「sample splitter」を含む例文一覧(34)

  • The primary light passing through the beam splitter 21 is made incident in a sample cell 31 by an incident window 313.
    ビームスプリッタ２１を透過した１次光は入射窓３１３より試料セル３１内に入射する。 - 特許庁
  • A laser beam from a laser light source is divided into two beams by a beam splitter, and applied simultaneously toward two sample plates on a sample stand 112.
    レーザ光源からのレーザビームをビームスプリッタ１２２により２本のビームに分割し、試料台１１２上の２個の試料皿に同時に照射させる。 - 特許庁
  • Light coming from the sample 12 and passing through an object lens 13 is split into an observation optical axis L1 and a detection optical axis L2 by a beam splitter 14.
    対物レンズ13を経た試料12からの光は、ビームスプリッタ14により、観察光軸L1および検出光軸L2に分岐される。 - 特許庁
  • The dichroic beam splitter (16) and the blocking filter (17) are spectrally transparent to the laser beam, and the laser beam is directable through the blocking filter (17) and the dichroic beam splitter (16) onto the sample (3).
    二色性ビームスプリッター（１６）と阻止フィルター（１７）が上記レーザービームに対し分光的に透明であり、レーザービームは阻止フィルター（１７）と二色性ビームスプリッター（１６）を通ってサンプル（３）に向けられている。 - 特許庁
  • Furthermore, the second beam splitter is arranged on the beam route to direct the light reflected from the sample toward the detector for preparing the second wave front having the characteristic of the optical aberration of the sample.
    さらに、第２ビーム・スプリッタを、ビーム経路上に配置して、試料から反射された光を、試料の光学収差の特性を有する第２波面の作成のために検出器に向ける。 - 特許庁
  • The λ/4 plate 8 is inserted between the polarizing beam splitter 3 and the objective lens 10 when observing a sample of multiple reflection.
    多重反射試料を観察する場合にλ／４板８を偏光ビームスプリッタ３と対物レンズ１０の間に挿入して観察する。 - 特許庁
  • The interference measuring instrument 10 is equipped with a semiconductor laser 1 which projects laser light on a sample 20, a beam splitter 2 which is arranged the semiconductor laser 1 and sample 20, and a reference mirror 3 and a detector 4 which are arranged on one side and the other side of the beam splitter 2.
    干渉計測装置１０は、試料２０に対してレーザ光を投光する半導体レーザ１と、半導体レーザ１と試料２０との間に配置されたビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２の一側および他側にそれぞれ配置された参照鏡３および検出器４とを備えている。 - 特許庁
  • The beam splitter is aligned with a viewing port of a spectrophotometer to deliver the light reflected from the sample to both the video camera and the spectrograph.
    サンプルから反射した光をビデオカメラおよび分光器の両方に送るために、ビームスプリッタを分光光度計のビューイングポートと整合させる。 - 特許庁
  • The light emitted from the light source 16 irradiates the sample surface through a light modulator 24, a beam splitter 26, an objective lens 22, and a transparent substrate 12 so as to generate near-field light on the sample surface.
    光源１６から放射された光は、光変調器２４、ビームスプリッタ２６，対物レンズ２２，透明基板１２を経て試料表面に照射され、試料表面に近接場光を生成させる。 - 特許庁
  • A polarizing beam splitter 2 separates light reflected from the sample 6 when the sample 6 is irradiated with the illumination light condensed by the objective lens 5 from the optical path of the illumination light, after passing through the objective lens 5.
    偏光ビームスプリッタ２は、対物レンズ５で集光した該照明光を試料６に照射したときの試料６からの反射光を、対物レンズ５の通過後に該照明光の光路から分離する。 - 特許庁
  • Light emitted from a laser beam source 1 passes through a beam splitter 2 and is separated into a reference arm and a sample arm, and the light of the reference arm is reflected by a reference mirror 3, passes through the beam splitter 2, turns to a photodetector 7 and becomes reference light.
    レーザ光源１から出射した光は、ビームスプリッタ２を通って参照アームとサンプルアームに別れ、参照アームの光は参照ミラー３で反射してビームスプリッタ２を通り、光検出器７へ向かい参照光となる。 - 特許庁
  • The light reflected by the sample film 16 is guided by a beam splitter 14 to a spectroscope 18, where it is then rendered monochromatic and converted by a receiver 20 into an electric signal.
    試料膜１６で反射した光をビームスプリッタ１４で分光器１８に導き、単色化するとともに、受光器２０で電気信号に変換する。 - 特許庁
  • To provide a confocal microscope which facilitates installation of a beam splitter and a reflecting mirror and makes it possible to obtain a sharp image of a sample.
    ビームスプリッタと反射ミラーの設置を容易に行い、試料の鮮明な画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • If the syringe 11 is filled with the sample gas, a valve 15 is closed while the valve 13 is opened and a plunger 16a is drawn out to accumulate the sample gas, which flows into a sub-flow channel 8 through the syringe 11 and a splitter 6, in a syringe 16.
    試料ガスがシリンジ１１に充満したならば、バルブ１５を閉じバルブ１３を開け、プランジャ１６ａを引き出すことにより、シリンジ１１内及びスプリッタ６を経て副流路８に流れ込んでくる試料ガスをシリンジ１６に溜める。 - 特許庁
  • The light from an LD 11 is split by a frequency shifter 12 into a couple of split lights; and one split light is reflected from a polarization beam splitter 17 to a reference mirror 18 and the other split light is reflected from the polarization beam splitter 17 to the sample 20.
    ＬＤ１１からの光が周波数シフタ１２において一対の分離光に分けられ、一方の分離光は偏光ビームスプリッタ１７から参照鏡１８に向って反射され、他方の分離光は偏光ビームスプリッタ１７から試料２０に向って反射される。 - 特許庁
  • A 1/4 wavelength plate 4 can be inserted and removed into and from the optical path between the polarizing beam splitter 2 and the sample 6 and converts the polarization characteristics of the illumination light and the reflected light.
    １／４波長板４は、偏光ビームスプリッタ２と試料６との間の光路上に対して挿脱可能であり、該照明光及び該反射光の偏光特性を変換する。 - 特許庁
  • The laser microdissection unit for cutting a microscopic sample (3) using a laser beam of a laser (19) includes a microscope (1) including an illumination beam path directed onto the sample (3) and an imaging beam path configured to image the sample (3), and the microscope includes a fluorescence device (14) including an excitation filter (15), a dichroic beam splitter (16) and a blocking filter (17).
    レーザー（１９）のレーザービームを用いて顕微鏡サンプル（３）を切断するレーザー顕微解剖ユニットは、サンプル（３）に向けられた照明ビーム路とサンプル（３）を映し出す画像形成ビーム路とを有する顕微鏡（１）を含み、当該顕微鏡は更に励起フィルター（１５）、二色性ビームスプリッター（１６）及び阻止フィルター（１７）を備える蛍光装置（１４）を含む。 - 特許庁
  • An aerosol fine particle measuring system includes a channel switching mechanism 26 for introducing sample gas separated by a splitter 6 to a sheath gas channel 8 in measurement and introducing gas without going through a sample gas channel 2 to the sheath gas channel 8 in calibration at an upstream side of a variable orifice 12 in the sheath gas channel 8.
    シースガス流路８で可変オリフィス１２の上流側に、計測時はシースガス流路８にスプリッタ６で分離された試料ガスを導入し、校正時はシースガス流路８に試料ガス流路２を経由しないガスを導入する流路切替え機構２６を備えている。 - 特許庁
  • The intensity of the interference light which the beam splitter 20 outputs by combining the sample light and the reference light is detected by the photodetector 40, and thereby the teeth as the objects of diagnosis are diagnosed.
    ビームスプリッタ２０によりサンプル光と参照光とが合波されて干渉光が出力され、その干渉光の強度が光検出器４０により検出されて、診断対象物としての歯が診断される。 - 特許庁
  • Moreover, the phase change of the X rays due to the sample 2 is allowed to emerge on the X-ray image pick-up element 3 as interference contrast by locating a reflection standard 7 in a symmetrical position to the surface S1 of the object with respect to a beam splitter 6.
    また、反射原器７をビームスプリッタ６に関して物体面Ｓ１と対称の位置に配置し、試料２によるＸ線の位相変化をＸ線撮像素子３上に干渉コントラストとして出現させる。 - 特許庁
  • A polarimeter generates linearly polarized light by a polarizer 14, branches the linearly polarized light, which has passed through a sample in a sample cell 16, by a beam splitter 17, makes each branched linearly polarized light pass through analyzers 21 and 31 of which directions of transmission axes are mutually different, and thereafter detects the branched linearly polarized light by detectors 23 and 33.
    旋光計は、偏光子１４で直線偏光を発生させ、サンプルセル１６中の試料を通過した後の直線偏光をビームスプリッタ１７で分岐させ、分岐した直線偏光の夫々を、互いに透過軸の方向が異なる検光子２１及び３１を通過させた後、検出器２３及び３３で検出する。 - 特許庁
  • The laser beam reflected by the surface of the sample (w) reversely follows an optical path, and passes the polarizing beam splitter 12, and is condensed by an image formation lens 18, so that the laser beam passing through a pinhole is detected by a photodetector 19.
    試料ｗの表面で反射したレーザ光は、上記の光路を逆に辿り、偏光ビームスプリッタ１２を通過し、結像レンズ１８によって集光され、ピンホールを通過したレーザ光が受光素子１９に検出される。 - 特許庁
  • In this scanning probe microscope, illumination light generated from an optical microscope 7, reflected by a beam splitter 13 and a mirror 21 and transmitted through a half mirror 22, is irradiated obliquely on the rear face of the cantilever 14 and is incident obliquely on a sample face.
    光学顕微鏡７から発生し、ビームスプリッタ１３およびミラー２１で反射してハーフミラー２２を透過した照明光は、カンチレバ１４の背面を斜めから照射すると共に、試料面に斜めから入射する。 - 特許庁
  • The apparatus includes a light source (105), illuminating a dichroic beam splitter (110) which reflects excitation light via a first optical element (130) onto a sample region (120) including a tray of samples (122).
    この装置は、光源（１０５）を備え、この光源は、二色性ビームスプリッタ（１１０）を照射し、この二色性ビームスプリッタは、第一の光学素子（１３０）を通して、サンプル（１２２）のトレイを備えるサンプル領域（１２０）へと励起光を反射させる。 - 特許庁
  • The surface of a sample (w) is scanned with a laser beam emitted by a light source 10 by condensing on the surface by an objective lens 17 by passing through a polarizing beam splitter 12, a horizontal deflecting device 14a and a perpendicular deflecting device 14b or the like.
    光源１０から出たレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１２、水平偏向装置１４ａ、垂直偏向装置１４ｂ等を経て、対物レンズ１７によって試料ｗの表面に集光し、表面を走査する。 - 特許庁
  • A non-polarizing beam splitter 200 is used in the separation of the light paths of an illumination system and an image forming system and a polarizer 14 and a λ/4 plate 17 are combined to perform circular polarization illumination to obtain MTF characteristics not relying on the azimuth of the pattern on the sample 1.
    照明系と結像系の光路の分離に無偏光ビームスプリッタ２００を用い、偏光子１４とλ／４板１７を組み合わせて円偏光照明することで試料１上のパターンの方位によらないＭＴＦ特性を得る。 - 特許庁
  • The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.
    照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁
  • An optical pickup 14 includes a semiconductor laser 41, optical members such as a laser driving section and beam splitter 42, luminous waveform generator 203, photoelectric converter (light receiving element 310 and current voltage converter 312), sample hold section 330, and sampling pulse generator 400.
    半導体レーザ４１、レーザ駆動部、ビームスプリッタ４２などの光学部材、発光波形生成部２０３、光電変換部（受光素子３１０、電流電圧変換部３１２）、サンプルホールド部３３０、サンプリングパルス生成部４００を、光ピックアップ１４に配置する。 - 特許庁
  • This method comprises processes of: dividing light radiated from a white light source 109 into reference light and signal light by a beam splitter 102; emitting the signal light to a sample 107 through a Morou interferometer 105; making light reflected from the sample surface with the reference light and imaging the interference intensity occurring in the Morou interferometer 105; and applying voltage current to the semiconductor circuit chip as the sample.
    白色光源１０９から放射された光をビームスプリッタ１０２により参照光と信号光に分割する工程と、信号光を試料１０７にミラウ干渉計１０５を通して入射する工程と、試料表面より反射した光と参照光を干渉させてミラウ干渉計１０５に生じた干渉強度を画像化する工程と、試料である半導体回路チップに電圧電流を印加する工程とを含む。 - 特許庁
  • The beam splitter 2 generates interference light by putting together the laser light which is guided to and reflected by the sample 20 and the laser light which is guided to and reflected by the reference mirror 3; and part of it is guided to the detector 4 through a lens 9 and the remainder is put back to the semiconductor laser 1 through the lens 7.
    ビームスプリッタ２においては、試料２０へ導かれて反射されたレーザ光と、参照鏡３へ導かれて反射されたレーザ光とを合成して干渉光を形成し、その一部をレンズ９を介して検出器４へ導くとともに、残りをレンズ７を介して半導体レーザ１へ戻すことができるようになっている。 - 特許庁
  • The optical path of the measurement light 1a emitted from the semiconductor laser 1 is divided by a beam splitter 3, in which one reflected by a reference reflective surface 4a reaches an observation surface 6a, and the other reflected by the sample surface 8a reaches the observation surface 6a, and an interference fringe is formed.
    半導体レーザ１から発せられた測定光１ａは、ビームスプリッタ３によって光路を分割され、一方が基準反射面４ａによって反射されて観測面６ａに到達し、他方が試料表面８ａによって反射されて観測面６ａに到達して、干渉縞を形成する。 - 特許庁
  • This observation system is constituted of an inspected lens 4 for inspection, an illumination system 6 for emitting parallel light, a beam splitter 5, a spherical mirror 3 of a reflecting sample for the inspected lens 4, and a point image magnification observation system 7 for magnification-observing a point image generated by light reflected on the spherical mirror 3 and transmitted through the inspected lens 4.
    検査する被検レンズ４と、平行光を射出する照明系６と、ビームスプリッタ５と、被検レンズ４の反射用標本である球面ミラー３と、この球面ミラー３で反射し、被検レンズ４を通した光による点像を拡大観察する点像拡大観察系７とで構成している。 - 特許庁
  • In measuring the thermophysical property using a laser flash method in the thermophysical property measuring device, the radiation light emitted from a sample is divided into a plurality of lights by a beam splitter in response to a wavelength band, and a sensor having high sensitivity to each branch light in the wavelength band is arranged.
    熱物性測定装置でのレーザフラッシュ法を用いた熱物性測定において、ビームスプリッタで試料より発する放射光を、波長帯域に対応して複数に分岐し、それぞれの分岐光に対して、上記波長帯域で優れた感度を示すセンサを配設したことを特徴とするものである。 - 特許庁
  • Regarding the observation optical apparatus, a λ/4 wavelength plate 50 is arranged between a polarized beam splitter 24 for making the illumination luminous flux emitted from a lamp house 20 for a DUV illumination/imaging apparatus 51 enter an infinite distance correction optical system 7 and a dichroic mirror 25 for separating the luminous flux returned from a sample surface 9 from the infinite distance correction optical system 7.
    ＤＵＶ照明／結像装置５１におけるランプハウス２０から出射された照明光束を無限遠補正光学系７に入射させる偏光ビームスプリッタ２４と標本面９からの戻り光束を無限遠補正光学系７から分離するダイクロイックミラー２５との間にλ／４波長板５０を設けた。 - 特許庁

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