「parametric element」を含む例文一覧(7)
- The fundamental waves caused by an optical parametric oscillation are generated together with the second harmonics from the wavelength conversion element 16 for generating the fundamental waves.
すると、基本波発生用波長変換素子１６からは２倍波と共に、光パラメトリック発振による基本波が発生する。 - 特許庁 - An electromagnetic wave oscillating device is provided with an element for oscillating electromagnetic waves, having a frequency of 0.1-3 THz, from pump waves 3 and idler waves 4 by a parametric effect.
ポンプ波３とアイドラー波４とからパラメトリック効果によって０．１THｚ〜３THｚの周波数を有する電磁波を発振する素子を提供する。 - 特許庁 - To provide a structure capable of minimizing the amount of electromagnetic waves absorbed in an element, in the element for oscillating electromagnetic waves having a frequency of 0.1-3 THz from pump waves and idler waves by a parametric effect.
ポンプ波とアイドラー波とからパラメトリック効果によって０．１THｚ〜３THｚの周波数を有する電磁波を発振する素子において、素子内における電磁波の吸収量を最小限とできる構造を提供する。 - 特許庁 - A user CU is personally identified by a user sensor 120 with a user element 210 individually carried by the user, and output sound of a parametric speaker 110 is controlled by a directivity control unit 130.
利用者ＣＵが個別に装備するユーザ素子２１０でユーザセンサ１２０により個人認証され、パラメトリックスピーカ１１０の出力音声が指向性制御部１３０で制御される。 - 特許庁 - To improve the intensity for extraction to the outside of crystal in a parametric oscillation element for terahertz waves, and to eliminate the need for providing a terahertz wave extraction optical means, such as, prism and grating on the crystal surface.
テラヘルツ波をパラメトリック発振させる素子において、結晶の外部へと取り出し得る強度を向上させるのと共に、結晶表面にプリズムやグレーティングなどのテラヘルツ波取り出し光学手段を設ける必要をなくすることである。 - 特許庁 - A laser light generating device has a laser light source 1 which emits laser light, an optical resonator optically coupled to the laser light, and a nonlinear optical crystal element 6 which is arranged in the optical resonator and parametric-converts the laser light to a different frequency.
レーザ光発生装置は、レーザ光を出射するためのレーザ光源１と、レーザ光に光学的にカップリングされた光学共振器と、該光学共振器内に配置され該レーザ光を異なる周波数にパラメトリック変換する非線形光学結晶素子６とを有する。 - 特許庁 - To overcome such a problem that even if the number of circuit elements to be arranged is increased, all of them cannot be electrically tested because there is a limit of the number of channels for electric application or measurement, that the tester has, when a test element group where circuit elements are arranged is tested by using a parametric tester.
パラメトリックテスターを用いて回路素子を配置した評価素子群を評価する場合、テスターの有する電気的な印加もしくは測定が可能なチャネル数に制限があり、配置する回路素子の数を増加させてもその全てを電気的に評価することが出来ない。 - 特許庁
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