「selection test」を含む例文一覧(270)

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  • TEST PATTERN SELECTION DEVICE AND TEST PATTERN SELECTION METHOD
    テストパターン選別装置及びテストパターン選別方法 - 特許庁
  • TEST CASE SELECTION METHOD AND SELECTION SYSTEM
    テストケースの選択方法及び選択システム - 特許庁
  • TEST PATTERN SELECTION APPARATUS, TEST PATTERN SELECTION MEANS, AND TEST PATTERN SELECTING PROGRAM
    テストパターン選択装置、テストパターン選択方法、及びテストパターン選択プログラム - 特許庁
  • MOUNTED CHIP TEST/SELECTION DEVICE
    実装チップ検査・選別装置 - 特許庁
  • TEST SELECTION METHOD AND TEST SELECTING APPARATUS
    試験選択方法および試験選択装置 - 特許庁
  • SELECTION METHOD OF VIDEO TEST SIGNAL
    ビデオ・テスト信号の選択方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TEST ROUTE SELECTION AND DEVICE THEREFOR
    試験ルート選定方法及び装置 - 特許庁
  • go successfully through a test or a selection process
    首尾よくテストや選考過程を通過する - 日本語WordNet
  • The carrier 2 used in the burn-in test is used in a selection test as well.
    また、選別試験時にもバーンイン試験時のキャリア２を用いる。 - 特許庁
  • TEST ITEM SELECTION METHOD AND SYSTEM, TEST ITEM SELECTION PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM THEREOF
    テスト項目選択方法およびシステム、ならびにテスト項目選択プログラムおよびその記憶媒体 - 特許庁
  • When a test selection signal S2 is inputted into a selection signal terminal (trigger terminal) of each selector of a test selection circuit part 7, the test selection circuit part 7 supplies a test signal inputted from a test selection signal generation part 6 to a data selection circuit part 3.
    テスト用選択回路部７の各セレクタの選択信号端子（トリガ端子）へテスト用選択信号Ｓ２を入力すれば、テスト用選択回路部７はテスト用選択信号生成部６から入力されるテスト用信号をデータ選択回路部３へ供給する。 - 特許庁
  • TEST SELECTION CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED THEREWITH
    テストセレクト回路およびそれを備える半導体装置 - 特許庁
  • IC TEST SYSTEM AND MINIMUM ADDRESS SELECTION METHOD
    ＩＣ試験システム及び最小アドレスの選出方法 - 特許庁
  • To reduce the labor of input or selection in test.
    テストにおける入力や選択の手間を削減する。 - 特許庁
  • Amniotic fluid test is just a selection of life.
    羊水検査は やっぱり 命の選別だと思うんです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To efficiently perform a stress test of a gradation selection circuit.
    階調選択回路のストレステストを効率的に行う。 - 特許庁
  • The LSI test apparatus includes a test unit, a determination unit, a selection unit, and a control unit.
    ＬＳＩ試験装置は、試験部と、判定部と、選択部と、制御部とを具備する。 - 特許庁
  • Selection is performed between an operation power source and a test power source.
    動作電源および検査電源間で選択を行なう。 - 特許庁
  • To test a word line selection circuit with a real time operation.
    リアルタイム動作で、ワード線選択回路のテストを行うこと。 - 特許庁
  • the selection structure requires a test for some condition
    選択構造では何らかの条件をテストする必要がある - コンピューター用語辞典
  • The test circuit 1 includes two selection circuits 2a, 2b.
    テスト回路１は、２つの選択回路２ａ、２ｂを備えている。 - 特許庁
  • AUDIBILITY TEST SYSTEM AND HEARING AID SELECTION SYSTEM USING THE SAME
    聴力検査システム及びこれを用いた補聴器選定システム - 特許庁
  • TEST CASE SELECTION DEVICE AND PROGRAM OF SOFTWARE SYSTEM
    ソフトウェアシステムのテストケース選択装置およびテストケース選択プログラム - 特許庁
  • FLASH MEMORY DEVICE PROVIDED WITH REDUNDANCY SELECTION CIRCUIT AND TEST METHOD
    リダンダンシ選択回路を備えたフラッシュメモリ装置及びテスト方法 - 特許庁
  • The test program 10 selects a real table to be used for the test based on a test procedure and gives an instruction to a data selection program 30 (S2).
    テストプログラム10は、テスト手順に基づいて、テストに使用する実テーブルを選択し、データ切替プログラム30に指示を出す（S2）。 - 特許庁
  • A test mode generating part 2 at least generates a test mode according to input selection from the outside.
    テストモード生成部２は外部からの入力選択に応じて少なくともテストモードを生成する。 - 特許庁
  • Thereby, the head test time can be shortened by performing the head selection test.
    これによって、ヘッド・セレクション・テストを実行することで、ヘッド・テスト時間を短縮することができる。 - 特許庁
  • To permit selection of a video test signal for a desired video format with a small number of operation times in a video test signal generator for a video apparatus.
    所望ビデオ・フォーマット用ビデオ・テスト信号を少ない操作で選択可能にする。 - 特許庁
  • The operation screen includes a test apparatus selection mode screen C for selecting the test apparatus and a test mode screen D for actually performing the verification test.
    この操作画面は、試験機器を選択するため試験機器選択モード画面Ｃと、実際に確認試験を実施する試験モード画面Ｄとで構成される。 - 特許庁
  • A test pattern conversion part 7 converts the test patterns and test vectors selected by the selection part 5 into test patterns for the LSI tester.
    そして、テストパターン変換部７は、変換テストパターン選択部５によって選択されたテストパターンおよびテストベクタをＬＳＩテスタ用テストパターンに変換する。 - 特許庁
  • To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.
    少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁
  • DEVICE AND PROGRAM FOR SUPPORTING SELECTION OF TRAVELING ROUTE FOR TEST RIDE OF TEST VEHICLE
    試乗車の試乗用走行路選定支援装置、及び試乗車の試乗用走行路選定支援プログラム - 特許庁
  • To reduce a selection process cost and a chip cost by shortening test time.
    テスト時間を短縮し、選別工程コストおよびチップコストを低減する。 - 特許庁
  • A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.
    制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁
  • An operator designates a test procedure by a test procedure selection switch prior to a test and inputs it into an effective axis selection table memory part 11 via an interface i/f 10.
    術者は検査に先立って検査手技選択スイッチ群９により検査手技を指定し、インターフェースｉ／ｆ１０を介して、有効軸選択テーブル記憶部１１に入力する。 - 特許庁
  • A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.
    テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁
  • This mounted chip test/selection device includes a rotation unit 1 used for carrying a plurality of mounted chips C, a chip test unit 2, and a chip selection unit 4.
    実装チップ検査・選別装置は、複数の実装チップＣを搬送するために用いる回転ユニット１と、チップテストユニット２と、チップ選別ユニット４とを備える。 - 特許庁
  • When an address signal indicating the selection of the test mode (K) is inputted to a selection signal generating circuit 20, the circuit 20 outputs a selection signal ZIN="L".
    選択信号発生回路２０は、テストモード（Ｋ）の選択を示すアドレス信号が入力されると、選択信号ＺＩＮ＝「Ｌ」を出力する。 - 特許庁
  • A test circuit 10 including a fuse for cut off test (parity fuse) 11 is provided in a redundant memory cell selection decoder 20.
    冗長メモリセル選択デコーダ２０に、切断試験用ヒューズ（パリティ・ヒューズ）１１を含むテスト回路１０を設ける。 - 特許庁
  • An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.
    個別ユーザーデータ挿入回路１は、テストモード設定／テストデータ生成回路１９からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁
  • In a test mode, pseudo input picture data S13a, a pseudo strobe signal S13b, and a test mode selection signal S13c are outputted from a test signal generating part 13.
    テストモードでは、テスト用信号発生部13から、擬似入力画像データS13a、擬似ストローブ信号S13b及びテストモードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁
  • Test data from a test data generation circuit 10 are alternatively supplied through a test channel selection circuit 12-1 to diffusion circuits 6-1 to 6-N and its diffusion output is derived through a test channel selection circuit 12-2 to a test data collation circuit 14.
    試験データ生成回路１０からの試験データを試験チャネル選択回路１２−１を介して拡散回路６−１〜６−Ｎに択一的に供給し、その拡散出力を試験チャネル選択回路１２−２を介して試験データ照合回路１４へ導出する。 - 特許庁
  • To realize simplifying screening (selection) of a defective memory cell in a probing test.
    プロービングテストにおける不良メモリセルのスクリーニング（選別）の簡便化を実現する。 - 特許庁
  • A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.
    変換テストパターン選択部５は、機能検証用テストパターン記憶部１に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁
  • To enhance operability at the time when switching optionally a state of selection/non-selection of a set item as to a test.
    試験に関する設定項目の選択／非選択の状態を任意に切替える際における操作性の向上を図る。 - 特許庁
  • The CPU 10 couples each of the test data in the selection order to generate combination test data of an entire software system.
    ＣＰＵ１０は、選択順に各テストデータを結合することにより、ソフトウェアシステム全体の組合せテストデータを、生成する。 - 特許庁
  • In the head selection test, the test data with the skewness is read out, it is confirmed whether read data is accurate or not.
    ヘッド・セレクション・テストは、スキューをもったテスト・データを読み出して、読み出したデータが正確なデータであるかを確認する。 - 特許庁
  • When a scan test mode signal designating the scan test mode is input, the selection circuit 15 masks the HW fixed key.
    スキャンテストモードを指定するスキャンモード信号が入力すると、モード選択回路１５は、ＨＷ固定鍵をマスクする。 - 特許庁
  • An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode.
    出力走査セル１０２は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号１２２を受ける。 - 特許庁
  • A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.
    テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁
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