A sample-hold circuit 20 is set at a sample mode, when the second input terminal 52 is on and current difference between the drive current ILD and a fixed current IM is sampled, thus determining a bias current IC. 第2の入力端子52がオンのときサンプルホールド回路20をサンプルモードに設定し、駆動電流ILD と固定電流IM との電流差をサンプリングし、バイアス電流IC に定める。 - 特許庁
The sample, which is set at the analysis position by movements of the rotating cap 204 supporting the sample stage 102 and the moving plate 206 supporting the rotating cap 204, is rotated by the rotating stage. サンプルステージ102を支持する回転キャップ204と回転キャップ204を支持する移動プレート206の移動により分析地点に一致されたサンプルは回転ステージにより回転される。 - 特許庁
A jump source address and a jump destination address are set in a truck address RAM 118 at the suitable point of time while sample data is read out by one sample at a time from SDRAMs 64 and 66. SDRAM64,66からサンプルデータを1サンプルずつ読み出している最中の適宜の時点でトラックアドレスRAM118にジャンプ元アドレスとジャンプ先アドレスを設定する。 - 特許庁
Furthermore, the second sheath solution introducing flow channel 12 meeting with the sample solution introducing flow channel on the downstream side is set so that the upper surface thereof may be positioned on the same plane as the base of the sample solution inlet flow channel 10. また、下流側で合流する第2のシース液導入流路12は、その上面がサンプル液導入流路10の底面と同一平面上に位置するようにする。 - 特許庁
This liquid dispensing device 10 dispenses a liquid sample of a volume set beforehand onto a sample plate by controlling driving of a dispensing element 20 for discharging a droplet. 本発明の液体分注装置10は、液滴を吐出する分注素子20の駆動を制御することにより予め設定された容量の液体試料をサンプルプレートに分注する。 - 特許庁
According to contents selected or set by the user, the computer automatically creates a sample inspection/measurement program, and executes the created sample program to display results. コンピュータは、ユーザが選択あるいは設定した内容に基づいて自動的に検査・計測用のサンプルプログラムを作成し、さらに作成されたサンプルプログラムを実行して結果を表示する。 - 特許庁
To input sample data corresponding to a prescribed set item related with print quality(the result of a printed matter) to a printer in order to print a sample picture prior to printing. 印刷前に、サンプル画像を印刷するため、印刷品質(印刷物の出来栄え)に関する所定の設定項目に対応したサンプルデータをプリンタに入力することを可能とする。 - 特許庁
A mass spectrum of a patient as a measured sample is obtained, and a mass spectrum where a new ion other than the precursor ion of the reference sample selected from the former mass spectrum is set as a precursor ion is obtained ((g) to (k)). 測定対象試料である患者のマススペクトルを得てこのマススペクトルから基準試料の前駆イオン以外の新たなイオンを前駆イオンとしてそのマススペクトルを取得する((g)〜(k))。 - 特許庁
To enable a user to visually recognize a sample gate which is set in three-dimensional space and to grasp a position, size and shape of the sample gate particularly in relation to the tissue. 三次元空間内に設定されたサンプルゲートをユーザーが視覚的に認識できるようにし、特に、組織との関係において、サンプルゲートの位置、大きさ、形状などを把握できるようにする。 - 特許庁
When setting a photographing mode, the sample image 103 corresponding to the object to be photographed is selected and based upon a parameter corresponding to the sample image 103, the image pickup conditions are set. 撮影モードの設定時には、撮影しようとする被写体に応じた見本画像103を選択させ、見本画像103に対応するパラメータに基づき撮像条件を設定する。 - 特許庁
The sample 39 is set into the magnetic dipole magnetic field and irradiated with high frequency by an RF coil 20 to make magnetic moment of the sample 39 magnetically resonant. 磁気双極子磁場中に試料39がセットされ、RFコイル20により試料39に高周波が照射されることで、試料39の持つ磁気モーメントが磁気共鳴する。 - 特許庁
The vibration frequency is thus determined based on information about the sample container and the sample solution so as to accurately set the vibration conditions for shortening the equilibrium arrival time. これにより、試料容器や試料液に関する情報に基づいて振動数を定めることにより、平衡到達時間が短くなる振動条件を的確に設定することができる。 - 特許庁
The surface roughness of the analyzing surface of a measuring sample and that of a part, which comes into contact with the analysis surface of the measuring sample, of an emission stage 5 are respectively set to Rmax≤10 μm. 測定試料の分析面の表面粗度及び、発光ステージ5がこの測定試料の分析面に接触する部分の表面粗度をいずれもRmax≦10μmの平滑面とする。 - 特許庁
A transmittance measuring section irradiates a sample which is set at a transmittance measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light transmitted through the sample and outputs a transmitted light detection signal. 透過測定部は、透過測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を透過したテラヘルツパルス光を検出して透過光検出信号を出力する。 - 特許庁
A quantity of a sample and its constant volume need to be set so that the HCB concentration of the measurement sample calculated on the basis of the quantitation limit should be a value less than one-tenth the BAT level.
定量限界から算出される試料中HCB濃度がBATレベルの1/10以下の値となるように、試料量、定容量等を設定することが必要である。 - 経済産業省
A quantity of a sample and its constant volume need to be set so that the HCB concentration of the measurement sample calculated on the basis of the quantitation limit should be a value less than one-tenth the BAT level.
定量限界から算出される試料中HCB濃度がBATレベルの1/10以下の値となるように、試料量及び定容量などを設定することが必要である。 - 経済産業省
Under the condition that five kinds of tests are supposed to be conducted for the third sample from the head of a sample rack 21, when an error indicating a shortage of the sample occurs at the third test, an analysis status flag of "under inspection/abnormal" is set for the test, and an analysis status flag of "under inspection/normal" is set for the tests therebefore. サンプルラック21の先頭から3番目のサンプルについて5種類のテストを行うように受け付けられていたが、3番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中/異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中/正常」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁
The ventilation time setting means 10 is constituted so that the corresponding ventilation time is selected from among the ventilation times for every capacity of the pre-set sample container according to the capacity of the sample container to be subjected to the ventilation treatment, and the ventilation time is set to the automatic sampler. 通気時間設定手段10は通気処理を行なう試料容器の容量に応じて予め設定された試料容器の容量ごとの通気時間の中から該当する通気時間を選択して設定するように構成されている。 - 特許庁
When a conductor sample 7 is observed, both the yokes 15b1, 15b2 are set as earth electric potential, and when an insulator sample 7 is observed, the upper yoke 15b1 is floated on negative high voltage, and the lower yoke 15b2 is set as earth voltage. 導電体試料7を観察する場合は、両ヨーク15b_1,15b_2ともアース電位に設定し、また絶縁体試料7を観察する場合は、上側ヨーク15b_1を負の高電圧に浮かせ、下側ヨーク15b_2をアース電圧に設定する。 - 特許庁
A protocol and a destination IP address are fixedly set to an attribute being commonly set between the rules, a combination of the source IP address and the source port number is sequentially changed and set to each of the selected sample points, and a verification packet which is set by sequentially changing a destination port number for each sample point within a suitable range is sequentially generated. プロトコルと終点IPアドレスを前記ルール相互間で共通に設定されている属性に固定設定し、かつ始点IPアドレスと始点ポート番号の組み合わせを前記選択された各サンプル点に順次変化させて設定し、かつ該サンプル点ごとに終点ポート番号を適宜の範囲で順次変化させて設定した検証パケットを順次発生する。 - 特許庁
In a charged particle beam system for measuring the line width or the like of a pattern formed on a sample based on secondary electrons emitted from a sample by scanning on the sample with a charged particle beam, interval of the scanning line of the charged particle beam is set not to exceed an irradiation density determined based on the physical properties of the sample. 荷電粒子線を試料上で走査し、試料より放出された二次電子に基づいて、試料上に形成されたパターン等の線幅等を測長する荷電粒子線装置において、試料の物性に基づいて決定される照射密度を上回らないように前記荷電粒子線の走査線間隔を設定する。 - 特許庁
To set freely a dilution ratio when a sample component fractionated by one-dimensional analysis is guided to a trap column. 1次元目の分析で分画された試料成分をトラップカラムへ導く際の希釈率を自由に設定できるようにする。 - 特許庁
To increase the operating rate of cataphoresis separation, and to set a separation buffer liquid and cataphoresis conditions for each sample. 電気泳動分離の稼働率を上げるとともに、分離バッファ液や電気泳動条件を試料ごとに設定できるようにする。 - 特許庁
When the flag is set, a start permission signal outputting means outputs a signal indicating the analysis start permission of the sample. フラグの設定を条件に、開始許可信号出力手段は試料の分析開始許可を示す信号を出力する。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope of which the fine movement range of the scanning mechanism is properly set against the topology of a sample. 走査機構の微動範囲が試料の表面形状に対して適切に設定される走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test. 熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁
A modulation amplitude for frequency-modulating the laser light is set to a1 (<a2) (S1), and the sample cell is irradiated with the laser light in the state. レーザ光を周波数変調する変調振幅をa1(<a2)に設定し(S1)、その状態でレーザ光をサンプルセルに照射する。 - 特許庁
Then the system analyzes the sample and determines a set of parameter values representing a voice signal before being distorted by the channel. そして、システムは、そのサンプルを解析し、チャンネルによって歪まされる前の音声信号を表すパラメータ値のセットを決定する。 - 特許庁
To enhance the rate of operation of electrophoretic separation and to set a separation buffer liquid or an electrophoretic condition at every sample. 電気泳動分離の稼働率を上げるとともに、分離バッファ液や電気泳動条件を試料ごとに設定できるようにする。 - 特許庁
In the analysis tool 1 having a sample liquid introduction opening 51, the capillary for moving the sample liquid introduced from the sample liquid introduction opening 51, and a window section 43 for verifying whether the sample liquid has reached the target site in the capillary or not, an optically opaque region is set between the sample liquid introduction opening 51 and the window section 43. 試料液導入口51を有し、かつこの試料液導入口51から導入された試料液を移動させるためのキャピラリと、キャピラリにおける目的部位に試料液が到達したか否かを確認するための窓部43と、を備えた分析用具1において、試料液導入口51と窓部43との間に、光学的に不透明な領域を設定した。 - 特許庁
The measured value is compared with a reference value of a quantity of light corresponding to a state without the sample container 52, and when a difference exceeds a predetermined threshold, it is determined that the sample container 52 is set. この計測値を、試料容器52が無い状態に対応した光量の基準値と比較し、その相違が所定の閾値を超えている場合には試料容器52がセットされていると判定する。 - 特許庁
The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported. 集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料1をブロック状に切り出し、その試料ブロック(バルク)4を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ5に接触させて支持する。 - 特許庁
The other sample is a color sample 12 for indicating the upper bound of the filling quantity of ink 5 and is set to have the same color as the color of an ink occluding body 4 under the state that the filling quantity of the ink shows the predetermined upper bound value. 他方は、インク充填量の上限を示す色見本12であり、インク5の充填量が所定の上限値であるときのインク吸蔵体4の色と同じ色に設定されている。 - 特許庁
The stacked sequence of the sample holding containers is sent from the rotary carousel into a chute 20, where the sample holding containers come into contact with one set of rotary members 30 and 32 each having a helically threaded part 31. 回転カルーセルからの試料保持容器の積層列はシュート20に送り込まれ、そこで試料保持容器は、ヘリカルねじ切り部31を有する一組の回転部材30、32と接触する。 - 特許庁
When analyzing a sample, before introducing each sample into the detection cell 12, first of all, a frequency (frequency before measurement) f0 corresponding to the same set current is stored similarly in the memory 21. 試料を分析する際は、各試料を検出セル12に導入する前に、まず、同じ設定電流に対応する周波数(測定前周波数)f0を同様にメモリ21に記憶させておく。 - 特許庁
Thus, a movement of the observation visual field due to the inclination of the sample is corrected, even when the sample is not set at a standard height position to enable an observer to observe a screen without visual field movement. この結果、試料が基準高さ位置にセットされていない場合でも試料の傾斜による観察視野の移動は補正され、観察者は視野移動のない画面を観察することができる。 - 特許庁
An irradiation positions of the plurality of primary electron beams on the sample are set in accordance with a repetition pattern interval of the sample for the inspection, and repetition pattern images of the comparison object are obtained at the same time. 前記複数一次電子ビームの試料上の照射位置を前記被検査試料の繰り返しパターン間隔に合わせて設定して、比較対象の繰り返しパターン画像を同時に取得する。 - 特許庁
An electron beam irradiation system with a different axial direction from an ion beam irradiation system are set up in the same sample room, and an observation is carried out with the electron beam irradiation system in the sample room under low-vacuum atmosphere. イオンビーム照射系と軸方向を異にした電子ビーム照射系を同一試料室内に設け、該試料室を低真空雰囲気にして該電子ビーム照射系で観察するようにした。 - 特許庁
One sample is a color sample 10 for indicating the lower bound of the filling quantity of ink 5 and is set to have the same color as the color of an ink occluding body 4 under the state that the filling quantity of the ink shows the predetermined lower bound value. 一方は、インク充填量の下限を示す色見本10であり、インク5の充填量が所定の下限値であるときのインク吸蔵体4の色と同じ色に設定されている。 - 特許庁
When a maximum power demand generating time is not included in the sample time, error-processing is conducted, and the sample time is set again to include the maximum power demand generating time to be recomputed. 標本時間に最大需要電力発生時刻が含まれていなかった場合、エラー処理し再度標本時間を最大需要電力発生時刻が含まれているように設定し再演算する。 - 特許庁
In the documentation management location information extraction device 1, a retrieval condition extraction section 21 extracts a retrieval condition from sample information 10 set in a sample information database 20 beforehand. 文書管理場所情報抽出装置1において、検索条件抽出部21は、標本情報データベース20に予め設定された標本情報10から検索条件を抽出する。 - 特許庁
Laser beam is emitted from a laser oscillator 5a to irradiate the high temperature sample 7, which is set to the lower end of an irradiation cell 6 so as to hold a metal seal between the irradiation cell and the sample, through reflecting mirrors 5d and 5b and a lens 5c. レーザ光が、レーザ発振器5aから放射され、反射鏡5d、5b、レンズ5cを介して、照射セル6の下端にメタルシール11を挟んでセットされた高温の試料7に照射される。 - 特許庁
A reflection measuring section irradiates a sample, which is set at a reflection measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light reflected by the sample and outputs a reflected light detection signal. 反射測定部は、反射測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を反射したテラヘルツパルス光を検出して反射光検出信号を出力する。 - 特許庁
An electrode 12 having a function for generating high frequency plasma and a sample holder 16 for storing a sample 14 of the object of etching treatment are set in an etching chamber 10, and a solid source 18 for etching gas is also arranged on the sample holder 16. エッチングチャンバ10には、高周波プラズマを発生させる等の機能を有する電極12と、エッチング処理の対象となるサンプル14を保持するサンプルホルダ16とが設置され、またサンプルホルダ16の上にはエッチングガス用の固体ソース18も配置されている。 - 特許庁
To obviate washing for a tool used for injection of a sample liquid, to quantitatively introduce the sample liquid into a flow passage even in a very small amount of the sample liquid, and to precisely set a liquid feed velocity. 試料液体の注入に用いる用具の洗浄が不要であり、また試料液体が極少量であっても、試料液体を定量的に流路に導入でき、更に、精度良く送液速度などを定めることができる試料導入方法を提供する。 - 特許庁
The method for detecting Megabalanus rosa larva includes performing PCR using a Megabalanus rosa detection primer set containing oligonucleotides having specific base sequences for a test sample, and then determining whether Megabalanus rosa at nauplius larvae exist in the test sample by the absence or absence of the amplification of a gene in the test sample. 被験試料に対し特定の塩基配列からなるオリゴヌクレオチドを含むアカフジツボ検出用プライマーセットを用いてPCRを行い、被験試料の遺伝子増幅が生じたか否かにより被験試料にアカフジツボ幼生が存在していたか否かを判定する。 - 特許庁
To move a sample probe to a sample suction position set outside a housing, when seen from above, without having to provide an opening to the side surface of a protective cover, in an autoanalyzer equipped with a protective cover for covering the upper and lateral parts of the moving range of a sample-dispensing mechanism. 試料分注機構の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバーを備えた自動分析装置において、保護カバーの側面に開口を設けることなく、上方から見て筐体の外の筐体外試料吸引位置に試料プローブを移動させる。 - 特許庁
A sample having known fiber orientation angle or/and fiber orientation strength is set as the sample for calibration, and the measured data by the fiber orientation measuring device to be calibrated is calibrated by measuring the fiber orientation angle and fiber orientation strength of this sample for calibration. 繊維配向角または/および繊維配向強度が既知のものを較正用試料とし、この較正用試料の繊維配向角と繊維配向強度を測定することにより較正対象となる繊維配向測定装置による測定データを較正する。 - 特許庁
The displacement object of the autofocus mechanism is set to the surface (4) of the sample, displacement quantity from a reference point on the surface of the sample is measured, and a displaced point is set as the acting point of the control of the autofocus mechanism, thereby controlling the focus of the objective (6) of the optical device. そして、オートフォーカス機構の変位対象物を試料表面(4)に設定し、試料表面の基準点からの変位量を測定し、変位した点をオートフォーカス機構の制御の動作点として光学装置の対物レンズ(6)の焦点を制御する。 - 特許庁
When a necessary and sufficient amount is supplied to the third sample and analysis is conducted after resetting the sample rack 21 on a rack set lane 22, analysis is conducted only for the samples for which analysis status flags of "under inspection/abnormal" or "uninspected" are set. 3番目のサンプルに対して必要かつ十分な量が供給され、サンプルラック21をラックセットレーン22にセットしなおして分析を行うと、直ちに「検査中/異常」又は「未検査」の分析状態フラグが立てられたサンプルのみについて分析が行われる。 - 特許庁