「normal test」を含む例文一覧(521)

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  • Calc test, piano. normal day.
    数学テスト、ピアノ、つまり普通の日。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The blood test is normal.
    血液検査結果は正常です。 - Tanaka Corpus
  • The blood test is normal.
    血液検査結果は正常です。 - Tatoeba例文
  • The blood test shows that everything is normal.
    血液検査はすべて正常です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • To appropriately switch a normal mode and a test mode.
    通常モードとテストモードを適宜切り替える。 - 特許庁
  • The results of blood test results are normal.
    血液検査の結果の数値は正常値です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • The test path is constituted in parallel to the normal path.
    テスト・パスは通常パスと並列に構成されている。 - 特許庁
  • A functional block 12 has a normal operation mode and a test mode.
    機能ブロック１２は、通常動作モードおよびテストモードを有する。 - 特許庁
  • To provide a test method of a semiconductor device and a test board for the semiconductor device, capable of performing a normal mode operation test (16-bit operation test) and a test mode operation test (4-bit parallel test) by using the same test board.
    通常モード動作試験（１６ビットでの動作試験）と、テストモード動作試験（４ビットのパラレル試験）とを、同一の試験用ボードを用いて行うことができる半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁
  • The test is performed by the time element data of a time element table for a normal action at a normal time, and by the time element data of a time element table for the interlinking test which is shorter than the time element table for the normal action at the time of the interlinking test.
    通常時には通常動作用時素テーブルの時素データで、連動検査時には通常動作用時素テーブルに比較して短い連動検査用時素テーブルの時素データによって検査を行う。 - 特許庁
  • In the controller 7, a "normal"/"test" switching circuit 13 and a test apparatus 71 such as a simulation signal generator for a test are incorporated.
    制御装置７には「通常」／［テスト］の切替回路１３、試験用の模擬信号発生器などの試験装置７１が内蔵される。 - 特許庁
  • A memory cell block for the acceleration test and a memory cell block for a normal operation are prepared in the SRAM block to carry out the acceleration test and a normal operation in parallel.
    加速試験は、ＳＲＡＭブロック中に加速試験用のメモリセルブロックと通常動作用のメモリセルブロックを用意し、通常動作と並行して行う。 - 特許庁
  • A semiconductor memory device 2 has a normal mode and a test mode.
    半導体記憶装置２は動作モードとして通常モードとテストモードとを有する。 - 特許庁
  • In the nonvolatile semiconductor memory, any one of a normal mode and a test mode is selected and a normal mode voltage is supplied to a selected word line when the normal mode is selected; and also a test mode voltage lower than the normal mode voltage is supplied to the selected word line when the test mode is selected.
    通常モード及びテストモードのいずれか１を選択し、当該通常モードのときには通常モード電圧を選択ワード線へ供給し且つ当該テストモードのときには当該通常モード電圧よりも低いテストモード電圧を選択ワード線へ供給する不揮発性半導体メモリ。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit includes a test control circuit 101 for outputting a TEST signal, a test-mode-ready buffer circuit 111, and a normal output buffer circuit 113.
    ＴＥＳＴ信号を出力するテスト制御回路１０１と、テストモード対応バッファ回路１１１と、通常出力バッファ回路１１３とを具備する。 - 特許庁
  • When the consequence of this memory test is abnormal, the operation processing section 23 and the coincidence discriminating section 24 repeat the memory test until the consequence of the memory test becomes normal.
    このメモリテストの結果が異常の場合、演算処理部２３および一致判定部２４はメモリテストの結果が正常となるまでメモリテストを繰り返す。 - 特許庁
  • In normal operation mode, both the TEST 1 for a first measurement mode signal and the TEST 2 for a second test mode signal are set at a low level.
    通常動作モードにおいては、第１の測定モード信号ＴＥＳＴ１および第２のテストモード信号ＴＥＳＴ２をいずれもローレベルに固定する。 - 特許庁
  • A transmission test is started by sending a test request to a prescribed ATM transmission testing device during normal operation.
    通常の運用中、所定のＡＴＭ伝送試験装置に試験要求を出すことにより伝送試験が開始される。 - 特許庁
  • the normal range for a given test is based on test results for 95% of the healthy population.
    ある検査の正常範囲は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • sometimes patients whose test results are outside of the normal range may be healthy, and some patients whose test results are within the normal range may have a health problem.
    ときには、検査結果が正常範囲から外れた患者が健康であったり、正常範囲内の患者が健康上の問題を抱えていたりすることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • The same data input into the normal path is also input to the test buffer.
    通常のバッファに入力される同一のデータはテスト・バッファにも入力される。 - 特許庁
  • A test mode for performing data compression of test output data from a memory core part and transferring the test output data to a data input-output node 50 includes a normal mode and a fine mode, the degree of data compression of which is lower than that of the normal mode.
    メモリコア部からのテスト出力データをデータ圧縮した上でデータ入出力ノード５０へ伝達するテストモードは、通常モードと、通常モードよりもデータ圧縮度が低いファインモードとを含む。 - 特許庁
  • The fire alarm 3 outputs sound indicating a normal state when the operation is normal, and completes the operation confirmation test.
    火災警報器３は、正常動作である場合、正常状態を表現する音を出力し、動作確認テストを終了する。 - 特許庁
  • To input a test signal in small scale without providing a test signal line in addition to a normal operation line.
    テスト信号ラインを通常動作用のラインとは別に設けることなく、小規模でテスト信号を入力することを可能とする。 - 特許庁
  • The number of the master unit 1 and the slave units 3 capable of executing normal communication in the test communication is stored in cross-reference with the test communication number.
    試験通信において正常に通信できた親機１と子機３の番号を、試験通信番号対応に記憶する。 - 特許庁
  • Also, a connection test of each terminals can be performed by only terminals used for normal operation without providing an exclusive test terminal.
    また、専用の試験端子を設けることなく通常動作に使用する端子だけで各端子の接続試験が実行される。 - 特許庁
  • A normal function of the second water supply valve 5 can be confirmed by means of the second test switch 13.
    第２のテストスイッチ13で第２の給水弁５の正常な機能が確認できる。 - 特許庁
  • A normal function of the first water supply valve 4 can be confirmed by means of the first test switch 12.
    第１のテストスイッチ12で第１の給水弁４の正常な機能が確認できる。 - 特許庁
  • To perform simply and precisely a test to a device both in an abnormal mode and in a normal mode.
    デバイスに対するアブノーマルモード及びノーマルモードのテストを簡単且つ的確に行う。 - 特許庁
  • After that, the test objects are decided using both the "normal knowledge" and knowledge on defective kinds (S7).
    その後、正常知識と不良種類判別知識を用いて状態を判定する（Ｓ７）。 - 特許庁
  • When the result of the test for the external level is also normal , software migration is completed.
    外部レベルのテストの結果も異常無しであれば、ソフトウェアマイグレーションの完了となる。 - 特許庁
  • To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air.
    外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。 - 特許庁
  • In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.
    本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁
  • In other words, during the initial state, using normal knowledge produced from only the normal test objects data obtained are determined whether they match the normal state (S1 and S2).
    つまり、初期状態では正常状態のデータのみに基づいて生成された正常知識を用い、正常状態に合致するか否かの判定を行なう（Ｓ１，Ｓ２）。 - 特許庁
  • The BIST logic circuit is operated in a normal mode or a test mode in response to control data received through a system bus to output test result data in the test mode.
    ＢＩＳＴロジック回路は、システムバスを介して受信される制御データに応答してノーマルモードまたはテストモードで動作し、テストモードでテスト結果データを出力する。 - 特許庁
  • A normal scan test is carried out in the first test mode, and a BIST signal is output serially, from the serial access memory BIST circuit 3 in the second test mode.
    第１のテストモードでは通常のスキャンテストが行われ、第２のテストモードでは、シリアルアクセスメモリＢＩＳＴ回路３からＢＩＳＴ信号がシリアルに出力される。 - 特許庁
  • The starting node 2a discriminates, on the basis of a receiving status of the test light, whether or not conduction in the upstream direction is normal (S6), and starts transmission of the test light if normal (S8).
    始点ノード２ａは、テスト光の受信状況に基づいて上流方向の導通が正常であるか否かを判別し（Ｓ６）、正常である場合にテスト光の送信を開始する（Ｓ８）。 - 特許庁
  • In this accelerated weathering test method, the thermoplastic resin molding is irradiated with an ultraviolet ray emitted from a mercury lamp at a normal temperature under a normal pressure.
    水銀ランプから発せられる紫外線を熱可塑性樹脂成形品に、常温、常圧下で照射する促進耐候性試験方法。 - 特許庁
  • The first power supply circuit 101 includes a normal voltage generating circuit 111 for supplying the normal voltage to the internal power supply line 200 during the normal operation, and a test voltage generating circuit 112 for supplying a test voltage to the internal power supply line 200 during the test operation.
    第１の電源回路１０１は、通常動作時において内部電源配線２００に通常電圧を供給する通常電圧発生回路１１１と、テスト動作時において内部電源配線２００にテスト電圧を供給するテスト電圧発生回路１１２とを備えている。 - 特許庁
  • A test signal generation unit 600 generates a test signal having a level higher than a signal level of normal sensitivity of a reception circuit 330 by a prescribed level.
    テスト信号生成部600は、受信回路330の規定感度となる信号レベルより所定分高いレベルのテスト信号を生成する。 - 特許庁
  • The scan test register 104-106 has a function for transferring the content of data processing in serial at the time of test, in addition to the function of normal data processing.
    スキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６は通常のデータ処理の他に、テスト時にその内容をシリアルに転送する機能を持つ。 - 特許庁
  • To properly test a semiconductor memory even when the waveform of an input signal supplied to the semiconductor memory in a test is not normal.
    試験時に半導体メモリに供給される入力信号の波形が正常でないときにも、半導体メモリを正しく試験する。 - 特許庁
  • To make the normal shift to a test mode compatible with the prevention of overshooting and undershooting of an input signal in the normal mode in a semiconductor memory device having a normal mode and a test mode as the operation modes.
    通常モードおよびテストモードを動作モードとして有する半導体記憶装置において、通常モード時の入力信号のオーバーシュートおよびアンダーシュートを防ぐことと、テストモードへの正常な移行との両立可能を図る。 - 特許庁
  • The shift from the test mode to the normal operation is made by the switch provided on the main control board.
    テストモードから通常動作へは、メイン制御基板上に設けたスイッチによって移行させる。 - 特許庁
  • Normal read-out or write-in is performed based on the address for the first test by this application.
    この印加により、第１のテスト用アドレスに基づいて通常の読出または書込が行われる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device in which a mode is hard to be entered to a test mode in normal use.
    通常使用中にはテストモードにエントリーされにくい半導体装置を提供することにある。 - 特許庁
  • When the self-diagnostic test of the computer 1 is normal, the CPU 13 starts the computer 1.
    コンピュータ１の自己診断試験が正常な場合に、ＣＰＵ１３はコンピュータ１を起動させる。 - 特許庁
  • To easily discover failure of blazing jointing at an emboss portion by a normal leak test.
    通常の漏れ検査でエンボス部分でのロー付け接合の不良を容易に発見できるようにする。 - 特許庁
  • To continuously perform a test of a logic mixed memory in a spare column space and a normal column space.
    ロジック混載メモリの試験を、スペアコラム空間およびノーマルコラム空間で連続的に実行する。 - 特許庁
  • To easily test whether a flow of processing based on a program is normal or not.
    簡単にプログラムに基づく処理の流れが正常であるか否かを検査できるようにする。 - 特許庁
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