「precision test」を含む例文一覧(211)

1 2 3 4 5 次へ>
  • To provide a small-scale hydraulic test apparatus with high test precision.
    小型で、試験精度の高いものとする。 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR PRESS HOT PLATEN PRECISION
    プレス熱板精度の検査方法 - 特許庁
  • To improve test precision by a prober.
    プローバによる試験精度を向上させる。 - 特許庁
  • To perform a test on a semiconductor with high precision.
    半導体試験を高精度に実施する。 - 特許庁
  • We would've liked to test it some more to increase its precision but...
    さらに テストを重ねて 精度を高めたかったんですが - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To obtain a fouling degree measurement test result of high precision.
    精度の高い汚損度測定試験結果が得られる様にする。 - 特許庁
  • PRECISION NOTCHING DEVICE AND METHOD FOR CUTTING TEST PIECE USING IT
    精密切欠き装置及びそれを用いた試験片の割断方法 - 特許庁
  • To perform a delivery test of a battery with a good precision and within a short time.
    電池を精度良く、しかも短期間に出荷検査を行う。 - 特許庁
  • To significantly shorten the test time required for a standby current test and to detect failure with precision.
    スタンバイ電流テストにおけるテスト時間を大幅に短縮し、かつ高精度に不良を検出する。 - 特許庁
  • To achieve high measuring precision with a reduced load of a test tape in relation to a test tape unit for coating body fluids.
    体液の塗布用の試験テープユニットに関して試験テープの少ない負荷で高い測定精度を達成する。 - 特許庁
  • To efficiently verify an LSI with high precision and to perform stable inspection (test).
    LSIを高精度且つ効率的に検証し、安定的な検査(テスト)を行う。 - 特許庁
  • To perform a test simulating torque pulsation occurring in an actual tire with high precision.
    実タイヤで発生するトルク脈動を高い精度で模擬した試験ができる。 - 特許庁
  • To improve the precision of soil compensation owing to sensitivity correction using test light.
    試験光を用いた感度補正による汚れ補償の精度向上を図る。 - 特許庁
  • To stably perform an AC timing test to the high speed IF circuit with high precision.
    高速IF回路に対して安定して高精度のACタイミングテストを行う。 - 特許庁
  • A cycle precision level simulation control part 220 obtains a cycle precision level simulation model, a cycle precision level test pattern, and an RTL description to make a cycle precision level simulation executing part 210 execute the cycle precision level simulation.
    サイクル精度レベルシミュレーション制御部220はサイクル精度レベルシミュレーションモデル、サイクル精度レベルテストパタン及びRTL記述を取得し、サイクル精度レベルシミュレーション実行部210にサイクル精度レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁
  • To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.
    パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁
  • To reduce development costs for a test and an evaluation process by creating a script for test of high test precision and lightening the burden of work needed for the creation of the script for test.
    テスト精度の高いテスト用スクリプトを作成すると共に、テスト用スクリプト作成時に要する作業負荷を軽減することで、テスト及び評価工程における開発コストを軽減する。 - 特許庁
  • Since the relationship between the data acquired by the constrained test and the data acquired by the unconstrained test is acquired by the constrained test of less number of times, for definite and high precision, the data at the constrain test can be acquired at high precision based on the data acquired only by the unconstrained test.
    拘束試験で得られるデータと非拘束試験で得られるデータの関係が、回数が少ない拘束試験で得られて確定的に高精度に知られているので、非拘束試験のみで得たデータに基づいて、拘束試験を行った時のデータを高精度に得ることができる。 - 特許庁
  • To improve the precision of a test for verifying whether or not application operates normally.
    アプリケーションが正常に動作するかどうかを検証するテストの精度を向上すること。 - 特許庁
  • To provide a deterioration tester capable of performing a deterioration test of high precision in a short time.
    短時間に高精度の劣化試験を実施できる劣化試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To improve precision of detecting pattern imperfection without increasing the number of test patterns.
    テストパターン数を増大させることなくパターンの不具合検出精度を向上させる。 - 特許庁
  • To improve the measurement precision of coverage in a test of program where dynamic binding exists.
    動的束縛が存在するプログラムのテストにおけるカバレッジの測定精度を向上させる。 - 特許庁
  • The probe card 1 performs a test on a semiconductor with high precision.
    この様なプローブカード1であれば、半導体試験を高精度に実施することができる。 - 特許庁
  • To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.
    熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device test apparatus which performs a test on a device under test which outputs a reference clock for use in data delivery synchronously with data reading with high precision.
    データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックを出力する被試験デバイスを高精度に試験する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron beam device provided with an electron gun which can emit multiple beams of high precision, and can perform a sample test of high precision.
    高精度のマルチビームを放出可能な電子銃を備え、高精度で試料評価を行いうる電子線装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test hammer capable of correcting easily a precision error before delivery, while preventing as much as possible the precision error from being generated after delivered.
    出荷後の精度誤差発生は可及的に防止されながら、出荷前の精度誤差補正は容易なテストハンマーを提供する。 - 特許庁
  • To enhance calculation precision for delays generated by various port connections to a test fixture.
    テストフィクスチャに対する様々なポート接続によって生じる遅延の算出精度を向上させる - 特許庁
  • To test the electrical characteristics of a semiconductor device with high precision without damaging the semiconductor device.
    半導体素子に損傷を与えず、且つ半導体素子の電気的特性を高精度に試験する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device capable of improving precision in controlling temperature in the semiconductor device when conducting a burn-in test.
    バーンイン試験の際に半導体装置内の温度制御の精度を向上させること。 - 特許庁
  • To provide the air leak test device which detects a leak in a work in a short time with high precision.
    ワークの漏れ検出を短時間でしかも高精度に行えるエアリークテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • To improve the simulation speed without lowering the precision of the fault detection rate of a test pattern.
    テストパタンの故障検出率の精度を低下させることなくシミュレーション速度を向上させる。 - 特許庁
  • In the minute test piece, the end face is subjected to high-precision precision machining to form a minute gap prescribed at an area to the tool for loading stress.
    微小試験片は、その端面が高精度精密加工することで応力負荷用治具との間に規定された微小ギャップを形成する。 - 特許庁
  • To provide a test pattern detection device which has a high read precision of a test pattern while improving a position precision of an element by suppressing distortion of an element holding part when attaching a detection sensor.
    検知センサ取り付け時の素子保持部の歪みを抑え、素子の位置精度を上げつつ、テストパターンの読み取り精度が高いテストパターン検知装置を提供し、画像品質の高い画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test.
    簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test apparatus and method for simultaneously achieving shortness of a time necessary for calibration and improvement of test precision.
    校正に必要な時間の短縮と試験精度の向上とを同時に実現することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.
    差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側,ワーク側の2つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.
    テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method for determining disconnection of a coaxial cable assembly at high speed and with high precision.
    同軸ケーブルアセンブリの断線の有無を高速かつ高精度に判定する試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a motion vector detector in a simple configuration, which conducts a self-test with high precision.
    精度よく自己テストを行なうことができる、簡単な構成の動きベクトル検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card which increases a measurement precision in a probing test of a semiconductor device.
    半導体デバイスのプロービング試験時における測定精度を向上させるプローブカードを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a corrosion testing device that improves precision of the amount of adhered salt content and has a small dispersion of test results.
    付着塩分量の精度を高め試験結果のバラツキが小さい腐食試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To enhance a judging precision of an adjustment test pattern in adjustment of a printing timing in a printing apparatus.
    印刷装置における印字タイミングの調整において、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁
  • To improve uniformity of an air flow distribution at a measurement part, and to perform a wind tunnel test at high precision.
    測定部における気流分布の一様性の向上を図り、精度の高い風洞試験を実現する。 - 特許庁
  • To provide a control method contributing to the enhancement of precision by sensing eccentric loading during a test and correcting it, in a compression strength test of concrete.
    コンクリートの圧縮強度試験において、試験中の偏心載荷を感知して修正することにより精度向上に寄与する管理方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an expired gas bag by which the precision of measurement can be improved, operation is efficiently carried out, and a multipurpose test can be realized in an expired gas test.
    呼気ガス検査において、測定精度の向上や、作業の効率化、検査の多目的化を図ることができる呼気ガス収納袋を提供すること。 - 特許庁
  • To reduce the test cost of liquid to be tested, improve the preserving property and inspection precision thereof, and simplify the collection work and test work.
    検査対象液の検査コストの低減化や保存性及び検査精度の向上を図ると共に、採取作業及び検査作業の簡素化を図る。 - 特許庁
  • To provide an electronic component tester capable of securing a high test precision while intending to increase the effect of test operation.
    試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • In addition, the pressure test method for pipelines is also characterized by that the precision of the test obtained during the predetermined monitoring period is evaluated whether it is higher than the required precision or not, and the test result is determined to be accepted or not.
    また、加圧されたパイプライン内の残留空気量を求めて、予め設定された監視期間で得られる試験精度が必要な精度以上であるかを確認して試験結果の採否を決定することを特徴とするパイプラインの圧力試験方法を用いる。 - 特許庁
  • To segment a quality deterioration block, and to efficiently search for the cause of the quality deterioration by acquiring precision close to the line test of End-End even in a test environment in which a test block is divided.
    試験区間を分割して行う試験環境においてもEnd〜Endの回線試験に近い精度を得て、品質劣化区間の切り分けを行い、品質劣化原因の究明を効率よく行う。 - 特許庁
1 2 3 4 5 次へ>

例文データの著作権について