「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 51 52 53 54 55 56 57 58 59 .... 92 93 次へ＞- To provide a vacuum processing device which restrains an increase in of a manufacturing cost while corresponding to the large diameter of a sample and does not damage its maintenability.
試料の大口径化に対応しつつ、製造コストの上昇を抑え、かつ、メンテナンス性も損なわない真空処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vending machine provided with a display device capable of showing the TV images of a commercial picture without damaging a commod ity sample presenting function on the front of the vending machine.
自動販売装置の前面の商品見本提示機能を損なうことなく、コマーシャル画像の放映可能な表示装置を設ける。 - 特許庁 - To provide a merchandise sample display device for a vending machine, capable of simply performing attachment/detachment operation for price label and proper in handleability.
価格ラベルの装脱作業を簡易に行い得るようにした取り扱い性の良い自動販売機の商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an X-ray image inspection device which can of photograph a sample constituted of a material suppressed in X-ray absorption at a high resolution.
Ｘ線吸収の少ない材質で構成される試料を、高分解能で撮影可能としたＸ線画像検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holding device which is capable of easily holding samples, such as reticules and the like at prescribed positions and an aligner equipped with the same.
レチクル（マスク）等の試料を所定の位置に保持するのが容易な試料保持装置及びこれを備えた露光装置を提供することである。 - 特許庁 - PROBE WITH PROBE ELEMENT INTERACTING WITH SAMPLE, MANUFACTURING METHOD OF THE PROBE, AND MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR INTERMOLECULAR ACTION USING THE PROBE
試料と相互作用する探針を有するプローブ、該プローブの製造方法、該プローブを用いた分子間の相互作用の測定方法及び測定装置 - 特許庁 - A measuring device 25 performs a predetermined calibration on electrical signals detected by the detecting coils 17, 19 to calculate the magnetization of the sample 13.
測定装置２５は、検出コイル１７、１９が検出した電気信号に所定の較正を行って試料１３の磁化を算出する。 - 特許庁 - To provide a method for enabling a PCR device to be miniaturized, and also capable of realizing a cassette-type kit suitable for sample pretreatment and PCR.
装置の小型化が実現可能であり、かつ、サンプルの前処理及びＰＣＲに適したカセット型のキットを実現可能な手段を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF MAKING STANDARD SAMPLE FOR INSPECTION, METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING APPARATUS, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
検査用標準試料の製造方法、半導体集積回路の製造装置の検査方法および半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁 - The bar code is read by the scanner of a POS register device, and a trial value corresponding to the free sample code is collected with the merchandise price.
前記バーコードをＰＯＳレジ装置のスキャナで読み取って、試供品コードに対応する試用対価を商品代金と共に徴収する。 - 特許庁 - To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample.
試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。 - 特許庁 - To provide an optical disk device having a wobble signal detecting circuit which precisely detects wobble signals without using a sample-and-hold circuit.
サンプルホールド回路を使用することなく、ウォブル信号を精度よく検出できるウォブル信号検出回路を有する光ディスク装置を提供する。 - 特許庁 - An analyzing device forms the positive electricity and negative electricity along the flow direction of the sample aerosol, and separates positive electricity and negative electricity particles from each other.
分析装置は、サンプルエアロゾルの流れ方向に沿って陽電極と陰電極をそれぞれ形成し、陽電気及び陰電気粒子を分離する。 - 特許庁 - To remove dispersed electron which spreads around an electron beam spot on a sample in an electron beam device loading a field emission type electron gun.
電界放出型電子銃を搭載する電子線装置において、試料上の電子線スポットの周りに拡がる散乱電子を除去する。 - 特許庁 - A reflected electron waveform 75 is stored sequentially, at each specified irradiating position on a sample, in a storage device through a reflected electron detector 63.
反射電子検出器６３を介して反射電子波形７５が試料上での所定照射位置毎に、順次記憶装置に記憶される。 - 特許庁 - REFERENCE MATERIAL FOR ELECTRON SPIN RESONANCE MEASUREMENT, AND SAMPLE ANALYSIS AND ADJUSTMENT AND MAINTENANCE METHOD OF MEASUREMENT DEVICE BY ELECTRON SPIN RESONANCE METHOD USING IT
電子スピン共鳴測定用標準物質とこれらを用いた電子スピン共鳴法による試料分析及び測定装置調整維持方法 - 特許庁 - Finally, by using an ion milling device, the observation part 14 is thinned to approximately several hundred nm, thus completing a sample for a transmission electron microscope.
最後にイオンミリング装置を用い、観察部分１４を数百ｎｍまで薄片化して透過型電子顕微鏡用の試料を完成させる。 - 特許庁 - After conducting a slump test, a barrier device 16 is placed on a base plate 10 so as to surround a concrete sample C on the base plate.
スランプ試験を実行した後に、台板１０上のコンクリート試料Ｃを囲繞するようにして、バリア装置１６を台板上に載置する。 - 特許庁 - WEIGHING INSTRUMENT FOR FINE POWDER SAMPLE, ITS APPLIED ANALYTICAL SAMPLING DEVICE AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER EQUIPPED WITH ABOVE-STATED DEVICES
微粉末試料の重量計量装置とそれを利用した分析試料作製装置、さらに、かかる装置を備えた蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁 - To provide a microscope device for accurately and efficiently acquiring information regarding light quantity and favorably acquiring image information of a sample.
光量に関する情報を精度良く且つ効率良く取得して、試料の像情報を良好に取得できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a dispensing device of high reliability capable of determining surely the occurrence of blocking of a nozzle, shortage of a liquid sample and the like.
ノズルの閉塞、液状試料の欠乏等の発生を確実に判定することができる信頼性が高い分注装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact sample preparation device improved in a flow route of a biosample liquid inside a suction head to enhance suction efficiency.
吸引ヘッド内の生体試料液の流通経路を改善して吸引効率を良くすると共に、コンパクトな標本作成装置を提供する。 - 特許庁 - This device includes a first base 1 for displaying sample cosmetics 25-28 and a second base 2 for displaying product cosmetics.
サンプル用化粧料２５〜２８が陳列される第１の基台１と、製品化粧料３７〜４０が陳列される第２の基台２とを備えている。 - 特許庁 - To provide a stirring device capable of properly stirring a sample with a reagent, using a simple constitution.
簡易な構成により試料と試薬とを良好に攪拌することができる攪拌装置、並びにそれを用いた攪拌方法及び光学測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a fast Fourier transform method and device, executing a discrete Fourier transform process in real time simultaneously while obtaining sample data.
サンプルデータを得ながら、それと同時に実時間的に離散的フーリェ変換プロセスを実行する高速フーリェ変換方法および装置を提供する。 - 特許庁 - An ISF extraction device includes a penetration member configured for penetrating and residing in a target site of a user's skin layer and, subsequently, extracting an ISF sample therefrom.
ＩＳＦ抽出装置は、使用者の皮膚層に刺入して留まり、その皮膚層からＩＳＦ試料を抽出する刺入部材を含む。 - 特許庁 - To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device and an analysis method which can easily and accurately analyze the inner surface of a cylindrical sample.
円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a heating measuring device suppressing influence of high heat to the measuring device when measuring a diffuse reflectance spectrum of a sample to be measured in a heating state.
本発明の目的は、加熱状態での被測定試料の拡散反射スペクトルを測定する際に、高温による測定装置への影響を抑えた加熱測定装置を提供することにある。 - 特許庁 - Further, an optical characteristic display system (200) includes the display device (100), and an optical characteristic value measuring device (300) which measures the scattering coefficient and absorption coefficient of the specific sample.
また、本発明による光学特性表示システム（２０0）は、表示装置（１００）と、特定サンプルの散乱係数及び吸収係数を計測する光学特性値計測装置（３００）とを備える。 - 特許庁 - To provide a test device and a fluid phantom device, capable of evaluating the MRI visibility and adaptability of a long-length sample such as a tube and wire under the fluid.
チューブやワイヤー等の長尺状の試料の、流体中におけるＭＲＩ視認性および適合性の評価を可能にできる試験器具および流体ファントム装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a socket device capable of dealing with a semiconductor package based on various specifications in the socket device, for the test of the semiconductor package, on which the semiconductor package as a test sample is mounted.
被検試料とする半導体パッケージを載置する半導体パッケージのテスト用ソケット装置において、種々の仕様に基づいた半導体パッケージに対応可能なソケット装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample analysis device capable of reactivating measurement operation quickly even when remaining amount of a reagent is proved to be deficit during the period of measurement operation with the device.
装置による測定動作中に試薬の残量不足が判明した場合であっても、迅速に測定動作の再開を行うことができる検体分析装置を提供する。 - 特許庁 - An output of the X-ray detector 30 can be recorded by a recording device, and a locking curve on each position on the sample 28 can be obtained all at once by the recording device.
Ｘ線検出器３０の出力は記録装置で記録することができて、この記録装置により試料上の各位置におけるロッキングカーブを一挙に得ることができる。 - 特許庁 - To provide a mechanism capable of detecting omission and data transformation without spoiling high speed at the time of transmitting an image of a sample captured with a charged particle beam device to an image-reception treatment device.
荷電粒子線装置で撮像された試料の画像を、受像処理装置に伝送する際の欠落やデータ化けを、高速性を損なわずに検出できる仕組みを提供する。 - 特許庁 - While the tissue treating device (20) is being operated, a reagent is supplied for a retort (sealed container) (22) of the tissue treating device (20) from a container (26), and the retort does not contain any tissue sample.
組織処理装置（２０）の操作中、試薬は容器（２６）から組織処理装置（２０）のレトルト（密封容器）（２２）へ供給され、レトルトには如何なる組織試料も含んでいない。 - 特許庁 - A maximum value storing device 44 and a minimum value storing device 45 store the maximum value and the minimum value out of the plurality of stored original phases, together with indexes (corresponding to the sample times), respectively.
最大値格納器４４及び最小値格納器４５は、保存中の複数の元位相の内の最大値および最小値をインデックス（サンプル時刻に対応）と共に格納する。 - 特許庁 - SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD
走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁 - To provide a dispensing device, capable of dispensing with high accuracy even when a liquid sample is reduced to a trace amount and has viscosity over a wide range, a dispensation method therefor, and to provide an automatic analysis device.
液体試料が微量化し、粘度が広範に亘る液体試料であっても高精度な分注を可能とする分注装置、分注方法及び自動分析装置を提供すること。 - 特許庁 - This device 1 is equipped with a pressurizing device 30, and a high pressure pipe 31 therefor is connected detachably to the sample container 10 side through a check valve 17 and a one-touch type joint 32.
装置１は昇圧装置３０を備え、その高圧配管３１がチェックバルブ１７およびワンタッチ式の継ぎ手３２を介して、試料容器１０側に着脱自在とされている。 - 特許庁 - To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.
落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holding device in which a moving route of a wafer has been secured wide, without interfering with an electrode to alleviate turbulence of an electric field around the wafer, and provide a charged particle beam device.
ウエハ周辺の電界乱れを緩和する電極と干渉することなく、ウエハの移動経路を広く確保した試料の保持装置および荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a fluid transfer device used widely for a micro total analysis system, a sample detecting method using it, or the like, and a fluid transfer method using the device.
簡単な構成によりマイクロタスシステムやそれを用いた試料の検出方法等に広く利用できる流体の移送装置及びそれを用いた流体の移送方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a sample collection device for soil pollution investigation, which investigates accurately soil pollution, and also to provide a soil pollution investigation device using it.
土壌汚染の調査を正確に行うことができる土壌汚染調査用試料採取装置およびこれを使用した土壌汚染調査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a blood coagulation time measuring device with which installation of another device for measuring interfering materials is not required and consumption of a blood sample can be restrained.
干渉物質の測定を行うための装置を別途設ける必要がなく、かつ、血液検体の消費を抑制することが可能な血液凝固時間測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.
検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - The device 12 for cooling the cassette magazine 20 containing the tissue sample includes a housing 14, a cooler, and a transfer device for transferring one or more cassette magazines 20 in the housing 14.
組織試料を含むカセットマガジン２０の冷却装置１２は、ハウジング１４、冷却機、及びハウジング１４内の１以上のカセットマガジン２０を移送するための移送装置を含む。 - 特許庁 - To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.
微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の３次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for performing a tensile test of a sample in a loaded state where the load is applied or reduced, more particularly, a peak excess loading device and method in a creep rupture test.
印加及び低減される荷重状態で試料を引張試験する装置及び方法、より詳細には、クリープ破断試験におけるピーク超過載荷装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device capable of accurately correcting the influence of a characteristic X-ray from an X-ray tube in a fluorescent X-ray analysis device for analyzing the composition of a sample by an FP method.
ＦＰ法で試料の組成を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、Ｘ線管からの特性Ｘ線の影響を十分正確に補正できる装置を提供する。 - 特許庁 - An inspection device comprises: an optical device 20; a suction unit 40 that suctions a fluid sample to the optical device; a light source 50 that irradiates the optical device with light; a light detection unit 60 that detects light output from the optical device; and a control unit 71 that drives and controls the suction unit.
検査装置は、光学デバイス２０と、流体試料を光学デバイスに吸引する吸引部４０と、光学デバイスに光を照射する光源５０と、光デバイスから出射される光を検出する光検出部６０と、吸引部を駆動制御する制御部７１と、を有する。 - 特許庁
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