METHOD FOR PROBABILISTIC SIMULTANEOUS ORDER INSPECTION OF A PLURALITY OF ELEMENTS AND PROGRAM FOR ORDER INSPECTING 複数の要素に対する確率的同時位数検査方法および位数検査プログラム - 特許庁
SYSTEM, METHOD, AND COMPUTER PROGRAM FOR PROBABILISTIC MULTILAYER ERROR CORRECTION OF NAND FLASH MEMORY NANDフラッシュ・メモリにおける確率論的多層エラー訂正のためのシステム、方法、およびコンピュータ・プログラム - 特許庁