「reflection measuring method」を含む例文一覧(176)
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光反射測定方法および光反射測定装置 - 特許庁 - REFLECTION MEASURING APPARATUS AND REFLECTION MEASUREMENT METHOD
反射測定装置及び反射測定方法 - 特許庁 - REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING PROGRAM, AND REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD
反射特性測定プログラム及び反射特性測定方法 - 特許庁 - REFLECTION MEASURING APPARATUS AND METHOD
反射測定装置および方法 - 特許庁 - HIGH-SENSITIVITY REFLECTION MEASURING APPARATUS AND HIGH-SENSITIVITY REFLECTION MEASURING METHOD
高感度反射測定装置及び高感度反射測定方法 - 特許庁 - REFLECTION SPECTRUM MEASURING METHOD AND APPARATUS
反射スペクトル測定方法及びその装置 - 特許庁 - MEASURING DEVICE OF REFLECTION TYPE OPTICAL ELEMENT AND ITS MEASURING METHOD
反射型光素子の測定装置およびその測定方法 - 特許庁 - SENSOR UNIT, MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用したセンサユニット，測定方法及び装置 - 特許庁 - REFLECTION DAMPING AMOUNT MEASURING DEVICE AND REFLECTION DAMPING AMOUNT MEASURING METHOD BY USE OF THE SAME
反射減衰量測定装置およびこれを用いた反射減衰量測定方法 - 特許庁 - MEASURING DEVICE USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND ITS MEASURING METHOD
全反射減衰を利用した測定装置及びその測定方法 - 特許庁 - REFLECTION WAVELENGTH MEASURING METHOD AND PHYSICAL QUANTITY MEASURING METHOD FOR OPTICAL FIBER GRATING
光ファイバグレーティングの反射波長測定方法及び物理量測定方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD FOR REFLECTION SHEET AND ITS BRIGHTNESS MEASURING DEVICE
反射シートの評価方法及び輝度測定装置 - 特許庁 - REFLECTION TYPE TERAHERTZ SPECTROMETRY SYSTEM AND MEASURING METHOD
反射型テラヘルツ分光測定装置及び測定方法 - 特許庁 - REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD AND DEVICE
反射特性計測装置および反射特性計測法 - 特許庁 - MEASURING DEVICE AND METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁 - REFLECTION MEASURING GRADUATION AND PRODUCTION METHOD THEREOF
反射測定目盛およびこの測定目盛の製造方法 - 特許庁 - OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTION MEASURING METHOD AND DEVICE
光周波数領域反射測定方法および装置 - 特許庁 - MEASURING APPARATUS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND METHOD THEREFOR
全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND ITS DEVICE
全反射減衰を利用した測定方法および装置 - 特許庁 - REFLECTION TYPE METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING BRILLOUIN SPECTRUM DISTRIBUTION
反射式ブリルアンスペクトル分布測定方法および装置 - 特許庁 - REFLECTION CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE, METHOD THEREFOR, AND SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE
反射特性測定装置および該方法ならびに分光特性測定装置 - 特許庁 - MEASURING UNIT USED IN MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION, METHOD OF MANUFACTURING MEASURING UNIT, AND MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION
全反射光を利用した測定装置に用いられる測定ユニット、該測定ユニットの製造方法および全反射光を利用した測定装置 - 特許庁 - SENSOR UNIT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND MEASURING METHOD
全反射減衰を利用するセンサユニット及び測定方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RELATIVE POSITIONS OF SPECULAR REFLECTION SURFACE
正反射面の相対位置を測定する方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING REFLECTION SPECTRUM
反射スペクトルの測定方法および反射スペクトル測定装置 - 特許庁 - ULTRASONIC REFLECTION TYPE METHOD FOR MEASURING CONCENTRATION OF GAS AND APPARATUS THEREFOR
超音波反射式ガス濃度測定方法及び装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING REFLECTION CHARACTERISTIC
反射特性測定装置および反射特性の測定方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND APPARATUS UTILIZING TOTAL INTERNAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - MEASURING APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD OF COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT IN SAMPLE BY MEASURING REFLECTION OF LIGHT
光の反射測定による試料の複素誘電率測定装置及び測定方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING TRANSMISSION CHARACTERISTICS AND/OR REFLECTION CHARACTERISTICS
透過特性および／または反射特性を判定するための測定方法および測定装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DISTRIBUTION OF SPECULAR REFLECTION OF POINT IMAGE
点像の鏡面反射光分布測定方法および測定装置 - 特許庁 - REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND ITS CALIBRATION METHOD
反射特性測定装置及び反射特性測定装置の校正方法 - 特許庁 - FLOW RATE MEASURING METHOD OF REFLECTION-CORRELATION/DOPPLER TYPE ULTRASONIC FLOWMETER
反射相関／ドップラ式超音波流量計の流量測定方法 - 特許庁 - To provide a method and an instrument capable of precisely measuring crystallization degree by accurately measuring the reflection factor of polycrystalline silicon, and further of being applicable also in precisely measuring the reflection factor of other substances.
多結晶シリコンの反射率を精度良く測定することにより、その結晶度合いを正確に測定できる方法、装置を提供する。 - 特許庁 - LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS
送液システム、送液方法、流路ユニット、及び全反射減衰を利用した測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE
走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁 - SPECTRAL INTENSITY MEASURING DEVICE, CALIBRATION METHOD THEREFOR, SPECTRAL REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD THEREFOR
分光強度測定装置およびその校正方法ならびに分光反射特性測定装置およびその校正方法 - 特許庁 - To provide a light reflection measuring device and a light reflection measuring method capable of easily measuring reflectance distribution in an optical path with high spatial resolution.
光線路における反射率分布を高い空間分解能で容易に計測することができる光反射計測装置および光反射計測方法を提供する。 - 特許庁 - MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND METHOD FOR IDENTIFYING SENSOR UNIT THEREOF
全反射減衰を利用した測定装置及びそのセンサユニットの識別方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF REACTION RATE COEFFICIENT IN ANALYSIS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
全反射減衰を利用した分析における反応速度係数の測定方法 - 特許庁 - NORMAL REFLECTION TYPE SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND DEVICE WITH CCD CAMERA
ＣＣＤカメラによる正反射式表面性状測定方法及びその装置 - 特許庁 - ALIGNER, REFERENCE REFLECTION PLATE, CALIBRATION METHOD OF REFLECTANCE MEASURING SENSOR, AND MANUFACTURING METHOD OF MICRO DEVICE
露光装置、基準反射板、反射率計測センサの校正方法及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁 - LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS
送液装置、送液方法、及び全反射減衰を利用した測定方法、並びに流路ユニット - 特許庁 - To provide a method for measuring a depth value of a semiconductor joining of a substrate, using light modulation and light reflection measuring technology.
光変調光反射測定技術を用いて、基板の半導体接合の深さの値を測定する方法。 - 特許庁 - To provide a light reflection measuring device capable of easily measuring a reflectance distribution in an optical path at a high spatial resolution; and to provide an optical communication system and a method for measuring the light reflection.
光線路における反射率分布を高い空間分解能で容易に計測することができる光反射計測装置、光通信システム及び光反射計測方法を提供する。 - 特許庁 - LIQUID FEED APPARATUS, ITS METHOD, AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁 - LIQUID FEEDER, LIQUID FEED METHOD, AND MEASURING INSTRUMENT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION
送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING REFLECTION LOST FROM LENS COATED WITH MULTILAYER OF DIELECTRIC MATERIAL
誘電材料の多重層で被覆されたレンズから失われる反射を測定する方法 - 特許庁 - To provide an optical characteristic measuring apparatus and an optical characteristic measuring method having high accuracy in detecting angles of specular reflection.
正反射角の高い検出精度を有する光学特性測定装置及び光学特性測定方法を提供する。 - 特許庁
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