「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 59 60 61 62 63 64 65 66 67 .... 92 93 次へ＞- The confocal measuring system applies a measuring system 2 comprising a scanning trigger supply part 15 corresponding to a scanning cycle of a sample S by the Nieuwpoort disk 10 by detecting rotation of the Nieuwpoort disk 10 to the confocal microscope 1 acquiring a confocal image of the sample S generated by the Nieuwpoort disk 10 and an image acquiring device 20 for acquiring the confocal image of the sample S.
ニポウ円盤１０によって生成される試料Ｓの共焦点像を取得する共焦点顕微鏡１に対し、ニポウ円盤１０の回転を検出し、ニポウ円盤１０による試料Ｓの走査周期に対応する走査トリガ信号を供給する走査トリガ供給部１５と、試料Ｓの共焦点像を取得する画像取得装置２０とを備える計測システム２を適用する。 - 特許庁 - To eliminate impure rays from a sample holder for X-ray fluorescence analysis and improve sensing limitation and analysis accuracy by suppressing a background, in the sample holder for X-ray fluorescence analysis for pre-treating a liquid sample and analyzing a component and a method and a device for X-ray fluorescence analysis using the same.
液体試料を前処理して含有成分を蛍光Ｘ線分析するために用いられる蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置において、蛍光Ｘ線分析用試料保持具からの不純線をなくし、バックグラウンドを抑制して検出限界を向上させるとともに分析精度を向上させることを目的とする。 - 特許庁 - This evaluating device is provided with electron beam generating means 1 to 9 for supplying plural electron beams to a surface of a sample 10 via the primary optical system, the secondary optical systems 14 and 15 for introducing a secondary electron beam emitted from the surface of the sample 10 to a detector 17, and moving means 12 and S for relatively moving the sample 10 to the plural electron beams.
評価装置は、試料１０の表面に一次光学系を介して複数の電子線を供給する電子ビーム生成手段１〜９と、試料１０の表面から放出される二次電子線を検出器１７に導く二次光学系１４、１５と、試料１０を複数の電子線に対して相対的に移動させる移動手段１２、Ｓとを具備する。 - 特許庁 - This device for measuring surface state for measuring the surface state of the sample comprises a light-projecting means for projecting light to the sample, a light receiving means for receiving the reflected light reflected on the sample surface, and an altering means capable of changing the cross-sectional area of the projected light flux by the light-projecting means.
試料の表面状態を測定する表面状態測定装置であって、前記試料に対して投光する投光手段と、当該試料面で反射された反射光を受光する受光手段と、前記投光手段による投光光束の断面積を変更することが可能に構成された変更手段とを備える表面状態測定装置とする。 - 特許庁 - To provide an analyzer for a biological sample capable of achieving improvement of processing capacity and increase of speed in processing by reducing manual work on a device which performs pretreatment of a specimen before feeding it to an automatic analyzer analyzing constituent concentration of the biological sample by automatically determining whether centrifugation result is acceptable, the amount of an analysis sample, and so on.
本発明の目的は、生体試料の成分濃度の分析を行う自動分析装置に投入する検体の前処理を実施する装置において、遠心分離の良否，分析試料の量等自動的に判断してマニュアル作業の低減を図り、処理能力の向上と、処置の迅速化を達成することができる生体試料の分析装置を提供することにある。 - 特許庁 - The gas sensor apparatus 100 comprises at least one radiation source 102 for emitting radiation 116, a gas measurement chamber 104 which is filled up with a gas sample 110 including at least one sample to be measured, and at least one detector device 108 which detects the radiation and generates an output signal in response to the existence or concentration of the sample.
ガスセンサ装置１００は、放射１１６を放出する少なくとも１個の放射源１０２、計測される少なくとも一つの試料を含むガス試料１１０で充填されるガス計測室１０４、及び放射を検出すると共に試料の存在又は濃度に依存して出力信号を発生する少なくとも１個の検出器デバイス１０８を具備する。 - 特許庁 - In the probe 3, with the introduction of laser beam resonant with vibration from a semiconductor laser 9, an evernescent field is produced from a minute opening at its tip end and the proximity field interaction between the sample 14 and the probe 3 excites a minor carrier at the sample 14, then the semiconductor evaluating device 1 detects changes in optical excitation current for the evaluation of the sample 14.
プローブ３は半導体レーザ９から振動に共振したレーザー光が導入されると、その先端の微小開口からエバネッセント場が発生して、試料４とプローブ３との近接場相互作用により試料１４に少数キャリアを励起させ、半導体評価装置１は、当該光励起電流の変化を検出して、試料１４の評価を行っている。 - 特許庁 - A noncontact temperature measuring device 1 measures the temperature distribution of a sample stand and comprises: a sample base 10 placed on the sample stand 20, an electron beam source 2 for applying electron beams; a secondary electron detector 3 detecting secondary electrons induced by the irradiation of electron beams; and a temperature measurement section (signal processing section 7) for measuring temperature distribution, based on the induced secondary electrons.
非接触温度測定装置１は、試料台の温度分布を測定する装置であり、試料台上２０に載置される試料ベース１０と、電子線を照射する電子線源２と、電子線照射によって誘起される二次電子を検出する二次電子検出器３と、検出した二次電子に基づいて温度分布を測定する温度測定部（信号処理部７）とを備える。 - 特許庁 - A color-matching determining part 52 determines whether the color of a product coincides with the color of a coating-color sample or not by comparing product-color measurement data with device-adapted coating-color data.
色合わせ判定部５２は製品色計測データと装置適応塗色データとを比較して、製品の色が塗色サンプルの色に一致しているか否かを判定する。 - 特許庁 - The pixel having the luminance equal to or above the set luminance just before saturation is colored in red or the like and displayed on the image of the surface of a sample displayed on the screen of a display device.
表示装置の画面に表示される試料表面の画像において、飽和直前の設定輝度以上の画素が赤色等に着色表示される。 - 特許庁 - To allow a salesperson to easily provide sample information related to using states of a device examined to buy by a potential customer to the potential customer.
潜在顧客に対して、販売員が、潜在顧客が購入を検討している機器の使用状況に係るサンプル情報を、簡便に提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional shape measuring device capable of projecting a pattern to a sample from an optional direction around an imaging optical axis by one projection optical system.
１つの投影光学系により撮像光軸周りの任意の方向からパターンを標本に投影することができる３次元形状計測装置を提供する。 - 特許庁 - Control sections 10 of second to (n)-th image forming devices 100 as sample machines input gradation characteristics of respective patches of the first image forming device 100 as a target machine.
サンプル機としての（２）〜（ｎ）番の画像形成装置１００の制御部１０は、ターゲット機としての（１）番の画像形成装置１００の各パッチの階調特性を入力する。 - 特許庁 - To detect a deficiency such as a device abnormality simultaneously with GC analysis of an analysis object sample; to specify a cause of the deficiency as much as possible; and to inform a user of the result.
分析対象試料のＧＣ分析と同時に装置異常などの不具合を検知し、且つその不具合の要因をできるだけ特定してユーザに知らせるようにする。 - 特許庁 - To provide a method and a device for simultaneously testing a sample for the presence, absence, and/or amounts of one or more in a plurality of selected analytes.
複数の選択された分析物の１つ以上の存在、非存在、および／または量について、サンプルを同時に試験するための方法およびデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a measuring device capable of: keeping a measurement sample from coming in contact with air during a period between a first measurement and a second measurement; and reducing time required for conducting a plurality of measurements.
第1の測定と第2の測定との間で測定サンプルが大気に触れないようにすることができ、またこれらの複数の測定にかかる時間を短縮化すること。 - 特許庁 - Provided are first and second sample-and-hold sections 20G_1, 20G_2 for sampling and holding the image signal obtained by the output of an image pickup device 10G.
撮像素子１０Ｇが出力して得た撮像信号をサンプル・ホールドするサンプル・ホールド部として、第１のサンプル・ホールド部２０Ｇ_1と第２のサンプル・ホールド部２０Ｇ_2を備える構成とした。 - 特許庁 - To provide a method and device for carrying out a color measurement of a plane sample which can reduce labor of a user to a minimum and eliminate an operation error.
ユーザの労力を最小限まで低減し、操作誤差を排除することができる、平面試料の色測定を行うための方法と装置を提供すること。 - 特許庁 - An area definition program displays the slip image of a sample in a window 11 and makes an operator define an image area should be collated by an image collating device.
領域定義プログラムは、サンプルの帳票画像をウインドウ１１中に表示して、画像照合装置で照合を行うべき画像領域をオペレータに定義させる。 - 特許庁 - To provide a mass measuring method and a mass measuring device capable of measuring the mass of a test sample accurately even if the rotational speed of a rotary table varies.
回転盤の回転速度が変動しても試料の質量を正確に測定することが可能な質量測定方法及び質量測定装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - The expansion comparing and experiencing device 4 has a magnifying mirror 7 and allows the experience of the expansion comparison by peeping the display surfaces of the two sample pieces D3, R3 with the magnifying mirror.
拡大比較体験装置は、拡大鏡7 を備え、２つのサンプル片D3,R3 の展示面を拡大鏡で覗き見て拡大比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁 - To provide a smear preparing device capable of accurately coating slide glass with a sample and capable of easily washing an appliance used in coating.
スライドガラス上への試料の塗抹を正確に行うことができ、しかも、塗抹に使用する器具を容易に洗浄することができる塗抹標本作製装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an odor measuring method and an odor measuring device capable of measuring accurately, even when the concentration of an odor component included in sample gas is low.
サンプルガスに含まれる匂い成分の濃度が低い場合であっても、精度良く測定することができる匂い測定方法および匂い測定装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a surface irregularity measuring device for performing the calibration for accurately measuring the surface of a sample.
本発明は試料凹凸測定装置に関し、試料表面を精度よく測定するためのキャリブレーションを行なう表面凹凸測定装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - In this measuring device, a sample film Sa is sandwiched between an atmosphere chamber 11 into which steam or test gas is introduced and a vacuum chamber 12 performing vacuum suction.
水蒸気もしくは試験気体が導入される雰囲気チャンバ１１と、真空吸引がなされる真空チャンバ１２との間に試料膜Ｓａが挟持される。 - 特許庁 - To provide a particle measuring device having high measuring speed of surface measurement, and having high measurement accuracy, when measuring particles existing on the surface of a test sample.
被検試料の面上に存在する微粒子を測定するに際し、面測定の測定速度が大であり、かつ測定精度が高い微粒子測定装置を提供すること。 - 特許庁 - In an also sample extracting device 12 using the sampling valve 10, a state that air and impurity are not mixed into samples is always maintained and samples can be stably extracted.
このサンプリングバルブ１０を使用した試料抜き出し装置１２においても、試料にエアーや不純物が混入しない状態を常に維持し、安定して抜き出しができる。 - 特許庁 - The device 9 prints white cloth with the color and the pattern on the basis of this information to generate a cloth sample through stages of postprocessing, washing, and drying.
生地見本作成装置９はこの情報に基づき白色の生地に色、柄をプリントし、後処理、洗浄及び乾燥の各工程を経て生地見本を作成する。 - 特許庁 - In a symbol position detecting device 3, a clock extracting circuit 31 extracts a clock component with a symbol frequency from a sample series obtained by oversampling.
シンボル位置検出装置３において、クロック抽出回路３１は、オーバーサンプリングにより得られるサンプル系列から、シンボル周波数を有するクロック成分を抽出する。 - 特許庁 - On the bottom face inside the machining chamber 1, a cut chip collecting tank 27 is arranged in a part close to the front face of the device adjacently to both of the sample holders 25a, 25b.
加工室１内の底面の、装置の前面に近い部分には、試料ホルダ２５ａ及びｂの双方に隣接して切り屑用の回収槽２７が配置されている。 - 特許庁 - To provide a material analysis device and method capable of accurately determining the types and concentrations of elements even with a smaller amount of sample than in a conventional method.
従来よりも少量の試料でも、正確に元素の種類及び濃度を測定することができる材料分析装置、材料分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for carrying out the adjustable modification of illumination light and/or sample light in terms of the spectrum constitution and/or intensity.
照明光および／または試料光をそのスペクトル構成および／または強度に関して調節可能に変化させるための方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a milling device which can observe a section of an interface between different materials of a memory chip having the big size of a sample, by using a small and simple ion gun.
小型で簡易なイオンガンを用いた装置で大きな試料サイズのメモリチップの材質の異なる界面の断面観察を可能とするミリング装置を提供する。 - 特許庁 - To enhance heat insulating performance of a slicer device repeating slicing of a surface layer portion of a sample and sequentially capturing and recording an image or the like of this cut surface.
試料の表層部分の薄切りを繰り返しながら、その切断面の画像等を順次取り込んで記録するスライサ装置において、装置の断熱性能を高める。 - 特許庁 - In order to optimally align a plurality of weak identification devices which constitute an identification device, scores of respective weak identification devices in processing a sample learning image are obtained.
識別器を構成する複数の弱識別器を最適な配列とするために、各弱識別器にサンプル学習画像を処理させたときのスコアが取得される。 - 特許庁 - The apparatus for analysis of the semiconductor device includes a function of irradiating a charged particle beam on a sample and displaying a secondary electron image according to a detected secondary electron intensity.
半導体装置の解析装置は、荷電粒子ビームを試料に照射し、検出した２次電子強度に応じた２次電子像を表示する機能を備える。 - 特許庁 - The capillary electrophoretic device is constituted so as to separate and detect a sample by electrophoresis using a capillary and a polymer and equipped with a plurality of buffer containers.
本発明に係るキャピラリ電気泳動装置は、キャピラリとポリマーを用いて電気泳動によりサンプルを分離、検出するキャピラリ電気泳動装置であって、複数のバッファ容器を備える。 - 特許庁 - The most important feature is to match electron beams incident to a sample, with an optical axis from the optical imaging device by using a mirror-combined reflected electron detector.
ミラー兼用反射電子検出器を使用し、試料に入射する電子ビームと、光学画像装置からの光軸を一致させることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁 - To provide: a stage control device that can improve efficiency of obtaining images of a sample without changing the depth of field; a stage control method; a stage control program; and a microscope.
被写界深度を代えずに、サンプルに対する像の取得効率を向上させ得るステージ制御装置、ステージ制御方法、ステージ制御プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁 - To provide a sensing device configured to measure a sensing target while allowing a sample solution to flow and enhanced in the detection accuracy of the sensing target.
試料液を流しながら感知対象物の測定を行う感知装置において、感知対象物の検出精度を向上させた感知装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron beam irradiation method and device, capable of suppressing a partial effect by partial irradiation of a sample with electron beam.
本発明は、試料に対する電子ビームの部分的な照射による部分的な影響を抑制する電子ビームの照射方法、及び装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - Further, the image-reception treatment device creates the identifier corresponding to the image or a portion of the image of the sample on the basis of received data, and compares it with an identifier received separately.
一方、受像処理装置は、受信データに基づいて試料の画像又はその一部画像に対応する識別子を生成し、別に受信した識別子と比較する。 - 特許庁 - The pattern projection device includes a spatial light modulator (1) arranged at a position optically conjugate with a sample, and a controller for controlling the spatial light modulator (1).
パターン投影装置は、標本と光学的に共役な位置に配置された空間光変調器（１）と、空間光変調器（１）を制御する制御装置を含んでいる。 - 特許庁 - To provide an observation device which can perform terahertz wave observation and visible light observation to same observation position on a sample simultaneously or in a short time.
試料上の同一の観察位置に対して、テラヘルツ波観察と可視光観察とを同時、または、短時間のうちに行うことができる観察装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a crystal orientation evaluation device, capable of rapidly and simply evaluating an in-plane distribution of the crystal particles having a specific crystal orientation on the surface of a sample.
試料の表面における特定の結晶方位を有する結晶粒子の面内分布を迅速且つ簡便に評価できる結晶方位評価装置を得ること。 - 特許庁 - To provide an optoelectronic device for infrared spectrum analysis mountable in a sample chamber of a widely-used FT-IR (fourier transform infrared) spectrometer, and to provide an optoelectronic image magnifying system.
汎用のＦＴ−ＩＲ分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。 - 特許庁 - To enable a quick and efficient introduction of samples to be detected into a sample analysis device, and enhance detection speed to carry out a large amount of tests at a short time.
検出する試料を迅速に効率よく試料分析装置に導入することができ、検出速度を向上させて大量の検査を短時間で行うこと。 - 特許庁 - To provide a pneumatic carrying device having no fear of shortening the service life of a suction machine and mixing a grain sample of front and rear lots at the time of carrying.
本発明は、吸引機の耐用年数を短くすることなく、かつ、搬送時に前後のロットの穀物サンプルが混合することのない空気搬送装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for making a sample wear piece used for being compared with a wear piece which is an analytical object, in order to execute ferrography analysis easily and surely.
フェログラフィ分析を容易、確実に行えるように、分析対象である摩耗片と対比するために使用するサンプル用摩耗片を作成するための装置の提供。 - 特許庁 - To provide a label double-affixing device capable of double-affixing an identification label so as to form a blood sample collection peep hole on a product label in advance by a test tube manufacturer.
試験管メーカーで既に製品ラベルの上に、採血分量覗き窓を形成すべく、識別ラベルを二重貼りすることのできるラベルの重ね貼り装置を提供する。 - 特許庁
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