「sample points」を含む例文一覧(214)
＜前へ 1 2 3 4 5 次へ＞- To attain a synchronous reproduction processing between a transmitter side and a receiver side without causing duplicate or missing sample points to the receiver side even when the transmitter side transmits no synchronous data and no synchronizing clock in packet data transmission.
パケットによるデータ伝送においても、送信側から同期用データや同期クロックを伝送しなくても、サンプル点の重複や欠落なく、送信側と受信側とが同期した再生処理を可能にする。 - 特許庁 - The inclination of a mask 6 is obtained, by preliminarily approaching the mask at three or more separated points, and the inclination is corrected by a biaxial tilt sample stage 4 to process the mask, while the mask surface is kept parallel to a scanning plane.
予めマスクの離れた3点以上でアプローチを行いマスク6の傾きを求めておき、傾きを2軸チルト試料ステージ4で補正してスキャン面とマスク面が平行になる状態で加工を行う。 - 特許庁 - Deconvolution processing having a distribution image of light intensity as convolution kernel in the vicinity of the points of measurement is performed on the three-dimensional map to acquire a three-dimensional image of a nearly transparent sample in an undyed state.
この三次元マップに、計測点付近の光強度分布像をコンボリューション・カーネルとするデコンボリューション処理を行ない、非染色状態で透明に近い試料の三次元画像を得る。 - 特許庁 - Thus, only specifying at least two sample points by a user, a waveform having a complex waveform shape is generated in a simple and abundantly controlled manner without changing pitch.
このようにすると、ユーザは少なくとも２つのサンプル点を特定するだけで、ピッチを変えることなく複雑な波形形状をした波形を簡単且つ制御性豊かに発生させることができるようになる。 - 特許庁 - When the subject OBJ is irradiated with more bluish illumination light, respective sample points color-shift in a direction to blue (in a lower left direction on xy chromaticity coordinates) on the whole on the xy chromaticity coordinates.
被写体ＯＢＪにより青味の強い照明光を照射すると、各サンプル点は、ｘｙ色度座標において全体的に青の方向（ｘｙ色度座標上で左下方向）に色シフトする。 - 特許庁 - As for the observation mark M_3, a direction line m_3" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 (sample processing part) of a defect part A exists in the right direction, viewing from the mark M_3.
観察用マークＭ_３は、そのマークＭ_３から見て右方向に欠陥部分Ａの断面Ａ_０（試料加工部）があることが分かるように、方向線ｍ_３”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。 - 特許庁 - A control part 15 performs control to independently perform first control processing for controlling drive of the probe 11 when measuring the tunnel current between the sample 10 and the probe 11 while applying a first voltage to the sample 10 from a variable voltage source 13, and second control processing for controlling drive of the probe 11 in movement between measurement points of the sample 10.
制御部１５は、試料１０に可変電圧源１３から第１の電圧を印加させながら試料１０と探針１１との間におけるトンネル電流の測定を行なう際の探針１１の駆動を制御する第１の制御処理と、試料１０の測定点間の移動における探針１１の駆動を制御する第２の制御処理とを独立して行なうように制御する。 - 特許庁 - Two points of the auxiliary sample 114 disposed in the periphery of the sample are measured by the displacement sensors 134, 136, and its surface shape is acquired, thereby enabling errors of a straightness error of the linear-movable slide 142, a rotational motion error of the rotatable spindle 112 and systematic errors caused by thermal expansion and the like to be all eliminated.
試料外周部に設けた補助試料１１４を変位センサ１３４，１３６で２点測定して、表面形状を求めておくことにより、直動スライド１４２の真直度誤差、回転スピンドル１１２の回転運動誤差、熱膨張などによる系統誤差を全て除去できるようにしている。 - 特許庁 - Sampling is performed by controlling intervals in such a way that the follow distance of the probe in the direction of the shape of the sample may be constant between sampling points divided at regular intervals in the direction of the shape of the sample.
ローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法において、前記探針の試料形状方向についての追従距離が、該試料形状方向に等間隔で分割した各サンプリング点間で一定となるように間隔制御してサンプリングを行う。 - 特許庁 - To provide a computer graphics system generating pixel values for pixels in an image using strictly-deterministic methodologies in order to generate sample points for use in evaluating integrals defining planes of the image.
画像の面を定める積分の計算に使用するための標本点を発生するために、厳密に決定論的な方法を用いて画像中の画素の画素値を発生するコンピュータグラフィックス装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - A ky-kz plane is divided into a central region and its peripheral region, whereas the central region is used for the essential measurement and the peripheral region is further divided into a plural groups whose blank space of sample points is uniformly (isotropically) distributed.
ky-kz平面を、中央の領域とその周辺の領域に分割し、中央の領域を必須計測領域とし、周辺の領域をサンプル点の空間分布が均等（等方的）である複数の群に分割する。 - 特許庁 - This optical fiber type strain gage is weldedly fixed to a sample by spot welding in plural points in a portion along the vicinity of the boundary line between the thick wall parts 13b, 13c of the base material 13 to be used.
該光ファイバ式ひずみゲージは、ベース材１３の薄肉部の厚肉部１３ｂおよび１３ｃとの境界線近傍に沿う部分において、複数点ｐにおけるスポット溶接により供試体に溶接固着して用いる。 - 特許庁 - Especially, the recognition part 32 executes recognition processing based on a difference value between a sample value at each of at least a part of sampling points of the signal data to be output from the A/D converting part 31 and a prescribed value.
特に、認識部３２は、Ａ／Ｄ変換部３１から出力される信号データの少なくとも一部のサンプリング点の各々におけるサンプル値と、所与の値と、の差分値に基づいて上記認識処理を実行する。 - 特許庁 - A second aspect of the invention relates to the chronological details of sample collection for determining the titer of antibody against the therapeutic protein (e.g. the collection of at least two samples at two different time points).
本発明の第２の態様は、治療タンパク質に対する抗体の力価を測定するための試料収集（例えば、２つの異なる時点における少なくとも２つの試料の収集）の経時的詳細に関する。 - 特許庁 - A linear guide 311 guides a three points type chuck 330, having three jaws for holding a substantially columnar sample, in x-axis direction in a nodular graphite cast iron quality measuring device 1000.
リニアガイド３１１は、略円柱形状の供試材を把持するための３本の爪を有する３点式チャック３３０を該球状黒鉛鋳鉄品質測定装置１０００の装置内においてｘ軸方向に案内する。 - 特許庁 - To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).
走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント（ＥＰ）を自動で撮像し，評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁 - While a galvanometer scanner 3 is driven to allow the irradiation points of the light beams from the sources 12 and 13 to two-dimensionally scan the surface of the sample W, the signals from the photodiode 51 and the color CCD are sent to a signal processing circuit 8.
そして、両者１２，１３からの光の照射点が試料Ｗの表面を二次元的に走査するようにガルバノメータスキャナ３を駆動しつつ、フォトダイオード５１及びカラーＣＣＤからの信号を信号処理回路８に送る。 - 特許庁 - Furthermore, a top table arranged with a length measuring mirror 23 using laser and with a test sample holder 6 that are mounted on the uppermost portion of the X stage is supported at three points to prevent shape distortions of the stages from exercising a harmful effect on the top table 8.
また、最上部のＸステージ上に搭載するレーザー測長用のミラー２３及び試料ホルダ６を配置したトップテーブルを３箇所で支持し、ステージの形状変形がトップテーブル８に悪影響を及ぼさないようにした。 - 特許庁 - To provide a method for simply obtaining a mass spectrum of high precision in a short time by automatically correcting the shift of spectrum peaks produced by the difference of altitude at respective points within a sample measuring surface in measurement using time-of-flight mass spectrometry.
飛行時間型質量分析を用いた計測において、試料測定面内各点の高低差によって生じるスペクトルピークのズレを自動補正し、精度の高い質量スペクトルを簡易かつ短時間に得る方法を提供する。 - 特許庁 - The frequency information that is used for the rate with which the phase information is changed, is changed in accordance with the parameter that specifies the frequency information that sets the frequency of the waveform to be generated by at least the two sample points.
位相情報が変化するレートに用いられる周波数情報は、発生すべき波形の周波数を設定する周波数情報を少なくとも２つのサンプル点を特定するパラメータに従い変更したものである。 - 特許庁 - When the micro-lens array 6 and the Nipkow disk 7 are synchronously rotated at 1800 rpm, and about 1,000 focal points on a sample observation surface 24a are scanned to obtain the two-photon excitation fluorescent image at the frame rate of 1/360 second.
マイクロレンズアレイ６およびニポウディスク７を１８００ｒｐｍで同期回転駆動して試料観察面２４ａ上の約１０００点の焦点を走査すると、１／３６０秒のフレームレートで２光子励起蛍光画像が得られる。 - 特許庁 - While successively moving a pixel under consideration in the average image data, the number m of sample points of the average image data near each pixel under consideration is decided on the basis of a local property near each pixel under consideration (S3).
平均化処理された平均化画像データにおける着目画素を順次移動させながら、各着目画素近傍の局所的性質に基づいて各着目画素近傍の平均化画像データの標本点数ｍを決定する（Ｓ３）。 - 特許庁 - In a step 270, a point closest to a position r of a present control point is searched from a group of sampling points positioned on a carrying path indicated by sample data (expert data), and the operation force of an expert at that point is obtained.
ステップ７２０では、見本データ（熟練者データ）が示す運搬経路上に位置する各サンプリング点の集合の中から現在の制御点の位置ｒに最も近い点を検索し、その点における熟練者の操作力を求める。 - 特許庁 - An illumination spectral radiation characteristic estimation section 155 estimates the spectral radiation characteristics of illumination in respective representative points of the divided regions, based on the spectral transmittance of each color filter stored in color filter spectral characteristic data 141 and the RGB component of respective representative points of the divided regions through each color filter included in a color filter sample.
照明分光放射特性推定部１５５は、カラーフィルタ分光特性データ１４１に記憶された各カラーフィルタそれぞれの分光透過率と、カラーフィルタ標本に含まれる各カラーフィルタを通過した各分割領域代表点のＲＧＢ成分とに基づいて、各分割領域代表点における照明の分光放射特性を推定する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points.
本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。 - 特許庁 - To determine a mass spectrum of high mass resolution by eliminating its influence, even if there is a difference in a flight distance with every measuring point by a recess-projection of a sample surface, when determining the mass spectrum in a measuring area by using data gathered by performing mass spectrometry on a plurality of different measuring points in the narrow measuring area on a sample.
試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。 - 特許庁 - A protocol and a destination IP address are fixedly set to an attribute being commonly set between the rules, a combination of the source IP address and the source port number is sequentially changed and set to each of the selected sample points, and a verification packet which is set by sequentially changing a destination port number for each sample point within a suitable range is sequentially generated.
プロトコルと終点ＩＰアドレスを前記ルール相互間で共通に設定されている属性に固定設定し、かつ始点ＩＰアドレスと始点ポート番号の組み合わせを前記選択された各サンプル点に順次変化させて設定し、かつ該サンプル点ごとに終点ポート番号を適宜の範囲で順次変化させて設定した検証パケットを順次発生する。 - 特許庁 - A sample form which color determination and MRI photography can be performed is photographed under different conditions to obtain plural MRI images, whose image data are processed by 1st independent component analysis and decomposed into L independent component images; and N points on the sample are selected and training samples which are a combination of independent component image luminance values and color components (normally three) are generated.
本発明は、色の決定とMRI撮影が可能なサンプルについて、条件を変えて複数のMRI画像を撮影し、その画像データに第一の独立成分分析を行って、L個の独立成分画像に分解し、サンプル上からN点を選び、L個の独立成分画像輝度と色成分（通常3個）の組である訓練サンプルを作成する。 - 特許庁 - To calculate a high-accuracy RPC (Rational Polynomial Coefficients) model at a high speed by optimizing how to sample a corresponding point on the ground surface used for fitting and the number of the points by attitude information, orbit information and an imaging mode of a satellite, in an RPC calculation device.
ＲＰＣ計算装置において、フィッティングに用いる地表面上の対応点の取り方、点数を、衛星の姿勢情報、軌道情報および撮像モードによって最適化することで、高精度のＲＰＣモデルを高速に計算する。 - 特許庁 - In the digital PLL using a phase comparator wherein the difference of two sample points before and after the zero cross point of input data sampled in an AD converter is a phase error, the phase error output of the phase comparator is normalized by the amplitude of the input signals.
ＡＤコンバータでサンプリングされた入力データのゼロクロス点の前後２点のサンプル点の差分を位相誤差とする位相比較器を用いたディジタルＰＬＬで、位相比較器の位相誤差出力を入力信号の振幅で正規化する。 - 特許庁 - The reflecting surface of the mirror 18 comprises a combination of a plurality of flat reflecting surfaces and the center points of the respective flat reflecting surfaces are present on an equiangular spiral having the center on the surface of the sample 26 within the plane parallel to a diffraction plane.
ミラー１８の反射面は複数の平坦反射面の組み合わせからなり、回折平面に平行な平面内において、各平坦反射面の中心点は、試料２６の表面上に中心を有する等角螺旋の上にある。 - 特許庁 - A region estimation part 174 extracts pixels satisfying predetermined conditions among the feature values of respective sample points in the detection object region, generates a region configured of the pixel groups, and calculates the center of gravity position of the generated region.
領域推定部１７４は、検出対象領域内における各サンプル点の特徴量のうち、所定の条件を満たす画素を抽出し、その画素群で構成される領域を生成し、生成した領域の重心位置を算出する。 - 特許庁 - The correction amount computing section 26 obtains the correction amount of the volume concerning the sample points corresponding to the edges of the object region in response to the classification of the object region, which is determined by comparing echo data of a peripheral region with echo data of the object region.
補正量演算部２６は、周辺領域のエコーデータと対象領域のエコーデータとの比較から判断される対象領域の種別に応じて、対象領域のエッジに対応したサンプル点に関する体積の補正量を求める。 - 特許庁 - To provide a nuclear reactor fuel soundness monitor capable of measuring the concentration of a specific radioactive nuclide contained in a coolant or dissolved gas of an nuclear reactor which are periodically collected from sample collection points without manual intervention of an operator.
作業員の人手を介さずに原子炉の冷却材又は溶存ガスが定期的にサンプル採取点から採取され、冷却材又は溶存ガスに含まれる特定の放射性核種の濃度が測定可能な原子炉燃料健全性モニタを提供する。 - 特許庁 - To reduce manual work man-hours and improve the sample preparation yield and eliminate errors by a method and an apparatus for automatically cutting one wafer having identifying codes on a plurality of points and automatically allotting samples for every inspection item.
１枚のウエーハの複数箇所に識別符号を付与したウエーハを自動で切断し、更には検査項目毎にサンプルを自動で割振る方法及び装置により、人手による工数を削減し、サンプル作製歩留まりを向上し、且つ間違いを排除すること。 - 特許庁 - By constituting a sample of a finite element model by dividing a representative structure of facial muscles and skin into finite elements, automatically measuring and incorporating shape measurements of a face of an individual person as typical point data by an artificial visual device, and giving the coordinates of a plurality of representative points 31 to 43 thus obtained to the sample of the finite element model, an individual finite element model is generated.
顔の筋とヒフの代表的な構造を有限要素に分割して有限要素モデルのひな形を構築し、個々の人間の顔の形状測定を人工視覚装置により代表点データとして、自動計測して取込み、これにより得られた複数の代表点３１〜４３の座標を有限要素モデルのひな形に与えて個人別の有限要素モデルを生成する。 - 特許庁 - The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.
４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁 - In this surface potentiometer 1, on the first measuring point among the plurality of measuring points set on the sample 9 surface 91, a relation between an electrode potential and a displacement current is obtained, while changing the electrode potential of a vibration electrode 12; and a plurality of relations are obtained, while changing a distance between the vibration electrode 12 and the sample 9 surface 91.
表面電位計１では、試料９の表面９１上に設定された複数の測定点のうち最初の測定点において、振動電極１２の電極電位を変更しつつ電極電位と変位電流との関係が取得され、振動電極１２と試料９の表面９１との間の距離を変更しつつ当該関係が複数取得される。 - 特許庁 - A value of a difference corresponding to a maximal value among count values exceeding a threshold or count values of differences obtained for all points on the minimum cost path is obtained as head position information L indicating a position in the speech signal S1, of a head sample of the reference signal.
そして、閾値を超えたカウント値、または最小コストパス上の全ての点について求めた差分のカウント値のうちの最大値に対応する差分の値を、参照信号の先頭サンプルが音声信号Ｓ１における位置を示す先頭位置情報Ｌとして求める。 - 特許庁 - A tension and compression sample holder including a coarse adjustment mechanism 5 and a fine adjustment mechanism 5c is configured such that a tension axis and a tension action point or a compression axis and a compression action point are coaxially arranged, and action points of plural actuators 5 are an identical point.
粗動機構５と微動機構５ｃを備えた引っ張り・圧縮試料ホルダにおいて、引っ張り軸と引っ張り作用点、又は圧縮軸と圧縮作用点を同軸上に存在させ、複数のアクチュエータ５の作用点が一点になるように構成する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device capable of easily setting a position of an FOV or a size, even when there are a number of measurement points on a sample, as well as an image acquisition condition determining method, using the device.
本発明は、数多くの測定点が試料上に存在する場合であっても、ＦＯＶの位置、或いは大きさを容易に設定することが可能な荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置による画像取得条件決定方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - The scale images are a reference measure created by determining the number of pixels and a scale on the basis of actual dimensions between two points on the sample image inputted by a user and an entity measure created on the basis of color information of the object imaged by the camera part 21.
物差し画像には、ユーザが入力する標本画像上の２点間の実寸法に基づいて画素数とスケールとを決定し作成される基準物差しと、カメラ部２１により撮像した物体の色情報に基づいて作成される実体物差しとがある。 - 特許庁 - A microwave electric field which is constant in size along the circumference and changes in the radial direction so as to become practically zero in size at two or three points including the cylindrical side wall is generated within the cavity resonator 1 to heat the sample so as to promote the chemical reaction.
空胴共振器１内に、大きさが円周に沿って一定で、半径方向に対しては円筒状側壁を含めて2または3箇所で大きさが実質的にゼロとなるように変化するマイクロ波電界を発生させ、試料を加熱して化学反応を促進する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a semiconductor device for realizing stable manufacture of a precise device, by measuring a plurality of points on a sample simultaneously for realizing speedy three-dimensional shape measurement, before reflecting for the setting of working process conditions, in a semiconductor manufacturing process.
試料上の複数の点を同時に計測して高速な立体形状計測を実現し、半導体製造工程の加工プロセス条件の設定に反映させて、高精度なデバイスの安定な製造を実現することができる半導体デバイスの製造技術を提供する。 - 特許庁 - A part 9 to be measured is scanned with excitation light deflected by MEMS (micro electro mechanical systems) mirror 114, and scattered light and fluorescent light which are emitted from a sample by the scan and are detected from a plurality of detecting points of the part 9 to be measured are transmitted by an image fiber 130 and enter a fluorescent processing unit 30.
ＭＥＭＳミラー１１４により偏向された励起光は被計測部９を走査し、この走査に起因して被計測部９の複数の検出点から検出された散乱光と蛍光は、イメージファイバ１３０により伝送されて蛍光処理ユニット３０に入射する。 - 特許庁 - Furthermore, in the case that any of the sample points before and after the received data has not yet been band-limit-processed, the switching circuit SW2 outputs data S7 that are frequency-band limit processed via a delay circuit 4, a filter circuit 5, a cross product arithmetic circuit 6 and a 1/2 arithmetic circuit 7.
また、前後の各々のサンプル点のいずれか一つがまだ帯域制限処理されていない場合には、遅延回路４、フィルタ回路５、積和演算回路６および１／２演算回路７を経て周波数の帯域制限処理が行われたデータＳ_7がスイッチング回路Ｓｗ２から出力される。 - 特許庁 - According to the coordinate data on the sample points, the identification server 5 refers to a coordinate table 508 associating entry fields plotted on the application form 36 and position coordinates on a dot pattern to identify in which entry field the stroke has been entered.
そして、識別サーバ５は、サンプル点の座標データに基づいて、申込書３６に配置された記入欄とドットパターン上の位置座標とが対応付けされた座標テーブル５０８を参照することにより、ストロークがどの記入欄に対して記入されたものであるかを識別する。 - 特許庁 - A peak timing detector 111 compares sampling data at least at three continuous sample points, and detects the peak timing when at least one point of the sampling data inserted between a front end and rear end becomes larger than the sampling data of the front end and rear end of at least three sampling data.
ピークタイミング検出器１１１は、連続する少なくとも３つのサンプル点でのサンプリングデータを比較し、少なくとも３つのサンプリングデータの前端及び後端のサンプリングデータよりも、前端及び後端に挟まれるサンプリングデータのうちの少なくとも１点が大きくなるピークタイミングを検出する。 - 特許庁 - After an input signal is envelope-detected, the fixed number of pulse start points existing in the reference period is obtained by a comparator circuit 2 for comparing with the fixed potential, and the envelope detection is integrated for the same time, and the potential is held with sample-hold circuits 1, 2, and the mean potential value is obtained.
入力信号を方絡検波後、基準周期内に存在する一定数のパルス開始点を一定電位と比較するコンパレ−タ回路２により求め、同一時間方絡検波を積分しその電位をサンプルホ−ルド回路１，２で保持し、平均電位値を取得する。 - 特許庁 - In the case that light intensity irregularities in a pupil plane state of a light emission end face of an optical fiber 4 are relatively large, a focal point of an imaging plane of a CCD camera 18 is switched from a sample of a wafer 14 to an illumination pupil plane of the light emission end face of the optical fiber 4 by a lens 31 for switching focal points.
光ファイバ４の出射端面の瞳面状態の「光量ムラ」が比較的大きい場合に、焦点切換用レンズ３１により、ＣＣＤカメラ１８の撮像面の焦点を、ウェハ１４の試料から、光ファイバ４の出射端面の照明瞳面に切り換える。 - 特許庁
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