「relation test」を含む例文一覧(164)
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テストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラム - 特許庁 - To provide a test case relation extracting method, a test case relation extracting device and a test case relation extracting program which can easily extract relation between test cases.
テストケース間の関係を容易に抽出できるテストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To automatically generate a test case and test data in relation to Web application.
Ｗｅｂアプリケーションに関するテストケース及びテストデータを自動的に生成する。 - 特許庁 - A relation between the concentration of calcium sulphate and the wear rate (metal wear rate) of the block test piece in the wear test is found as an increasing relation expression (exponential relation expression).
該摩耗試験の際における硫酸カルシウム濃度とブロック試験片の摩耗率（メタル摩耗率）との関係を増加関係式（指数関係式）として求める。 - 特許庁 - Further, based on the first relation information, second relation information for relating a test having the same cause in which the test resulted in rejection is created.
さらに、第１関係情報に基づいて、試験が不合格となった原因が同じである試験を関連付ける第２関係情報を作成する。 - 特許庁 - To achieve high measuring precision with a reduced load of a test tape in relation to a test tape unit for coating body fluids.
体液の塗布用の試験テープユニットに関して試験テープの少ない負荷で高い測定精度を達成する。 - 特許庁 - The system controller 32 test-writes test data by changing power prior to interruption of data recording, and relation between signal quality of the test data and power is calculated.
システムコントローラ３２は、データ記録中断に先だってパワーを変化させてテストデータを試し書きし、テストデータの信号品質とパワーとの関係を算出する。 - 特許庁 - The body thickness information acquisition part 52 acquires relation between a position of a test subject on a top plate and the body thickness of the test subject.
体厚情報取得部５２は、被検体の天板上の位置と被検体の体厚との関係を取得する。 - 特許庁 - One test in tests being related by second relation information is selected for tests related by the second relation information as a test used for the regression test to be made after correcting the program.
プログラムを修正した後に行う回帰試験に用いる試験として、第２関係情報によって関係付けられた試験に関しては、第２関係情報によって関係付けられた試験のうち、１つの試験を選択する。 - 特許庁 - To easily create test data maintaining integrity of reference relation between pieces of data.
データ間の参照関係の整合性が維持されたテストデータを容易に作成すること。 - 特許庁 - A main vibration test condition setting part 47 sets main vibration test conditions from the relation between the characteristic frequency and the maximum amplitude of the test object 13 to the command waveform.
本振動試験条件設定部４７は、指令波形に対する被試験体１３の固有振動数と最大振幅の関係から、本番の振動試験条件を設定する。 - 特許庁 - To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.
欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁 - To provide a method to decide a system model to describe relation between a test applicable to a test object system (SUT) and its component.
テスト対象システム(SUT)に適用可能なテストとその構成要素との間の関係を記述するシステムモデルを決定するための方法を提供する。 - 特許庁 - To perform efficient generation of a test pattern capable of taking account of connection relation of instances on a critical path and avoiding an incorrect test, in creation of a test pattern of a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路のテストパタンの作成において、クリティカルパス上のインスタンスの接続関係を考慮し、かつ、誤テストを回避するテストパタンの生成を効率的に行う。 - 特許庁 - To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.
テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - Thus, the pseudo test with a universality and be made always with holding the relation of a motion equations.
これにより、常に、運動方程式の関係を保持した普遍性のあるスード試験を行うことができる。 - 特許庁 - For film thickness of a test pattern region of the dummy board, the relation between immersion time and film reducing amount is plotted.
ダミー基板のテストパターン領域の膜厚について、浸漬時間と膜減り量の関係をプロットする。 - 特許庁 - The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio.
その結果から平均粒子径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒子径を求める。 - 特許庁 - After specifying don't-care-bits as much as possible in response to a test pattern generated in relation to a combination circuit model (S12-4), a condition is assigned again to reduce the number of test conditions and the number of invalid test conditions in relation to the don't-care-bits (S12-5).
組み合わせ回路モデルに対して生成したテストパターンに対して、可能な限り多くのドントケアビットを特定した後（Ｓ１２−４）、ドントケアビットに対して、テスト状態数および無効テスト状態数が削減されるように状態を再割当する（Ｓ１２−５）。 - 特許庁 - The water-sensitive paper, discolored to density different corresponding to the adhesion amount of water droplets, is mounted on the test piece to perform impingement test and the relation between a position and the impingement amount of water droplets is calculated from the test result.
また水滴の付着量に応じて異なる濃度に変色する感水紙を、供試体に装着して衝突試験を行い、その結果から位置と水滴の衝突量との関係を求める。 - 特許庁 - Test questions are managed in a storage means in a hierarchical structure according to the contents of the test questions, and the level of difficulty of the test questions is calculated from the answer data of examinees in the test, and the test questions whose level of difficulty does not match the vertical relation of the hierarchical structure are detected.
本発明は、試験問題を、該試験問題の内容に応じて階層構造で記憶手段内に管理し、試験における受験者の解答データから試験問題の難易度を求め、階層構造の上下関係と難易度が矛盾する試験問題を検出する。 - 特許庁 - A measuring instrument 100 obtains the test result of the three-point bending test to a test piece and an elastic modulus estimating part 130 calculates the elastic modulus of the test piece on the basis of the inclination of a curve showing the relation between load and displacement contained in the test result.
本実施例にかかる計測装置１００は、試験片に対する３点曲げ試験の試験結果を取得し、弾性率推定部１３０が試験結果に含まれる荷重と変位との関係を示す曲線の傾きに基づいて試験片の弾性率を算出する。 - 特許庁 - To reduce obstacles such as paper jamming brought about at the time of an operation test in relation to the presence or absence of a predetermined function.
所定の機能の有無に関係して動作テスト時に発生時する紙ジャムなどの障害を低減する。 - 特許庁 - As a remedy for the change with time, a correction circuit 40a saves the relation between the reproduction test signal level Vtest0 of an initial period and a reference level Vref0 and forms a correction signal Sc1 for approximating the relation between the present reproduction test signal level Vtest and the reference level Vref to the saved relation.
経時的変化の対策として、補正回路４０ａは、初期の再生テスト信号レベルＶtest_0 と基準レベルＶref_0との関係を保存し、現在の再生テスト信号レベルＶtestと基準レベルＶref との関係を保存したものに近づけるための補正信号Ｓｃ_1 を生成する。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.
試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁 - TEST STRUCTURE FOR CAPACITANCE OF MOS AND METHOD FOR MEASURING CAPACITANCE CURVE AS FUNCTION OF VOLTAGE IN RELATION TO IT
ＭＯＳ容量テスト構造と、それに関連した、電圧の関数として容量曲線を測定するための方法 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for smoothly performing a test of a packet network used in relation to a network technology.
ネットワーク技術と関連して使用されるパケットネットワークの試験を円滑に実行する方法及び装置を提供する - 特許庁 - When a correspondence relation between equipment displayed in an equipment list and actual equipment connected to a network is indefinite, a test image is transmitted, and the output of the test image is verified, so that the correspondence relation can be verified.
、機器リストに提示された機器と、ネットワークに接続された実際の機器との対応関係が不明確である場合において、テスト画像の送信を実行して、テスト画像の出力確認を行うことで対応関係を確認することができる。 - 特許庁 - The target position of a test tube 90 to be housed is corrected on the basis of the relative position of the target test tube 90 in relation to the test tube hand 22 detected by the obtained image of an image pickup part 51 and the conveying mechanism 20 moves the test tube hand 22 to the corrected target position.
収納される試験管９０の目標位置は、撮像部５１の取得画像により検出した試験管ハンド２２に対する目標試験管９０の相対位置に基づいて補正され、搬送機構２０は補正された目標位置に試験管ハンド２２を移動させる。 - 特許庁 - A test value of a relation between a direction of a fluid and a hue value of the shearing stress liquid crystal for the test is stored in a memory, based on the image photographed concurrently by the two color cameras.
２つのカラーカメラにより同時に撮影された画像に基づいて、流体の方向と前記検定用の剪断応力液晶の色相値との関係の検定値をメモリに格納する。 - 特許庁 - Before a performance recording to the optical disk is carried out, a test recording is made, and the relation among a recording laser power value, a β value and a C1 error value is found based on the test result.
光ディスクに対する本番の記録を行う前に、テスト記録を行い、当該テスト記録の結果から記録レーザパワー値と、β値およびＣ１エラー値との対応関係を求める。 - 特許庁 - To provide a material tester capable of easily relating the relation between the load and strain such as elongation or the like acting on a test piece with the elapse time after the start of a test to subject the same to analysis.
試験片に作用する荷重と伸び等の歪みとの関係を、試験開始後の経過時間容易に関連付けて解析に供することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁 - Along at least one edge of a chip, a bonding pad 3 and a pad 4 exclusively used for wafer test which are used together when test is performed are arranged on the same arrangement line having a prescribed arrangement relation.
チップにおける少なくとも１辺に沿ってテスト時に共に用いられるボンディングパッド３とウエハテスト専用パッド４とを同一の配列上に所定の配置関係で設ける。 - 特許庁 - Further, a parameter estimating part 150 calculates the relation between the stress and strain of the test piece on the basis of the elastic modulus and the yield stress.
また、パラメータ推定部１５０が、弾性率および降伏応力に基づいて試験片の応力とひずみとの関係を算出する。 - 特許庁 - Consequently, the test of the function by the instruction code constitution and the operand dependency relation between the instructions can efficiently be conducted.
以上の構成により、命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行うことができる。 - 特許庁 - To provide a video signal processing unit that can easily test whether or not a timing relation between a video signal and an internal control signal is normal.
映像信号と内部制御信号のタイミング関係が正常か否かを容易にテストできる映像信号処理装置を提供する。 - 特許庁 - The control part 30 determines whether to stir the toner based on the relation between the amount of toner deposited of the test pattern and the developing bias voltage applied by the voltage application part 32 when the test pattern is formed.
制御部３０は、テストパターンのトナー付着量、及び、該テストパターンの形成時に電圧印加部３２に印加させた現像バイアス電圧との関係に基づいて、トナーの撹拌の要否を判定する。 - 特許庁 - This regression system performs a test by storing information on test cases of the tests performed in the past and combining a dependency relation acquired by analyzing the information and an object program.
過去に行われたテストのテストケースについての情報を保存しておき、その情報と対象プログラムを解析して得られた依存関係を組み合わせることによりテストを行うリグレッションシステムを構成した。 - 特許庁 - In a device for performing constituent concentration measurement of an object of analysis by utilizing transmitted light or reflected light from a chromatography test piece, code information on the test piece recorded with respect to the test piece is read by utilizing movement of relative positional relation between irradiating light to the test piece and the test piece, as well as by using transmitted light or reflected light from the test piece.
クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して分析対象物の成分濃度測定を行う装置に、前記クロマトグラフィー試験片への照射光と前記クロマトグラフィー試験片との相対的な位置関係の移動、及び前記クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して、試験片に関して記録された試験片上のコード情報を読み取る。 - 特許庁 - The shearing fatigue characteristics of the metal material are assessed using the relation between shearing stress amplitude and load frequency obtained by the test.
試験により得られたせん断応力振幅と負荷回数との関係を用いて、前記金属材料のせん断疲労特性を評価する。 - 特許庁 - In a step a1, a temperature cycle test to a specified electronic equipment is done and an universal relation formula between a life cycle number and a distortion amplitude, namely a life-distortion relation formula, to every electronic equipment is determined.
ステップａ１において、特定の電子機器に対する温度サイクル試験を行って、全ての電子機器に普遍な寿命サイクル数と歪み振幅との間の関係式、すなわち寿命歪み関係式を求める。 - 特許庁 - The arranging positions of a cell constituting a test objective circuit, and a non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit, are determined and, thereafter, the connecting relation of the non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit is determined based on these arrangement informations to constitute the test circuit, whereby the semiconductor integrated circuit is provided as equipped with the test circuit.
テスト対象回路を構成しているセルおよびテスト回路を構成するために準備された未接続セルの配置位置を決定した後に、それらの配置情報に基づいて、テスト回路を構成するために準備された未接続セルの接続関係を決定し、テスト回路を構成することによりテスト回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To provide an operation aptitude test method which can be carried out in an arbitrary period even when a test needs to be repeatedly carried out by changing relation between a stimulus and reaction to it.
刺激とそれに対応する反応の関係を変更することにより、検査を繰り返し実施する必要のある場合でも、運転適性検査を任意の時期に実施することができる運転適性検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a binocular vision testing apparatus performing a highly accurate test regardless of the performance of a projector or a positional relation with a screen or the like without the need of newly performing optical design depending on required test accuracy.
必要な検査精度によって新たに光学設計を行う必要なく、プロジェクタの性能やスクリーンとの位置関係などに関係なく高精度の検査を行うことができる両眼視検査装置を提供する。 - 特許庁 - The test unit 1 can test the transmission reception relation between one optical sector 5a and the directivity antenna 3a whose position corresponds to the sector 5a in one to one correlation so as to avoid interference from the other sectors 5d-5f.
任意の１つのセクタ５ａとそれに位置対応する指向性アンテナ３ａとの間の送受信関係が１対１の対応で試験され、他のセクタ５ｂ〜５ｆとの干渉を回避した試験が可能になる。 - 特許庁 - To generate test data enabling a program for performing a DB search to hit only an intended DB record, and handling a complex dependence relation among variables.
DB検索を行うプログラムに対して意図したDBレコードのみがヒットすることを可能とし、変数の複雑な依存関係を扱うテストデータを生成する。 - 特許庁 - In a test process of HDD manufacturing, the HDD specifies a relation between clearance and temperature by measurement to determine the correction coefficient.
ＨＤＤの製造のテスト工程において、ＨＤＤは、測定によりクリアランアスと温度との間の関係を特定し、上記補正係数を決定する。 - 特許庁 - To provide a device for supporting display data item test, capable of automatically collating and list-displaying an allocation relation between form data and data storage areas of a database device.
帳票データとデータベース装置のデータ格納領域との割付関係を自動的に照合し、一覧表示する表示データ項目試験支援装置を得る。 - 特許庁 - A test signal is modulated so that the frequency varies with time and fault of the transmission/reception module is diagnosed from relation between an evaluation formula and a threshold value.
試験信号を時間経過とともに周波数が変化するように変調し、評価式と閾値との関係から送受信モジュールの故障を診断する。 - 特許庁 - A test print 2 is generated (S105), and a relation between a laser output and the density is obtained, based on the density information which is obtained in the step S106 (S107) to set a gamma-conversion characteristic (S108).
テストプリント2を形成し(S105)、ステップ106で得られた濃度情報からレーザ出力と濃度との関係を求め(S107)、ガンマ変換特性を設定する(S108)。 - 特許庁
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