A patterngeneration control part 2 reads patterngeneration information from a patterngeneration information memory 4, and generates a pattern type, a PROG (program) memory address and a PRBS (Pseudo Random Binary Sequence) pattern information from the designation of a pattern in the patterngeneration information and the length of the pattern. パターン発生制御部2は、パターン発生情報メモリ4からパターン発生情報を読み出して、パターン発生情報内のパターンの指定とパターンの長さからパターンタイプとPROGメモリアドレスとPRBSパターン情報を生成する。 - 特許庁
To prevent the generation of idling pattern noise. アイドリングパターンノイズの発生を防止する。 - 特許庁
TEST PATTERNGENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR テストパターン生成装置及びその方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PATTERN IMAGE GENERATION 模様画像作成方法および装置 - 特許庁
PITCH PATTERNGENERATION METHOD AND SYSTEM THEREOF ピッチパターン生成方法及びその装置 - 特許庁
PITCH PATTERNGENERATION METHOD AND ITS SYSTEM ピッチパターン生成方法及びその装置 - 特許庁
Then, the patterngeneration control part 2 outputs a pattern type to a pattern composing part 20, the PROG memory address to a programmable pattern memory 16, and the PRBS pattern information to a PRBS patterngeneration part 18. そして、パターンタイプをパターン合成部20に、PROGメモリアドレスをプログラマブルパターンメモリ16に、PRBSパターン情報をPRBSパターン発生部18に出力する。 - 特許庁
Relating to the pattern recognition dictionary preparing device 1, a patterngeneration system 10 generates an irregular learning pattern by using a patterngeneration dictionary 11 and provides the generated pattern to a pattern recognition system 20. パターン生成系10において、パターン生成辞書11を用いてイレギュラー学習パターンを生成し、これをパターン認識系20に提示する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATING SYSTEM, TEST PATTERN ANALYZING SYSTEM, TEST PATTERNGENERATION METHOD, TEST PATTERN ANALYTICAL METHOD, TEST PATTERNGENERATION PROGRAM, TEST PATTERN ANALYTICAL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM テストパターン生成システム、テストパターン解析システム、テストパターン生成方法、テストパターン解析方法、テストパターン生成プログラム、テストパターン解析プログラム、および記録媒体 - 特許庁
BASIC FREQUENCY PATTERNGENERATION SYSTEM, BASIC FREQUENCY PATTERNGENERATION METHOD, AND PROGRAM 基本周波数パターン生成装置、基本周波数パターン生成方法及びプログラム - 特許庁
TEST PATTERNGENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERNGENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁
TEST PATTERNGENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT 自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁
ALTERNATIVE READING PATTERNGENERATION METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM 読替パターン生成装置、方法及びプログラム - 特許庁
MASK PATTERN DATA GENERATION METHOD, MASK MANUFACTURING METHOD, MASK AND MASK PATTERN DATA GENERATION PROGRAM マスクパターンデータ生成方法、マスクの製造方法、マスク及びマスクパターンデータ生成プログラム - 特許庁
WIRING PATTERNGENERATION DEVICE, WIRING PATTERNGENERATION PROGRAM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE 配線パターン生成装置、配線パターン生成プログラム、および、半導体装置の製造方法 - 特許庁
TIME SERIES PATTERN GENERATING APPARATUS AND TIME SERIES PATTERNGENERATION METHOD 時系列パターン生成装置及び時系列パターン生成方法 - 特許庁
TEST DEVICE, PATTERN GENERATING DEVICE, TEST METHOD, AND PATTERNGENERATION METHOD テスト装置、パタン生成装置、テスト方法、及びパタン生成方法 - 特許庁
PATTERN EVALUATION METHOD WHEREIN CALCULATOR IS USED AND PATTERNGENERATION 計算機を用いたパターン評価方法およびパターン生成方法 - 特許庁
TIME SERIES PATTERNGENERATION SYSTEM AND TIME SERIES PATTERN GENERATING METHOD 時系列パターン生成システム及び時系列パターン生成方法 - 特許庁
MASK PATTERN VERIFICATION METHOD, MASK PATTERNGENERATION METHOD, PATTERN DATA PROCESSOR, AND PROGRAM マスクパターン検証方法、マスクパターン作成方法、パターンデータ処理装置、およびプログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERNGENERATION METHOD, TEST PATTERNGENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL 半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁
PATTERNGENERATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE パターン発生装置及び半導体試験装置 - 特許庁
TEST PATTERNGENERATION CIRCUIT IN TRANSMISSION DEVICE 伝送装置における試験パターン生成回路 - 特許庁
TRANSLATION PATTERNGENERATION DEVICE, METHOD, AND PROGRAM 翻訳パターン作成装置、方法及びプログラム - 特許庁
IMAGE PATTERNGENERATION METHOD, DEVICE, AND PROGRAM 画像パターン生成方法、装置およびプログラム - 特許庁
SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERNGENERATION METHOD スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁
POWER CIRCUIT PATTERN WIRING WIDTH GENERATION SYSTEM AND ITS GENERATION METHOD 電源回路パターン配線幅生成システムおよびその生成方法 - 特許庁
PATTERN INSPECTING INSTRUMENT AND MASTER DATA GENERATION METHOD FOR PATTERN INSPECTION パターン検査装置およびパターン検査のためのマスタデータの作成方法 - 特許庁
TEST PATTERNGENERATION SYSTEM AND METHOD テストパタン生成システム、及びテストパタン生成方法 - 特許庁
PROCESS MODEL GENERATION METHOD, PROCESS MODEL GENERATION PROGRAM, AND PATTERN CORRECTION METHOD プロセスモデル作成方法、プロセスモデル作成プログラム及びパターン補正方法 - 特許庁
PATTERN DATA GENERATING DEVICE, EXPOSURE SYSTEM, PATTERN DATA GENERATION METHOD AND PROGRAM パターンデータ生成装置、露光システム、パターンデータ生成方法、およびプログラム - 特許庁
A display patterngeneration part displays a circular display pattern P. 表示パターン生成部は、円弧形状の表示パターンPを生成する。 - 特許庁
PATTERN GENERATING METHOD AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PATTERNGENERATION PROGRAM 模様生成方法及び模様生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
AUTOMATIC GENERATION OF PATTERN SIMULATION CODE FOR MESSAGE EXCHANGE メッセージ交換パターンシミュレーションコードの自動生成 - 特許庁
CHARACTER PATTERNGENERATION METHOD AND LETTER RECOGNITION METHOD 文字パターン生成方法および文字認識方法 - 特許庁
GENERATION METHOD OF SHOW-THROUGH PATTERN AND PRINTING DEVICE ショースルーパターンの生成方法及び印刷装置 - 特許庁
GENERATION OF PATTERN MATRIX USED IN HALFTONE PROCESSING ハーフトーン処理で利用されるパターンマトリクスの生成 - 特許庁
The test patterngeneration method, test patterngeneration system, and test patterngeneration device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test patterngeneration means for generating the test pattern. テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁
The recommendation patterngeneration section 18 generates a recommendation pattern by associating the reduction pattern with a time. 推奨パターン生成部18は、削減パターンと時刻とを関連付けて推奨パターンを生成する。 - 特許庁
To provide a patterngeneration device capable of switching pattern resources by selecting an optional pin during patterngeneration. パターンリソースの切換えをパターン発生中に任意のピンを選択して行えるパターン発生装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
GENERATION OF PATTERN MATRIX USED IN HALF-TONE PROCESSING ハーフトーン処理で利用されるパターンマトリクスの生成 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND PATTERNGENERATION CONTROL METHOD 画像形成装置及びパターン生成制御方法 - 特許庁
MASK PATTERN DATA GENERATING SYSTEM AND DATA GENERATION METHOD マスクパターンデータ作成システムおよびデータ作成方法 - 特許庁
DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM データパターン/テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁
REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM 参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁
GENERATION DEVICE AND GENERATION METHOD OF FLOODLIGHT PATTERN FOR EXECUTING STEREO CORRESPONDENCE ステレオ対応づけのための投光パターンの生成装置及び生成方法 - 特許庁
DISCRETE PATTERN GENERATING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND DISCRETE PATTERNGENERATION SYSTEM 離散パターン生成方法、プログラム、記録媒体および離散パターン生成システム - 特許庁
SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERNGENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁