To evaluate the insulation performance of a sample, in a short time. 試料の絶縁性能の評価をより短時間で行なう。 - 特許庁
METHOD FOR INVESTIGATING LOCALLY EXISTING MODE OF FLUORESCENCE OF FLUORESCENT SAMPLE 蛍光試料の蛍光の局在態様を調べる方法 - 特許庁
The whole sample cell is irradiated with the expanded light beam. 拡大された光ビームは試料セル全体に照射される。 - 特許庁
This sample grid is made of a heavy element such as Ag or Mo.
この試料グリッドは、AgまたはMoの重元素で作られる。 - 科学技術論文動詞集
The position signal P of the light beam is detected on the sample 10. 標本10の上で光ビームの位置信号Pも検知される。 - 特許庁
SAMPLE CONCENTRATING DEVICE AND ORGANIC TRACE ELEMENT DETECTING DEVICE 試料濃縮装置及び有機微量成分の検出装置 - 特許庁
At least one of the sample holding parts 2Aa to 2Ad includes a plurality of sample holding circuits of different time constants. サンプルホールド部2Aa〜2Adの少なくとも1つは、時定数の異なる複数のサンプルホールド回路で構成されている。 - 特許庁
To provide a high speed sample-and-hold circuit including plural sample-and-hold circuits connected in parallel between an input and an output. 入力および出力間に並列接続された複数のサンプルホールドサブ回路を含む高速サンプルホールド回路。 - 特許庁
A sample 5 obtained by removing one substrate of the PDLC element is fixed with a sample holding mechanism 4. 高分子分散型液晶素子の一方の基板を除去して得られた試料5を試料保持機構4により固定する。 - 特許庁
The sample liquid supplied from the sample inlet 21 with a predetermined pressure is introduced into the internal atmosphere A of a case 2. サンプル入口21から所定の圧力をもって供給されたサンプル液は、ケース2の内部空間Aに導かれる。 - 特許庁
To provide a charged-particle beam apparatus unerringly displaying the figure of a sample bolder mounted on a sample stage. 試料ステージに取り付けられた試料ホルダの図形を誤りなく表示させる荷電粒子線装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope capable of improving the visibility of a sample when the position of the sample is visually confirmed. 試料の位置を目視で確認する際の試料の視認性を向上させることのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
Three-dimensional observation of the sample from all directions is ensured, irrespective of the shape of the sample, observing magnification and inclination angle. そして試料形状や観察倍率、傾斜角度によらず試料の全方向からの3次元観察が可能になる。 - 特許庁
When fitted to the sample support, the sample is subjected to the microanalysis in the vacuum chamber or loaded on a load station. サンプル支持体に装着されると、サンプルは、真空チャンバー内でマイクロ分析を受けるか、又はロードステーションにロードされる。 - 特許庁
To prevent the components of an optical system disposed under a stage from being stained by a sample or a sample culture solution. ステージの下方に配設された光学系部品が標本や標本培養液によって汚染されるのを防止する。 - 特許庁
SAMPLE TREATING DEVICE FOR HIGHLY SENSITIVE ANALYSIS OF IMPURITIES IN SILICEOUS SAMPLE TO BE ANALYZED, AND ANALYZING METHOD USING THE SAME 珪素質分析試料中の不純物高感度分析のための試料処理器及びそれを用いた分析方法 - 特許庁
To provide a sample container stand capable of stably holding a sample container such as a blood collecting tube or the like in an upright posture. 採血管などの試料容器を直立した姿勢で安定して保持しうる試料容器スタンドを提供すること。 - 特許庁
To fix a sample with an arbitrary shape and thickness regardless of the shape and thickness of the sample in an X-ray diffraction device. X線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF EVALUATION SAMPLE, ANALYZING METHOD, PRODUCTION METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT AND EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING APPARATUS 評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁
A heater 108 heats the thin-film sample 107 so as to give a temperature difference between a central part and a peripheral part of the thin-film sample. ヒーター108は、薄膜試料107を、中心部分と周辺部分とに温度差を与えるように加熱する。 - 特許庁
To provide a sample purifying apparatus and a sample purifying method capable of shortening working time and reducing costs. 作業時間を短縮することができ、コストを削減することのできる試料精製装置および方法を提供する。 - 特許庁
To provide an excellent TEM sample, an observation method of TEM and a TEM sample structure. 優れたTEM試料の作製方法、TEM観察方法及びTEM試料構造を提供することを課題とする。 - 特許庁
To improve separability of sample gas collected by a collection agent, and to send high-concentration sample gas, in a short time. 捕集剤に捕集した試料ガスの分離性を向上させ且つ短時間で高濃度の試料ガスを送出する。 - 特許庁
METHOD OF MEASURING CONTENT OF CIRCULATING CARBON IN SAMPLE, AND METHOD OF MEASURING THE CONTENT OF CIRCULATING CARBON SUBSTANCE IN SAMPLE 試料中の循環炭素含有量の測定方法及び試料中の循環炭素物質の含有率測定法 - 特許庁
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