「observability」を含む例文一覧(25)
- TECHNIQUE AND DEVICE FOR SIMULATING VISUAL OBSERVABILITY
目視観測性模擬手法及び装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD OF ANALYZING HDL EVENT FOR OBSERVABILITY
可観測性についてＨＤＬイベントを分析するシステムおよび方法 - 特許庁 - METHOD FOR IMPROVEMENT OF OBSERVABILITY OF INTERNAL SIGNAL IN VLSI CHIP
ＶＬＳＩチップ内部信号の可観測性を改善するための方法 - 特許庁 - To improve observability and controllability of analog LSI in a test.
アナログＬＳＩの試験における観測性および制御性を向上させる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR VERSATILE CONTROLLABILITY AND OBSERVABILITY IN PROTOTYPE SYSTEM
プロトタイプシステムにおける汎用的な可制御性及び可観測性のための方法及び装置 - 特許庁 - To prevent observability from an opening part in a door trim pocket, and also to improve using convenience.
ドアトリム用ポケットにおける開口部からの視認を防止するとともに、使い勝手を向上させる。 - 特許庁 - To enhance a photon discharge responding to a signal, and to enhance signal observability for circuit analysis.
信号に応答するフォトン放出を増強し、回路分析のための信号の可観測性を増強する。 - 特許庁 - To provide a small reactor excellent in practicality in terms of adhesive strength, observability, non-impurities and pressure resistance.
接着力、観察性、無不純物、耐圧性の観点において実用性に優れた小型反応器を提供する。 - 特許庁 - To provide an endoscope with smooth insertion properties and good observability even in a narrow space in the body cavity.
良好な挿入性と、体腔内の狭い空間内における良好な観察性を得ることができる内視鏡を提供する。 - 特許庁 - To prevent both controllability and observability from being lowered in a scanning test, and to prevent a loop of test signals from being generated caused by a bidirectional terminal.
スキャンテスト時に制御性および観測性の双方の低下がない上に、双方向端子に起因するテスト信号のループの発生がないこと。 - 特許庁 - To provide an electronic endoscope apparatus of good observability and operability by reducing a noise in an observed image notable in a long hour exposure mode.
長時間露光モードにおいて顕著となる観察画像のノイズを低減し、観察性及び操作性のよい電子内視鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc.
可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - A method and a device which enhance photon emission, responding to the signal in an integrated circuit 110, are indicated for the observability of a signal state using PICA.
ＰＩＣＡを用いる信号状態の可観測性のために、集積回路１１０内の信号に応答するフォトン放出を増強する方法・配置が開示される。 - 特許庁 - To enhance visibility and observability for a user about notified information, and to easily change a content thereof.
通知情報に対するユーザーの視認性・注視性を高めることができるとともに、その内容の変更も容易に行うことができる通知情報表示方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce the power consumption of a logic circuit by making its clock gated, and to improve observability of a control circuit which outputs a clock enable signal in a scan test operation.
ゲーテッドクロック化により、論理回路の消費電力を低減するともに、スキャンテスト時において、クロックイネーブル信号を出力する制御回路の観測性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a flip-flop circuit where the controllability and observability of a signal at the time of a scan test is improved by making a latch circuit a scan flip-flop circuit.
ラッチ回路をスキャンフリップフロップ回路化することを可能にすることで、スキャンテスト時の信号の制御性および観測性を向上するフリップフロップ回路を得る。 - 特許庁 - To support an event of hardware design language (HDL) event hardware description language occurring during simulation of a hardware design in the state of real-time observability of a digital system.
デジタルシステムのリアルタイム可観測性の状況で、ハードウェア設計のシミュレーション中に発生するハードウェア設計言語（ＨＤＬ）イベントハードウェア記述言語のイベントをサポートする。 - 特許庁 - To provide a fog observation device and a fog observation method capable of acquiring a highly accurate observation result and a prediction result of fog, by utilizing wide area observability and three-dimensional observability which are characteristics of a meteorological radar device, and by adding also acquired information by a meteorological observation apparatus or the like except the meteorological radar device.
気象レーダ装置の特徴である、広域観測可能性、３次元的観測可能性を活かし、気象レーダ装置以外に得られる気象観測測器等による情報も加味しながら、精度の高い霧の観測結果及び予測結果を得ることができる霧観測装置及び霧観測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a favorably operatable endoscope apparatus with which a direction where the distal end portion of an endoscope is operated can be easily grasped without deteriorating the observability of the image of an observing location.
観察部位の画像の観察性を損ねることなく、内視鏡の先端部を操作する方向を容易に把握することができ、操作性のよい電子内視鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test facility analysis system for analyzing test facility by executing analysis of controllability/observability at a stage of hardware functional description without depending on architecture.
アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施することによりテスト容易性の解析を行うテスト容易性解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an analysis system for easy testability, which executes an analysis for the easy testability by implementing analysis for the controllability/observability in a stage for describing hardware not depending on an architecture.
アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施することによりテスト容易性の解析を行うテスト容易性解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor unit capable of reducing the number of pins in a package, capable of compatifying a size, and capable of enhancing concurrently controllability and observability, in the semiconductor device of an SiP type.
ＳｉＰ形態の半導体装置において、パッケージを少ピン化、小型化することができると同時に、その可制御性、可観測性を向上させることができる半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.
大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an endoscope with excellent observability without the decline of an illuminance distribution at a center part in an observation region even in the case of observing a region from a relatively short distance by using the endoscope having a wide viewing angle.
広い視野角を有する内視鏡を用いて比較的近距離から部位を観察する場合においても、観察領域に中心部における照度分布の低下のない、観察性のよい内視鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide emulation, simulation and testability architecture without using an expensive tester in order to perform a test and debug of a large scale integrated circuit, which is excellent in observability and controllability and can reduce development time.
大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁
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