological sample as an object, of detecting the physical phenomenon or the chemical phenomenon on the surface or in the inside.
半導体基板１を下地として結晶成長させた突起（プローブ）２を複数有するマルチプローブタイプのセンサであって、生体試料を対象とし、その表面あるいは内部の物理現象または化学現象を検出する機能を有することを特徴とする。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
