「pattern method」を含む例文一覧(23003)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 460 461 次へ＞- METHOD FOR SIMULATION OF TRANSFER PATTERN
転写パターンのシミュレーション方法 - 特許庁 - PATTERN CORRECTING METHOD FOR MASK FOR EXPOSURE, PATTERN FORMING METHOD AND PROGRAM
露光マスクのパターン補正方法、パターン形成方法およびプログラム - 特許庁 - a method of weaving cloth in a lozenge pattern
菱織りという,布の織り方 - EDR日英対訳辞書 - PATTERN MATCHING METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT
電子部品のパターンマッチング方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PATTERN-FORMING OBJECT
パターン形成体の製造方法 - 特許庁 - PATTERN DRAWING METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING STAMPER, AND PATTERN DRAWING DEVICE
パターン描画方法、スタンパー製造方法およびパターン描画装置 - 特許庁 - PATTERN TRANSFER PAPER, OVERCOATING PAPER, PATTERN TRANSFER METHOD, AND OVERCOATING METHOD
絵柄転写紙、オーバーコート紙、絵柄転写方法およびオーバーコート方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN, METHOD FOR FORMING MASK PATTERN, AND ION IMPLANTATION METHOD
マスクパターンの補正方法、マスクパターンの形成方法、及びイオン注入方法 - 特許庁 - PATTERN FORMING METHOD, PATTERN VERIFICATION METHOD, PATTERN FORMING-VERIFICATION PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
パターン作成方法、パターン検証方法、パターン作成・検証プログラム、および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - LACQUER PATTERN PRODUCTION METHOD, LACQUER PATTERN FORMED BY USING THE METHOD, AND LACQUER PATTERN DISPLAY METHOD
漆模様製造方法及びそれを使用して形成された漆模様、並びに漆模様の展示方法 - 特許庁 - MASK PATTERN TRANSFER METHOD, MASK PATTERN TRANSFER EQUIPMENT USING THE MASK PATTERN TRANSFER METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
マスクパターン転写方法、該マスクパターン転写方法を用いたマスクパターン転写装置及びデバイス製造方法 - 特許庁 - DRAWING SHIFT MEASURING METHOD, EXPOSURE METHOD, GRADUATED PATTERN, GRADUATED PATTERN DRAWING METHOD, AND GRADUATED PATTERN DRAWING DEVICE
描画ずれ測定方法、露光方法、目盛パターン、目盛パターン描画方法、および目盛パターン描画装置 - 特許庁 - PATTERN FORMING MATERIAL, PATTERN FORMING METHOD, AND PRINTED BOARD
パターン形成材料、パターン形成方法、及びプリント基板 - 特許庁 - LAYOUT PATTERN INSPECTION DEVICE, AND LAYOUT PATTERN INSPECTION METHOD
レイアウトパターン検査装置およびレイアウトパターンの検査方法 - 特許庁 - PATTERN IMAGE MEASURING METHOD AND PATTERN IMAGE MEASURING DEVICE
パターン画像測定方法及びパターン画像測定装置 - 特許庁 - PATTERN RECOGNITION METHOD, PATTERN RECOGNITION DEVICE AND RECORDING MEDIUM
パターン認識方法、パターン認識装置及び記録媒体 - 特許庁 - PATTERN FORMED BODY AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMED BODY
パターン形成体及びパターン形成体の製造方法 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN DETECTOR AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD
回路パターン検出装置および回路パターン検査方法 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN INSPECTION DEVICE AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD
回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN EXAMINING APPARATUS AND CIRCUIT PATTERN EXAMINING METHOD
回路パターン検査装置、および回路パターンの検査方法 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN FORMATION METHOD AND CIRCUIT PATTERN FORMATION DEVICE
回路パターン形成方法及び回路パターン形成装置 - 特許庁 - PREAMBLE PATTERN IDENTIFICATION METHOD AND PREAMBLE PATTERN IDENTIFICATION DEVICE
プリアンブルパターン識別方法及びプリアンブルパターン識別装置 - 特許庁 - PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FORMING APPARATUS AND CIRCUIT BOARD
パターン形成方法、パターン形成装置及び回路基板 - 特許庁 - WIRING PATTERN INSPECTING APPARATUS AND WIRING PATTERN INSPECTING METHOD
配線パターン検査装置及び配線パターン検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND RESIST PATTERN FORMING APPARATUS
レジストパターン形成方法およびレジストパターン形成装置 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING SOLDER PATTERN AND MULTIPLE-PATTERN CIRCUIT BOARD
はんだパターン形成方法及び多面取り回路基板 - 特許庁 - PRINTING PATTERN FORMING COMPONENT AND METHOD FOR FORMING PATTERN
印刷パターン形成部品及びそのパターン形成方法 - 特許庁 - PATTERN FORMATION SYSTEM, PATTERN FORMATION METHOD AND ELECTRONIC APPARATUS
パターン形成システム、パターン形成方法および電子機器 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN FORMING EQUIPMENT AND CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD
回路パターン形成装置および回路パターン形成方法 - 特許庁 - CIRCUIT PATTERN FORMING METHOD AND CIRCUIT PATTERN FORMING DEVICE
回路パターン形成方法および回路パターン形成装置 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING CONDUCTION PATTERN AND CONDUCTION PATTERN HOLDING SHEET
導電パターンの形成方法と導電パターン所持シート - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING CASTING PATTERN AND MASTER MOLD FOR PATTERN
鋳造用原型製造方法及び原型用親型 - 特許庁 - PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT DEVICE
パターン寸法測定方法及びパターン寸法測定装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁 - INSPECTION METHOD OF EXPOSURE PATTERN AND RETICLE FOR PATTERN EXPOSURE
露光パターンの検査方法及びパターン露光用レチクル - 特許庁 - MASK PATTERN PROCESSING APPARATUS, MASK PATTERN PROCESSING METHOD, AND PROGRAM
マスクパターン処理装置、マスクパターン処理方法、およびプログラム - 特許庁 - PATTERN FLAW INSPECTION DEVICE AND PATTERN FLAW INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN FLAW INSPECTION METHOD, AND PATTERN FLAW INSPECTING DEVICE
パターン欠陥検査方法、及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING DEVICE AND MAGNETIC PATTERN RECOGNIZING METHOD
磁気パターン認識装置および磁気パターン認識方法 - 特許庁 - LUMINESCENCE PATTERN READER AND LUMINESCENCE PATTERN READING METHOD
発光パターン読取装置および発光パターン読取方法 - 特許庁 - PATTERN FORMATION METHOD, PATTERN FORMATION SYSTEM AND ELECTRONIC DEVICE
パターン形成方法、パターン形成システムおよび電子機器 - 特許庁 - VARIABLE COLOR PATTERN PRINT PRODUCT AND METHOD OF FORMING PATTERN
可変色彩図柄印刷物及び図柄の形成方法 - 特許庁 - PATTERN INSPECTION METHOD, EXPOSURE MASK, AND PATTERN INSPECTION PROGRAM
パターン検査方法、露光用マスク、およびパターン検査プログラム - 特許庁 - PATTERN FORMING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMING SUBSTRATE
パターン形成基板及びパターン形成基板製造方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION REGION DEFINING PROGRAM
パターン検査方法及びパターン検査領域規定プログラム - 特許庁 - GENERATING METHOD FOR PATTERN DATA, AND PATTERN DATA GENERATING PROGRAM
パタンデータの作成方法およびパタンデータ作成プログラム - 特許庁 - MASK, RESIST PATTERN, AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN
マスク及びレジストパターン並びにレジストパターンの形成方法 - 特許庁 - SCALE PATTERN FORMING METHOD, SCALE PATTERN FORMING DEVICE, AND SCALE
スケールパターン形成方法、スケールパターン形成装置、スケール - 特許庁 - SYSTEM FOR CORRECTING MASK PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN
マスクパターンの補正システム及びマスクパターンの補正方法 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved.
