「overcurrent test」を含む例文一覧(23)
- To surely perform a protective operation against an overcurrent at abnormality such as an abnormality test, etc.
アブノーマル試験等の異常時の過電流保護動作を確実に行う。 - 特許庁 - To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.
ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁 - To provide a voltage regulator having an overcurrent protection circuit for which a test circuit is not required.
テスト回路が不要な過電流保護回路を有するボルテージレギュレータを提供すること。 - 特許庁 - To provide an overcurrent tester which can efficiently execute the operation test of equipment operating with an overcurrent such as a breaker for wiring, etc., and can be manufactured at low cost.
配線用遮断器などの過電流で動作する機器の動作試験を効率よく実施でき、かつ、安価に実現可能なこと。 - 特許庁 - To provide an electrostatic protection circuit device for protecting an internal element having a high breakdown voltage from the overcurrent noise of an ESD and overcurrent noise in a latch-up test.
高耐圧の内部素子をＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護する静電保護回路装置を提供する。 - 特許庁 - The electronic circuit breaker is structured such that a second coil for executing an operation test of the overcurrent detection circuit is arranged in a current transformer in addition to a first coil for overcurrent detection; and, when the operation test of the overcurrent detection circuit is executed, a test current is carried to the second coil to induce electromotive force in the first coil, and the overcurrent detection circuit is operated based on the electromotive force.
変流器に、過電流検知用の第１のコイルの他、過電流検出回路の動作テストを行うための第２のコイルを設け、過電流検出回路の動作テストを行うとき、該第２のコイルにテスト電流を通電して該第１のコイルに起電力を誘起させ、該起電力に基づき過電流検出回路を動作させる構成とする。 - 特許庁 - This semiconductor device has a means for detecting an overcurrent flow during the burn-in operation test.
半導体装置が、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する手段を有する。 - 特許庁 - To test an overcurrent interrupting function of a circuit breaker, in a state with the supply of a load current maintained.
負荷電流の供給を維持した状態で、配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施する。 - 特許庁 - To provide an electronic ground-fault interrupter having an overcurrent determination function and a ground fault determination function which are integrated into a CPU that can suppress a tripping operation based on ground fault determination during a test of overcurrent characteristics for each pole unit of the interrupter through unipolar energization, and conducting a correct test of the overcurrent characteristics.
過電流判定機能と漏電判定機能とを一つのＣＰＵに集約した電子式漏電遮断器において、単極通電による遮断器各極単位での過電流特性試験時に漏電判定に基づくトリップ動作を抑制し、過電流特性試験を正しく行うことができる電子式漏電遮断器を得る。 - 特許庁 - By sharing a guard ring of an ESD protective element, and a cathode of a latch-up protection diode for protecting from the overcurrent noise in a latch-up test, an internal circuit is protected from both the overcurrent noise of an ESD and the overcurrent noise in a latch-up test, and the size of the electrostatic protection circuit device can be reduced.
ＥＳＤ保護素子のガードリングとラッチアップ試験の過電流ノイズから保護するラッチアップ保護ダイオードのカソードを共有することにより、ＥＳＤの過電流ノイズとラッチアップ試験の過電流ノイズの両方のノイズから、内部回路を保護しつつ、静電保護回路装置のサイズ縮小を図ることができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system not making an unnecessary evaluation of a device by immediately identifying a defect cause in a semiconductor test system having an overcurrent protective device in a control signal output circuit of a test head.
テストヘッドの制御信号出力回路に過電流保護装置を備えた半導体試験システムにおいて、不良原因が即座に特定され、無駄なデバイス判定を行うことのない半導体試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a tester particularly applied to avalanche breakdown test in a discrete element so that an overcurrent is properly prevented.
本発明は、試験装置に関し、特にディスクリート素子におけるアバランシェ破壊試験に適用して、適切に過電流を防止することができるようにする。 - 特許庁 - A means is also provided, for cutting-off a current supply to the semiconductor device when detecting the overcurrent flow in the semiconductor device during the test.
また試験中に半導体装置に過電流が流れたことが検知されたときに当該半導体装置への通電を遮断する手段を有する。 - 特許庁 - To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.
配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁 - In the test method of the semiconductor wafer, when the wafer is tested, a semiconductor device in which overcurrent flows is detected among a plurality of semiconductor devices formed on the semiconductor wafer, and then power supply to the semiconductor device in which the overcurrent flows is shielded automatically.
ここに開示された半導体ウェーハ及びそれのテスト方法は、テスト時、半導体ウェーハ上に形成された複数個の半導体装置のうち過電流が流れる半導体装置を検出し、 過電流が流れる半導体装置の電源供給を自動的に遮断する。 - 特許庁 - To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.
過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁 - To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.
検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.
半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - Accordingly, a correlation is generated between a before-trimming output voltage and the maximum output current of overcurrent protection, and therefore a before-trimming maximum output current can be estimated without performing estimation of a test circuit.
それによりトリミング前出力電圧と過電流保護の最大出力電流に相関が生じるため、テスト回路の評価を行なうことなくトリミング前の最大出力電流を推定することが出来る。 - 特許庁 - The detection means compares the voltage at a first spot in power source conductors with the voltage at a second spot at a distance from the first spot, to thereby detect the overcurrent flow during the burn-in operation test.
この検出手段は、電源配線における第１の箇所の電圧と、前記第１の箇所から距離をおいた第２の箇所の電圧とを比較することで、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する。 - 特許庁 - To obtain a test recording method and a test recording apparatus for a protective relay by which the patterns of record papers on which the results of the tests of a protective relay are recorded can be easily obtained so as to correspond satisfactorily to various types of tests, even if types of tests are not only overcurrent detection, undervoltage detection, and ratio difference detection but also many other types.
保護継電器の試験を行った結果を記載する記録用紙の様式を、多種多様の試験に対応させて簡単に得ることができ、その試験形態が験過電流検出用、不足電圧検出用、比率作動検出用のみならず他に多くの形態であっても充分に対応させて簡単に得ることができる保護継電器の試験記録方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The propriety of normally driving the liquid crystal display is notified thereby to the outside, and an external electric power source, provided in the liquid crystal display is blocked to prevent an overcurrent from being generated in the inside of the liquid crystal display to protect the liquid crystal display, when the liquid crystal display is not driven normally in a usual time or in a test process.
これにより、液晶表示装置の正常駆動可否を外部に知らせることができ、平常時又はテスト過程で液晶表示装置が正常に駆動できない場合には、液晶表示装置に提供される外部電源を遮断して液晶表示装置の内部の過電流発生を防止できて液晶表示装置を保護できる。 - 特許庁 - When an externally input first test signal ST1 becomes active, the operation of an operational amplifier circuit A2 is halted, causing the output end of the operational amplifier circuit A2 becoming to a high level and a PMOS transistor M7 turning to OFF, and the operation of a second overcurrent protection circuit 4 is halted so as not to affect the gate voltage of an output voltage control transistor M1 at all.
外部から入力された第１テスト信号ＳＴ１がアクティブになると演算増幅回路Ａ２の動作を停止させ、演算増幅回路Ａ２の出力端がハイレベルになってＰＭＯＳトランジスタＭ７はオフし、第２過電流保護回路４は、出力電圧制御トランジスタＭ１のゲート電圧に対してまったく影響を与えなくなるように、動作を停止するようにした。 - 特許庁
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