「reference R」を含む例文一覧(413)

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  • * Reference Material (VR Thai ACR 2009)
    ※参考資料(V Rタイ ACR2009) - 経済産業省
  • Reference mirror 9 reflects the reference light R.
    参照鏡9は参照光Rを反射する。 - 特許庁
  • At this time, a reference level Eth which is the reference for this judgment is changed according to a reference level R.
    このとき、当該判断の基準となる基準レベルEthを、リファレンスレベルRに応じて変化させる。 - 特許庁
  • The reference mirror 9 is designed to be movable in light path direction of the reference light R.
    参照鏡9は、参照光Rの光路方向に移動可能とされている。 - 特許庁
  • The separation between the reflected wave R and reference wave is facilitated, by delaying the reference wave S more than the reflected wave R.
    反射波Rよりも参照波Sの方を遅らせることで反射波Rと参照波Sの分離を容易とする。 - 特許庁
  • In the expression, Ret[(r, θ)] shows the magnitude of the double refraction and (ϕ) shows the direction of a phase advancing axis measured with a direction (θ) as a reference.
    Δn(r,θ)=Ret(r,θ)・(2(cosφ)^2-1) …(1) ここで、Ret(r,θ)は複屈折の大きさ、φはθ方向を基準にして計った進相軸の向きを示す。 - 特許庁
  • Wavelength plate 7 converts polarization property of the reference light R.
    波長板7は参照光Rの偏光特性を変換する。 - 特許庁
  • (b) the letters '(r)', '(c)' or similar combinations which may be construed to import a reference to registration.
    (b) 登録への言及を意味すると解釈される可能性がある「(r)」,「(c)」の文字又は類似の組合せ - 特許庁
  • A phase restriction correlation between the reference image M(h, k) and the image to be inspected N(h, k) after FFT is taken to acquire a function R(h, k) (S403).
    FFT後の基準画像M(h, k)と被検査画像N(h, k)の位相限定相関をとり、関数R(h, k)を得る(S403)。 - 特許庁
  • The output light M is divided into signal light S and reference light R.
    出力光Mは信号光Sと参照光Rに分割される。 - 特許庁
  • A reference setting section 24 sets an average value of a plurality of characteristic amounts F as a reference value R.
    基準設定部24は、複数の特徴量Fの平均値を基準値Rとして設定する。 - 特許庁
  • When the ratio R is smaller than the reference value Rth, a catalyst is determined to be deteriorated (Steps 108, 110).
    この比率Rが基準値Rthよりも小さい場合に、触媒が劣化していると判定する(ステップ108,110)。 - 特許庁
  • The information code C1 includes a reference plane R and recessed parts 1-3 having at least two kinds of depths from the reference plane R, and each value constituting the information code C1 is assigned to the reference plane R and each depth.
    情報コードC1は、基準面Rと、基準面Rからの深さが少なくとも2種類存在する凹部1〜3とで構成されており、基準面Rおよび各深さには、情報コードC1を構成する各値が割り付けられている。 - 特許庁
  • The compensation blocks 4a, 4b use the reference signal r(t) in common.
    参照信号r(t)は、補償ブロック4a、4bで共通に利用される。 - 特許庁
  • A reference plane to be a basis among the planes of R, G, B is determined (a step S5).
    R,G,Bのプレーンのうち基準となる基準プレーンを定める(ステップS5)。 - 特許庁
  • A clamp pallet 2 which is the reference member R is fixed to a table 1 of machining center.
    マシニングセンタのテーブル1に、基準部材Rであるクランプパレット2を固定する。 - 特許庁
  • The synthesizing means 34 removes a low-order component of the reference light R overlapping the spatial frequency of the signal light S to synthesize the reference light R with the signal light S.
    上記合波手段34では、参照光Rのうち、信号光Sの空間周波数と重なる低次成分を除去した後、信号光Sと合波する。 - 特許庁
  • R, G and B reference image signals from a reference camera 1 and R, G and B comparison image signals from a comparison camera 2 are given to an image matching degree computing part 15.
    基準カメラ1からのR,G,B基準画像信号及び比較カメラ2からのR,G,B比較画像信号が画像一致度演算部15に与えられる。 - 特許庁
  • A reference point S_0 to be white at an input color temperature is determined, and an elliptic white balance allowable range with the reference point S_0 as a center of B-G, R-G planes is set.
    入力された色温度において白となる基準点S_0を決定し、基準点S_0をB-G,R-G平面の中心とする楕円形状のホワイトバランス許容範囲を設定する。 - 特許庁
  • When the state where resistance R is smaller than 100 Ω (S13), reactance X is smaller than 15 Ω (S14) and a ratio R/X is smaller than 30 (S15) continues for three times, the third measured value is defined as a reference value (S18-S20).
    レジスタンスRが100Ω未満(S13)、リアクタンスXが15Ω未満(S14)、および比R/Xが30未満(S15)の状態が3回続いた時に3回目の各計測値を基準値する(S18〜S20)。 - 特許庁
  • JEAC 4111-2009 is a revision of JEAC 4111-2003 which was prepared with reference to 50-C-Q, and thus conforms to GS-R-3.
    JEAC 4111-2009は、50-C-Qを参考にして作成されたJEAC 4111-2003の改訂規程であり、GS-R-3の品質保証の要求事項に準拠している。 - 経済産業省
  • In each light pair 4, the angle between the light I and the reference light R is variable.
    また、各光ペア4は物体光Iと参照光Rのなす角度が可変である。 - 特許庁
  • The operator inputs the comparison result of the color of the test pattern T with that of the reference body R.
    オペレータは、テストパターンTの色と基準体Rの色との比較結果を入力する。 - 特許庁
  • The reference voltage Vref impressed to the reference terminal R of the IC 15 is generated on the basis of resistors R1, R2.
    シャントレギュレータIC15のリファレンス端子Rに印加される基準電圧Vrefは、抵抗R1および抵抗R2により発生される。 - 特許庁
  • the proportion R of the measured addition quantity to the instructed addition quantity is calculated (step 1-6), and when the proportion R is outside the reference range, the exhaust fuel addition valve is determined to be abnormal (step 112).
    指示された添加量に対する計測された添加量の比率Rを算出し(ステップ106)、この比率Rが基準範囲外である場合に、排気燃料添加弁が異常であると判定される(ステップ112)。 - 特許庁
  • This mobile robot R sends an electric wave to the peripheral region of the mobile robot R, and irradiates light toward a search region preset in the periphery of a mobile robot R taking the mobile robot R as a reference.
    移動ロボットRは、電波を移動ロボットRの周辺領域に発信すると共に、移動ロボットRを基準として移動ロボットRの周囲において設定された探索域に向けて光を照射する。 - 特許庁
  • Further, the reference image is divided into a plurality of domains R, and information (domain specification information) for specifying a range of a domain R in the inspection domain 61 is generated in each domain R, and registered in a memory together with the reference image.
    さらに基準画像を複数の領域Rに分割し、領域R毎に、検査領域61内でその領域Rの範囲を特定するための情報(領域特定情報)を作成し、基準画像とともにメモリに登録する。 - 特許庁
  • Since the stability of a radio frequency reference signal R is very high, the reference clock CLS in the absence of the external reference clock CLI can be outputted at sufficiently higher accuracy.
    無線周波数用基準信号Rの安定度は極めて高いので、外部基準クロックCLIが無いときの基準クロックCLSを十分に高精度で出力できる。 - 特許庁
  • In this case, the white reference member 63 is configured so that a white reference face 63a of the white reference member 63 is coincident with a read position R of the original in the optical axis direction.
    このとき、白基準部材63の白基準面63aと原稿の光軸方向読み取り位置Rとが一致するように、白基準部材63を構成しておく。 - 特許庁
  • The IC 15 has the cathode terminal C, an anode terminal A connected to reference potential (GND) and a reference terminal R to which reference voltage Vref is impressed.
    シャントレギュレータIC15は、カソード端子Cとともに、GND(基準電位)に接続されるアノード端子Aおよび基準電圧Vrefが印加されるリファレンス端子Rを有する。 - 特許庁
  • A reference potential V_ref is input to the reference terminal 23, and a resistor R and a capacitor C are added to the wiring line 24.
    参照端子23には参照電位V_refが入力され、配線24には抵抗R及び容量Cが付加されている。 - 特許庁
  • For each measuring time, the reference spectrum is determined anew, and the similarity r and judging reference value t are calculated and plotted in a graph (S8 and S9).
    各測定時点毎に基準スペクトルを新たに求め、類似度rと判定基準値tとを算出してグラフ化する(S8,S9)。 - 特許庁
  • A reference circle for the positioning is formed at a fastening face of a work R, and a rivet U is riveted in accordance with the reference circle.
    被接合材Rの締結面に位置決め基準円を形成し、その基準円に基づいてリベットUの打込みをなすものである。 - 特許庁
  • The signal light S via the subject's eye E and the reference light R via a reference optical path are superimposed to generate coherent light L.
    被検眼Eを経由した信号光Sと参照光路を経由した参照光Rを重畳して干渉光Lを生成する。 - 特許庁
  • Thereby, the calculation amount required to generate the reference signal r can substantially be reduced.
    参照信号rを生成するのに必要な演算量を大幅に削減することができる。 - 特許庁
  • The reflection optical system R makes a reference-axis light beam L0 incident obliquely on an image plane SC.
    反射光学系Rは、基準軸光線L0を像面SCに対して斜めに入射させる。 - 特許庁
  • A correlation coefficient R calculation means 35 calculates an inter-frame correlation coefficient R on the basis of a current frame and a reference frame shifted by the motion vector.
    相関係数R計算手段35は、現フレームと動きベクトルでシフトした参照フレームからフレーム間の相関係数Rを計算する。 - 特許庁
  • A plurality of reference regions R are disposed in the flow channel for one detection region A, and a measurement value at the detection region A is calibrated by a reference method which uses a value as a reference value obtained by interpolating or extrapolating values at the plurality of reference regions R.
    流路中に1つの検出領域Aに対して複数の参照領域Rを設け、複数の参照領域Rにおける測定値を元に内挿もしくは外挿して得られる値をリファレンス値として用い、検出領域Aにおける測定値をリファレンス法により校正する。 - 特許庁
  • To shorten a reference mark detecting time in an auxiliary scanning direction in correcting the skew feed of a CD-R tray in CD-R printing and to prevent erroneous detection caused by a pattern that resembles a reference mark.
    CD-R印刷時、CD−Rトレイの斜行を補正する際の副走査方向における基準マーク検出時間の短縮、かつ、基準マークに似た模様による誤検知の防止をする。 - 特許庁
  • A constant current I1 is made flow from a mirror circuit 2 connected to a current source 1 to the reference resistor R, and a voltage value generated in the reference resistor R is measured by a voltage measuring circuit 7.
    電流源1に接続されたミラー回路2から前記基準抵抗素子Rに定電流I1を流して、基準抵抗素子Rに生じる電圧値を電圧測定回路7により測定する。 - 特許庁
  • After the reference value rx is set, the detected value R detected by the sensor is successively compared with the reference value rx by a comparing means and when a result becomes to R≥rx, it is judged that the liquid runs out.
    基準値rx が設定されたのちは比較手段により、引き続いてセンサで検知された検知値Rと基準値rxとが比較され、R≧rx となったときに液切れと判断される。 - 特許庁
  • A feature pattern is prepared, and relative positions of a reference point viewed from positions of the feature pattern, in the reference image are prepared as an R table.
    特徴パターンを準備し、参照画像において特徴パターンの位置からみた基準点の相対位置をRテーブルとして準備する。 - 特許庁
  • An area At of a region enclosed with a reference line S as a border and a measurement line R above the reference line is calculated.
    基準線Sを境にして、基準線よりも上側において、基準線と測定線Rとで囲まれた領域の面積Atを算出する。 - 特許庁
  • R×M pieces of sequence specified by a ZC sequence number r(r=1 to R) and a cyclic shift sequence number m (m=1 to M) are classified into a plurality of sequence groups X (X=1 to R) in accordance with the transmission bandwidth of a reference signal, so that the ZC sequence is allocated to each cell in each sequence group unit.
    ZC系列番号r(r=1〜R)と巡回シフト系列番号m(m=1〜M)とで特定されるR×M個の系列をリファレンス信号の送信帯域幅に応じて複数の系列グループX(X=1〜R)に分類し、各系列グループ単位でZC系列を各セルに割り当てる。 - 特許庁
  • In a sensor unit 3 of a reticle carrying device as a mask carrying device, drawing error of a pattern is estimated in advance by matching a reticle R mechanically with a predetermined reference in terms of an outer shape reference using a reference member 32, and measuring a mark RM of the reticle R.
    レチクル搬送装置のセンサユニット3において基準部材32を用いてレチクルRを外形基準で機械的に所定の基準に整合させて、レチクルRのマークRMを計測することによりパターンの描画誤差を求めておく。 - 特許庁
  • When the reference distance r is small, a rotation angle θ_NEW with which the segmented image is rotated when the display image is generated is calculated based on a reference angle θ corresponding to an inclination of the photographing object and the reference distance r in the photographed area image.
    基準距離rが小さい場合には、撮影エリア画像での撮影対象の傾きに対応する基準角度θと基準距離rとに基づいて、表示画像を生成するときに切出し画像を回転させる回転角θ_NEWが算出される。 - 特許庁
  • The input of a reference clock R-CLK from a CCD driving circuit 17 via a CCD 15 to the PLL circuit 27 is opened/closed by an R-gate 26.
    CCD駆動回路17からCCD15を経て、リファレンスクロックR−CLKがPLL回路27に入力されるのをR−ゲート26により開閉する。 - 特許庁
  • The second data collection means collects second data from a slice at a second delay time (dn) later from a second heart rate reference R different from the first heart rate.
    第2のデータ収集手段は、第1の心拍と異なる第2の心拍の基準Rから第2の遅延時間dn後にスライスから第2のデータを収集する。 - 特許庁
  • When the reticle R absorbs exposure light and increases its temperature due to its heat accumulation, radiation heat from the reticle R causes the reticle reference part 13 to be thermally deformed, thus reducing an alignment accuracy of the reticle R.
    レチクルRが露光光を吸収し、熱蓄積によって昇温すると、レチクルRからの輻射熱によってレチクル基準部13が熱変形を起こしてレチクルRのアライメント精度が低下する。 - 特許庁
  • Among the plurality of synchronous marks, reference marks R are formed at a rate of one per round of a track.
    また、複数の同期マークのうち、トラックの1周に1個の割合で基準マークRが形成される。 - 特許庁
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