「serial debug tool」を含む例文一覧(2)
- In this debug system, the integrated circuit device 20 of a target system 10 includes: a first clock generation circuit 70; and a first asynchronous communication control circuit 80 performing communication control for performing transmission/reception of debugging data with a pin reduction type debug tool by the asynchronous type serial data transmission with a clock generated by the first clock generation circuit 70 as an operation clock.
ターゲットシステム１０の集積回路装置２０は、第１のクロック生成回路７０と、第１のクロック生成回路で生成されたクロックを動作クロックとして、省ピン型のデバッグツールとのデバッグ用のデータの送受信を非同期式のシリアルデータ伝送で行うための通信制御を行う第１の非同期通信制御回路８０とを含む。 - 特許庁 - The pin reduction type debug tool 110 includes: a second clock generation circuit 170 generating a clock of the same baud rate as the first clock generation circuit; and a second asynchronous communication control circuit 180 performing communication control for performing transmission/reception of the debugging data with the target system by asynchronous type serial data transmission with the clock generated by the second clock generation circuit as an operation clock.
省ピン型のデバッグツール１１０は、第１のクロック生成回路と同じボーレートのクロックを生成する第２のクロック生成回路１７０と、 第２のクロック生成回路で生成されたクロックを動作クロックとして、前記ターゲットシステムとのデバッグ用のデータの送受信を非同期式のシリアルデータ伝送で行うための通信制御を行う第２の非同期通信制御回路１８０とを含む。 - 特許庁
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