Subsequently, the backside of the Si substrate 50 is ground by CMP to expose the bottom of the SiO_2 film 52 and the Poly-Si 54. その後、Si基板50の裏面をCMPにより研削し、SiO_2膜52とPoly−Si54の底部を露出させる。 - 特許庁
In the landing plug contact forming method, an existing CMP process is not used for a poly-silicon recess for isolating the landing plug contact (LPC), but an etch-back process of two steps is used. 本発明では、ランディングプラグコンタクト(LPC)の分離のためのポリシリコンリセス(Recess)のために、既存のCMP工程を用いず、2ステップのエッチバック工程を用いる。 - 特許庁
To provide a landing plug contact forming method of a semiconductor element capable of preventing a step between a poly-silicon film and a gate hard mask nitride film in a CMP process for forming a landing plug contact. ランディングプラグコンタクト形成のためのCMP工程時、ポリシリコン膜とゲートハードマスク窒化膜との間の段差を防止できる半導体素子のランディングプラグコンタクト形成方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device which can reduce the number of times of exposure processing in an element isolation process applying CMP and subsequent process of poly-Si deposition. CMPを適用した素子分離工程ならびにその後のpoly−Siデポジションまでの工程における露光工程の回数を低減することを可能とする半導体装置の製造方法を実現することにある。 - 特許庁