RESISTIVITY MEASURING METHOD BY FOUR PROBE METHOD AND ITS DEVICE 4探針法による抵抗率測定方法及びその装置 - 特許庁
HEATING-TYPE GROUND WATER RESISTIVITY LOGGING METHOD, DETECTOR FOR HEATING-TYPE GROUND WATER RESISTIVITY LOGGING, AND MEASURING INSTRUMENT FOR HEATING-TYPE GROUND WATER RESISTIVITY LOGGING 加熱式地下水検層法及び加熱式地下水検層用感知器並びに加熱式地下水検層用測定装置 - 特許庁
ELECTRICAL RESISTIVITY MEASURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MATERIAL 半導体材料の電気抵抗率測定方法 - 特許庁
PROCESSING METHOD OF WASTE HAVING HIGH ELECTRICAL RESISTIVITY 電気抵抗率が高い廃棄物の処理方法 - 特許庁
METHOD OF MEASURING RESISTIVITY OF N TYPE SEMICONDUCTOR WAFER N型半導体ウェハの抵抗率測定方法 - 特許庁
HYDROGEN CRACKING RESISTIVITY EVALUATION METHOD OF FORGED STEEL MATERIAL 鍛造鋼材の耐水素割れ性評価方法 - 特許庁
EQUIPMENT FOR MEASURING RESISTIVITY OF POLYSILICON SUBSTRATE AND METHOD FOR MEASURING RESISTIVITY USING IT 多結晶シリコン基板の抵抗率測定装置およびそれを用いた抵抗率測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING CONDUCTIVITY/RESISTIVITY OF MIXED SUBSTANCE 混合物質の導電率・抵抗率測定方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MEASURING RESISTIVITY 抵抗率測定装置及び抵抗率測定方法 - 特許庁
SENSITIVITY-ADAPTED BACKWARD ANALYSIS METHOD IN NUMERICAL ANALYSIS OF RESISTIVITYMETHOD 比抵抗法の数値解析における感度適合逆解析法 - 特許庁
MEASURING METHOD FOR RESISTIVITY AND DEVICE THEREOF 比抵抗測定方法及び比抵抗測定用装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING LOW RESISTIVITY P-TYPE ZINC OXIDE THIN FILM 低抵抗p型酸化亜鉛薄膜の製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR ADJUSTING RESISTIVITY OF ULTRAPURE WATER 超純水の比抵抗調整装置及び調整方法 - 特許庁
HIGH-RESISTIVITY RARE EARTH MAGNET AND ITS MANUFACTURING METHOD 高比電気抵抗性希土類磁石及びその製造方法 - 特許庁
GLASS SHEET HAVING SLIDING RESISTIVITY AND PRODUCING METHOD THEREFOR 滑り抵抗性を有するガラス板及びその製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING RESISTIVITY OF ULTRA-PURE WATER 超純水の比抵抗調整装置及び調整方法 - 特許庁
To provide a resistivity measuring method and resistivity measuring device capable of easily, continuously and positively measuring the resistivity of a test piece. 試験体の比抵抗を簡易且つ連続的で確実に測定することの可能な比抵抗測定方法及び比抵抗測定装置を提供すること。 - 特許庁
SURFACE RESISTIVITY MEASURING DEVICE AND METHOD 表面抵抗率測定装置及び表面抵抗率測定方法 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING HIGH RESISTIVITY AND HIGH PURITY ZINC OXIDE SINGLE CRYSTAL 高抵抗率高純度酸化亜鉛単結晶の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR OBTAINING RESISTIVITY DISTRIBUTION AND DAMAGED POSITION DETECTION METHOD OF WATER BARRIER LAYER 比抵抗分布を求める方法及び遮水層の損傷位置検知方法 - 特許庁
METHOD TO OBTAIN LOW K DIELECTRIC BARRIER WITH SUPERIOR ETCHING RESISTIVITY 優勢エッチング抵抗性を具備する低K誘電バリアを得る方法 - 特許庁
To provide a novel low-resistivity tungsten film stack scheme and a method for depositing a low-resistivity tungsten film stack. 新しい低抵抗率タングステン積層膜スキーム、および、低抵抗率タングステン積層膜を堆積する方法を提供する。 - 特許庁
RESIN MATERIAL COATED WITH HIGH RESISTIVITY METALLIC THIN FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME 高抵抗金属薄膜被覆樹脂材料及びその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING CRISIS PROBABILITY OR RESISTIVITY OF BOVINE LEUKEMIA ウシ白血病の発症可能性あるいは抵抗性を判定する方法 - 特許庁
METHOD FOR IMPROVING UNIFORMITY AND ADHESIVENESS OF LOW-RESISTIVITY TUNGSTEN FILM 低抵抗率タングステン膜の均一性および接着性を高める方法 - 特許庁
MEASUREMENT CURRENT VALUE DETERMINING METHOD AND FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING APPARATUS 測定電流値決定方法及び4探針抵抗率測定装置 - 特許庁
METHOD FOR REGULATING ELECTRIC RESISTIVITY OF POLYIMIDE FILM AND POLYIMIDE FILM MANUFACTURING METHOD ポリイミド製フィルムの電気抵抗率調節方法、及びポリイミド製フィルムの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING LEUKEMIA CELL AND METHOD FOR INSPECTING RESISTIVITY TO THERAPY OF LEUKEMIA 白血病細胞の検出方法、および白血病の治療抵抗性を検査する方法 - 特許庁
To provide a device and a method for measuring resistivity that can measure resistivity under the environment in which a semiconductive member is mounted on an image formation device. 画像形成装置に搭載される半導電性部材の抵抗率を測定する抵抗率測定装置を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR DEPOSITING TUNGSTEN FILM HAVING LOW RESISTIVITY FOR GAPFILL APPLICATION 空隙を充填するべく低抵抗率のタングステン膜を堆積させる方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC CONTROL OF CURRENT ELECTRODES FOR ELECTRICAL RESISTIVITY SURVEY 電気比抵抗探査送信電極自動配電制御装置及び方法 - 特許庁
CAVITY AND LOOSE REGION OF SANDY GROUND EVALUATION METHOD USING SPECIFIC RESISTIVITY 比抵抗値を用いた砂質地盤の空洞・ゆるみ領域の評価方法 - 特許庁
TRACING METHOD OF RESISTIVITY SHORT CIRCUIT SPOT, AND SYSTEM, MODULE, AND RECORDING MEDIUM SUITABLE FOR METHOD 抵抗性短絡箇所の追跡方法、並びに、この方法に適したシステム、モジュール、及び記録媒体 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING MEMORY ELEMENT COMPRISING RESISTIVITY-SWITCHING NiO LAYER AND DEVICES OBTAINED THEREOF 抵抗スイッチングNiO層を含むメモリ素子の製造方法、およびそのデバイス - 特許庁