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「pattern method」を含む例文一覧(23003)
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METHOD
FOR CREATING EVALUATION
PATTERN
, AND PROGRAM
評価パタンの作成方法およびプログラム
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND
PATTERN
GENERATING
METHOD
半導体装置及びパターン発生方法
- 特許庁
LITHOGRAPHY APPARATUS AND
PATTERN
FORMING
METHOD
リソグラフィー装置およびパターン形成方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND
METHOD
FOR FORMING
PATTERN
半導体装置及びパターン形成方法
- 特許庁
PATTERN-FORMING
METHOD
AND SEMICONDUCTOR DEVICE
パターン形成方法および半導体装置
- 特許庁
FINE
PATTERN
FORMING
METHOD
AND DEVICE
微細パターン形成方法およびその装置
- 特許庁
PATTERN
MEASUREMENT
METHOD
AND DEVICE THEREFOR
パターン計測方法及びそのための装置
- 特許庁
CONDUCTIVE
PATTERN
AND
METHOD
OF FORMING THEREOF
導電性パターン及びその形成方法
- 特許庁
METHOD
FOR FORMING ULTRAFINE
PATTERN
RECESS STRUCTURE
超微細パターン凹構造の形成方法
- 特許庁
PATTERN
GENERATING DEVICE AND GENERATING
METHOD
パターンの生成装置および生成方法
- 特許庁
PATTERN
FORMING
METHOD
AND IMPRINT MATERIAL
パターン形成方法及びインプリント材料
- 特許庁
APPARATUS AND
METHOD
FOR
PATTERN
INSPECTION
パターン検査装置、及びパターン検査方法
- 特許庁
IRREGULAR
PATTERN
FORMING
METHOD
AND ARTICLE
凹凸パターンの形成方法及び物品
- 特許庁
PATTERN
SHEET AND ITS MANUFACTURING
METHOD
パターンシートの製造方法およびパターンシート
- 特許庁
MAZE
PATTERN
ANALYZING
METHOD
AND ITS DEVICE
迷路パターン分析方法及びその装置
- 特許庁
METHOD
FOR PRODUCING METAL
PATTERN
ON SUBSTRATE
基板に金属パターンを製造する方法
- 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND
PATTERN
ARRANGEMENT
METHOD
半導体装置およびパターン配置方法
- 特許庁
ALIGNMENT
PATTERN
FORMING
METHOD
OF EPITAXIAL WAFER
エピタキシャルウエハのアライメントパターン形成方法
- 特許庁
PATTERN
MEASURING
METHOD
AND DEVICE
パターン測定方法及びパターン測定装置
- 特許庁
IMITATION WOOD AND GRAIN
PATTERN
FORMING
METHOD
THEREOF
擬木及び擬木の木肌模様形成方法
- 特許庁
MASK
PATTERN
CORRECTING SYSTEM AND ITS CORRECTING
METHOD
マスクパタ—ン補正システムとその補正方法
- 特許庁
IRREGULARITY INSPECTION
METHOD
OF PERIODIC LUMINESCENCE
PATTERN
周期性発光パターンのムラ検査方法
- 特許庁
FAIL DETECTION
METHOD
OF
PATTERN
PRINT TAPE
パターン印刷テープの不良検出方法
- 特許庁
WIRING TEST
PATTERN
AND EVALUATION
METHOD
THEREFOR
配線テストパターン及びその評価方法
- 特許庁
METHOD
FOR FORMING YUZEN-PRINTING
PATTERN
FOR JEANS
ジーンズへの友禅染模様形成方法
- 特許庁
METHOD
FOR FORMING FINED RESIST
PATTERN
微細化されたレジストパターンの形成方法
- 特許庁
PATTERN
RECOGNITION DEVICE AND
METHOD
パターン認識装置及びパターン認識方法
- 特許庁
METHOD
AND DEVICE FOR RECORDING KEY OPERATION
PATTERN
キー操作パターン記録方法及び装置
- 特許庁
VERIFICATION AND CORRECTION
METHOD
FOR PHOTOMASK
PATTERN
フォトマスクパターン検証および補正方法
- 特許庁
METHOD
FOR INSPECTING
PATTERN
WIDTH OF STENT SURFACE
ステント表面のパターン幅の検査方法
- 特許庁
METHOD
FOR PREPARING
PATTERN
DATA, AND PHOTOMASK
パターンデータの作製方法およびフォトマスク
- 特許庁
METHOD
FOR FORMING RESIST
PATTERN
AND PHOTOMASK
レジストパターンの形成方法及びフォトマスク
- 特許庁
PATTERN
MEASUREMENT
METHOD
AND ELECTRON MICROSCOPE
パターン測定方法、及び電子顕微鏡
- 特許庁
METHOD
FOR DRAWING FINE
PATTERN
ON DENIM CLOTH
デニム地への繊細模様描出方法
- 特許庁
ROLL WITH
PATTERN
AND
METHOD
FOR MANUFACTURING THE SAME
パターン付ロール及びその製造方法
- 特許庁
METALLIC FILM
PATTERN
AND PRODUCTION
METHOD
THEREFOR
金属膜パターンおよびその製造方法
- 特許庁
MASK
PATTERN
EVALUATING SYSTEM AND
METHOD
FOR THE SAME
マスクパターン評価システム及びその方法
- 特許庁
INSPECTION DEVICE AND
METHOD
FOR MASK
PATTERN
マスクパターンの検査装置及び検査方法
- 特許庁
MASK
PATTERN
VERIFICATION DEVICE AND
METHOD
THEREFOR
マスクパターン検証装置およびその方法
- 特許庁
RESIST DEVELOPING SOLUTION AND
PATTERN
FORMING
METHOD
レジスト現像液及びパターン形成方法
- 特許庁
COMBINATION
PATTERN
DETERMINING
METHOD
AND DEVICE THEREOF
組合せパターン決定方法及び装置
- 特許庁
PERIODIC
PATTERN
INSPECTION
METHOD
AND APPARATUS
周期性パターンの検査方法及び装置
- 特許庁
LINEAR
PATTERN
DETECTION
METHOD
AND APPARATUS
線状パターンの検知方法および装置
- 特許庁
ROTATION
METHOD
FOR DITHER
PATTERN
AND ROTATING DEVICE
ディザパターンの回転方法と回転装置
- 特許庁
INSPECTION
METHOD
FOR COMPOSITE
PATTERN
AND DEVICE THEREFOR
合成パターンの検査方法及び装置
- 特許庁
TEST
PATTERN
GENERATION APPARATUS AND GENERATION
METHOD
テストパターン作成装置及び作成方法
- 特許庁
RESIST COMPOSITION AND
METHOD
FOR FORMING RESIST
PATTERN
レジスト組成物、レジストパターン形成方法
- 特許庁
METHOD
FOR FORMING THIN FILM
PATTERN
, AND DEVICE
薄膜パターンの形成方法及びデバイス
- 特許庁
MANUFACTURING
METHOD
OF STRIPE-LIKE IRREGULARITY
PATTERN
ストライプ状凹凸パターンの製造方法
- 特許庁
METHOD
FOR IMPARTING LETTER AND
PATTERN
TO INCENSE STICK
線香に文字や模様を付する方法
- 特許庁
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