A reference object 50 is measured from two measuring positions about the same Z axis every two positions where the Z axis of an arm coordinate system A1 is orthogonal to the X-Y coordinate plane of a reference coordinate system S, and a coordinate transformation function F_C1C3 is calculated using a circle defined by each fixed point in the X-Y coordinate plane. アーム座標系A1のZ軸が基準座標系SのX−Y座標平面に直交する2つの位置ごとに、同Z軸線回りにおける2つの測定位置から基準物体50を測定し、X−Y座標平面内における各定点によって定義される円を用いて座標変換関数F_C1C3を計算する。 - 特許庁
The discontinuous points are formed by proper dimension on the reference potential plane positioned near a wiring pattern formed on a semiconductor chip or a package board configuring the semiconductor device, so that the delay elements having desired characteristics can be equivalently and easily added according to the shape of not the signal line side of the wiring pattern but the reference potential plane side. 半導体装置を構成する半導体チップやパッケージ基板上で形成された配線パターンに近い位置にある参照電位平面に適切な寸法でこの不連続点を形成して配線パターンの信号線側ではなく、参照電位平面側の形状により、所望の特性を有する遅延素子を等価的に容易に付加することが出来る。 - 特許庁
An iron guide rail 50 which guides and supports a recording head part 37 is rigidly fixed with a fixing bolt 67 in an extent R as in contact with the mount referenceplane Z of an aluminum surface plate 63, and in an extent R, the guide rail is pressed and held to the mount referenceplane Z by a fixing bolt 69 and a leaf spring 75. 記録ヘッド部37を案内支持する鉄製ガイドレール59は、アルミ製の定盤63の取付基準面Zに当接した状態で、範囲Rにおいては固定ボルト67によってリジット固定され、範囲Sにおいては固定ボルト69及び板バネ75によって取付基準面Z方向へ押し付けて保持されている。 - 特許庁
In an ultrasonic wave propagation wire At, a point P1 of incidence of ultrasonic waves from one transducer 21 on a fluid to be inspected is set on one side with a plane including the axis Aa of a measurement tube 11 with a reference, and a point P2 of incidence of ultrasonic waves from the other transducer 22 on the fluid to be inspected is set on the referenceplane. 超音波伝搬線Atを、一方のトランスデューサ21からの超音波の被検流体に対する入射点P1を測定管11の中心軸Aaを含む平面を基準とした一側に設定し、他方のトランスデューサ22からの超音波の被検流体に対する入射点P2を前記基準平面の他側に設定する。 - 特許庁
When a revolving shaft 13 of the spring joint is successively rotated αt from a reference position, the width Wt in the direction orthogonal with the referenceplane of the revolving shaft 13 is spread from a width Wo, legs 23 and 25 of a bearing 21 are opened. バネ丁番では、回転軸13を基準位置からαt回転させてゆくと、回転軸13の基準平面に直交する方向の幅Wtが幅Woより広がることにより、軸受21の脚23,25が開脚させられる。 - 特許庁
A support member 4 which supports a recording element substrate 6 including an energy generation element for ejecting a recording liquid is provided with at least one referenceplane as a reference for the position of the recording head when attaching the recording head to the inkjet recording apparatus. 記録液を吐出する為のエネルギー発生素子を備えた記録素子基板6を支持する支持部材4には、インクジェット記録装置に装着した際に該記録ヘッドの位置の基準となる少なくとも1つの基準面を設けられる。 - 特許庁
An actuator 42 is installed, the two rings 16, 34 are moved precisioning together, only by a set angle Θ around a set reference direction 46 of the lens 12, and they are scanned at an angle of elevation extending over an angle of ±Θ around a plane perpendicular to the reference direction 46. アクチュエータ(42)を設けて、レンズの一定の基準方向(46)のまわりで一定の角度(Θ)だけ2つのリングを一緒に歳差運動させ、基準方向に垂直な平面のまわりでの±Θの角度にわたる仰角走査を行う。 - 特許庁
A reference point 301 is set as shown in Fig (a) to create a first display body 302 formed of a circle centering the reference point 301 and to create a second display body 303 in the same plane as the first display body 302. 図8(a)に示すように、基準点301を設定し、この基準点301を中心とする円からなる第1の表示体302を生成するとともに、第1の表示体302と同一平面上に第2の表示体303を生成する。 - 特許庁
To provide an aberration measuring device capable of replacing a transparent plane-parallel plates fitting to a wavelength of reference light, while holding an attitude of the transparent plane-parallel plate against optical elements, and thus enhancing working efficiency of evaluation for optical elements. 光学素子に対する透明平行平面板の姿勢を維持しつつ、基準光の波長に合わせた透明平行平面板を交換することができ、これにより光学素子の評価の作業効率を向上させることのできる収差測定装置を提供する。 - 特許庁
A Y-directional distance d1 between a measurement referenceplane 17 and a laser light emission region 24 of a sensor 3 is measured by using a micrometer 19 during off-line setup, and a Y-directional distance d2 between the plane 17 and a blade edge 28 of the bite is measured by using a micrometer 21. 外段取りで、マイクロメータ19を用いて測定基準面17とセンサ3のレーザ光発光部位24とのY方向距離d1を測定し、一方マイクロメータ21を用いて測定基準面17とバイトの刃先28とのY方向距離d2を測定する。 - 特許庁
The method for manufacturing the wafer is carried out as follows: a langasite single crystal is grown; the plane index [113] or [225] of the langasite single crystal is specified by means of X-ray diffraction measurement; and the langasite single crystal is worked into the langasite single crystal wafer, making the plane index [113] or [225] an orientation reference for a wafer plane. およびランガサイト単結晶ウエーハの製造方法であって、ランガサイト単結晶を育成し、X線回折測定により前記ランガサイト単結晶の面指数{113}または{225}を特定し、該面指数{113}または{225}をウエーハ面の方位基準として、前記ランガサイト単結晶をウエーハに加工するランガサイト単結晶ウエーハの製造方法。 - 特許庁
The orientation of crystal lattice is realized referring to a determined angle of a normal on a lattice plane NE with respect to an axis X-X of the rotary table as a reference direction, before fixing the single crystal and fastening it in a support member directed to the reference direction. 単結晶の固定および基準方向に向けられた支持材における固締を行う前に、基準方向としての回転テーブルの軸(X−X)に対する格子面NEの法線の決定された角度を参照して、結晶格子の配向が実現される。 - 特許庁
A stage device 12 is provided with a changeover device which can mutually change over a first state in which a stage ST1 is movable along a first referenceplane 44a and a second state in which the stage ST1 is movable along second reference planes 97a to 97d. ステージ装置12は、ステージST1が第1基準面44aに沿って移動可能である第1状態と、ステージST1が第2基準面97a〜97dに沿って移動可能である第2状態とを、相互に切り替える切り替え装置を備えている。 - 特許庁
Then, the image within a concerned display area enclosed by the upper limit line, lower limit line, outer arch line and inner arch line is displayed as a three-dimensional image for specific display seen in the viewing direction parallel to the referenceplane and from a view point at right angles to the reference arch line 15. そして上限ライン、下限ライン、アウトアーチラインおよびインアーチラインで囲まれた関心表示領域内の画像を、基準面に平行な視点方向で、かつ、基準アーチライン15に直角な視点で見た、特定表示向き三次元画像を表示させる。 - 特許庁
The tool holder supporting means 12 is composed of two clamp means 13 comprising collets 16 and tool reference planes 15a, and the tool holder 10 has abutments 26 respectively closely kept into contact with each tool referenceplane 15a, and gripped parts 27 respectively gripped by the collets 16. この工具ホルダ保持手段12はコレット16及び基準面15aを備えた2つのクランプ手段13から構成され、工具ホルダ10には、各基準面15aにそれぞれ密接する受面26と、コレット16により把持される被把持部27とが設けられる。 - 特許庁
A intra-model correspondence relation managing means 23 manages correspondence relation between a two-dimensional design plane 25 and a three-dimensional design space 26 (hereafter referred to as 'model') for the same object, and an inter-model reference managing means 22 manages reference 29 between the models. 同一の対象に対する2次元設計平面25や3次元設計空間26(以下モデルという)の間の対応関係27をモデル内対応関係管理手段23が管理し、モデル間の参照28をモデル間参照管理手段22が管理する。 - 特許庁
The spectacle lens 1 is designed by defining a point crossing a forward sight line P of an optical concave surface 12 as a design reference point Pi, and using a lens tilt angle θ formed by a tangent line C at the design reference point Pi and a plane Q perpendicular to the forward sight line P. 光学凹面12の正面視線Pに当たる点を設計基準点Piとし、この設計基準点Piにおける接線Cと、正面視線Pと直交する平面Qとのなすレンズ傾き角度θを用いて眼鏡レンズ1を設計する。 - 特許庁
By stipulating the direction of a predetermined coordinate axis Y_w, for example, of the world coordinate system, with reference to the normal line direction of the referenceplane, coordinate transformation from the coordinate system of the camera to the world coordinate system can be performed with high accuracy, by finding the normal line direction with high accuracy. 基準平面の法線方向を基準にワールド座標系の所定の座標軸、例えばY_wの方向を規定しておけば、その法線方向を精度よく求めることで、カメラ座標系からワールド座標系への座標変換を精度よく求めることができる。 - 特許庁
A projecting portion 55d projecting to the first web half-portion 28A side is respectively integrally formed in a pair of side wall portions 55b of a second web half-portion 55A beyond the virtual reference dividing plane F. 第2のウエブ半部55Aの一対の側壁部55bに、それぞれ仮想基準分割面Fを越えて第1のウエブ半部28A側に突出する凸部55dを一体に形成する。 - 特許庁
The gap quantity Gx can be calculated, based on a shift quantity D of the measuring piece 4 from a measurement reference position S, the inclination angle θ of the inclined plane 4d or the like. この時の測定片4の測定基準位置Sからの変移量Dや傾斜面4dの傾斜角度θなどに基づいて隙間量Gxを算出できるものとなされている。 - 特許庁
A first mounting plate part 46 disposed on one side of the bezel 41 is brought into abutment on a first referenceplane 35 disposed on one side of the frame 31 and is clamped and fixed by means of screws 52 inserted from the side. ベゼル41の一側に設けた第1の取付板部46を、フレーム31の一側に設けた第1の基準面35に当接し、側方から挿入したねじ52で締め付け固定する。 - 特許庁
Since one capacitor is constituted by using the insulating layer 26, and the power source plane 23 and the reference GND layer 27 between which the insulating layer 26 is sandwiched, a configuration where five capacitors are connected in parallel is obtained. 絶縁層26とそれを挟む電源プレーン23およびリファレンスGND層27とによって1つのコンデンサが構成されるので、5つのコンデンサが並列に接続された形式となる。 - 特許庁
The port groove cutting referenceplane can have a form such that a tool can be regularly fitted to the inner surface of the annular body and the lower cylindrical protruding body of the burner in the same state. 前記炎口溝切削用基準面は、バーナーの環状体と下部円筒突出体の内面に治具がいつも同じ状態で嵌合できる形状のものであればよい。 - 特許庁
The reflection surface of the free-curved mirror (MR) is formed asymmetrically with reference to a plane including a normal line (NL) at the intersection point (P) and parallel to the one-dimensional arrangement direction (Y) of the line CCD (SR). 交点(P)での法線(NL)を含み、ラインCCD(SR)の1次元配列方向(Y)に対して平行な平面に関して、自由曲面ミラー(MR)の反射面形状が非対称である。 - 特許庁
The milling-cutter (3) is placed on a referenceplane (7), and a housing (4) of the milling-cutter (3) is regulated to attain axial movement of the milling-cutter (3) with respect to the working head (1). このためにフライス(3)は基準面(7)に設置され、フライス(3)の収容部(4)は加工ヘッド(1)に対するフライス(3)の軸方向移動性が達成されるように調整される。 - 特許庁
In a device, movement of an illumination domain in a measuring field caused by the thickness change of a substrate is removed by pressing the substrate onto a horizontal referenceplane. 本発明は、水平な基準面に対して基板を押し付けることにより、基板の厚さ変化による計測視野内における照明領域の移動を除去することに関する。 - 特許庁
A plane normal vector arrangement part 16 puts the directions of normal vectors generated by the generation part 12 in order according to the angles of intersection of the normal vectors and the reference vector. 面法線ベクトル揃え部16は、面法線ベクトル作成部12によって作成された法線ベクトルと基準ベクトルとの交差角度に基づいて、法線ベクトルの方向を揃える。 - 特許庁
The clamp member 24 is equipped with a base part 2402 and two arm parts 2404, and a referenceplane 2406 capable of abutting on the outer surface of a pipe material 12 is formed on the base part 2402. クランプ部材24は、基部2402と、2つのアーム部2404とを備え、基部2404には、パイプ材12の外面に当接可能な基準面2406が形成されている。 - 特許庁
To facilitate the manufacture of a semiconductor integrated circuit device which maintains the accuracy, by suppressing the quantity of down set of die pads from the referenceplane, in the case of providing a package with many semiconductor chips. 多数の半導体チップを1パッケージに設ける場合において、基準面からのダイパッドのダウンセット量を抑制し、精度を維持した半導体集積回路装置の製造を容易にする。 - 特許庁
To provide an intermediate adaptor that can be mounted between a plurality of cameras and respective interchangeable lenses, which are identical in mounting structure and different in an amount of projection from a mount reference face to an image plane. マウント構造が同じで、マウント基準面から像面方向への突出量が異なる交換レンズと複数のカメラとの間に装着可能な中間アダプタを提供する。 - 特許庁
The plurality of detection parts may be arranged along a plurality of similar polygons or concentric circles formed on a plane as sharing a single included point as a position reference point. 複数の検知部は、内包する1点を位置基準点として共有して平面上に形成された複数の相似多角形又は同心円の周上に配置してもよい。 - 特許庁
The pressure tube 50 extends from a water pressure taking-out passage 40 and extends through in the direction separating the through-hole 60 formed on the fixed bracket 20L from the referenceplane S. 圧力管50は、水圧取出通路40から延びて、固定ブラケット20Lに形成された貫通孔60を基準平面Sから離れる方向に貫通して延びている。 - 特許庁
The instrument also detects a region coming into contact with the detection surface side of a plane detector by a sensor when the mammae are positioned, and displays this with the reference image on a monitor. また、乳房をポジショニングした場合の平面検出器の検出面側との接触領域をセンサによって検出し、これを参照画像と共にモニタ上に表示する。 - 特許庁
The keyboard array of a software keyboard is allocated to a part of a pressure detecting panel 4, and only a marker indicating the home position(reference position) of a software keyboard is normally displayed on a picture plane 3. 圧力検出パネル4の一部にソフトウェアキーボードのキーボード配列を割付け、画面3には通常、ソフトウェアキーボードのホームポジション(基準位置)を示すマーカのみを表示する。 - 特許庁
A layout determining unit 17 determines that the layout is improper, if the first path length exceeds the second path length and if the evaluation value of the power supply plane exceeds a predetermined reference value. レイアウト判定部17は、第1の経路長が第2の経路長を超え、かつ、電源プレーンの評価値が予め定める基準値を超える場合にレイアウトが不適正であると判定する。 - 特許庁
Or in each pole 21 of the rotor 2, a magnetic air gap symmetrical with respect to an imaginary plane which passes the center axis of the rotor 2 and the center of each pole 21 as a reference is formed. または回転子2の各極21に、回転子2の中心軸線と各極21の中心とを通る仮想的な平面を基準とする対称な磁気的な空隙を設けた。 - 特許庁
The magnitude of the angle between a vector N_2 of normal line of the tangential plane 13 of the surface 10, and the vector N_1 of normal line of reference surface 12 of the surface 10 is 62° or less. 且つ表面10の粗さ形状の接平面13の法線ベクトルN_2と表面10の基準面12の法線ベクトルN_1とのなす角の大きさは62度以下である。 - 特許庁
The shape of the DBR 24 present in the orthogonal plane to an optical axis Ax of a light L outgoing from the surface-emitting laser 10 has an anisotropy when using the optical axis Ax as a reference. 面発光レーザ10から出射される光Lの光軸Axに直交する面におけるDBR部24の形状は、光軸Axを基準として異方性を有する。 - 特許庁
A notched part 3a is formed at the outer edge of the shutter 3 and the surface of a cartridge body 1 exposed by forming the notched part 3a is formed as a height referenceplane F. また、シャッター3の外縁に切り欠き部3aを形成し、この切り欠き部3aを形成することにより露出するカートリッジ本体1の面を高さ基準面Fとして形成する。 - 特許庁
To prevent a referenceplane for shading correction from becoming dirty by dust during cleaning of a dust-proof glass, in an image reading apparatus for reading the image of an original that is currently carried through the dust-proof glass. 搬送中の原稿の画像を、防塵ガラスを介して読み取る画像読取装置において、防塵ガラスの清掃時にシェーディング補正用の基準面が塵埃で汚れるのを防止する。 - 特許庁
The body index meter 100 includes a measuring means for measuring the distance indicating the horizontal width of the abdominal region 11 of a subject 10 lying on the back on a referenceplane S at a plurality of measuring points. 体指標計100は、基準面Sに仰臥位で横たわる被験者10の腹部11の横幅を示す距離を複数の測定箇所で測定する測定手段を備える。 - 特許庁
The terminal fitting 20 has a regulating face 29 which is arranged in a position to correspond to the connection part 23 in a back and forth direction and is located on the same plane as the reference face 25. 端子金具20は、前後方向において連結部23と対応する位置に配され、基準面25に対しては面一の位置関係とされた規制面29を備えている。 - 特許庁
The thrust-working faces 41 and 42 and the pressurization working face 43 each are located on three planes forming a triangle, respectively, when viewed from the direction perpendicular to the referenceplane 3. 推力作用面41、42および与圧力作用面43は、基準平面3に直交する方向から見た場合に三角形を描く3つの平面上にそれぞれ位置している。 - 特許庁
The principal surface 13a of the semiconductor region 13 is inclined at an angle α relative to a flat plane Sc orthogonal to a reference axis Cx of the [0001] axis of the principal surface 13a. 半導体領域13の主面13aは、該主面13aにおける[0001]軸方向の基準軸Cxに直交する平面Scに対して角度αで傾斜する。 - 特許庁
A mirror is located in or close to the Fourier plane, which is designed such that it reflects the object beam 8 or the reconstructed object beam 21 without reflecting the reference beams 7' and 7". 鏡が、このフーリエ面内または近傍に位置づけられ、参照ビーム7’、7”を反射することなく、物体ビーム8又は再生物体ビーム21を反射するように設計されている。 - 特許庁
An approximately annular pressure reduction chamber 40 is formed coaxially with the rotational axis O near the referenceplane 29C of a projecting part 29, inside the flange portion 23 and the projecting part 29. フランジ部23及び突出部29の内部において、突出部29の基準面29C近傍には、回転軸線Oと同軸に略円環状の減圧室40を形成した。 - 特許庁
A plane set by the center parts of the respective shafts 28 is set as reference in the case of fixing the optical box 11 on a surface plate 22 and measuring the attaching position of an fθ lens 14 on the front side. これらの各軸28の芯部で設定される平面が、光学箱11を定盤22上に固定して表側のfθレンズ14の取付位置を測定するときの基準となる。 - 特許庁
A measuring tool 3 is used which is provided with a tool main unit 4 having a standard surface 4a and a measuring gauge 5 for measuring the perpendicular distance with respect to the referenceplane 4a. 基準面4aを有する治具本体4および前記基準面4aに対する垂直方向の距離を測定する測定ゲージ5を備えた測定治具3を用いる。 - 特許庁
The height of the bonding surface is stored as reference data for bonding, and the spot position of a laser beam θ irradiating the same plane is calculated on the basis of a photoed image and stored. ボンディングするための基準データとしてボンディング面の高さを記憶すると同時に、同一面を照射したレーザ光θのスポット位置を撮像された画像より算出し記憶しておく。 - 特許庁
To provide a magnetometric sensor capable of disposing the magnetically sensitive face on the prescribed position with a prescribed attitude with a high precision even in the case the surface of the magnetically sensitive surface of the sensor holder is made referenceplane. センサホルダの感磁面が形成された面を基準にした場合でも、感磁面を高い精度で所定の位置に所定の姿勢で配置可能な磁気センサ装置を提供すること。 - 特許庁