METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD 半導体集積回路のスキャンテスト回路の設計方法、スキャンテスト回路、およびスキャンテスト方法 - 特許庁
SCAN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体デバイスのスキャンテスト方式 - 特許庁
CONICAL SCAN TRACKING METHOD AND DEVICE コニカルスキャン追尾方法及び装置 - 特許庁
SCAN CIRCUIT, AND ITS DESIGN METHOD スキャン回路及びその設計方法 - 特許庁
METHOD FOR PRESERVING SCAN DATA IN PC スキャンデータのPCへの保存方法 - 特許庁