「source test」を含む例文一覧(541)

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  • (6) Quality test of water source
    (6) 水源水質検査 - 厚生労働省
  • ELECTRIC SOURCE DEVICE AND TEST DEVICE
    電源装置、及び試験装置 - 特許庁
  • TEST LIGHT SOURCE AND OPTICAL TESTING SYSTEM
    試験用光源および光試験システム - 特許庁
  • Selection is performed between an operation power source and a test power source.
    動作電源および検査電源間で選択を行なう。 - 特許庁
  • TEST BOARD FOR TESTING CONTINUITY IN POWER SOURCE/GND TERMINAL
    電源／ＧＮＤ端子導通試験用テストボード - 特許庁
  • Blood test results are this great source of information.
    血液検査結果は莫大な情報資源です。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Programming can be performed on a chip in the test power source.
    検査電源はチップ上でプログラム可能である。 - 特許庁
  • LIGHT SOURCE APPARATUS, LIGHT SOURCE AND OPTICAL SYSTEM ASSOCIATED WITH AUTOMATED MICROBIOLOGICAL TEST
    自動化微生物学的試験に係る光源装置、光源及び光学系 - 特許庁
  • LIGHT SOURCE EQUIPMENT AND IMAGING DEVICE TEST EQUIPMENT HAVING THE SAME
    光源装置とこれを有する撮像素子検査装置 - 特許庁
  • A noncontact energy source such as a plasma source which urges the test place on the printed-circuit board and which is attached to the end part of the test head is included in the test head.
    テストヘッドには、プリント回路板のテスト場所を付勢するためテストヘッドの端部に取付けされたプラズマ源といった無接触エネルギ源が含まれている。 - 特許庁
  • The temporary power source device 19 supplies a test power source to the main circuit in this condition.
    仮設電源装置１９は、この状態で主回路に試験電源を供給する。 - 特許庁
  • A test system includes a signal source coupled to one or more capture/source channels.
    試験システムは、１つまたは複数のキャプチャ／ソース・チャネルに結合する信号ソースを含む。 - 特許庁
  • A signal source 1 has test power at a test frequency, and outputs a test signal obtained by removing a secondary harmonic component of a test frequency component.
    信号源１が試験用周波数で試験パワーを有し、かつ試験周波数成分の２次高調波成分を除去した試験信号を出力する。 - 特許庁
  • To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.
    ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁
  • A number of test pieces 2 are installed in a test tank 1 installing a lamp 4 as the light source.
    光源としてのランプ４が設置された試験槽１内に、多数の被試験体２が設置される。 - 特許庁
  • TFT-LCD SOURCE DRIVER WITH BUILT-IN TEST CIRCUIT
    テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ - 特許庁
  • To actualize source code debugging in the test operation of a microprocessor.
    マイクロプロセッサのテスト動作におけるソースコードデバッグを実現する。 - 特許庁
  • To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.
    半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁
  • To facilitate an operation margin test for an internal power source voltage.
    内部電源電圧に対する動作マージン試験の容易化を図る。 - 特許庁
  • A bias voltage is applied to the test piece 7 from a variable power source 11.
    可変電源１１から試料７にバイアス電圧を印加する。 - 特許庁
  • Provided are a test signal source 39 which generates the test signal of high frequency and a test signal supply circuit 23 which performs input switching.
    高周波のテスト信号を発生するテスト信号源３９および入力切換えを行うテスト信号供給回路２３を設ける。 - 特許庁
  • Right-click in the source and choose Test File from the pop-up menu.
    ソース内を右クリックし、ポップアップメニューから「ファイルをテスト」を選択します。 - NetBeans
  • The device uses a laser light source 10 in order to irradiate the test piece.
    該装置は試験物を照射するため、レーザ光源１０を使用する。 - 特許庁
  • When the operation power source is selected, the non-volatile memory is operated with an operation mode, when the test power source is selected, it is operated with a test mode.
    動作電源が選択された場合、不揮発性メモリを動作モードで動作させ、検査電源が選択された場合、検査モードで動作させる。 - 特許庁
  • ION SOURCE, ION BEAM PROCESSING-OBSERVING DEVICE, AND TEST PIECE CROSS-SECTION OBSERVATION METHOD
    イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法 - 特許庁
  • The each power source noise generation circuit is driven to apply an electric power source noise to the IP core 12 through the electric power source part, in a test mode.
    テストモード時に、電源ノイズ生成回路の各々は駆動されて電源ノイズを電源部を経てＩＰコアに印加する。 - 特許庁
  • The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.
    電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁
  • A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20.
    試験光源２０の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ（バンドパスフィルタ）２２を設置する。 - 特許庁
  • An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.
    本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • A test light source 42 outputs test light of the wavelength λa to the optical transmission line 24 and then outputs test light of the wavelength λb to the optical transmission line 24.
    テスト光源４２は、波長λａのテスト光を光伝送路２４に出力し、その後、波長λｂのテスト光を光伝送路２４に出力する。 - 特許庁
  • This device is provided with a power source line 34 supplying a power source to a test circuit 24 other than a power source 36 supplying a power source to a memory 30 and a terminal 20, and a terminal 2.
    メモリ３０に電源を供給する電源線３６および端子２０とは別にテスト回路２４に電源を供給する電源線３４および端子２を設ける。 - 特許庁
  • To provide a TFT-LCD source driver with a built-in test circuit.
    テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの提供。 - 特許庁
  • From this test result and records of entry into the rooms, the source of infection is specified (S15).
    この検査結果及び入室記録から感染源を特定する（Ｓ１５）。 - 特許庁
  • The master access point AP1 acquires a reception state of the test radio wave received by each access point 1 other than a transmission source access point every time transmission source access point transmits the test radio wave.
    アクセスポイント１からテスト用電波が発信される毎に、この発信元以外の各アクセスポイント１が受信したテスト用電波の受信状況を取得する。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR UNIFORMIZING LUMINOUS INTENSITY OF LIGHT SOURCE OF DIGITAL IMAGE TEST MEMBER, AND DEVICE AND METHOD FOR DIGITAL IMAGE HUE TEST USING IT
    デジタルイメージテスト部材の光源光度均一化装置及び方法と、これを用いたデジタルイメージ色相テスト装置及び方法 - 特許庁
  • At the time of burn-in test, an external power source voltage supply line 51 and internal power source voltage supply lines 53, 55 are connected.
    バーンイン試験時には、外部電源電圧供給線５１と、内部電源電圧供給線５３，５５とが接続される。 - 特許庁
  • A test device 100 includes a test tank 1 having an installation space 1a where a solar cell panel 3 is installed, a light source 2 disposed outside the test tank 1, and the like.
    試験装置１００は、太陽電池パネル３が設置される設置空間１ａを有する試験槽１、試験槽１外に配置された光源２等を有する。 - 特許庁
  • To standardize test density by creating a test item form by automatically extracting test items from a newly created source file including revision to be inputted.
    入力される改造を含む新規作成されたソースファイルから試験項目を自動抽出して試験項目票を作成することで試験密度を標準化する。 - 特許庁
  • To provide a test problem distributing system capable of easily acquiring a text serving as a source sentence for test problems and capable of automatically creating test problems, on the basis of the text.
    テスト問題の種文となるテキストを容易に取得でき、それを元にテスト問題を自動的に生成することができるテスト問題配信システムを提供すること。 - 特許庁
  • This evaluation device of a test piece is provided with: one fluid supply source 2 for supplying a reaction gas to test pieces 5A-5C; and a changeover valve 10 for selectively connecting the fluid supply source 2 to the respective test pieces 5A-5C.
    供試体５Ａ〜５Ｃに対して反応ガスを供給する一つの流体供給源２と、流体供給源２を各供試体５Ａ〜５Ｃに対して選択的に接続する切替弁１０とを備える。 - 特許庁
  • To provide a power source tester and a power source test method on vehicle-mounted electrical equipment for appropriately checking a phenomenon owing to a power source voltage.
    電源電圧に起因する現象確認を適切に行うことができる車載電装品の電源試験装置および電源試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pressure strength testing machine capable of performing a pressure strength test, even on a construction site where a driving source such as a power source or a pressure source cannot be secured.
    電源、圧力源等の駆動源を確保できない工事現場であっても、圧力強度試験を可能とする圧力強度試験機を提供すること。 - 特許庁
  • At the time of testing power source voltage variation, the sequence circuit 8 transmits a power source voltage change request signal to the power source voltage control circuit 10, and stops a test.
    電源電圧変動テスト時には、シーケンス回路８が電源電圧制御回路１０に電源電圧変更要求信号を伝達し、テストを中断する。 - 特許庁
  • The issued points are determined by a multiplying factor to a grade of each test decided in advance registered in the test information 112, and the multiplying factor is changed between when taking a test or the like wherein the taken test is a source issuing the points and when taking a test except the test.
    発行されるポイントは、試験情報１１２に登録されている事前に定められた各試験の点数に対する乗率により決定し、受験する試験がポイントを発行する元となった試験等と、それ以外の試験を受験する場合とで乗率を変化させる。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, MONITORING METHOD FOR VOLTAGE OF INTERNAL POWER SOURCE LINE, AND METHOD FOR DISCRIMINATING TEST MODE
    半導体装置、内部電源線の電圧のモニタ方法および試験モードの判別方法 - 特許庁
  • METHOD FOR RESEARCHING POLLUTION SOURCE OF SOIL OR GROUND WATER, AND TEST MEMBER USED FOR THE SAME
    土壌・地下水の汚染源の調査方法及び該調査方法に使用する供試部材 - 特許庁
  • REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF
    赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁
  • For examples, a source package folder cannot also be a test package folder for the same project.
    たとえば、ソースパッケージフォルダを同じプロジェクトのテストパッケージフォルダにすることはできません。 - NetBeans
  • An interference vector for the antenna under test is acquired when the signal source is disabled (24).
    内部信号源が不能にされた際に、被試験アンテナの干渉ベクトルを取込む（２４）。 - 特許庁
  • The radiation test system includes a daughter board, a mother board, a power source, a near end monitor, and a far end monitor.
    さらに放射線テストシステムはドーターボード、マザーボード、電源、ニヤエンドモニタ、ファーエンドモニタを含む。 - 特許庁
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