「pre-test」を含む例文一覧(59)

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  • SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PRE-REPAIR TEST MODE
    プリ・リペアテストモ—ドを有する半導体装置 - 特許庁
  • the action of using a pre-test to eliminate candidates for a test
    本来の選抜試験の前に,一定の水準以下の者を不合格にすること - EDR日英対訳辞書
  • HasAirline - a test itinerary with a pre-existing airline reservation
    HasAirline - 既存の航空券予約が存在する旅行日程のテスト - NetBeans
  • HasVehicle - a test itinerary with pre-existing airline and vehicle reservations
    HasVehicle - 既存の航空券と乗り物の予約が存在する旅行日程のテスト - NetBeans
  • To provide a material test machine capable of conducting a material test applying alternating displacement (bending stress) to fatigue pre-crack provided in a test piece and observing the state of fatigue pre-crack easily even during test.
    試験片に設けた疲労予亀裂に対して両振りの変位（曲げ応力）を加える材料試験を可能とし、かつ、試験中でも疲労予亀裂の状態を容易に観察できる材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • HasHotel - a test itinerary with a pre-existing airline, vehicle and hotel reservations
    HasHotel - 既存の航空券、乗り物、およびホテルの予約が存在する旅行日程のテスト - NetBeans
  • To test an A/D conversion operation including a pre-stage circuit of an A/D converter.
    Ａ／Ｄ変換器の前段回路を含めてＡ／Ｄ変換動作をテストすること。 - 特許庁
  • Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).
    したがって、付加前テストケース中に０を入力データとしたテストベクタが存在する場合には（Ｓ５０）、−０を入力データとしたテストベクタが付加される（Ｓ６０）。 - 特許庁
  • Also, a predetermined test voltage (VDATA) is supplied to all the data lines through a pre-charge transistor (M10) in the data line pre-charge circuit 359.
    また、データ線プリチャージ回路３５０内のプリチャージトランジスタ（Ｍ１０）を経由して全データ線に所定の検査電圧（ＶＤＡＴＡ）を供給する。 - 特許庁
  • In the test mode, a row decoder fixes pre-decoding signals RX0-RX3 to an activated state, and word lines selected for writing a test pattern in a short time are activated en bloc by controlling pre-decoding signals X0-X3 in accordance with the test signal in the test mode.
    テストモードにおいて、ロウデコーダは、プリデコード信号ＲＸ０〜ＲＸ３を活性化状態に固定し、プリデコード信号Ｘ０〜Ｘ３をテストモードにおいてテスト信号に応じて制御することにより、テストパターンを短時間で書込むために選択したワード線を一括して活性化する。 - 特許庁
  • Next, this test pattern data are reproduced with rotation speed being lower than speed at the time of test writing of this test pattern data (e.g. 1/2 times), after it is amplified by ta pre-amplifier 4, it is supplied to a quality evaluating means 22.
    次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い（例えば、１／２倍の）回転速度で再生し、プリアンプ４で増幅した後、品質評価手段２２に供給する。 - 特許庁
  • To test by mixing at random individual instructions selected from test object instructions at random and a command string pattern constituted of pre-created test object instructions.
    試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする - 特許庁
  • To shorten a test time by efficiently executing pre-processing and post-processing procedures which are common between test cases to be executed continuously.
    連続して実行されるテストケース間で共通の事前処理手順及び事後処理手順の実行を効率化することで、テスト時間を短縮する。 - 特許庁
  • To start test without operating any pre-processing such as stab preparation or external variables setting in the simplex test and partial connection test of a program composed of multiple modules to be performed by using a debugger.
    デバッガを用いて行う複数モジュールからなるプログラムの単体テストおよび部分結合テストにおいて、スタブ作成や外部変数の設定等の前処理を行わずに、テストを開始できるようにする。 - 特許庁
  • The slave station reports, to the master station, the result obtained by measuring the line test data and the reception level at a pre-designated time.
    また、子局は、予め指定した時刻に回線試験データと受信レベルを測定した結果を親局へ通知する。 - 特許庁
  • FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD
    全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁
  • To provide a freeze-preserving liquid for bacteria, exhibiting a good bacterial viability and activity after their preservation and being provided for a preservation efficacy test, a bactericidal capacity test and an antibacterial test directly without performing a pre-culture.
    本発明は、凍結菌を融解後、前培養なしで直ちに保存効力試験、殺菌力試験、抗菌力試験等に供するための、保存後の菌生存率、活性が良好な菌用凍結保存液を提供する。 - 特許庁
  • To obtain information to specify the error factor of a test target device in an early stage without preregistering any existing pre-error log.
    既知のエラー前ログを予め登録しなくても、テスト対象装置のエラー原因を早期に特定する情報を得ることができること。 - 特許庁
  • To provide a pre-charge control signal generating circuit having a pre-charge function of non-synchronism which can perform a required test without being restricted by performance of a memory tester, and a semiconductor memory using this circuit.
    メモリテスタ装備の性能に制限されないで必要なテスト動作を行うことができる非同期のプリチャージ機能を有するプリチャージ制御信号生成回路及びこれを用いた半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
  • When a pre-packed sheet film is used for the X-ray films 16 and 17, this radiographic test method can be easily applied to even a curved surface of a tube, etc.
    Ｘ線フィルム１６，１７として、プレパック型シートフィルムを使用すれば、管などの曲面に対しても容易に適用することができる。 - 特許庁
  • When a test mode is executed, a drive circuit and a pre-charge circuit apply second plate-line voltage to a plate line while applying a fixed potential to a bit line.
    駆動回路及びプリチャージ回路は、テストモードを実行する際、ビット線に固定電位を与えつつプレート線に第２のプレート線電圧を印加する。 - 特許庁
  • To provide a medical appointment system enabling a patient to promptly receive medical care by effectively utilizing test data at a pre-practice stage.
    診療前の段階で検査情報を有効に活用し、利用者に速やかに診療を受けさせることができる診療予約システムを提供する。 - 特許庁
  • The frequency divider circuit receives a test signal TEST and a control signal CONT and a circuit for reducing a period of a frequency division clock signal in use to a shorter period is inserted to the pre-stage of the F/F.
    本回路は、分周回路にテスト信号ＴＥＳＴと制御信号ＣＯＮＴを入力し、使用する分周クロック信号の周期を短い周期に抑制する回路をＦ／Ｆの前段に挿入する。 - 特許庁
  • A control circuit 110 generates burn-in test signals BI, BI_-0, BI_-1 and a signal Get add2, and output them to a pre-decoder 120 according to an address ADB for shifting a semiconductor memory device to a burn-in test mode.
    制御回路１１０は、半導体記憶装置をバーンインテストモードへ移行させるためのアドレスＡＤＢに基づいてバーンインテスト信号ＢＩ，ＢＩ＿０，ＢＩ＿１および信号Ｇｅｔ ａｄｄ２を生成してプリデコーダ１２０へ出力する。 - 特許庁
  • The semiconductor device includes a pre-decoding circuit for simultaneously activating a plurality of pre-decoding signals for driving each of a plurality of sub-word lines connected to one main word line, when a test mode signal to be input is activated.
    半導体装置は、入力されるテストモード信号が活性化されたときに、一つのメインワード線に繋がる複数のサブワード線をそれぞれ駆動する複数のプリデコード信号を同時に活性化するプリデコード回路を含んでいる。 - 特許庁
  • Sample oil 11 is heated for a predetermined time, the cooling oil 16 is circulated, liquid of it is fed, fouling is adhered to the outer surface of the test tube 2, then a fouling amount is determined based on difference from the pre-measured weight of the test tube 2 before the test, and the effect of the fouling inhibitor is evaluated.
    所定時間試料油１１の加熱と、冷却油１６の循環通液を行い、テストチューブ２外表面にファウリングを付着させた後、予め測定しておいた試験前のテストチューブ２の重量との差からファウリング量を求め、ファウリング防止剤の効果を評価する。 - 特許庁
  • At a burn-in test, each read selection gate 20, each write selection gate 30, a write control circuit, and a sense amplifier 50 are activated, and a read-data bus pre-charge equalizing circuit 70 and a global read-data bus pre-charge equalizing circuit 80 are non-activated.
    バーンイン試験時に、各読出選択ゲート２０、各書込選択ゲート３０、書込制御回路４０、およびセンスアンプ回路５０は活性化され、リードデータバスプリチャージ・イコライズ回路７０およびグローバルリードデータバスプリチャージ・イコライズ回路８０が非活性化される。 - 特許庁
  • To provide a high-speed signal transmission line optimal for a transmitter, capable of selecting and setting a single or a plurality of pre-emphasis characteristics, and to provide a semiconductor test device using the same.
    単一または複数のプリエンファシス特性を選択設定できる送信機に最適な高速信号伝送線路とそれを用いた半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a contrast medium removing system, efficiently and continuously removing a contrast medium causing a renal functional disorder while PCI and pre-operation test are performed.
    ＰＣＩおよび術前検査実施中に、腎機能障害の原因となる造影剤を効率良くかつ持続的に除去する造影剤除去システムを提供する。 - 特許庁
  • More specifically, because each individual capacitor may be "pre-tested" and "aged", a likelihood that the final capacitor assembly fails in its performance test is minimal.
    より詳細には、各個々のコンデンサを「予め試験」して「エージング」することができるので、完成コンデンサアセンブリがその性能試験で不合格になることになる可能性は最小である。 - 特許庁
  • In the semiconductor memory device adopting a shared type sense amplifier, entry for a test mode is performed, a transfer gate used for the shared type sense amplifier, a pre-charge circuit, and the sense amplifier are controlled individually.
    シェアード型センスアンプを採用した半導体記憶装置において、テストモードにエントリし、シェアード型センスアンプに用いられるトランスファゲート、プリチャージ回路、センスアンプを個別に制御する。 - 特許庁
  • The server may be connected to an existing PC test port of a controller pre-existing onboard the deployed product to easily retrofit existing machines to be web-enabled.
    サーバは、配備された製品に搭載されており以前から存在している制御装置の既存のＰＣテストポートに接続され、既存の機械に容易にレトロフィットを施してウェブ使用可能とする。 - 特許庁
  • To provide an output buffer circuit which implements the performance test of a receiving circuit in a state where a single LSI unit or short wiring is connected, by achieving the pseudo transmission loss of a practical use state by adjusting an adjustable pre-emphasis amount of the output buffer circuit including a pre-emphasis function.
    プリエンファシス機能を有する出力バッファ回路の、調整可能なプリエンファシス量を調整して、実使用状態の擬似的な伝送損失を実現して、ＬＳＩ単体または短い配線を接続した状態で、受信回路の性能テストを実施する出力バッファ回路を提供する。 - 特許庁
  • The fuse 12 for discrimination belonging to a chip region CHIPf specified through a pre-test SORT 1 before the fuse-cut process is cut by the fuse-cut process, after that, at the time of post test SORT 2, abnormality of the power source supply system in this specified chip region CHIPf is detected.
    ヒューズカット工程以前のプリテストＳＯＲＴ１を経て特定されたチップ領域ＣＨＩＰｆに属する判定用ヒューズ１２をヒューズカット工程にてカットし後のポストテストＳＯＲＴ２に際しこの特定のチップ領域ＣＨＩＰｆにおける電源供給系の異常を検出させる。 - 特許庁
  • To provide an optical disk recording and reproducing apparatus in which stable detection of land pre-pit signal can be performed even in a part where a single frequency signal of a high frequency of a test writing region is recorded.
    試し書き領域の高い周波数の単一周波数信号が記録されているところでも、安定したランドプリピット信号の検出が可能となる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁
  • The system has a monitor means, which is suitable for monitoring document processing peripheral apparatuses, and a test means which is suitable for testing monitored processings by pre-selected determination criteria.
    本発明のシステムは、文書処理周辺装置を監視するのに適した監視手段、および監視された処理を予め選択された判定基準に対してテストするのに適したテスト手段を有する。 - 特許庁
  • To shorten the time required for a pre-shipment power generation operation test and further suppress the deterioration of a reforming catalyst during an operation stop period, in a fuel cell power generation system provided with a reforming process device.
    改質処理装置を備えた燃料電池発電システムにおいて、出荷前発電運転試験にかかる時間を短縮し、しかも運転停止期間中に改質触媒の劣化を抑制する。 - 特許庁
  • The fuse for redundancy substitution cuts off a memory cell array part corresponding to an address of a defective part to substitute a memory cell array part having a defect for a memory cell for redundancy according to a result of a pre-wafer-test.
    冗長置換用ヒューズは、プリウェハーテストの結果によって欠陥を有するメモリセルアレイ部分を冗長用メモリセルに置換するために、欠陥部のアドレスに対応するものを切断する。 - 特許庁
  • A control circuit 19 for raising plural word lines to which the row address pre-decode signal and plural word line rise test mode switching signal AWL are inputted is connected with the row decoder 18.
    ロウデコーダ１８には、ロウアドレスプリデコード信号と複数ワード線立ち上げテストモード切り換え信号ＡＷＬとが入力される複数ワード線立ち上げ用制御回路１９が接続されている。 - 特許庁
  • In a normal operation, the pre-fetch selector 26 sequentially outputs the first data and the second data at the data input/output terminal within one clock period, while in a test mode, the pre-fetch selector 26 determines whether the first data and the second data coincide with each other and outputs the determined result at the data input/output terminal within one clock period.
    プリフェッチセレクタ２６は、通常動作時においては第１のデータと第２のデータとをクロック周期の１周期内に順次データ入出力端子に出力し、テストモードでは第１のデータと第２のデータとが一致するか否かを判定し、判定結果をクロック周期の１周期内にデータ入出力端子に出力する。 - 特許庁
  • An image processing server 22a transmits image data for test to a plurality of image processing servers 21a-21c of pre-stage, acquires the results of image processing, and selects any one image processing server as a process execution server from among the image processing servers of pre-stage for which a determination is made that the results exceed a reference value.
    画像処理サーバー２２ａは、前段の複数の画像処理サーバー２１ａ〜２１ｃにテスト用画像データを送信し、画像処理された結果を取得し、その結果が基準値以上と判断された前段の画像処理サーバーの中から、いずれか１つの画像処理サーバーを処理実行サーバーとして選択する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor conveyance fixture in which external connection terminals can accurately be brought into contact with a contact pin of a pre-test socket even in application to a semiconductor having narrow-pitch external connection terminals.
    狭ピッチの外部接続端子を有する半導体に適用した場合でも外部接続端子と事前試験用ソケットのコンタクトピンとを正確に接触させることが可能な半導体搬送治具を提供する。 - 特許庁
  • A high-speed signal transmission path to which the transmitter having a pre-emphasis function is connected is characterized that a serial circuit of ferrite beads and a capacitor is connected between the transmission path and a return path, and is effective also as a pin electronics part path of the semiconductor test device which performs a highly reliable high-speed test.
    プリエンファシス機能を有する送信機が接続される高速信号伝送路において、前記伝送路とリターン路との間にフェライトビーズとコンデンサの直列回路が接続されたことを特徴とするもので、信頼性の高い高速テストを行う半導体試験装置のピンエレクトロニクス部経路としても有効である。 - 特許庁
  • This leak testing system is provided with a pre-processor 10 putting the work W in the pressurized helium atmosphere, a lead testing device 50 performing the helium leak test on the work W, a transfer mechanism 40 carrying out the work W from the pre-processor 10 and setting it on the leak testing device 50, and a controller 90 controlling the devices 10 and 50 and the mechanism 40.
    リークテストシステムは、ワークＷを加圧ヘリウム雰囲気に置く前処理装置１０と、ワークＷのヘリウムリークテストを行うリークテスト装置５０と、ワークＷを前処理装置１０から搬出し、リークテスト装置５０にセットする転送機構４０と、これら装置１０，５０及び機構４０を制御するコントローラ９０とを備えている。 - 特許庁
  • A command latch circuit 100 to which an access command READ CMD is inputted outputs a low level pulse synchronizing with an external clock CLK, outputs an internal pre-charge signal PRE of a low level through a NAND gate 11 and a NAND gate 75 of a test mode sequence circuit 10, and resets an activation signal WL of a work line from a control circuit 200.
    アクセスコマンドＲＥＡＤ ＣＭＤが入力されたコマンドラッチ回路１００は、外部クロックＣＬＫに同期してローレベルパルスを出力し、テストモードシーケンス回路１０のＮＡＮＤゲート１１及びＮＡＮＤゲート７５を介してローレベルの内部プリチャージ信号ＰＲＥを出力して、制御回路２００からワード線の活性化信号ＷＬをリセットする。 - 特許庁
  • This software component test system stores pre-condition definition information showing a state before the use of the other software components at the time of executing software components and post-condition definition information showing a state after the use of the other software components at the time of executing software components corresponding to the pre-condition information in a component definition description database 300.
    ソフトウェアコンポーネントテストシステムは、ソフトウェアコンポーネントの実行において他のソフトウェアコンポーネントを利用する前の状態を表す事前条件定義情報と、該事前条件情報に対応し、ソフトウェアコンポーネントの実行において他のソフトウェアコンポーネントを利用した後の状態を表す事後条件定義情報とを、コンポーネント定義記述データベース３００に格納する。 - 特許庁
  • To enhance certainty of a performance test of an electric component through reduction of an initial pre-load of an electric conductive member by a simple structure, and to improve durability of a socket for an electric component through reduction of force pressing the electric component.
    簡素な構成により、電気導通部材の初期プリロードを低減させて、電気部品の性能試験の確実性を高めると共に、電気部品を押圧する力を低減させて、電気部品用ソケットの耐久性を向上させる。 - 特許庁
  • To provide a specific gene capable of being detected simply and in a high sensitivity without requiring pre-treatments such as the separation-purification, etc. of nucleic acids in a test specimen, and more concretely, a method for detecting a specific virus or specific microorganism.
    被検試料における核酸の分離・精製等の前処理を必要とせず、簡易に高感度で検出し得る特定遺伝子、具体的には、特定ウイルスまたは特定微生物の検出方法を提供することである。 - 特許庁
  • In pre-rotation for image formation, fifty test electrostatic images 1s are formed on a photosensitive drum 1 and detected by 10 potential sensors 30, whereby image flow states at 100 points on the surface of the photosensitive drum 1 are measured.
    画像形成の前回転時に感光ドラム１に５０本の試験静電像１ｓを形成して、１０個の電位センサ３０で検出することにより、感光ドラム１の表面１００箇所における画像流れ状態を測定する。 - 特許庁
  • A comparing circuit compares signals X0-Xm outputted by a pre-decoder 24 when the signal TMCE is in an activation state with the test mode signals ZTM0-ZTMm, and outputs it to a DQ terminal through a data bus DB.
    比較回路は、信号ＴＭＣＥが活性化状態にあるときにプリデコーダ２４が出力する信号Ｘ０〜Ｘｍとテストモード信号ＺＴＭ０〜ＺＴＭｍとを比較しデータバスＤＢを介してＤＱ端子に出力する。 - 特許庁
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