「parametric testing」を含む例文一覧(3)
- SEMICONDUCTOR PARAMETRIC TESTING DEVICE
半導体パラメトリック試験装置 - 特許庁 - This invention describes a method to select the clock skewing for each die on the basis of functional testing with actual parametric limits imposed on target parameters.
本発明は、対象パラメータに課される実際のパラメータ限界による機能テストに基づき、ダイごとにクロック・スキューイングを選択するための方法を説明する。 - 特許庁 - Further, the user combines an optical channel selector, a digital communication analyzer and an optical spectrum analyzer to conduct parametric test by changing a plurality of testing objects, while combining tree couplers to synchronously make multiport transmission of measured signals on a standard sample for the testing objects, and then measuring bit error rate.
更に、光チャネルセレクタとデジタル通信アナライザおよび光スペクトラムアナライザを組み合わせ、テストされる複数の製品を切り替えてパラメトリック検査し、またツリーカプラを組み合わせ、標準サンプルの測定信号をテストされる製品に同期的にマルチポート送信し、更にビットエラーレートを測定する。 - 特許庁
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