「sample configuration」を含む例文一覧(99)

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  • Code Listing3.5: sample ad-hoc/master configuration
    コード表示3.5: Ad-Hoc/Master設定の例 - Gentoo Linux
  • Here is a sample configuration file: ! proxy manager config file!!
    設定ファイルの例を示す: - XFree86
  • Also, see /etc/conf.d/net.example for more examples. Code Listing2.2: Sample ifplug configuration
    コード表示2.2: ifplug設定例 - Gentoo Linux
  • Let's have a look at a sample configuration:
    サンプルの設定を見てみましょう。 - Gentoo Linux
  • Code Listing3.1: Sample DHCP configuration in /etc/conf.d/net
    コード表示3.1: /etc/conf.d/netでのDHCP設定の例 - Gentoo Linux
  • Below is a sample configuration for DHCP and static addresses.
    以下はDHCPの場合と固定アドレスの場合の例です。 - Gentoo Linux
  • Code Listing2.4: Copying the sample configuration to your home directory
    コード表示2.4:サンプルの設定ファイルをホームディレクトリにコピー - Gentoo Linux
  • SAMPLE OBSERVATION CONDITION CONFIGURATION METHOD AND APPARATUS, SAMPLE OBSERVATION METHOD AND APPARATUS
    試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 - 特許庁
  • Now, open up the sample configuration in the text editor of your choice.
    それでは、サンプルの設定をお好みのテキストエディタで開きます。 - Gentoo Linux
  • The troubleshooting system has in advance collected and stored sample values of suspect configuration parameters from multiple sample computer systems.
    複数のサンプルコンピュータシステムから疑わしいコンフィギュレーションパラメータのサンプル値を集め記憶しておく。 - 特許庁
  • Due to this configuration, it is possible to sample the volatile substance containing sample without change of its properties, and easily prepare the sample as a sample for transmission electron microscopic observation.
    この構成により、揮発性物質含有試料を変質することなくサンプリングでき、透過電子顕微鏡の観察用試料として容易に作製できる。 - 特許庁
  • To provide a sample rate conversion apparatus which can be realized in a simple circuit configuration.
    簡単な回路構成で実現できるサンプルレート変換装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pattern image of a sample with improved resolution with a simple device configuration.
    簡易な装置構成で分解能が向上された試料のパターン像を得ること。 - 特許庁
  • With this configuration, the sample capturing alloy for efficiently capturing samples is obtained.
    本構成によれば、試料を高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。 - 特許庁
  • Similarly, look over the sample configuration files, and any additional documentation that may have been provided.
    同様に、設定ファイルのサンプルや提供されているドキュメントにも目を通してください。 - FreeBSD
  • To simplify the configuration of a mechanism for easily changing the dilution rate of a sample, accurately diluting the sample, and diluting the sample to be introduced into a condensation column.
    試料の希釈率を容易に変更し、試料を正確に希釈し、かつ濃縮カラムに導入する試料を希釈するための機構の構成を簡単にする。 - 特許庁
  • The troubleshooting system then compares the suspect values to sample values of the suspect configuration parameters retrieved from sample computer systems.
    次に、トラブルシューティングシステムは、疑わしい値を、サンプルコンピュータシステムから取り出された疑わしいコンフィギュレーションパラメータのサンプル値と比較する。 - 特許庁
  • To provide a sample material supplying apparatus capable of selecting one kind of a sample material from a plurality of kinds of sample materials and supplying it so that the plurality of sample materials may not be mixed with each other with a simple configuration.
    簡単な構成で複数種類の供試材が互いに混じらないように複数種類の供試材の中から１種類の供試材を選択して供給することができる供試材供給装置を提供する。 - 特許庁
  • To perform darkfield illumination with a simple configuration arranged with a surface light source near a sample.
    面光源を試料の近傍に配置した簡易な構成で暗視野照明を行えること。 - 特許庁
  • To provide a device for rapidly attaching or detaching a sample with a simple configuration in the sample-attaching/detaching device of a sample exchanger, and a fluorescent X-ray analysis device with the device.
    試料交換機の試料着脱装置において簡単な構成で迅速に試料を着脱できる装置、およびそれを有する蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁
  • To make changeable the system configuration of a sample treating function without changing the arrangement state of a plurality of analytical units in a sample analysis system.
    検体分析システムにおける複数の分析ユニットの配置状態を変えずに検体処理機能のシステム構成を変え得るようにすること。 - 特許庁
  • This injector has a configuration wherein a sample holding chamber 7 for holding a minute amount of sample is formed, and position detection of the sample holding chamber 7 is performed by transmitted light acquired by allowing a beam to enter and pass the sample holding chamber 7, to thereby perform position control of the sample holding chamber 7.
    このインジェクターは、微量試料を保持する試料保持室７が形成され、前記試料保持室７内に光線を入射させて通過した透過光により試料保持室７の位置検知を行って試料保持室７の位置制御をするようにした。 - 特許庁
  • To provide a sample/hold circuit having different current source/sink configuration in each input end and output end.
    入力端と出力端の電流ソース／シンク形態が異なるサンプル／ホールド回路が提供される。 - 特許庁
  • This configuration allows the sample container 9 to be surely attached to the holding part 10.
    このような構成によって、保持部１０に対して試料容器９を確実に取り付けることができる。 - 特許庁
  • With this configuration, the sample capturing alloy which more efficiently captures samples by charge is obtained.
    本構成によれば、電荷により試料をより高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。 - 特許庁
  • A controller implements an initial configuration (S100) and fills a capillary with an electrolytic solution and a sample (S101).
    コントローラは、初期設定（Ｓ１００）、電解液及び試料のキャピラリーへの充填（Ｓ１０１）を行う。 - 特許庁
  • To achieve a fluorescent image measuring apparatus that has an inexpensive configuration and can easily position a sample.
    安価な構成でサンプルの位置決めを容易に行なうことのできる蛍光画像計測装置を実現する。 - 特許庁
  • Or, you might have a file server and a collection of X terminals. The configuration for this is identical to the sample above, except the Xservers file would look like
    また、コマンド行でサーバを指定することにより、他の適切なデーモンを実行することができる。 - XFree86
  • To provide a determination method for absolute configuration of an optically active substance capable of determining an absolute configuration in the case of an amorphous compound or a sample of reduced amount.
    結晶性の無い化合物でも、また試料に余裕が無い場合でも、絶対配置を決定できる光学活性体の絶対配置決定法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sample base for an infrared microspectrometry, which prevents a sample from missing and a contaminant from getting mixed, and can readily work a minute-sized or a minute amount of sample into a sample configuration that is suitable for an infrared spectrometry, without the need for a skilled operator.
    オペレータの熟練を必要とせず、試料の紛失や汚染物質の混入を防ぎ、微小・微量試料を赤外分光測定に好適な試料形態に簡便に加工できる顕微赤外分光測定用試料台を提供することにある。 - 特許庁
  • In this configuration, a small hole 16 for collecting grease serving as an inspection sample is provided in the seal cover 10.
    この構成において、シールカバー１０に、検査用サンプルとなるグリースの採取用の小孔１６を設ける。 - 特許庁
  • At this time, the circuit configuration is adapted to individually select the polarities of a sample 36 and an electrode 35 by each discharge.
    この際、試料３６および電極３５の極性は各々の放電で個別に選択できる回路構成としている。 - 特許庁
  • To provide combinatorial device manufacturing equipment capable of excellently manufacturing a sample device with a simple configuration while eliminating a movable unit.
    可動部を省略し、簡略な構成でサンプルデバイスを良好に製造できるコンビナトリアルデバイス製造装置を提供する。 - 特許庁
  • To measure the characteristic change caused by a photothermal effect in a sample with high sensitivity by a low noise simple configuration inclusive of the measurement of the absorption spectroscopic characteristics of the sample.
    試料中における光熱効果による特性変化の測定を，試料の吸収分光特性の測定も含めて簡易な構成により高感度かつ低ノイズで測定できること。 - 特許庁
  • Before machine blade machining is to be executed, a focusing ion beam is used for performing grooving 2 around a sample observation place 1, the observation place is separated from a sample configuration film in a floating island shape, and a thin film for burying is deposited at a grooving part using an ion beam.
    機械刃加工を実行する前に、観察箇所の周囲にFIBを用いて溝加工 を行い、当該観察個所を試料構成膜から切り離し浮島状にする。 - 特許庁
  • To attain highly accurate thermal analysis measurement by making ambient environment of a sample for measurement and a standard sample the same on the premise of configuration for performing X-ray diffraction measurement by a transmission method.
    透過法によるＸ線回折測定ができる構造を前提として、被測定試料と標準試料の周囲環境を同じにして高精度な熱分析測定を実現する。 - 特許庁
  • The sample/hold circuit can be used with the data driver having the output end which has the current sink configuration.
    本発明の構成によるサンプル／ホールド回路は出力端が電流シンク形態であるデータドライバと共に用いることができる。 - 特許庁
  • Through the above configuration, a sample-hold circuit having conventionally been provided with the first AD conversion circuit 11 in parallel is eliminated.
    このような構成により、従来第１ＡＤ変換回路１１と並列に設けられていたサンプルホールド回路を除去する。 - 特許庁
  • A track header 111, a sample description 112 and configuration information 113 are information related to reproduction of the whole text track.
    トラックヘッダ１１１、サンプルディスクリプション１１２およびコンフィグインフォメーション１１３は、テキストトラック全体の再生に関わる情報である。 - 特許庁
  • To provide an inexpensive fluorescent X-ray analysis apparatus with a simple configuration for irradiating a sample with excitation rays with different wavelengths.
    波長の異なる励起線を試料に照射する蛍光Ｘ線分析装置において、簡単な構成で安価な装置を提供する。 - 特許庁
  • This configuration can provide the liquid chromatographic apparatus capable of reducing the fluctuation of the base line caused by the pressure fluctuation when introducing the sample.
    これにより、試料導入時の圧力変動によるベースライン変動を低減可能な液体クロマトグラフ装置を実現することができる。 - 特許庁
  • Conky also provides a great sample configuration, located at /etc/conky/conky.conf.
    また、Conkyには素晴らしいサンプル設定が付属しており、それは/usr/share/doc/conky-version/Conkyrc.sample.gzに置かれています。 conky-versionをインストールした特定のバージョンに必ず置き換えて下さい。 - Gentoo Linux
  • To detect a tunnel current and secondary electrons emitted from a sample with a simple configuration without using any secondary electron detectors.
    二次電子検出器を用いることなく、簡単な構成で、トンネル電流と、試料から放出された二次電子の検出を可能とする。 - 特許庁
  • This Sample Configuration shows how to enable plain text and Message Digest 5 (MD5) authentication on a virtual link in an OSPF network.
    この構成例は、OSPFネットワーク中の仮想リンク上で、平文とメッセージダイジェスト５（MD5）による認証がどのようにして可能かを示している。 - コンピューター用語辞典
  • To realize an electrolyte measuring method and electrolyte measuring apparatus in which electrolyte can be measured accurately without complicating a configuration of the entire apparatus, without increasing a sample solution and without depending on a concentration of the sample solution.
    装置全体の構成を複雑化することなく、試料溶液を増やすことなく、試料溶液の濃度によらず、正確に測定できる電解質測定方法及び電解質測定装置を実現する。 - 特許庁
  • The surface configuration or the crystallinity of the sample crystal 14 can be evaluated, based on the direction and the interval of interference fringes that appear in the detector 16.
    検出器１６に現れる干渉縞の向きや間隔から、試料結晶１４の表面形状や結晶性の評価が可能となる。 - 特許庁
  • To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.
    試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁
  • With this configuration, the sample capturing alloy for further easily introducing other substituents is obtained since the surface is modified by a thiol group.
    本構成によれば、チオール基で表面修飾されていることからさらに他の置換基の導入が容易な試料捕捉合金が得られる。 - 特許庁
  • To provide a configuration capable of supplying plasma gas in large quantity to stabilize plasma simultaneously with lowering the sample dilution ratio to improve detection sensitivity.
    プラズマを安定化させるべく大量のプラズマガスを流しつつ、高感度検出のために試料の希釈率を下げることが可能な構成とする。 - 特許庁
  • To provide a measuring device capable of promptly and accurately performing optical and electrochemical measurements of a sample using a simple configuration.
    簡易な構成を有し、試料の光学測定及び電気化学測定を迅速かつ正確に行うことができる測定デバイスを提供する。 - 特許庁
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