「reference-axis」を含む例文一覧(1033)
＜前へ 1 2 .... 4 5 6 7 8 9 10 11 12 .... 20 21 次へ＞- Brand classification data (107) in which a brand classification axis code, a brand code, and a classification code indicating classification of the brand in its brand classification axis are associated is prepared for each brand classification axis as a reference for classifying brands.
銘柄を分類するための基準となる各銘柄分類軸毎に、銘柄分類軸のコードと、銘柄のコードと、その銘柄のその銘柄分類軸での分類を表す分類コードとが関連付けられた構成となった銘柄分類データ（１０７）を準備する。 - 特許庁 - One axis line A1 produced when the center point of cooling water piping 5 is divided into n equal parts (for example, two equal parts) is used as an axis line of a reference pressure sensor 11, and other pressure sensor 12 installed in a range of ±360/2n degree on other axis line A2 is installed.
冷却水配管５の中心点をｎ等分（例えば２等分）したときの一つの軸線Ａ１を基準となる圧力センサ１１の軸線とし、他の軸線Ａ２を中心として±３６０／２ｎ度の範囲に他方の圧力センサ１２を設ける。 - 特許庁 - In order to match the center position OY in the Y axis direction of the mounting region A with the center position in the Y axis direction of an electronic component mountable region (transportation reference center) Y0, the distance LYa1 of travel in the Y axis direction of a conveyor 20a is calculated.
装着領域ＡにおけるＹ軸方向の中心位置ＯＹを電子部品装着可能領域におけるＹ軸方向の中心位置（搬送基準中心）Ｙ０に一致させるために、コンベア２０ａのＹ軸方向の移動距離ＬＹａ１を算出する。 - 特許庁 - As for an automatic collimator 1, the beam splitter 6 is arranged on an optical axis A where the light source light I1 emitted from a light source 3 propagates so that the surfaces 61 and 62 may be inclined only by a prescribed angle α1 with reference to an axis C which is orthogonal to the optical axis A.
オートコリメータ１において、光源３から発せられる光源光Ｉ１が進行する光軸Ａ上に、ビームスプリッタ６を、面６１および６２が光軸Ａに対して直交する軸Ｃに対して所定角度α１だけ傾斜するように配置する。 - 特許庁 - To provide an instruction generating device for achieving a motor drive control system for enabling a sensor feedback control synchronized with a position of a reference axis.
基準軸の位置に同期させたセンサフィードバック制御を可能にするモータ駆動制御システムを実現するための指令生成装置を得る。 - 特許庁 - A plurality of boss parts 123 are projected from the mounting reference surface 120a toward the image side in parallel to the optical axis 111.
さらに、取付基準面１２０ａから光軸１１１に対して平行に像側に向けて突出するボス部１２３が複数設けられている。 - 特許庁 - A guide rail 3 is provided on the reference base 2, and a device body 5 with a Y-axis driving part moving along the guide rail 3 incorporated therein is installed.
基準台２にはガイドレール３が設けられ、ガイドレール３に沿って移動するＹ軸駆動部が組み込まれた装置本体５を設置する。 - 特許庁 - In the deformation of the molded product, a journal 41 moves so as to be separated from a crank pin 43 in the direction vertical to the reference axis.
成形品の変形では、ジャーナル軸部４１がクランクピン部４３に対して基準軸線の垂直方向に離間するようにして移動する。 - 特許庁 - A CCD (charge-coupled device) line sensor 1 is installed with an inclination of angle α to image pickup reference surface A vertical to an optical axis B of incident light.
ＣＣＤラインセンサ１は入射光の光軸Ｂに垂直な撮像基準面Ａに対して、角度αの傾きをもって設置される。 - 特許庁 - In the expression, Ret[(r, θ)] shows the magnitude of the double refraction and (ϕ) shows the direction of a phase advancing axis measured with a direction (θ) as a reference.
Δn(r,θ)＝Ret(r,θ)・（2(cosφ)^2-1) …（１） ここで、Ret(r,θ)は複屈折の大きさ、φはθ方向を基準にして計った進相軸の向きを示す。 - 特許庁 - The skew may be relative to separate node or anti-node reference axes, or take the form of an element that is "split" about the same node axis.
前記スキューは、別個のノードまたは反ノード基準線に関連し得るか、または同じノード線周りに「分割」される要素型をとり得る。 - 特許庁 - WORKPIECE ATTACHING MECHANISM OF ROTARY TABLE OR MEASURING TOOL FOR USE IN MEASUREMENT OF WORKING REFERENCE POINT ON INCLINED ROTATION AXIS, AND MEASUREMENT METHOD
傾斜した回転軸上の加工基準点の測定に用いられる回転テーブルのワーク取り付け機構または測定治具、および測定方法 - 特許庁 - Positions along X- and Z-axes are stored respectively in X- and Z-axis path tables Tx, Tz in association with a reference position (time or position of a main spindle.)
Ｘ，Ｚ軸パステーブルＴｘ，Ｔｚには、基準位置（時間又は主軸位置）に対応してＸ，Ｚ軸の位置が記憶されている。 - 特許庁 - To provide an imaging unit in which making compact the lens barrel is intended, by making compact a mechanism that detects a reference position in the optical axis direction.
検出機構のコンパクト化を図る上で、また、レンズ鏡筒のコンパクト化を図る上で有利なレンズ鏡筒および撮像装置を提供する。 - 特許庁 - In correcting the position in the Z axial direction, the measurement mirror 28 is moved to a Z axis measurement reference point PZ1 to measure the difference in the amounts of light received.
Ｚ軸方向の位置の補正は、測定ミラー２８をＺ軸測定基準位置ＰＺ１に移動して、受光量の差を測定して行う。 - 特許庁 - Each nozzle 34 feeds the hot blast in a direction inclined toward the same direction with respect to a reference axis 8 which is directed in a vertical direction at the heating position.
各ノズル３４は加熱位置にて鉛直方向を向く基準軸８に対して同一側に傾いた方向に熱風を送出する。 - 特許庁 - Then, the flatness of the side surface with respect to a reference plane of an imaginary plane crossing at a right angle with a central axis α is restricted by 0.05 mm or less.
そして、この側面の、中心軸αに対し直交する仮想平面を基準平面とする平面度を０．０５mm以下に規制する。 - 特許庁 - The buffer B is provided across the longitudinal principal axis of the toggle-type hinge H without reference to the solution, and joined to a hinge pot.
解決法に関わらず、緩衝装置Ｂはトグル型ヒンジＨの長手方向主軸線を横切って設けられ、そしてヒンジポットに接合される。 - 特許庁 - The data of a fourth teaching point P4 are the data of the teaching point in the case that the reference point has been positioned by rotating at an angle β about a second axis.
第４教示点Ｐ４のデータは基準点が第２軸の周りに角度βに回転して位置したときの教示点データとする。 - 特許庁 - A frame (1) along the measurement axis of a height-measuring column is connected to a base (2) which is disposed on a reference surface that is not shown in a figure.
高さ測定用コラムの測定軸に沿うフレーム（１）が、基台（２）に接続されており、基台（２）は図示されない基準面に配置される。 - 特許庁 - Measuring light is shifted in parallel from a reference optical axis in an optical system, and is allowed to enter a polarization beam splitter 3, and a plane mirror 14 is arranged partially and in the shifted state from a reference axis A when being reflected by the polarization beam splitter 3, relative to an opening parallel to the reference axis A of the polarization beam splitter 3.
測定光を光学系の基準光軸から平行にシフトさせ偏光ビームスプリッタ３に入射させ、集光レンズ５を介して反射面６から戻される光ビームの一部を、入射および反射光ビームがその法線方向に一致して進行させるように、平面鏡１４を、偏光ビームスプリッタ３の基準軸Ａに平行な開口に対し、部分的かつ偏光ビームスプリッタ３で反射した場合の基準軸Ａからずらして配置する。 - 特許庁 - When a q-axis command current Iq* and a q-axis actual current Iq are input and their current difference ΔIq(|Iq*|-|Iq|) exceeds a determination reference value Iref, reverse input from a tire is determined to work.
ｑ軸指令電流Ｉｑ＊と、ｑ軸実電流Ｉｑとを入力し、その電流差ΔＩｑ（｜Ｉｑ＊｜−｜Ｉｑ｜）が判定基準値Ｉrefを越えた場合には、タイヤから逆入力が働いていると判定する。 - 特許庁 - In this case, the optical axis of the image pickup part 101 and a vicinity where the optical axis of the image pickup part 101 is most vertical to a surface on which the subject 107 is arranged out of the moving range of the moving part 102 is set up as a reference position of photographing.
この際、移動部１０２の移動範囲のなかで撮像部１０１の光軸と、被写体１０７が配置される面が最も垂直な位置付近を撮影の基準位置として設定する。 - 特許庁 - The first target surface S1 and the second target surface S2 are inclined in a direction facing the cathode from a reference axis which crosses with the tube axis a1 and goes through the center of the first focal point with the boundary line B as an apex.
第１ターゲット面Ｓ１及び第２ターゲット面Ｓ２は、境界線Ｂを頂点に、管軸ａ１に直交して第１焦点の中心を通る基準軸より、陰極と対向した方向に傾斜している。 - 特許庁 - A first magnet 21 and a second magnet 22 are magnetized such that magnetic poles facing each other have different polarities from each other, are disposed at one side with respect to a straight axis x and are obliquely disposed with respect to a reference axis y.
第１磁石２１および第２磁石２２は、対向する磁極同士が異なる極性となるように着磁され、直進軸ｘに対して一方の側に、基準軸ｙに対して傾斜して配置される。 - 特許庁 - A primary surface 13a of the substrate 13 is inclined at an angle ranging from 50 degrees or more to less than 130 degrees from a plane Sc perpendicular to a reference axis Cx extending along the c-axis of a first gallium nitride-based semiconductor.
基板１３の主面１３ａは、該第１の窒化ガリウム系半導体のｃ軸に沿って延びる基準軸Ｃｘに直交する面Ｓｃから５０度以上１３０度未満の範囲の角度で傾斜する。 - 特許庁 - The blade 6 also includes an end portion 14c located outside the blade 6 and intersecting with the vertical axis B and extending between an end 11 radially outside relative to a rotating axis A of the blade 6 and a reference section 51.
羽根６は、羽根６の外側にあって縦軸線Ｂに交差する羽根６の回転軸線Ａに関する半径方向外側の端１１と基準区画５１との間に延在する端部１４ｃも有する。 - 特許庁 - According to this constitution, the prism 23 is held between the press surface 81a and the reference surface 77a so as to be positioned in Y-axis direction and is pressed against the placing surface 43a by the force that acts in the Z-axis direction.
これにより、プリズム２３が、押圧面８１ａと基準面７７ａとによって挟み込まれて、Ｙ軸方向の位置決めがなされるとともに、Ｚ軸方向に作用する力によって、載置面４３ａに押し付けられる。 - 特許庁 - In a nitride based semiconductor optical element LE1, a distortion-containing well layer 21 extends along a base plane SR 1 which is inclined at a slope angle α toward a plane intersecting perpendicularly with a reference axis extending in a c axis direction.
窒化物系半導体光素子ＬＥ１では、歪みを内包した井戸層２１は、ｃ軸方向に延びる基準軸に直交する面に対して傾斜角αで傾斜した基準平面ＳＲ１に沿って延びる。 - 特許庁 - A normal vector N is put up on a position of the intersection Q to obtain a projection vector N^* to be an orthographic shadow to a projection surface Syz (YZ plane) and an intersection angle ξ(-90° to +90°) with a reference axis A^* in parallel to the Z axis is obtained.
交点Ｑの位置に法線ベクトルＮを立て、投影面Ｓｙｚ（ＹＺ平面）への正射影である投影ベクトルＮ^＊を求め、Ｚ軸に平行な基準軸Ａ^＊との交差角ξ（−９０°〜＋９０°）を求める。 - 特許庁 - A base 13 has a length in the direction of the optical axis A, so that a plurality of anamorphic optical elements, such as the toroidal lens 12, are fixed with an adhesive and can linearly be mounted, and a reference surface 13a which is the mounting surface of the anamorphic optical element has a rotation axis parallel to the optical axis A.
基台１３は、トロイダルレンズ１２等のアナモルフィック光学素子を接着剤で固定して複数個直線状に搭載可能な光軸Ａ方向長さを有し、アナモルフィック光学素子の搭載面である基準面１３ａが光軸Ａと平行な回転軸を有する。 - 特許庁 - To improve the assembly and the attachment, and the adjusting accuracy of lenses by constituting the lenses so that the optical axis of a cylindrical lens being a composite anamorphic lens can be non-parallel with the optical axis of the collimator lens and a Y reference surface can be parallel with a BD optical axis, and preventing returning light generated in the cylindrical lens.
複合アナモフィックレンズのシリンドリカルレンズ光軸とコリメータレンズの光軸を非平行にし、かつ、Ｙ基準面をＢＤ光軸と平行になるようにレンズを構成し、シリンドリカルレンズで発生する戻り光を防止し、組み立て及び取り付け、調整精度を向上する。 - 特許庁 - To accurately adjust the optical axis of a 2nd beam emitted from a 2nd beam generating means in an optical axis direction and two directions orthogonal to the optical axis direction with a 1st beam as reference even in a state where a light source device is mounted on a device to which the light source device of an optical scanner or the like is applied.
光走査装置等の光源装置が適用される装置に搭載された状態でも、第1ビームを基準として第２のビーム発生手段から出射される第２ビームを光軸方向及び光軸方向と直交する２方向へそれぞれ精度良く光軸調整する。 - 特許庁 - A plane 85 of each chuck jaw 83 for chucking a large-diameter portion 15 of a chip main body 11, facing a center axis C1, is configured to be an inclined portion in the direction of the center axis C1, inclining toward the center axis C1 as the plane 85 is away from a reference plane 100 supporting the chip main body 11.
各チャック爪８３のうち、チップ本体１１の大径部１５をチャッキングする中心軸Ｃ１を向く面８５が、中心軸Ｃ１方向で、チップ本体１１を支持する基準面１００から離れるに従い、中心軸Ｃ１に向かうように傾斜する傾斜部とした。 - 特許庁 - There are a reference region 200 with a plurality of teeth 150 formed at even intervals and a specific region 210 excluding the reference region in the outer boundary 120 attached to a rotation axis of an object to be determined.
被判定対象である回転軸に装着された歯車１２０の外周には、等間隔で複数個の歯１５０が形成された基準領域２００と、それ以外の着目領域２１０とが存在する。 - 特許庁 - Reference characteristics with respect to the speed and the voltage at non-load torque are set, a torque component is decided by combining maximum torque and the set reference characteristics, and the setting and the operation of a d-axis current command value are facilitated.
無負荷トルクにおける、速度、電圧に対する基準特性を設定し、最大トルク制御と組合わせることによりトルク成分を決定することにより、ｄ軸電流指令値の設定と演算を簡素化する。 - 特許庁 - A reference image deciding part 202 calculates the coordinates of the center of both ends, and the angle between the straight line connecting the coordinate and the center of projection and the optical axis direction, and determines the reference image from the parallel projection images.
参照画像決定部２０２は両端の中心の座標と、該座標と投影中心を結ぶ直線と光軸方向がなす角度を算出し、平行投影画像の中から参照画像を決定する。 - 特許庁 - By such an arrangement, since the optical element includes the reference surface formed as the flat reflection mirror surface, the direction of the optical axis of the optical element is confirmed by measuring reflected light reflected from the reference surface.
かかる構成によれば、平坦な反射鏡面として形成された基準面を光学素子が備えるので、基準面から反射した反射光を測定することにより光学素子の光軸の方向が確認される。 - 特許庁 - A half plane including the selected sample data and the a chromatic axis is set to be a reference half plane for correction, and a hue angle of the sample data is corrected to the reference half plane and thereafter mapped.
選択されたサンプルデータと無彩色軸とを含む半平面を補正のための基準半平面Ｒとして設定し、基準半平面Ｒに対してサンプルデータの色相角を補正した後にマッピングを行う。 - 特許庁 - A Vq reference value map holding part 90 sets a reference value Vqm as a q-axis voltage command value when demagnetization is not generated in the permanent magnet motor 60 based on the present current commands Id*, Iq*.
Ｖｑ基準値マップ保持部９０は、現在の電流指令Ｉｄ＊，Ｉｑ＊に基づいて、永久磁石モータ６０に減磁が発生していないときのｑ軸電圧指令値である基準値Ｖｑｍを設定する。 - 特許庁 - The branching part 3 of the tubular member 2, with a reference line extending in the tangential direction relative to the circumferential direction of the tubular member 2, has an outer circumference with the center axis positioned off above this reference line by the radius portion.
管状部材2の分岐部3は、管状部材2の周方向に対し接線方向にのびる線を基準線として、この基準線よりも上に半径分離れた位置を中心軸とする外周を有している。 - 特許庁 - A reference memory 16 stores reference data indicating a relationship between a distance from the objective lens 2 in the direction of an optical axis and the intensity of the light directed from a distant position to the objective lens 2 detected by the photodetector 7.
リファレンスメモリ１６には、対物レンズ２からの光軸方向の距離と該距離の位置より対物レンズ２へ向かう光の光検出器７により検出される輝度との関係を示す基準データが格納される。 - 特許庁 - A sliding surface 122 consisting of a reference surface 122a, an adjusting surface 122b formed to be more projected than the reference surface 122a, and an adjusting surface 122c formed to be more recessed than the reference surface 122a is formed on the surface perpendicular to an optical axis on the outer periphery of the 2nd lens 120.
第２レンズ１２０には、外周縁に光軸と垂直な面に基準面１２２ａと、基準面１２２ａより凸形状となっている調整面１２２ｂと、基準面１２２ａより凹形状となっている調整面１２２ｃとからなる摺接面１２２が形成される。 - 特許庁 - This control method for the horizontal axis wind mill 1 comprises a process (S2) for setting the reference rotation speed, a process (S5) for calculating the reference excess rate, and a process for controlling amount of driving of the driving device so that the reference excess rate is included in the specific scope (S6 to S7a).
水平軸風車１の制御方法において、基準回転速度を設定する工程（Ｓ２）と、基準超過率を算出する工程（Ｓ５）と、基準超過率が特定範囲内に含まれるように駆動装置の駆動量を制御する工程（Ｓ６〜Ｓ７ａ）と、を備える。 - 特許庁 - An axis center 4a of a tool 4 is brought closer to a reference member 30, laser diodes 16 and 17 are sequentially turned on for picking up the images of the reference member 30 and the tool 4 in X and Y directions by a camera 7 for detecting positions, and the amount of deviation of the tool 4 and the reference member 30 is measured.
ツール４の軸心４ａをリファレンス部材３０に近接させ、レーザダイオード１６，１７を順次点灯してリファレンス部材３０およびツール４のＸＹ方向の像を位置検出用カメラ７で撮影し、ツール４とリファレンス部材３０のずれ量を測定する。 - 特許庁 - Then, if a result after collating a horizontal established position represented by a plurality of object detection data with horizontal reference data is less than a determination reference value Thd (S230: NO), it is determined that the detection reference axis is deviated and deviation corresponding processing is executed (S240).
そして、複数の対象検知データによって表される水平確定位置を水平基準データに照合した結果が、判定基準値Ｔｈｄ未満であれば（Ｓ２３０：ＮＯ）、検知基準軸にズレが生じているものと判定して、ズレ対応処理を実行する（Ｓ２４０）。 - 特許庁 - A data processing part 7 finds a similarity, with respect to each reference odor and an overall odor intensity, based on the positional relation between a reference axis positioned in odor space and a measuring point as a measured result of the evaluation object odor, by measuring two kinds or more of known reference odors.
データ処理部７では、２種以上の既知の基準においを測定してにおい空間に位置付けられる基準軸と評価対象においを測定した結果である測定点との位置関係に基づいて、各基準においに対する類似度と総合的なにおい強度とを求める。 - 特許庁 - A reference flat plane perpendicular to the center axis line of the reference cylindrical plane Wb is obtained practically from positional information of the measuring means 60, 70, and the positional information corresponding to the reference flat plane is compensated by using positional information measured by the third measuring means, and the flatness is calculated based on the compensated information.
計測手段６０，７０の位置情報から、基準筒面Ｗｂの中心軸線と直交する基準平面を実質的に求め、第３計測手段で計測された位置情報をこの基準平面からの位置情報に補正し、この補正情報に基づき平坦度を演算する。 - 特許庁 - To provide an on-vehicle device equipped with an acceleration sensor, and capable of detecting precisely an acceleration along a reference axis direction even when an attaching position and an attaching angle thereof are selected freely, and to provide further an inclination angle detecting method for the acceleration sensor for detecting an inclination angle of a sensing axis in the acceleration sensor with respect to a reference axis.
加速度センサを備えた車載用装置であって、その取付位置や取付角度を自由に選択しても基準軸方向の加速度を精度よく検出することが可能な車載用装置を提供することを課題とし、さらには、基準軸に対する加速度センサの感度軸の傾斜角度を検出する加速度センサの傾斜角度検出方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A wall part 40a capable of being displaced along the direction parallel to the rotational axis O is provided between the reference plane 29C and the end face 40A of the pressure reduction chamber.
基準面２９Ｃと減圧室端面４０Ａとの間に、回転軸線Ｏと平行な方向に沿って変位可能な壁部４０ａを設けた。 - 特許庁
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