「random scan」に関連した英語例文の一覧と使い方

「random scan」を含む例文一覧(31)

a method of screening called random scan
ランダムスキャンという,画面の走査方式 - EDR日英対訳辞書
SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT
スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁
To detect a fault on a scan chain using a random pattern.
ランダムパターンを用いてスキャンチェーン上の故障を検出すること。 - 特許庁
To effectively utilize scan information by embedding information other than that of a transmitted image to the scan information representing a scan direction or a scan sequence in the case of transmitting pixels at random.
ランダムに画素を伝送する場合に、スキャン方向またはスキャン順を示すスキャン情報に伝送画像以外の情報を埋め込み、スキャン情報を有効に利用する。 - 特許庁
Also, the output registers 9, 18 are constituted of flip-flop with scan, and flip-flop with scan constitutes scan path for the bit of random access memories 6, 15 having the same address constitution.
また、出力レジスタ９，１８は、スキャン付きフリップフロップで構成され、スキャン付きフリップフロップはアドレス構成が同一のランダムアクセスメモリ６，１５のビットについてスキャンパスを構成する。 - 特許庁
When scan action incapable of detecting coherent light in nonprojection periods have continued a specified number of times, this photoelectric sensor varies the scan cycle at random.
非投光期間において干渉光を検出できないスキャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をランダムに可変する。 - 特許庁
When signals in a scan clock unit outputted from a random pattern generator 102 for generating pseudo random signals at prescribed periods are matched with patterns in a scan clock unit inputted to the scan chain 101 of the ATPG patterns, a scan clock selection decoder 103 supplies a clock for inputting the signals in a scan clock unit outputted from the random pattern generator 102.
スキャンクロック選択デコーダ１０３は、所定周期の擬似ランダム信号を発生するランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号とＡＴＰＧテストパタンの前記スキャンチェーン１０１に入力されるスキャンクロック単位のパタンとが一致するときに、前記ランダムパタン発生器１０２から出力されるスキャンクロック単位の信号を入力するためのクロックをスキャンチェーン１０１に供給する。 - 特許庁
A plurality of scan path registers are connected by an array of static random access memory (SRAM) units of a plurality of memory cells.
複数のスキャンパスレジスタは、複数のメモリセルからなるスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM)アレイによって接続される。 - 特許庁
In this test faciliting circuit, the LFSR is composed of scan flip-flops 107 arranged regularly in a scan chain 109, an output value from the inspected circuit 101 are pattern-compressed, and signature is scanned in the scan chain 109 as a pseudo-random number sequence.
スキャンチェーン１０９中で規則的に配列されたスキャンフリップフロップ１０７を用いてＬＦＳＲを構成し、被検査回路１０１からの出力値をパターン圧縮し、シグニチャを擬似乱数列としてスキャンチェーンにスキャンインする。 - 特許庁
The pattern generation circuit 30 inputs a random pattern RPAT into input terminals (P1, P2) of the N scan chains (11, 12), respectively.
パターン生成回路３０は、Ｎ本のスキャンチェーン（１１，１２）のそれぞれの入力端子（Ｐ１，Ｐ２）にランダムパターンＲＰＡＴを入力する。 - 特許庁
A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.
テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.
回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
In this case, the possibility of executing the same interference-avoiding action as in other multiple optical axis photoelectric sensors is very low, because this varies the scan cycle at random.
この場合、スキャン周期をランダムに可変することから、他の多光軸光電センサと同一の干渉回避動作を実行してしまう可能性は極めて低い。 - 特許庁
A regional connection order decision part 103 decides connection order of a scan path circuit within an area divided by an allocation area division part 102 at random.
領域内接続順序決定部１０３は、配置領域分割部１０２によって分割された領域内のスキャンパス回路の接続順序をランダムに決定する。 - 特許庁
For example, when a flash scan execution protocol works as the interruption protocol, contrast bubbles that present in a photographing region can be destroyed easily and quickly at random timing.
例えば、フラッシュスキャン実行プロトコルを割り込みプロトコルとすることで、撮影領域に存在する造影剤バブルを任意のタイミングで簡単且つ迅速に破壊することができる。 - 特許庁
To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.
スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁
To provide an optical imaging apparatus and an NIR clinical opti-scan system for the detection and three-dimensional imaging of absorbing and/or scattering structures in complex random media, such as human body tissue, by detecting scattered light emerging from the medium.
人体組織の如き複雑で無秩序な媒体から出射する散乱光を検出し、当該媒体内の吸収及び（又は）散乱構造体の検出及び三次元作像。 - 特許庁
A random number pattern generator 21 generates a scan-in signal and outputs it to a scanning timer 0 (22-1), and a scanning timer 1 (22-2) having the same function as the scanning timer 0 (22-1).
乱数パターン発生器２１は、スキャンイン信号を生成して、スキャン化タイマ０（２２−１）と、スキャン化タイマ０（２２−１）と同一の機能を有するスキャン化タイマ１（２２−２）とに出力する。 - 特許庁
The semiconductor device includes a run-stop circuit RUNSTOP for outputting a run-stop control signal RS; a first random number pattern generating circuit RDG_PT for generating a pseudo-random number pattern; an inversion control unit INV_BLK for inverting the output according to the value of a data input signal Din from outside; and a scan chain unit SC_BLK for scan-inputting the output through the INV_BLD.
例えば、ランストップ制御信号ＲＳを出力するランストップ回路ＲＵＮＳＴＯＰと、擬似乱数パターンを生成する第１乱数パターン発生回路ＲＤＧ＿ＰＴと、その出力を外部からのデータ入力信号Ｄｉｎの値に応じて反転させる反転制御部ＩＮＶ＿ＢＬＫと、ＩＮＶ＿ＢＬＫを介した出力がスキャン入力されるスキャンチェーン部ＳＣ＿ＢＬＫとを設ける。 - 特許庁
When correcting a curve in a sub scan direction of a laser scanning line by image processing in the laser scan type image forming apparatus, an image shifting position for curve correction of each scanning line is minutely moved at random to main scanning for each correction point within a second dimensional plane, thereby making the curve correction step to be hardly seen.
画像処理によって、レーザ走査線の副走査方向湾曲を補正する場合に、走査線毎の湾曲補正用画像ずらし位置を、2次元面内の補正点毎に、主走査に微小にランダム移動させることによって、湾曲補正段差を見えにくくする。 - 特許庁
Random generation/update processing of the scan program SP by the generation program GP is performed in the secure module 110 and therefore the generation process cannot be peeped, analyzed, or accordingly invalidated.
この生成プログラムＧＰによるスキャンプログラムＳＰのランダム生成／更新処理は、セキュアモジュール１１０内で実行されるため、生成過程を覗き見されたり、解析されたり、その結果無効化されることはない。 - 特許庁
Furthermore, the scanning electrodes are selected irrespective of locations of the sequentially arranged scan electrodes and at random and further selected once in one frame period.
さらに、前記走査電極が、順次に配設した前記走査電極の位置とは無関係に、且つランダムに前記走査電極を選択され、さらに前記１フレーム期間中で１回選択されることを特徴とする。 - 特許庁
When it is determined that it is timing for generating the random numbers (S11: YES), initialization such as adjustment of light intensity of an exposure lamp and gain control of a CCD line sensor is performed (S12) and scan is started (S13).
乱数を生成するタイミングであると判断した場合（Ｓ１１：ＹＥＳ）、露光ランプの光量の調整、ＣＣＤラインセンサのゲインの調節等の初期設定を行い（Ｓ１２）、走査を開始する（Ｓ１３）。 - 特許庁
To provide an ultrasonic diagnostic equipment that can execute a flash scan easily at random timing and determine accordingly whether a high-intensity region is a tissue or an area photographed by a contrast agent.
任意のタイミングで簡便にフラッシュスキャンを実行し、高輝度領域が組織か造影剤による染影領域であるかを適宜判断することができる超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁
The data collection section fetches the flip-flop setting value, at turning on the power source via the scan chain or an independent connection pass and performs a process of forming a random number, based on the input value or an ID as fixed data.
データ収集部は、スキャンチェーンまたは独立の接続パスを経由して電源投入時のフリップフロップ設定値を入力し、入力値に基づく乱数または固定データとしてのＩＤ生成処理を実行する。 - 特許庁
Shiftable memory areas 101, 102, and 103 are provided and connected to a pseudo-random number generator 107 and a signature analyzer 108 to perform loading and unloading operations instead of scan chains 104, 105, and 106.
シフト可能なメモリ領域１０１，１０２，１０３を設け、このメモリ領域を疑似乱数発生器１０７、シグネチャ解析器１０８に接続し、スキャンチェイン１０４，１０５，１０６に代ってロード・アンロード動作を実行させる。 - 特許庁
A control part 160 controls the gradient driving part 130 and the data collecting part 150 and performs data collection in random order in spite of the order of alignment of trajectories concerning the radial trajectories for one scan aligned in order at a fixed angle pitch within the angle range of 180° on the (k) space.
あるいは、最初のトラジェクトリとその次のトラジェクトリの角度差を９０°とし、その後、隣り合うトラジェクトリ同士の角度差が順次に２で累除した角度となるように新たなトラジェクトリを設定する。 - 特許庁
To provide an X-Y scan type solid-state imaging device which realizes photographing a high-resolution still picture and reduction in power consumption for photographing an animation and which can output video signals at random.
本発明は、高解像度の静止画像の撮影を行うとともに動画撮影時の消費電力を低減することができる、映像信号のランダムな出力が可能なＸ−Ｙ走査型の固体撮像素子を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide ultrasonic diagnostic apparatus that executes a flash scan easily at random timing and determine accordingly whether a high-luminous region is a tissue or an area photographed by a contrast agent in FEI mode for flash scanning according to a predetermined protocol.
所定のプロトコルに従ってフラッシュスキャンを行うＦＥＩモードにおいて、任意のタイミングで簡便にフラッシュスキャンを実行し、高輝度領域が組織か造影剤による染影領域であるかを適宜判断することができる超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁
In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.
乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁
An active matrix type liquid crystal display device with a built-in driving circuit using thin film transistors is configured so that a vertical scanning circuit is composed of thin film transistors so as to scan scanning signal wiring at random by decoding address signals from an external liquid crystal control circuit by a decoder circuit, and the decoder circuit composed of thin film transistors comprises pull-up resistance and plural switching elements.
薄膜トランジスタによる駆動回路内蔵型アクティブマトリクス液晶表示装置において、薄膜トランジスタで構成された垂直走査回路の構成として、外部液晶コントローラ回路からのアドレス信号をデコーダ回路でデコードすることにより、走査信号配線をランダム走査する構成であって、薄膜トランジスタによるデコーダ回路の構成として、プルアップ抵抗と複数のスイッチング素子で構成されたことを特徴とする。 - 特許庁

「random scan」を含む例文一覧(31)

例文データの著作権について