「process Inspection」を含む例文一覧(1313)

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 26 27 次へ＞
  • PROCESS INSPECTION SYSTEM
    工程検査システム - 特許庁
  • INSPECTION PROCESS MANAGEMENT SYSTEM
    検査工程管理システム - 特許庁
  • PROCESS INSPECTION METHOD AND PROCESS INSPECTION DEVICE OF CYLINDRICAL BATTERY
    円筒形電池の工程検査方法および装置 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD FOR PROCESS CARTRIDGE
    プロセスカートリッジの検査方法 - 特許庁
  • GAME MACHINE, INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION PROCESS OF GAME MACHINE
    遊技機、遊技機の検査装置および検査方法 - 特許庁
  • INSPECTION STANDARD SETTING SYSTEM, INSPECTION STANDARD SETTING METHOD AND PROCESS INSPECTION DEVICE
    検査基準設定装置及び方法、並びに、工程検査装置 - 特許庁
  • In the periodic operator's inspection mentioned later, electric facility inspectors of the NISA, and inspectors of JNES applying the quality assurance standards, witness the inspection of the facilities particularly important to safety, or check relevant records, and verifies the process of the periodic operator's inspection (appropriateness of inspection procedures, inspection staff, justification of the inspection results, etc.).
    また、2009年1月からは、新たに保全計画の確認を実施している。 - 経済産業省
  • SAMPLE INSPECTION AND/OR PROCESS DEVICE
    サンプル検査及び／又は処理装置 - 特許庁
  • OVERLAY INSPECTION METHOD OF EXPOSURE PROCESS
    露光工程のオーバレイ検査方法 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD AND PROCESS MANAGEMENT METHOD
    検査装置及び検査方法並びにプロセス管理方法 - 特許庁
  • NEXT PROCESS DETERMINING METHOD, INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE
    次処理決定方法、検査方法および検査装置 - 特許庁
  • The final process contains a complete vehicle inspection process 44 and the additional repair process 46.
    最終工程は完検工程４４と加修工程４６を含む。 - 特許庁
  • (c) Verification results in the inspection process (including the stage before commencing on-the-spot inspection)
    ハ.検査の過程（立入開始前も含む）における検証 - 金融庁
  • To change a setting of a product inspection process without stopping the product inspection process during the product inspection process.
    製品検査処理中においても当該製品検査処理を中止することなく当該製品検査処理の設定を変更する。 - 特許庁
  • To link a defect inspection process with a dimension inspection process of a blade for automization.
    ブレードの欠陥検査工程と寸法検査工程とを連動させて自動化を図る。 - 特許庁
  • INSPECTION SYSTEM FOR SUBSTRATE PROCESSING PROCESS APPARATUS, SENSOR FOR INSPECTION SYSTEM AND INSPECTION METHOD FOR PROCESS APPARATUS
    基板を処理するプロセス装置の検査システム、およびこの検査システムのためのセンサ、ならびにプロセス装置の検査方法 - 特許庁
  • MASTER DISK, MASTER DISK CLEANING PROCESS, AND MASTER DISK INSPECTION PROCESS
    マスターディスク、マスターディスククリーニング工程、およびマスターディスク検査工程 - 特許庁
  • PHOTO LITHOGRAPHY PROCESS DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE
    フォトリソプロセス装置および欠陥検査方法 - 特許庁
  • RESISTANCE MEASURING METHOD AND COMPONENT INSPECTION PROCESS
    抵抗測定方法、および部品検査プロセス - 特許庁
  • MAINTENANCE AND INSPECTION DEVICE FOR PROCESS MEASUREMENT CONTROL SYSTEM
    プロセス計測制御システム保守点検装置 - 特許庁
  • The inspection results that a product inspection is conducted in an inspection process after the processing are stored in an inspection result DB1.
    加工処理後に検査工程にて製品検査が施された検査結果が検査結果ＤＢ１に格納される。 - 特許庁
  • In relation to a recovered used battery 1A, presence of a battery protecting function is determined by a protective circuit inspection process, a submergence history inspection process, an expiration date inspection process and a temperature history inspection process.
    回収された使用済み電池１Ａについて、保護回路検査工程と、水没履歴検査工程と、使用期限検査工程と、温度履歴検査工程とにより、電池保護機能の有無を判定する。 - 特許庁
  • In a wafer inspection process c, a wafer inspection device requests skip judging of wafer inspection to the semiconductor inspection management device (204a).
    ウェハ検査（工程ｃ）で、ウェハ検査装置はウェハ検査のスキップ判定を半導体検査管理装置に依頼する２０４ａ。 - 特許庁
  • AUTOMATED WAFER DEFECT INSPECTION SYSTEM AND PROCESS OF PERFORMING SUCH INSPECTION
    自動化ウェハ欠陥検査システムおよびこのような検査を実行する方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING PROCESS AND INSPECTION METHOD OF ELECTRONIC DEVICE
    電子装置の製造方法およびその検査方法 - 特許庁
  • This inspection process management system 40 includes an inspection process database 29, an input means 8a, an additional inspection process database 9, an inspection process correlation part 4, a process formability determination part 7, and an output means 8b.
    点検工程管理システム４０は、点検工程データベース２９と、入力手段８ａと、追加点検工程データベース９と、点検工程関連付け部４と、工程成立性判定部７と、出力手段８ｂとを備えている。 - 特許庁
  • To provide a display panel inspection device and its inspection method to automate a visual inspection process.
    ビジュアル検査工程を自動化するための表示パネル用検査装置及びその検査方法が開示される。 - 特許庁
  • When the inspection switch 40 is turned "off" immediately after determination of the linked inspection, the linked inspection process is carried out.
    連動点検の確定の直後に点検スイッチ４０をＯＦＦにすると連動点検処理を行う。 - 特許庁
  • TIRE MOLD MEMBER INSPECTION METHOD, TIRE MOLD MEMBER INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD FOR MOLD MEMBER MANUFACTURING PROCESS ACCURACY
    タイヤ型部材検査方法、タイヤ型部材検査装置、および型部材作製工程精度検査方法 - 特許庁
  • When the inspection program is under operation, it is judged that the inspection process is being performed.
    検査プログラムが動作している場合には、検査工程であると判断する。 - 特許庁
  • A contamination inspection device transmits result of contamination inspection performed in a contamination inspection process b to a semiconductor inspection management device (202c).
    異物検査装置は、異物検査（工程ｂ）で行った異物検査の結果を半導体検査管理装置に送信する２０２ｃ。 - 特許庁
  • To provide an automatic inspection system wherein an inspection process of a digital X-ray inspection device used for industrial inspection is automatized.
    工業用検査に利用されるデジタルＸ線検査装置の検査工程を自動化した自動検査システムを提供する。 - 特許庁
  • INSPECTION RESERVATION SERVICE METHOD, INSPECTION AND DIAGNOSTIC IMAGE DATA SERVICE METHOD, INSPECTION DATA ANALYZING PROCESS SERVICE METHOD, AND IMAGE AND INSPECTION DATA SERVICE METHOD
    検査予約サービス方法、検査・診断画像データサービス方法、検査データ解析処理サービス方法、画像・検査データサービス方法 - 特許庁
  • To provide an automatic inspection system capable of enhancing inspection precision of a post process, using effectively an inspection result in a prior process.
    前工程の検査結果を有効に利用して、後工程の検査精度を向上させることのできる自動検査システムを提供する。 - 特許庁
  • An insulator 11 is inspected through a reference voltage determination process, an inspection domain determination process, an inspection voltage determination process, and a current detection process.
    絶縁碍子１１の検査は、基準電圧決定行程、検査領域決定行程、検査電圧決定行程、電流検出行程を経てなされる。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR IMAGE PROCESS INSPECTION
    画像処理検査装置および画像処理検査方法 - 特許庁
  • IN-PROCESS INSPECTION DEVICE FOR DIAMETER OF CYLINDRICAL PARTS
    円筒形部品の直径の工程内検査装置 - 特許庁
  • The method includes the first fixing process for fixing the mold 2 to a tool 3, a shape creation process, a deblocking process, the first inspection process, the second fixing process, a chamfering process, a deblocking process, and the second inspection process.
    成形型の製造方法は母型２を治具３に固着する第一固着工程、形状創成工程、デブロック工程、第一検査工程、第二固着工程、面取り加工工程、デブロック工程、第二検査工程を備える。 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD FOR CONDUCTOR LAYER FORMING PROCESS ON WIRING BOARD
    配線基板の導体層形成工程の検査方法 - 特許庁
  • To prevent a toner seal from being pulled off in the course of an assembly (inspection) process.
    組立て（検査）工程でのトナーシール引かれ防止。 - 特許庁
  • OPERATION PROHIBITION TAG AND MANAGEMENT SYSTEM FOR MAINTENANCE AND INSPECTION PROCESS
    操作禁止札及び保守点検工程管理システム - 特許庁
  • INSPECTION METHOD IN MANUFACTURING PROCESS OF ASEPTICALLY FILLING BOTTLE
    無菌充填ボトル製造工程における検査方法 - 特許庁
  • To provide an inspection rationalization system and a rationalization inspection device enhanced in efficiency for an inspection process, and allowing inspection separately from a product.
    検査工程の効率を向上し、さらに製品とは別途に検査可能な検査合理化システム及び合理化検査装置を提案する。 - 特許庁
  • An inspection process for a wafer is carried out by a wafer inspection device, and a review process is carried out by an external apparatus connected to the wafer inspection device.
    本発明によると、ウエハの検査処理はウエハ検査装置が行い、レビュー処理はウエハ検査装置に接続された外部機器が行う。 - 特許庁
  • To provide an inspecting method capable of improving productivity in a product inspection process, without performing a complicated inspection in an inspection pre-stage, a chip inspection process in particular, for instance, in the product inspection process of a remote controller light receiver.
    たとえばリモートコントローラ受光装置の製品検査工程において、検査前工程、特にチップ検査工程での複雑な検査を実施することなく、製品検査工程での生産性を向上させ得る検査方法の提供。 - 特許庁
  • To display an inspection list in which inspection list information required for a process under processing is arranged.
    処理中の工程に必要な検査リスト情報を配置した検査リストを表示する。 - 特許庁
  • To enhance inspection accuracy of leakage and the function of exter nal washing process of container by combining the external washing process with the leak inspection process.
    容器の外洗工程を容器漏れの検査工程と組み合わせることにより、漏れ検査精度を高め、外洗工程の機能を高める。 - 特許庁
  • PROCESS FOR PRODUCING CHEMICAL PRODUCT AND QUALITY INSPECTION PROCESS FOR CHEMICAL USED IN THE SAME
    化学製品の製造方法及びこれに用いる化学品の品質検査方法 - 特許庁
  • (f) Systems regarding receiving inspection for materials, parts and components, etc. and acceptance inspection, in-process inspection and completion inspection for aircrafts and components
    ヘ　材料、部品、装備品等の領収検査並びに航空機又は装備品の受領検査、中間検査及び完成検査に関する制度 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide an inspection tool capable of easily detecting common short-circuit in the liquid crystal cell inspection process or module inspection process of a liquid crystal display device.
    液晶表示装置の液晶セル検査工程またはモジュール検査工程においてコモンショートを容易に検出することができる検査工具を提供する。 - 特許庁
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 26 27 次へ＞

例文データの著作権について