「sample-data technique」を含む例文一覧(4)
- Threshold data are prepared by calculating a threshold and decision masking data from the psychoacoustic parameters for the satisfactory product sample data and the pseudo-satisfactory product data by a statistical technique.
良品サンプルデータと擬似良品データの心理音響パラメータから統計的手法で閾値と判定マスキングデータを算出して閾値データを作成。 - 特許庁 - To provide a method of comparatively determining the amount of the RNA of which the expression frequency can be measured between multiple tissues by simple operation, reusing the same samples and obtaining a large amount of data with small amounts of sample specimens and can measure the gene fragments other than the 3'-terminus through the ATAC technique.
簡略な操作、同一サンプルの再利用、少量サンプルで大量データ得られ、３’末端以外の遺伝子断片についてもＡＴＡＣ法による測定ができ、多組織間の発現頻度の測定が可能なＲＮＡ量の比較検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.
Ｘ線管から出射されたＸ線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするＸ線回折分析技術を提供する。 - 特許庁 - In the electron beam-plotting technique for independently turning on and off each of a plurality of electron beams for scanning to plot a desired pattern on a sample, the deviation between a pattern that is plotted by each of the plurality of electron beams and the desired pattern to be plotted is controlled by shifting the position of pattern data that are drawn by each of the plurality of electron beams.
複数の電子ビームの各々を独立にオンオフし走査して試料上に所望のパターンを描画する電子ビーム描画方法において、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンと描画すべき前記所望のパターンとのずれを、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンのパターンデータの位置をシフトすることにより制御する。 - 特許庁
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