「reflecting microscope」を含む例文一覧(24)
- a reflecting microscope
反射顕微鏡 - 日本語WordNet - REFLECTING SOFT X-RAY MICROSCOPE
反射型軟Ｘ線顕微鏡 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM REFLECTING APPARATUS AND ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子ビーム反射装置と電子顕微鏡 - 特許庁 - X-RAY INTERFERENCE MICROSCOPE AND METHOD FOR TESTING X-RAY REFLECTING MIRROR
Ｘ線干渉顕微鏡およびＸ線反射鏡の検査方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING IMAGE REFLECTING PHYSICAL PROPERTY VALUE OF SPECIMEN
走査型プローブ顕微鏡および試料の物性値を反映した画像を取得する方法 - 特許庁 - To provide a scan probe microscope having the function of calculating the parameters reflecting the surface shape of a probe tip.
探針先端表面形状を反映したパラメータを算出する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Therefore, the reflecting member 50 leads the reflected light via the objective lens 15 to the assistant's microscope 7 whose position has been changed.
それにより、反射部材５０は、対物レンズ１５を経由した反射光を位置変更後の助手用顕微鏡７に導く。 - 特許庁 - At this time, the presence or absence of etching erosion of the metal thin film 25 can be inspected by using a passing light and a reflecting light by a microscope.
このとき、金属薄膜２５のエッチング浸食の有無を顕微鏡によって、透過光及び反射光を用いて行うことができる。 - 特許庁 - To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.
凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型Ｘ線顕微鏡を得る。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope which facilitates installation of a beam splitter and a reflecting mirror and makes it possible to obtain a sharp image of a sample.
ビームスプリッタと反射ミラーの設置を容易に行い、試料の鮮明な画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.
ＡＦ光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもＡＦ装置を利用可能にするコンデンサレンズと、ＡＦ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.
レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional image building method capable of obtaining a three-dimensional image with better image quality than that of a conventional one and reflecting precisely a test piece structure, and a transmission electron microscope.
従来よりも像質が良く、試料構造を正確に反映した３次元像を得ることができる３次元像構築方法および透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To enable an electron microscope equipped with a plurality of secondary electron or reflecting electron detectors to carry out control of contrast/brightness of the plurality of detectors in one control operation.
複数の二次電子若しくは反射電子検出器を持つ電子顕微鏡において、複数の検出器のコントラスト／明るさの制御をひとつの制御操作で行えるようにする。 - 特許庁 - When the position of the assistant's microscope 7 is changed, the reflecting member 50 is rotated around an axis A orthogonal to the optical axis O by action of gears 60 and 61 and a driving shaft 62.
助手用顕微鏡７の位置が変更されると、ギア６０、６１及び駆動軸６２の動作により、光軸Ｏに直交する軸Ａを中心に反射部材５０が回転される。 - 特許庁 - The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.
顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁 - To provide a structured illuminating microscope for acquiring a restored image reflecting the quantity of incident light as accurately as possible by calculating the accurate quantity of incident light from the output signal of a photodetector.
光検出器の出力信号から正確な入射光量を算出し、入射光量をできるだけ正確に反映した復元画像を取得すことが可能な構造化照明顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The reflecting X-ray microscope includes the convex mirror 1 constituting a Schwarzschild optical system, the concave mirror 2 provided with an aperture 8 and a diaphragm 9 for preventing illuminating light 5 from being blocked by the optical system, and an image detector 4.
シュバルツシルド光学系を構成する凸面鏡１と、照明光５が光学系で遮られるのを避けるための開口部８と絞り９が設けられた凹面鏡２と、画像検出器４とを具備する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current.
一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To obtain a scanning probe microscope capable of expanding a measuring range in the measurement of a sample of which the surface irregularities are severe and capable of measuring accurate physical characteristics not affected by the unstable deformation of the leading end of the laser reflecting surface of a cantilever.
表面凹凸の激しい試料の測定において測定範囲を広げること および カンチレバーのレーザ反射面先端の不安定変形の影響の無い正確な物理特性を測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The optical radiation pressure measuring device, the resonance frequency regulating method, the aperture diameter inspection device and the near field microscope provided with the aperture diameter inspection device utilize that a frequency characteristic of the resonance body is changed by the optical radiation pressure P when incident light 18 is irradiated on a reflecting means 64 provided on the resonance body.
共振体に設けられた反射手段６４に入射光１８を照射したときの光放射圧Ｐにより共振体の周波数特性が変化することを利用した光放射圧測定装置、共振周波数調整方法、開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - The illuminator for the microscope is equipped with a plurality of laser beam sources 1 and 2, micromirror arrays (DMD) 4 and 5 respectively provided corresponding to the laser beam sources and reflecting the light beams from the laser beam sources, and light beam compositing means 10, 11, 19 and 15 compositing the light beams from the respective laser beam sources reflected by the respective micromirror arrays.
複数のレーザ光源１，２と、各レーザ光源に対応して夫々設けられた、レーザ光源からの光線を反射させる微小鏡配列（ＤＭＤ）４，５と、各微小鏡配列で反射した各レーザ光源からの光線を合成する光線合成手段１０，１１、１９，１５とを備えている。 - 特許庁 - In the illuminator of the microscope provided with a holding member holding a plurality of filter cassettes, at least one 50 of the plurality of the filter cassettes is provided with a dichroic mirror 66 reflecting the illumination light and the angle of the dichroic mirror 66 to the objective lens is changed by a cam mechanism provided in the filter cassette 50.
複数のフィルタカセットを保持する保持部材を備えている顕微鏡の照明装置において、複数のフィルタカセットの少なくとも１つのフィルタカセット５０に照明光を反射するダイクロイックミラー６６を設けるとともに、対物レンズに対するダイクロイックミラー６６の角度をフィルタカセット５０に備えたカム機構によって変化させるようにした。 - 特許庁 - An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.
対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁
