The retested IC is classifiedly conveyed to the defective storing tray 4 or the non-defective storing tray 5 by the conveying arm 8. そして、搬送アーム8に再測定されたICを不良トレー4または良品トレー5に分別搬送させる。 - 特許庁
To provide an information management apparatus capable of efficiently specifying a test that needs to be retested while reducing a data amount to be stored. 記憶すべきデータ量を低減させつつ、再試験が必要となるテストを効率よく特定することができる情報管理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a software test item selecting device which efficiently selects test items to be retested from already performed test items in consideration of an uncorrected fault module. 未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。 - 特許庁