「sample」を含む例文一覧(30668)
＜前へ 1 2 .... 60 61 62 63 64 65 66 67 68 .... 613 614 次へ＞- METHOD FOR TESTING CONCRETE, AND MOLD FOR SAMPLE
コンクリートの試験方法および供試体用型枠 - 特許庁 - TRANSPARENT SAMPLE ILLUMINATING METHOD AND ILLUMINATOR
透明試料の照明方法および照明装置 - 特許庁 - OBSERVING METHOD AND OBSERVING DEVICE FOR SAMPLE SUBSTANCE
試料物質の観察方法および観察装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING CHICKEN-ORIGINATED INGREDIENT IN SAMPLE
試料中の鶏由来成分の検出方法 - 特許庁 - SAMPLE DISH SUPPORT AND MOISTURE METER WITH THE SAME
試料皿支持具及びそれを備えた水分計 - 特許庁 - GASEOUS SAMPLE INTRODUCING DEVICE OF MASS SPECTROSCOPE
質量分析装置の気体試料導入装置 - 特許庁 - PRETREATMENT METHOD OF SAMPLES AND SAMPLE HOLDING MEMBER
試料の前処理方法および試料保持部材 - 特許庁 - The inputted sample data of plural recording channels are successively written in respective relevant banks of the SDRAMs 64, 66 one sample by one sample in one sampling period, while successively switching the bank at every one sample in time division.
入力される複数の記録チャンネルのサンプルデータを、１サンプリング周期内で１サンプルずつ、１サンプルごとに順次バンクを切り換えてＳＤＲＡＭ６４，６６の各該当するバンクに時分割で書き込む。 - 特許庁 - PROCESSING DEVICE FOR SAMPLE AND PROCESSING METHOD THEREFOR
試料の処理装置及び試料の処理方法 - 特許庁 - EXAMINATION SAMPLE COLLECTING METHOD AND STOOL COLLECTING CONTAINER
検査試料採取方法および採便用容器 - 特許庁 - DRY ETCHING METHOD AND APPARATUS FOR TEST SAMPLE
試料のドライエッチング方法及びドライエッチング装置 - 特許庁 - AUTOANALYZER AND BLOOD SAMPLE ANALYZING METHOD
自動分析装置および血液サンプル分析方法 - 特許庁 - The sample temperature controller is equipped with a sample base 100 on which a cultivation container 150 in which an observation sample 162 is laid is mounted and a temperature controlling element 103 which is attached to the sample base 100.
試料温度調節装置は、観察試料１６２を入れた培養容器１５０が載せられる試料台１００と、試料台１００に取り付けられた温度調節素子１０３とを備えている。 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び測定装置 - 特許庁 - To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.
ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SUPPLYING PAPER SAMPLE
ペーパーサンプルの供給システムおよび供給方法 - 特許庁 - The thermostatic device for testing includes a sample placement section 2 and a trestle 3.
試料配置部２と、架台３とからなる。 - 特許庁 - SAMPLE CONDITIONER FOR MEASUREMENT PARTICLE IN OIL
油中の粒子測定用試料調整装置 - 特許庁 - In the sample storing method, a sample is inserted from the opening of the sample storing sheet, the exfoliation sheet on the flap (6) is exfoliated so as to expose the adhesive face, and the sample is sealed by folding and bonding the flap (6).
サンプル保管用シートの開口部からサンプルを挿入し、フラップ部（６）の剥離ライナーを剥がして粘着面を露出し、フラップ部（６）を折り倒して貼り合わせてサンプルを閉じ込めるサンプル保管方法。 - 特許庁 - The supporting body 16 is arranged in the measurement pipe 4, and supports each sample plate so that a tube-shaped sample pipe is formed by a sample plate S formed of a plurality of flat plate-shaped sample materials.
支持体１６は測定管４内に配置され、複数の、平板状のサンプル材料からなるサンプル板Ｓにより管状のサンプル管が形成されるように、それぞれのサンプル板を支持する。 - 特許庁 - SAFE TRANSPORTATION BOX FOR MEDICAL INSTRUMENT AND SAMPLE
医療器具および検体用の安全輸送ボックス - 特許庁 - METHOD FOR COMPRESSION-FORMING SOIL SAMPLE, AND PRESSING MACHINE
土壌サンプル圧縮成形方法及びプレス機 - 特許庁 - PRODUCT SAMPLE DISPLAY DEVICE IN VENDING MACHINE
自動販売機における商品見本展示装置 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE FOR ELECTRON-MICROSCOPIC OBSERVATION
電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE PROCESSING METHOD
荷電粒子ビーム装置及び試料加工方法 - 特許庁 - MERCHANDISE SAMPLE EXHIBITING DEVICE FOR VENDING MACHINE
自動販売機における商品見本展示装置 - 特許庁 - SAMPLE PROCESSING INSTRUMENT AND IN PARTICULAR AN AUTOMATIC ANALYZER
サンプル処理装置および特に自動分析装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAMPLE
荷電粒子線装置及び試料作製方法 - 特許庁 - Please test with the sample I passed over.
私が渡したサンプルでテストをお願いしたいです。 - Weblio Email例文集 - Also, would it be possible to have you send us a sample?
また、サンプルを送って頂く事は出来ますか？ - Weblio Email例文集 - It is not necessary for you to send that sample.
あなたはそのサンプルを送付する必要はない。 - Weblio Email例文集 - 90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡用９０°変換試料台 - 特許庁 - The microscope body 3 has a sample stage 2.
顕微鏡本体３は試料ステージ２を有する。 - 特許庁 - SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁 - RANDOM SAMPLE TIMING METHOD AND SYSTEM USING IT
ランダムサンプルタイミング法及びこれを使用するシステム - 特許庁 - MULTI-SAMPLE READ CIRCUIT HAVING TEST MODE OPERATION
テストモード動作を有するマルチサンプル読み出し回路 - 特許庁 - SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁 - LIQUID CHROMATOGRAPHY DEVICE AND SAMPLE INTRODUCTION METHOD
液体クロマトグラフィーデバイス、及び試料導入方法 - 特許庁 - To enable a sample tube rack to fit respective sample tubes which have different lengths and diameters, without adversely a function of placing or taking out of the sample tubes into or from a sample tube rack.
試料管架内への試料管の装入及び取出しの能力に悪影響を及ぼさないで、異なる長さ及び直径を持つ各試料管に適合できる試料管架を提供することにある。 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF METAL ELEMENT IN PLASTIC SAMPLE
プラスチック試料中金属元素の分析方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR COLLECTING SAMPLE FROM FLUID FLOW
流体流からのサンプル採集方法と装置 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION
電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁 - The sample piece is thinned with a laser.
そして、試料片をレーザーによって薄膜化する。 - 特許庁 - An interpolation sample generation part 9 generates an interpolation sample signal on the basis of the specification result and a frequency sample signal, and a waveform shape estimating part 8 estimates a waveform shape of the interpolation sample signal.
この特定結果と周波数サンプル信号とに基づき、補間サンプル生成部９は補間サンプル信号の生成を行い、波形概形推定部８は補間サンプル信号の波形概形を推定する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE STAGE THEREFOR
走査型プローブ顕微鏡およびその試料ステージ - 特許庁 - To provide a sample analysis system, having a structure capable of simply collecting a sample from an analyzing target to properly preserving the same, and of properly analyzing the sample without causing the sample to deteriorate.
分析対象から試料を簡単に採取して良好に保存することができ、この試料を変質させることなく良好に成分分析することができる構造の試料分析システムを提供する。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER AND SPACER FOR USE THEREIN
試料ホルダーおよび該試料ホルダーに用いるスペーサー - 特許庁 - METHOD FOR CLASSIFYING MICROORGANISM IN BIOLOGICAL SAMPLE
生体サンプル中の微生物を分類する方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF SAMPLE SOLUTION BY USING BIOSENSOR
バイオセンサーを用いた試料溶液の測定方法 - 特許庁 - ION BEAM PROCESSING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE
イオンビーム加工装置および試料作製方法 - 特許庁
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