「sample pulse」を含む例文一覧(239)

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  • A pulse generating circuit 20 generates a sample and hold pulse S/H1 and an AD request pulse ADREQ1 having a cycle at the time of regular APC operation and a sample and hold pulse S/H2 and an AD request pulse ADREQ2 having a cycle shorter than the cycle as to sample and hold pulses S/H and AD request pulses ADREQ.
    パルス発生回路20は、サンプルホールドパルスS/HとADリクエストパルスADREQについて、通常のAPC動作時の周期のパルスS/H1,AREQ1とそれより短い周期のパルスS/H2,AREQ2を生成している。 - 特許庁
  • IMAGE SIGNAL SAMPLE PULSE GENERATOR OF ELECTRONIC ENDOSCOPE
    電子内視鏡の映像信号サンプルパルス生成装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INTRODUCING PULSE SAMPLE BASED ON LASER EVAPORATION METHOD
    レーザー蒸発法に基づくパルス試料導入方法 - 特許庁
  • PULSE EXCITATION AND SAMPLE DETECTION FLUX GATE TYPE MAGNETOMETER
    パルス励磁及びサンプル検出フラックスゲート型磁力計 - 特許庁
  • With a probe 1 brought close to a sample 3, pulse voltage from a pulse power source 11 is impressed on the sample 3 to vaporize atoms in the surface of the sample 3.
    探針1を試料3に接近させた状態で、試料3にパルス電源11からのパルス電圧を印加して試料表面の原子を蒸発させる。 - 特許庁
  • Simultaneously, the reception system performs sampling of the reception pulse based on a sample pulse having the same pulse width as one period time of a carrier wave of the wave bundle pulse.
    それとともに、受信系は、受信パルスのサンプリングを波束パルスの搬送波の1周期時間と同じパルス幅を有するサンプルパルスに基づいて行う。 - 特許庁
  • SAMPLE-AND-HOLD PULSE SIGNAL GENERATING CIRCUIT, AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE
    サンプルホールドパルス信号生成回路及び情報記録/再生装置 - 特許庁
  • PHASE ADJUSTING METHOD FOR SAMPLE-AND HOLD PULSE, AND PHASE ADJUSTING DEVICE
    サンプル&ホ—ルドパルスの位相調整方法および位相調整装置 - 特許庁
  • The sample magnet is satisfactorily demagnetized by causing the sample magnet to rotate in the pulse magnetic field.
    このパルス磁場中で試料磁石を回転させることにより、試料磁石の脱磁が良好に行われる。 - 特許庁
  • AUTOMATIC SAMPLE-AND-HOLD DEVICE, AND PULSE MODULATED HIGH FREQUENCY SIGNAL GENERATING DEVICE
    自動サンプルホールド装置及びパルス変調高周波信号発生装置 - 特許庁
  • By irradiating a solubilizer agent excitation laser pulse beam from the solubilizer laser pulse beam irradiation part 12 to a sample arranged on the sample board 1, the solubilizer in the sample becomes an excitation state.
    可溶化剤レーザパルス光照射部12から、試料台1に配置された試料に、可溶化剤励起用レーザパルス光を照射することにより、試料中の可溶化剤が励起状態になる。 - 特許庁
  • A timing generating circuit which generates a clamp pulse ϕC_0 for on/off control over a clamp switch and a sample holding pulse ϕS_0 for on/off control over a sample holding switch synchronously raises the clamp pulse ϕC_0 and sample holding pulse ϕS_0 to level 'H'.
    クランプスイッチのオンオフを制御するクランプパルスφ_C0とサンプルホールドスイッチのオンオフを制御するサンプルホールドパルスφ_S0とを生成するタイミング発生回路は、期間1の前半での時点t_1において、クランプパルスφ_C0とサンプルホールドパルスφ_S0とを同期してレベル「H」にする。 - 特許庁
  • To obtain an automatic sample-and-hold device which can detect right amplitude of a pulse wave by obtaining a switching signal of sample-and- holding being able to follow variation of pulse width.
    パルス幅の変化に追随できるサンプルホールドの切替え信号を得ることにより、パルス波の正しい振幅を検出できる自動サンプルホールド装置を得る。 - 特許庁
  • To provide a phase adjusting method of a sample-and-hold pulse by which the accuracy of phase adjusting of a sample-and-hold pulse can be improved.
    この発明は、サンプル&ホールドパルスの位相調整精度の向上化が図れるサンプル&ホールドパルスの位相調整方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Then, while keeping the sample 11 with applied voltage V1 a pulse power source 19 is controlled to apply positive pulse voltage V2 to the sample 11.
    そして、試料11に電圧V_1が印加された状態で、パルス電源19が制御されて、さらに試料11に正のパルス電圧V_2が印加される。 - 特許庁
  • In analog pulse modulation, the amplitude, duration, or position of a pulse is varied in accordance with sample values of the message signal.
    アナログパルス変調では、パルスの振幅、持続時間あるいは位置はメッセージ信号のサンプル値に伴って変化する。 - コンピューター用語辞典
  • METHOD OF ADJUSTING SAMPLE-HOLD PULSE TIMING OF IMAGE READER, AND IMAGE READER
    画像読取装置のサンプルホールドパルスタイミング調整方法及び画像読取装置 - 特許庁
  • This device is so composed that electrodes 12a, 12b are installed on both sides of a sample 11, and that a pulse voltage is applied on the sample 11 from a pulse power source 13, to generate elastic waves inside the sample 11.
    試料11の両面には、電極12a,12bが設けられ、パルス電源13から試料11にパルス電圧を印加して、試料11内に弾性波を発生させるよう構成されている。 - 特許庁
  • By condensing the pulse laser beam L to the sample 12 to irradiate the sample, the stable absorption of the pulse laser beam L and the formation of plasma on the surface of the sample 12 become possible by the laser beam absorbing layer.
    試料12にパルスレーザ光Lを集光照射することにより、レーザ光吸収層により試料12の表面での安定したパルスレーザ光Lの吸収およびプラズマの生成が可能となる。 - 特許庁
  • To perform an inspection without damaging a sample at a sampling rate higher than the pulse oscillation frequency of a pulse laser emitted from a pulse laser beam source.
    パルスレーザ光源から発射されるパルスレーザのパルス発振周波数よりも高いサンプリングレートで試料にダメージを与えることなく検査することを可能にする。 - 特許庁
  • A sample-pulse(SP) generation part 16 outputs read-output sample pulses (RS pulsed) (b) within the irradiation period of the read beam.
    サンプルパルス(SP)発生部16はリードビームの照射期間内にリード出力サンプルパルス(RSパルス)bを出力する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for using a white continuous spectral light pulse obtained from a ultrashort light pulse for analyzing a sample, especially a biological sample, in a simple way.
    超短光パルスから得られる白色連続スペクトル光パルスを、単純な方法で試料(特に生体試料)の分析に利用する方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • The pulse width of the switching element is controlled based on the voltage that has been sample-held.
    そしてサンプルホールドした電圧に基づいてスイッチング素子のパルス幅を制御する。 - 特許庁
  • When clamp pulse signals CLPDM and sample-and-hold pulse signals XSHD become low level, a switch circuit 23 is turned on.
    クランプパルス信号CLPDMおよびサンプルホールドパルス信号XSHDがローレベルとなるときに、スイッチ回路23がオンとなる。 - 特許庁
  • A sample pulse system circuit 7 specifies the timing of sampling according to a reference timing pulse generated by the trapezoid wave generator 1.
    サンプルパルス系回路7は、台形波生成器1が生成する基準タイミングパルスに応じて、サンプリングするタイミングを規定する。 - 特許庁
  • A laser beam absorbing layer absorbing the pulse laser beam L is provided on the surface of the sample 12.
    試料12の表面に、パルスレーザ光Lを吸収するレーザ光吸収層を設ける。 - 特許庁
  • The sample-and-hold circuit 213 sample-holds a voltage signal corresponding to bias power on the basis of a sampling pulse SMP1 in recording.
    サンプルホールド回路213は、記録時には、サンプリングパルスSMP1に基づき、バイアスパワーに対応した電圧信号をサンプルホールドする。 - 特許庁
  • A sample pulse filter 24 is provided for the reception system 2 to filter sample pulses which specify the timing of extraction of the received pulses.
    サンプルパルスフィルタ24は、受信系2に設けられ、受信パルスを抽出するタイミングを規定するサンプルパルスをフィルタリングする。 - 特許庁
  • To arrange a beam waist on the same depth position of a sample, even if the individual difference of a pulse laser light source for emitting extremely-short pulse laser light or the wavelength of the extremely-short pulse laser light emitted from the pulse laser light source is changed.
    極短パルスレーザ光を出射するパルスレーザ光源の個体差、パルスレーザ光源から発せられる極短パルスレーザ光の波長が変化しても、試料の同一深さ位置にビームウエストを配置する。 - 特許庁
  • An optical pulse 42 output repeatedly from an optical pulse light source 43 at a frequency f_rep is transmitted through the sample 93 on a sample stage 91 to be scanned by a wavelength-variable optical band pass filter 47.
    光パルス光源43から周波数f_repで繰り返し出力される光パルス42は、試料台91上の試料93を通過し、波長可変光バンドパスフィルタ47でスキャンされる。 - 特許庁
  • A transmittance measuring section irradiates a sample which is set at a transmittance measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light transmitted through the sample and outputs a transmitted light detection signal.
    透過測定部は、透過測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を透過したテラヘルツパルス光を検出して透過光検出信号を出力する。 - 特許庁
  • The sample container has the sample container partition wall 1 for forming a sample holding space 1a for holding a sample and the light transmission part 2 provided at least to a part of the sample container partition wall 1 and constituted of a transmission material for permitting pulse light to transmit with respect to the sample holding space 1a and the light transmission part 2 has a pulse light condensing shape 3.
    試料を保持する試料保持空間1aを形成する試料容器隔壁1と、試料容器隔壁1の少なくとも一部に設けられ、試料保持空間1aに対してパルス光を透過させる透過材料で構成された光透過部2と、を有し、光透過部2は、パルス光を集光させる集光形状3を備える試料容器。 - 特許庁
  • At this point, the transmission pulse system circuit 2 and the sample pulse system circuit 7 are constituted of the same elements and have the same output characteristics.
    このとき、送信パルス系回路2およびサンプルパルス系回路7は、同一の素子で構成され、かつ、同一の出力特性を有する。 - 特許庁
  • When this composite optical pulse is radiated to the sample 18, only the excitation light with a desired wavelength can be radiated to the sample 18 optionally.
    これを試料18に照射することにより、所望の波長の励起光のみを任意に試料18に照射することができる。 - 特許庁
  • A MOST 4 is turned on/off by a sample signal of a rectangular pulse to sample an analog input signal input into a source terminal.
    MOST4はソース端子に入力されるアナログ入力信号を矩形波パルスのサンプル信号によりオンオフしてサンプリングする。 - 特許庁
  • Because the second pulse laser beam L_P goes through a delay optical path A-B-C-D, an attaining point of time of the second pulse laser beam L_P to a sample surface P is delayed as compared to the attaining point of time of the first pulse laser beam L_P to the sample surface P.
    第2のパルスレーザ光L_Pは遅延光路A−B−C−Dを経由するので、第2のパルスレーザ光L_Pの試料面Pへの到達時点が、第1のパルスレーザ光L_Pの試料面Pへの到達時点よりも遅延する。 - 特許庁
  • A pulse laser beam L is condensed to a sample 12 to irradiate the sample and the fluorescence F discharged from the plasma P formed upon the reception of the pulse laser beam L by the sample 12 is detected to perform the elementary analysis of the liquid material from the detected fluorescence F.
    試料12にパルスレーザ光Lを集光照射し、試料12がパルスレーザ光Lを受けて生成するプラズマPから放出される蛍光Fを検出し、検出した蛍光Fから液体状の物質の元素分析をする。 - 特許庁
  • The electrolytic polishing method includes a step for repeatedly performing an operation generating a pulse-like pulse voltage and generating a pulse-like pulse voltage after the lapse of a break time, and a step for applying the generated pulse voltage between the tip of an electrode rod and a sample.
    パルス状のパルス電圧を発生し、休止期間を経過した後にパルス状のパルス電圧を発生することを繰り返すステップと、発生したパルス電圧を、電極棒の先端と試料との間に供給するステップとを有する。 - 特許庁
  • A sample hold section 6 samples a reception pulse received by a receiving antenna 3a, based on a sample pulse obtained by time sweeping of the changing timing of the dither clock over a plurality of periods, to produce a long-period reception pulse obtained by expanding the reception pulse on a time axis.
    サンプルホールド部6は、受信アンテナ3aによって受信された受信パルスを、複数の周期にわたってディザクロックの変化タイミングから時間掃引したサンプルパルスに基づいてサンプリングすることによって、受信パルスを時間軸上で伸張した長周期受信パルスを生成する。 - 特許庁
  • This operation is enabled by giving a proper pulse rate to a sample nozzle vertically-driving motor 8.
    これは、サンプルノズル上下駆動用モータ8に、適切なパルスレートを与えることで可能となる。 - 特許庁
  • The rod-shaped electrode 10 and the sample electrode 11 are connected to a high pressure pulse power source 18.
    棒状電極10、試料電極11は高圧パルス電源18に接続されている。 - 特許庁
  • In this measuring method, CO_2 gas is supplied to the sample before executing the CO pulse method.
    本発明の測定方法では,COパルス法を実施する前に,サンプルにCO_2 ガスを供給する。 - 特許庁
  • To enable acquisition of detail data on the emission state of a sample in one pulse of discharge.
    1パルスの放電における試料の発光状態について詳細なデータが得られるようにする。 - 特許庁
  • A reflection measurement optical system for irradiating a sample S (a location A) with terahertz pulse light and detecting a reflection light reflected from the sample and a transmission measurement optical system for irradiating the sample S (a location B) with the terahertz pulse light and detecting a transmission light transmitted through the sample can be switched.
    テラヘルツパルス光を試料S(位置A)に照射し試料から反射した反射光を検出する反射測定光学系と、テラヘルツパルス光を試料S(位置B)に照射し試料を透過した透過光を検出する透過測定光学系とを切り換え可能とする。 - 特許庁
  • The output timings of the clamp pulse CP, and the sample-and-hold pulse SH is controlled based on the propagation delay time recorded in the EEPROM 30.
    EEPROM30に記録された伝播遅延時間に基づいてクランプパルスCP、サンプルホールドパルスSHの出力タイミングを制御する。 - 特許庁
  • The output timing of a clamp pulse CP, a sample-and-hold pulse SH, and a reset gate clock RG from an output timing circuit 40, are controlled by a CPU 27.
    クランプパルスCP、サンプルホールドパルスSH、リセットゲートクロックRGの出力タイミング回路40からの出力タイミングをCPU27で制御する。 - 特許庁
  • A reflection measuring section irradiates a sample, which is set at a reflection measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light reflected by the sample and outputs a reflected light detection signal.
    反射測定部は、反射測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を反射したテラヘルツパルス光を検出して反射光検出信号を出力する。 - 特許庁
  • From the pulse ion beam source 1, pulse ion beams 4 are irradiated to a sample 3 housed in a vacuum chamber 2, and the scattered particles scattered from the sample 3 is measured by the three-dimensional detector 5 arranged at a prescribed distance separated from the sample 3.
    パルスイオンビーム源1から、真空チャンバ2内に収容された試料3にパルスイオンビーム4を照射し、試料3から散乱された散乱粒子を、試料3から所定距離離されて配置された3次元検出器5によって測定する。 - 特許庁
  • An input signal optical pulse train 21 is injected in a first mode synchronous semiconductor laser 1 to sample the same frequency sampling clock optical pulse train 22, which has a frequency equal to the clock frequency of the pulse train 21 and a timing synchronized with that of the pulse train 21.
    第1のモード同期半導体レーザ1に入力信号光パルス列21を注入してそのクロック周波数と周波数が等しくタイミング同期した同一周波数抽出クロック光パルス列22を抽出する。 - 特許庁
  • To surely sample a fluorescent signal including a peak in a laser microscope using pulse laser oscillation.
    パルスレーザ励起を用いたレーザ顕微鏡において、蛍光信号をピークを含めて確実にサンプリングする。 - 特許庁
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