SYSTEM FOR MEASURING SIGNAL LIGHT BY NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム - 特許庁
MICROSCOPE CONTROL DEVICE AND OPTICAL DISTORTION CORRECTION METHOD 顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 - 特許庁
OPTICAL PATH SWITCHING UNIT AND INVERTED MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH 光路切換装置及びこれを備える倒立顕微鏡 - 特許庁
MICROSCOPE HAVING OPTICAL FIBER WHICH DISPERSES SHORT PULSE LASER 短パルスレ—ザ—を分散する光ファイバ—を有する顕微鏡 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE USING DIELECTRIC RESONATOR 誘電体共振器を利用した近接場顕微鏡 - 特許庁
ANALYSIS METHOD BY OPTICALMICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY 光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁
IMAGING METHOD OF OPTICALMICROSCOPE AND ASTRONOMICAL TELESCOPE 光学顕微鏡および天体望遠鏡の結像方法 - 特許庁
The user adjusts the magnification of the opticalmicroscope during observing the sample with the opticalmicroscope (step S2a). 使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に光学顕微鏡の倍率の調整を行う(ステップS2a)。 - 特許庁
TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM 全反射型蛍光顕微鏡および照明光学系 - 特許庁
CANTILEVER FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE AND ITS MANUFACTURE AS WELL AS SCANNING NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE 走査型近接場光学顕微鏡用のカンチレバーとその製造方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁
PROBER, ILLUMINATOR, OPTICALMICROSCOPE, AND IMAGE PICKUP DEVICE プローバ、照明装置、光学顕微鏡及び撮像装置 - 特許庁
NONLINEAR OPTICAL DEVICE, MULTI-PHOTON MICROSCOPE, AND ENDOSCOPE 非線形光学装置、多光子顕微鏡および内視鏡 - 特許庁
COMBINED DEVICE OF OPTICALMICROSCOPE AND X-RAY ANALYZER 光学顕微鏡とX線分析装置の複合装置 - 特許庁
DEVICE FOR SWITCHING OPTICAL PATH LENGTH, AND MICROSCOPE WITH THE SAME 光路長切替装置及びこれを備えた顕微鏡 - 特許庁
DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICALMICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS 距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡 - 特許庁
The opticalmicroscope 7 is supported by the opticalmicroscope support member 2, fixed to a vibration removing stand base 1 for attenuating floor vibration via an opticalmicroscope z-stage 3 for moving the opticalmicroscope 7 in the vertical directions. 光学顕微鏡7は、これを上下に移動させるための光学顕微鏡zステージ3を介して、床振動を減衰させるための除振台べース1に固定された光学顕微鏡支持部材2によって支持されている。 - 特許庁
The operation microscope 1 (stereomicroscope) includes an observation optical system 30 in an operator's microscope 6 and an assistant's optical system in an assistant's microscope 7. 手術用顕微鏡1(実体顕微鏡)は、術者用顕微鏡6内の観察光学系30と、助手用顕微鏡7内の助手用光学系を有する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope integrated with shafts by each of optical microscopes formed by combining the existing opticalmicroscope and the scanning probe microscope. 既存の光学顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせて構成された光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
OPTICAL GRID AND ITS MANUFACTURING METHOD, LINEAR ENCODER EQUIPPED WITH OPTICAL GRID, AND OPTICALMICROSCOPE 光学格子及びその製造方法、光学格子を備えたリニアエンコーダ及び光学顕微鏡 - 特許庁
DEVICE FOR INSERTING AN OPTICAL ELEMENT INTO THE OBSERVATION BEAM PATH OF OPTICALMICROSCOPE 光学エレメントを光学顕微鏡の観察ビーム路に挿入するための装置 - 特許庁
OBJECTIVE LENS, OPTICAL ANALYZER, METHOD OF OPERATING THE OPTICAL ANALYZER, AND MICROSCOPE 対物レンズ、光分析装置、光分析装置の運転方法および顕微鏡 - 特許庁
SPECTROSCOPE AND CONFOCAL OPTICAL SYSTEM USING THE SAME, AND SCANNING OPTICALMICROSCOPE 分光器およびこれを用いた共焦点光学系、走査型光学顕微鏡 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE FOR MEASURING ELECTRIC FIELD MODULATION SPECTRUM 電場変調スペクトル測定用近接場光学顕微鏡 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS OF LIGHT SOURCE OF MICROSCOPE 顕微鏡の光源光軸調整方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PROPAGATION ELEMENT PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE 近視野顕微鏡用光伝搬体プローブの製造方法 - 特許庁
LINE SCANNING SYSTEM OPTICAL SCANNING MICROSCOPE AND USAGE OF THE SAME ライン走査式の光走査型顕微鏡およびそれの使用 - 特許庁
POLARIZATION CORRECTION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE DEVICE USING THE SAME 偏光補正光学系及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁
APPARATUS FOR MICROSCOPE OBSERVATION AND/OR MICROSCOPE DETECTION IN LINEAR SCANNING TYPE OPTICAL SCANNING MICROSCOPE AND ITS USE ライン走査式光走査型顕微鏡における顕微鏡観察および/または顕微鏡検出のための装置およびそれの使用 - 特許庁
NEAR-FIELD LIGHT PROBE, OPTICAL DEVICE, PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE TYPE READ/WRITE HEAD DEVICE 近接場光探針、光学装置、プローブ顕微鏡、及びプローブ顕微鏡型記録再生ヘッド装置 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE AND OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR IMAGE FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE METHOD 走査型顕微鏡、走査型顕微鏡法における結像のための光学装置および方法 - 特許庁
PROBE AND NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁
OPTICAL SYSTEM EQUIPPED WITH FOCUSING OPTICAL SYSTEM, AND LASER MICROSCOPE APPARATUS USING SAME フォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡装置 - 特許庁
FOCUS DETECTOR AND OPTICALMICROSCOPE HAVING THE SAME OR OPTICAL INSPECTION APPARATUS 焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁
The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field opticalmicroscope. 近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ(1)の製造方法である。 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICALMICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE 近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録/再生装置 - 特許庁
PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, PROXIMITY FIELD OPTICALMICROSCOPE USING THE SAME AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING APPARATUS 近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録/再生装置 - 特許庁