「sample value」を含む例文一覧(1167)

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  • A plurality of pieces of dummy pixels are arranged on the outer side of an effective display region of a display panel, and they are afforded with the average gradation value over the entire part of the screen and the display gradation value of a sample pixel.
    表示パネルの有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を配置し、それらに画面全体の平均階調値とサンプル画素の表示階調値とを与える。 - 特許庁
  • The pit signal detecting circuit comprises a peak value detecting circuit 20 for holding a peak voltage of the land pre-pit signal, and a sample hold circuit 25 for holding an output of the peak value detecting circuit 20 by sampling the output.
    ランドプリピット信号のピーク電圧をホールドするピーク値検出回路２０と、ピーク値検出回路２０の出力をサンプリングしてホールドするサンプルホールド回路２５とを備えている。 - 特許庁
  • A power generation output data storage unit 101 stores power generation output data indicating a current value and a voltage value per sample time for each of plural subsystems comprising plural power generation modules.
    発電出力データ格納部１０１は、複数の発電モジュールからなる複数のサブシステム毎に、電流値および電圧値を表した発電出力データをサンプル時間ごとに格納する。 - 特許庁
  • The PC unit 1 receives the measured focus value and memorizes the focus value after converting it into a voltage to be impressed on an electrostatic lens of the electron beam apparatus 100 at a time of an actual inspection of the sample.
    ＰＣ装置１は、検出されたフォーカス値を受け取り、該フォーカス値を、実際の試料検査時に電子線装置１００の静電レンズへ印加すべき電圧に変換し記憶する。 - 特許庁
  • An eliminating section 32 discriminates, with regard to each sample point, a blood flow component and a residual unnecessary component from the combination of the speed value and the correlation value, and carries out residual unnecessary signal eliminating processing.
    除去部３２は、各サンプル点ごとに、速度値及び相関値の組合せから血流成分と残留不要成分とを弁別し、残留不要信号を除去する処理を実行する。 - 特許庁
  • The contrast difference value is quantized at a predetermined quantizing level and a plurality of sample quantized images are generated which have either of quantized values depending on the predetermined quantizing level as a pixel value.
    濃淡差分値を所定の量子化レベルで量子化し、該量子化レベルに依存する所定の量子化値のいずれかを画素値として有する複数の見本量子化画像を生成する。 - 特許庁
  • Selecting any new field value will correct the sample output, though possibly resulting in no matching font.Should be able to return a FONT for the PRIMARY selection, not just a STRING.Any change in a field value will cause xfontsel to assert ownership of the PRIMARY_FONT selection.
    フィールドに新しい値を選択してサンプル出力を直すことができるが、マッチするフォントが無いこともある。 PRIMARY セレクションには、単なる STRING ではなく FONT が返されるべきである。 - XFree86
  • Values obtained by multiplying a cosine value of angle of each sample to an axis turning toward zenith are accumulated to provide a whole sky photoenvironment value and a value obtained by dividing the photoenvironment value under each photoenvironment with the photoenvironment value kept in a state free from a shielding article in whole the sky is evaluated as a relative quantity of light at the place.
    各サンプルの天頂に向かう軸に対する角度の余弦値を掛けた値を集積して全天下の光環境値とし、各光環境下の上記光環境値を全天に遮蔽物のない状態の上記光環境値で割った値を、その場所における相対光量として評価する - 特許庁
  • When the continuing period of the resistance value R lower than the threshold value THD is shorter than the discrimination time interval Tc, on condition that the continuing period is longer than a predetermined time limit value Tg shorter than the discrimination value generated during the continuing period is set to the resistance value of one sample to calculate water content.
    また、しきい値ＴＨＤより低い抵抗値Ｒが継続する期間が判別時間間隔Ｔｃより短い場合には、判別時間間隔Ｔｃよりも短い所定の時間限界値Ｔｇより長いことを条件として、継続期間に生じる抵抗値を１個の試料の抵抗値Ｒとして含水率を算出する。 - 特許庁
  • To attain high quality sound, while generating a harmonics component by generating only even number harmonics, or both even and odd multiple harmonics, by changing the value of a sample adjacent to a maximum value or a minimum value of a digital audio signal.
    ディジタル音響信号の極大値又は極小値付近のサンプルの値を変更することにより、偶数倍音のみ、または偶数倍音と奇数倍音の両方を生成し、高調波成分を発生させ高音質化を実現する。 - 特許庁
  • The sample of grain is extracted by a moisture meter 8, the value of moisture of each grain is measured, at the same time, the value of moisture of each grain is subjected to statistical processing, and the actual value of moisture of the grain to be subjected to drying treatment is calculated.
    水分計８によって穀粒をサンプル抽出し、各穀粒の水分値を計測すると共に、各穀粒の水分値を統計処理することによって、乾燥処理の対象である穀物の実際の水分値を演算する。 - 特許庁
  • An EGA operation is performed using this scaling correction value and the measured values of all sample shot SA_1 to SA_9, and there is asked for a transformation matrix which converts the design value of the shot region on the wafer 8 into the coordinate value which should be used for the alignment.
    このスケーリング補正値と、全サンプルショットＳＡ_１〜ＳＡ_９の計測値とを用いてＥＧＡ演算を行って、ウエハ８上のショット領域の設計値を実際に位置合わせすべき座標値に変換する変換行列を求める。 - 特許庁
  • The adjusting of the correction amount of the opening amount of the ink fountain key of each color and the correction value of the feeding rate of the ink fountain roller of each color is performed so that the measured consistency value and the criteria consistency value of each color of a printing sample by a testing machine plate are in agreement with together.
    試験用刷版による印刷サンプルの各色の測定濃度値と基準濃度値とが一致するように各色のインキツボキーの開き量の補正量と各色のインキツボローラの送り量の補正値の調整を行う。 - 特許庁
  • The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.
    ４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁
  • The optical disk apparatus 200 is provided with a sample and hold circuit 113 holding a signal transmitted from a light receiving element 22, a peak-hold circuit 51 holding a peak value of a signal sampled and held by the sample and hold circuit 113, and a bottom-hold circuit 53 holding a bottom value of a signal sampled and held by the sample and hold circuit 113.
    受光素子２２から送信される信号を保持するサンプル・ホールド回路１１３と、サンプル・ホールド回路１１３によりサンプル・ホールドされた信号のピーク値を保持するピーク・ホールド回路５１と、サンプル・ホールド回路１１３によりサンプル・ホールドされた信号のボトム値を保持するボトム・ホールド回路５３とを備える光ディスク装置２００とする。 - 特許庁
  • Breakage length measured value data 25 has breakage length, based on an electrophoretic image, etc., using a sample breakage with the restriction enzyme.
    切断長実測値データ２５は、制限酵素で切断した試料を用いた電気泳動画像等に基づいた切断長を持っている。 - 特許庁
  • To precisely calculate the absolute value of the refractive index of an unknown sample even if the structure of a waveguide mode resonance lattice is not as planned.
    導波モード共鳴格子の構造が設計通りでない場合でも、未知試料の屈折率の絶対値を精度よく算出する。 - 特許庁
  • An estimation operator deriving section 143 derives an estimation operator responding to the exposure condition of the object sample image from which the pixel value is acquired.
    推定オペレータ算出部１４３は、画素値を取得した対象標本画像の露光条件に応じた推定オペレータを算出する。 - 特許庁
  • After printing, a request screen for urging the input of the measured value of a reference data length on a printing sample is displayed on a device display part (A3).
    印字後、装置表示部に印字サンプル上での基準データ長の実測値の入力を促す要求画面が表示される（Ａ３）。 - 特許庁
  • For at least one past sample, for example, the A/D converter system estimates a reference value or reference point like a reference amplitude.
    例えば、Ａ／Ｄシステムは、少なくとも１つの過去のサンプルに対して、基準振幅のような基準値または基準点を推定する。 - 特許庁
  • Also, when measuring the electric field emission value by lift mode, the high bias voltage is applied to the sample 1 from the bias voltage switching circuit 10.
    また、リフトモードでの電界放出量の測定時には、バイアス電圧切替回路１０から高バイアス電圧が試料１に加えられる。 - 特許庁
  • The corrected amplitude value is added to the multiple of the derivative and the timing delay (157) to form the fully corrected digital sample.
    導関数とタイミング遅延を乗算したものに、振幅補正された値を加算し（１５７）、完全に補正されたデジタル・サンプルを形成する。 - 特許庁
  • The standard deviation value is computed based on the sample time with resect to a date when the maximum power demand is generated out of resulting measured data.
    得られた測定データのうち最大の需要電力が発生した日に対して、標本時間より標準偏差値を演算する。 - 特許庁
  • A divergence angle of the divergence slit 2 is a fixed value, and the divergence slit 2 is a slit for restricting the X-ray irradiation width in the sample width direction.
    発散スリット２の発散角は固定値であり、発散スリット２は試料幅方向のＸ線照射幅を規制するスリットである。 - 特許庁
  • A sample hold circuit takes in the current value of the output current of the power unit, with the last transition of the output signal of the flip flop F/F2.
    サンプルホールド回路は、フリップフロップＦ／Ｆ２の出力信号が立下りで、電源装置の出力電流の電流値を取り込む。 - 特許庁
  • To provide a measuring value correcting method as improvement of a conventional technique in which eventual inclusion of bubbles in a a sample may result in generation of an error in the ultrasonic sound speed measurement or impossibility of measuring.
    試料中に気泡が含まれると超音波の音速測定に誤差が生じたり、あるいは、測定が不可能になる。 - 特許庁
  • To provide a microscope apparatus capable of quickly setting the thickness of an optical tomographic image to a desirable value even during observing a sample.
    試料の観察中においても光学断層像の厚さを所望な値に迅速に設定可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
  • The inspection recipe includes a setting value used for controlling a charged particle column irradiating a charged particle beam to a sample and many characteristics values.
    検査レシピは、試料に荷電粒子線を照射する荷電粒子カラムを制御するための設定値と、複数の特性値とを含む。 - 特許庁
  • Then, the electrochemical evaluation of the sample to be measured and evaluation of electrode catalytic activity are performed based on the value of the current.
    そして、この電流値に基づいて測定対象試料の電気化学的評価及び電極触媒活性の評価を行う。 - 特許庁
  • Nine sample images 37a-37i are displayed in a matrix of 3 columns by 3 rows, on a correction value specifying screen 36.
    補正値指定画面３６には、９つのサンプル画像３７ａ〜３７ｉが縦３列，横３行のマトリックス状に配列されて表示される。 - 特許庁
  • A selector 25 selects an interpolation value among interpolation values E1-E4 received from averaging circuits 21-24 closest to the pixel value E (true value) received from the sample delay circuit 7 and outputs a direction bit (in 2 bits) denoting a selected interpolation value to an output terminal 31.
    セレクタ２５は、平均化回路２１乃至２４から入力された補間値Ｅ１乃至Ｅ４のうちの、サンプル遅延回路７から入力される画素値Ｅ（真値）に最も近いものを選択し、選択した補間値を示す方向ビット（２ビット）を出力端子３１に出力する。 - 特許庁
  • The memory 42 of a recording circuit 40 collectively stores the sample value, the maximum value, the minimum value and the average value by each predetermined period outputted from an analogue/digital converter circuit 41 and the data showing an operation state outputted from an output control circuit 14, in a first-in first-out system.
    記録回路４０のメモリ４２は、アナログ・ディジタル変換回路４１から出力された所定期間毎のサンプル値、最大値、最小値及び平均値のディジタルデータと、出力制御回路１４から出力された動作状態を示すデータとを一緒に、先入れ先出し方式で記憶する。 - 特許庁
  • In this COD measuring method for a sample, and the COD measuring reagent and the kit used for the method, the sample is brought into contact with dichromate under the coexistence of mercury (II) ion, chromium (III) ion and a catalyst quantity of silver ion, and the COD value of the sample is measured on the basis of the consumption of the dichromate.
    試料を、水銀(II)イオンとクロム(III)イオンと触媒量の銀イオンとの共存下で二クロム酸塩と接触させ、二クロム酸塩の消費量に基づいて試料のＣＯＤ値を測定することを特徴とする、試料のＣＯＤ測定方法、それに用いるＣＯＤ測定用試薬及びキット。 - 特許庁
  • To provide a detecting method of a compensation value of changes of device requirements to be changed by potential measurement on the surface of a sample with the use of charged particle beams or sample charging, with potential changes restrained of the sample induced by irradiation of the charged particle beams, and a device.
    本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁
  • To provide a method and a device each detecting a compensation value of changes of device condition to be changed by potential measurement on a surface of a sample by using charged particle beams or sample charging, while suppressing potential changes of the sample induced by irradiation of the charged particle beams.
    本発明の目的は、荷電粒子線の照射によって誘起される試料の電位変化を抑制しつつ、荷電粒子線を用いた試料表面の電位測定、或いは試料帯電によって変化する装置条件の変動の補償値を検出する方法、及び装置の提供にある。 - 特許庁
  • The scattered light from the surface of the sample 3 is successively converted into an electrical signal through an image forming lens 4 and a CCD 5 and a CCD image is recorded and analyzed to obtain data where the surface roughness or surface shape of the sample is shown as a numerical value for evaluating the microroughness of the surface of the sample.
    試料３表面からの散乱光を、順次、結像レンズ４、ＣＣＤ５を経て、電気信号に変換させ、ＣＣＤ画像を記録、解析し、試料の表面粗さまたは表面形状を表す数値化されたデータを得、試料表面のマイクロラフネスを評価する。 - 特許庁
  • In the method, the sample treating unit which projects light with a specific wavelength value in relation to the sample, is disposed between a sample collecting section and a measuring section, and resistant components react with components other than that of an object to be measured, and then the resistant components are removed.
    試料に対し特定波長の光を照射する試料処理ユニットを試料採取部と測定部との中間に設け、妨害成分を試料中の測定対象成分以外の他の成分と反応せしめ、当該妨害成分を除去することを特徴とする。 - 特許庁
  • In the S/N matching pattern, a pattern where it is possible to jump from an arbitrary sample point to a next SP pass processing target sample point is set, thus jumping to the next SP pass processing target sample point according to a jump address value obtained from a pattern that coincides with the current S/N matching pattern.
    このＳ／Ｎマッチングパターンは、任意のサンプル点から次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプ可能な場合におけるパターンが設定されたものであり、現在のＳ／Ｎマッチングパターンと一致するパターンから得られたジャンプアドレス値により、次のＳＰパス処理対象サンプル点にジャンプする。 - 特許庁
  • A color which is colored a sample preliminary is added to a standard sample, and to obtain their standard multivariate profiles of color to derive a regression equation obtained via a suitable transform such as its raw observation values and a ratio conversion, and to obtain the measured value based on the multivariate profiling of sample color using an equipment handling a small sample such as microplate.
    予め、検体を着色せしめている色を標準検体に加え、それら標準の色の多変量プロファイルを得て、その生の観察値と比変換等、適した変換を経て得られた回帰式を導き、マイクロプレートなど、少量の検体を扱う機材をもって検体の色の多変量プロファイルをもとに、その測定値を求める。 - 特許庁
  • To provide an method for decomposing and analyzing a non-oxide sample for decomposing a non-oxide sample without any volatility, adsorption, and contamination of the non-oxide sample and at the same time accurately, rapidly, and usefully obtaining the element determination value and the element composition ratio of the main constituent and impurities of the non-oxide sample from the same decomposition liquid.
    非酸化物試料の揮発、吸着及び汚染なく非酸化物試料を分解することができるだけでなく、非酸化物試料の主成分と不純物の元素定量値や元素組成比を同一分解液から正確、迅速、且つ無駄なく得ることができる非酸化物試料の分解方法及び分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide the simple life time measurement method of a semiconductor wafer for accurately measuring a life time value in a required sample substrate nearly without being affected by the life time value of a semiconductor sample surface, and at the same time for simultaneously treating and measuring a plurality of semiconductor wafers.
    半導体試料表面のライフタイム値の影響をほとんど受けることなく、必要とする試料基板中のライフタイム値を精度よく測定することが可能で、かつ簡便で同時に複数枚の処理及び測定が可能な半導体ウェーハのライフタイム測定方法。 - 特許庁
  • Concerning a sample 10 including a material whose property value is to be measured, in a camber measuring part 2 of this property value measuring device 1, the temperature of the sample 10 arranged in a sealed container 2a is adjusted by a temperature control part 2b, and the camber at each temperature is measured by a noncontact type laser displacement meter 2c.
    物性値を測定する材料を含むサンプル１０について、物性値測定装置１の反り計測部２では、密閉容器２ａ内に配置したサンプル１０の温度を温度制御部２ｂによって調整し、非接触式レーザ変位計２ｃで各温度での反りを測定する。 - 特許庁
  • One point on the calibration curve is the x-intercept value (namely, an estimated or experimental value for the logarithm of the minimum viable aerobic microbe count at a start (t_0) of testing in a sample effective for causing the sample to reach t_threshold substantially instantaneously upon a start of incubation).
    較正曲線上の一方の点は、ｘ切片値（すなわち、サンプルを培養の開始時に実質的に即時にｔ_閾値に達するようにさせるのに有効な、サンプル中の試験の開始時（ｔ_０）における最小生存好気性菌数の対数の推定値または実験値）である。 - 特許庁
  • Because a state of an analog input voltage value sample-and-held by a sample-hold circuit 4 and the pulse encode signal corresponds to one on one within limits of the resolution by quantization, the acquired pulse encode signal is transformed into data corresponding to the input voltage value by a cord transformation table 8.
    サンプルホールド回路４にサンプルホールドされたアナログ入力電圧値とパルスエンコード信号の状態は、量子化による分解能の範囲内で１対１に対応するため、得られたパルスエンコード信号をコード変換テーブル８により入力電圧値に対応したデータに変換する。 - 特許庁
  • The inverse interpolation 101 for selecting adjacent sample points from a target value (p) in an Lab space being an output color space and the measured value, performing an interpolation arithmetic operation by using the sample points of the output color space, and directly calculating the R, G, and B values in the input color space, is carried out.
    そして、出力色空間であるＬａｂ空間で目標値ｐと上記測定値から近傍サンプル点を選択し、これら出力色空間のサンプル点を用いて補間演算を行い、入力色空間におけるＲ，Ｇ，Ｂ値を直接求める逆補間（１０１）を行う。 - 特許庁
  • The transmission circuit transmits only the start part of the sample string up to a point that continues to be equal to a reference value and also transmits a designator being a 'transmission end' after the transmitted final sample.
    上記送信回路は、参照値に等しくなり続けるポイントまでのサンプルの列の開始部のみを、送信すると共に、送信した最後のサンプルの後に“送信の最後”なる指示子を送信するように構成されている。 - 特許庁
  • An edge neighborhood focus determination part 353 determines a focused sample image at the pixel based on changes with changes of the focus position of a lightness value for every neighboring pixel of edge parts in each sample image.
    エッジ近傍合焦判定部３５３は、エッジ部分の近傍画素の各標本画像それぞれにおける輝度値の焦点位置の変位に伴う変化をもとに、この画素における合焦位置の標本画像を判定する。 - 特許庁
  • The detected difference between liquid surface height and suction height H3 is calculated by a control part (control means), and when this difference is larger than an upper limit value, a sample is determined as being excessive, and the dispensation of the sample is stopped.
    検知された液面高さと吸引高さＨ３との差を制御部（制御手段）により算出し、この差が浸漬上限値より大きい場合には、サンプル量が過剰であると判断し、サンプル分注を止める。 - 特許庁
  • When the single sample of the waveform corresponds to a dot as a minimum unit of display in judgment processing of S6 (S6: No), on the other hand, display data 17a are generated with the amplitude value of the sample (S8).
    一方、Ｓ６の判断処理において、表示の最小単位であるドットに対して波形のサンプルが単数のサンプルに対応する場合（Ｓ６：Ｎｏ）は、そのサンプルの振幅値で表示データ１７ａを形成する（Ｓ８）。 - 特許庁
  • In a method for inspection of a sample, upon calculating sharpness strength by using an estimated value of height information of the sample achieved from height information of design data or an image, the image quality improvement treatment of the captured image is performed by using the sharpness strength.
    設計データの高さ情報または画像から求めた試料の高さ情報の推定値を用いて鮮明化強度を計算し，該鮮明化強度を用いて撮像画像の画質改善処理を行う。 - 特許庁
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