「sample surface」を含む例文一覧(2601)
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試料表面分析装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE INSPECTING DEVICE
試料表面検査装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE OBSERVING APPARATUS
試料表面観察装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE MEASURING DEVICE
試料表面測定装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE TREATMENT METHOD
試料の表面処理方法 - 特許庁 - SURFACE TREATMENT METHOD OF SAMPLE
試料の表面加工方法 - 特許庁 - SURFACE DEVELOPING METHOD FOR SAMPLE BLOCK
試料ブロックの面出し方法 - 特許庁 - SOLID SAMPLE SURFACE ANALYZING APPARATUS
固体試料表面分析装置 - 特許庁 - SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE OF SAMPLE
試料表面の欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR TREATING SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS, SURFACE ANALYSIS METHOD, APPARATUS FOR TREATING SAMPLE FOR SURFACE ANALYSIS AND SURFACE ANALYZER
表面分析用試料の処理方法、表面分析方法、処理装置及び表面分析装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE DEPOSIT INSPECTION SYSTEM, SAMPLE SURFACE DEPOSIT INSPECTION METHOD, SAMPLE SURFACE DEPOSIT ELIMINATION SYSTEM, SAMPLE SURFACE DEPOSIT STICKING SYSTEM AND SAMPLE SURFACE DEPOSIT DISPOSAL SYSTEM
試料表面の付着物検査システム，試料表面の付着物検査方法，試料表面の付着物除去システム，試料表面の付着物固着システム並びに試料表面の付着物処理システム - 特許庁 - SURFACE EVALUATION DEVICE AND PAINTING SAMPLE
表面評価装置及び塗装標本 - 特許庁 - PRETREATMENT METHOD FOR SURFACE ANALYSIS SAMPLE
表面分析試料の前処理方法 - 特許庁 - To install a sample in a way the surface of the sample becomes horizontal.
試料の表面が水平になるように試料を設置する。 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE INSPECTION APPARATUS AND METHOD
試料表面の検査装置及び方法 - 特許庁 - METHOD FOR SCANNING SAMPLE IN IMAGE SURFACE
像面におけるサンプルを走査する方法 - 特許庁 - The sample 100a is placed on a sample holder 40 where the upper surface is set to be a horizontal surface so that the lower surface of the sample 100a becomes a horizontal surface.
試料１００ａの下面が水平面となるように、上面が水平面とされた試料ホルダ４０上に、試料１００ａを載置する。 - 特許庁 - The sample stand 12 has a sample holding surface 12a for holding the sample and a sample stand adsorption surface 12b to be fixed to a scanner.
試料台１２は、試料を保持するための試料保持面１２ａとスキャナーに固定されるための試料台吸着面１２ｂとを有している。 - 特許庁 - METHOD FOR IMAGING CUT SURFACE INFORMATION ON SAMPLE
試料の切削面情報のイメージング方法 - 特許庁 - MICROPROBE AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE OF SAMPLE
マイクロプローブおよび試料表面測定装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
試料表面検査装置及び検査方法 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS
試料表面検査方法および検査装置 - 特許庁 - This sample holder has a sample holding base 2 having a sample holding surface 11 for arranging a sample 21 and a pair of projecting parts disposed sandwiching the sample holding base 2 and projected over the sample holding surface 11.
試料ホルダーは、試料２１を配置するための試料保持面１１を有する試料保持台２と、保持台２を挟んで配置され、試料保持面１１よりも突出した一対の凸部３２とを有する。 - 特許庁 - POWDER SAMPLE MOLDING JIG FOR SURFACE ANALYSIS, AND POWDER SAMPLE MOLDING METHOD FOR SURFACE ANALYSIS
表面分析用粉末試料成形治具および表面分析用粉末試料成形方法 - 特許庁 - SAMPLE CUT SURFACE PREPARING METHOD AND ITS DEVICE
試料切削面作成方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING DENSITY OF SAMPLE AND METHOD FOR REMOVING AIR BUBBLE FROM SAMPLE SURFACE
試料の密度測定方法、及び試料表面の気泡除去方法 - 特許庁 - To provide a sample stand array enabling easily and uniformly surface treatment of each sample fixing surface of a plurality of sample stands.
複数の試料台の試料固定面を容易に一様に表面処理することを可能にする試料台配列を提供する。 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び測定装置 - 特許庁 - The sample is positioned optionally on a surface of the sample support to make the object cross-sectional surface substantially parallel to the surface of the sample support.
任意であるが、サンプルは、物体断面表面がサンプル支持体の表面に実質的に平行となるようにサンプル支持体の表面に位置される。 - 特許庁 - Optionally, the sample is positioned on the surface of the sample support in such a manner that the cross-sectional surface of the object is substantially parallel to the surface of the sample support.
任意であるが、サンプルは、物体断面表面がサンプル支持体の表面に実質的に平行となるようにサンプル支持体の表面に位置される。 - 特許庁 - The sample container 3 is formed with a sample injection port, a sample vessel and a sample discharge port, the sample discharge port is formed with a narrow opening area to hold a liquid sample in the sample vessel by surface tension of the sample.
試料容器３は試料注入口、試料槽、試料排出口が形成され、試料排出口は試料の表面張力により液体試料が試料槽内に保持されるように狭小な開口面積となっている。 - 特許庁 - A sample holder H has a sample holding surface for holding a sample such as a wafer or the like on the upper surface thereof and a large number of electrode members 29 are provided on the outer peripheral part of the sample holding surface.
試料ホルダＨは、上面にウエハ等の試料Ｓを保持する試料保持面を有し、試料保持面の外周部に複数の各電極部材２９を有している。 - 特許庁 - Then, the tip of the CNT401 is made close to the sample surface, and the sample surface is AFM-observed in tapping mode.
その後、ＣＮＴ４０１の先端を試料面に近接させ、タッピングモードによりＡＦＭ観察する。 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁 - ADJUSTMENT APPARATUS FOR SURFACE HEIGHT OF SAMPLE AND AUTOMATIC FOCUSING DEVICE
試料面高さ調整装置とオートフォーカス装置 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE DETECTION METHOD OF HARDNESS TESTER
硬さ試験機における試料表面検出方法 - 特許庁 - The sample stage is rotated and is inclined for thinning the sample, in such a way as to orient the back surface of the sample toward the ion beam.
サンプル・ステージは、薄くするためにサンプルの背面をイオン・ビームに向けるように回転および傾斜される。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for treating a sample for surface analysis by applying treatment to the sample for surface analysis, before analyzing the surface of the sample, to remove carbon compounds remaining on the surface of the sample.
表面分析用試料を表面分析する前に処理を加え、表面に残留する炭素化合物を除去することにより、表面分析用試料の処理方法および処理装置を提供する。 - 特許庁 - SURFACE POTENTIAL MEASURING METHOD AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
表面電位測定方法及び試料観察方法 - 特許庁 - STANDARD SURFACE SAMPLE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING SYSTEM
標準面試料および光学特性測定システム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY POLISHING SURFACE OF SAMPLE PIECE
試料片の表面自動研磨方法とその装置 - 特許庁 - In this sample storing method, the exfoliation liner 4 of the sample storing sheet is peeled to expose the pressure-sensitive adhesive surface, and the sample is held on the pressure-sensitive adhesive surface, and the sheet B3 covers on the sample, and the pressure-sensitive adhesive surface around the sample is laminated with the sheet B3, to thereby confine the sample.
当該サンプル保管用シートの剥離ライナー（４）を剥がして粘着面を露出し、該粘着面上にサンプルを保持し、該サンプル上にシートＢ（３）を被覆し、サンプルの周囲の粘着面とシートＢ（３）とを貼り合わせてサンプルを閉じ込めるサンプル保管方法。 - 特許庁 - To three-dimensionally observe a sample inside using surface information of a cut sample.
切断された試料の表面情報を用いて試料内部を立体的に観察する。 - 特許庁 - To highly accurately measure a surface leakage current of a sample without removing an adhering substance on the sample surface at a different facility beforehand, and enable it to be confirmed whether or not the adhering substance on the sample surface is completely detached.
前もって別の設備で試料表面上の付着物質を除去することなしに、試料の表面リーク電流を高精度に測定できるようにする。 - 特許庁 - The ion beam inclined to the sample surface is used therein.
試料表面に対して傾斜したイオンビームを用いる。 - 特許庁 - METHOD OF NORMALIZING SURFACE TENSION OF SAMPLE FLUID
試料流体の表面張力を均一化する方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE FOR METAL SAMPLE SURFACE
金属試料表面の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - Further, the surface profile data of the sample is detected while scanning the probe in parallel to the surface of the sample.
さらに、探針を試料表面と平行な方向に走査しながら試料表面の形状データを検出する。 - 特許庁 - The laser light is reflected against the sample surface 11, reflected against a mirror (a reflection body) 31, and reflected against the sample surface 11 again.
レーザ光は、試料面１１で反射し、鏡（反射体）３１で反射し、試料面１１で再度反射する。 - 特許庁 - A surface electrometer 40 is arranged several millimeters above the sample 20 to measure a surface potential of the sample 20.
試料２０の上側、数ミリメートルには表面電位計４０を配置し、試料２０の表面電位を計測する。 - 特許庁
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