To conduct a defect inspection of a magnetic disk by write/read test without being influenced by random errors. ライト/リード試験による磁気ディスクの欠陥検査をランダムなエラーの影響を受けないように行う。 - 特許庁
Write or read to/from a storage element is performed by a verification test program, and the data of the scoreboard are updated so that access to the storage element can be realized at random. 検証のテストプログラムで、記憶素子に対して、ライトもしくはリードを行うと同時に、スコアボードのデータを更新することによって、ランダムにアクセスすることを可能としている。 - 特許庁
To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution. マルチバンク構成を有する同期型DRAMにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁