「source testing」を含む例文一覧(175)

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  • Testing J2ME Source Code
    J2ME ソースコードのテスト - NetBeans
  • POWER SOURCE TESTING DEVICE
    電源試験装置 - 特許庁
  • POWER SOURCE DEVICE, AND TESTING DEVICE
    電源装置及び試験装置 - 特許庁
  • LIGHT SOURCE FOR TESTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR
    固体撮像素子検査用光源 - 特許庁
  • POWER SOURCE DEVICE OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験装置の電源装置 - 特許庁
  • POWER SOURCE CONTROL PROCESS ACCELERATION TESTING DEVICE
    電源制御プロセス加速試験装置 - 特許庁
  • TEST LIGHT SOURCE AND OPTICAL TESTING SYSTEM
    試験用光源および光試験システム - 特許庁
  • LIGHT SOURCE TESTING SYSTEM AND METHOD
    光源テストシステム及び光源のテスト方法 - 特許庁
  • CONSTANT VOLTAGE POWER SOURCE CIRCUIT AND TESTING DEVICE
    定電圧電源回路および試験装置 - 特許庁
  • OSCILLATION DEVICE FOR AC MEASUREMENT INSTRUMENT TESTING POWER SOURCE
    交流計器試験電源用発振装置 - 特許庁
  • SEARCH DEVICE FOR ACOUSTIC SOURCE AND WIND TUNNEL TESTING DEVICE
    音源探査装置及び風洞試験装置 - 特許庁
  • ELECTRIC SIGNAL AND POWER SOURCE SUPPLY TESTING SUBSTRATE
    電気信号及び電源供給試験基板 - 特許庁
  • This testing device 2 is employed for testing a DUT 1 which performs source synchronous transmission.
    試験装置２は、ソースシンクロナス伝送を行うＤＵＴ１を試験する。 - 特許庁
  • TEST BOARD FOR TESTING CONTINUITY IN POWER SOURCE/GND TERMINAL
    電源／ＧＮＤ端子導通試験用テストボード - 特許庁
  • The testing system includes a testing signal source, the socket, a signal sensing unit, a fixing element, and an analysis unit.
    テスト信号源、ソケット、信号検出部、固定部品、及び分析ユニットが含まれる。 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR TESTING WAVELENGTH VARIABLE SEMICONDUCTOR LASER, AND METHOD FOR TESTING COHERENT LIGHT SOURCE
    波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC TESTING DEVICE OF STANDBY POWER SOURCE FOR FIRE ALARM SYSTEM
    火災報知設備における予備電源の自動試験装置 - 特許庁
  • METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN
    半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁
  • This machine uses laser light source for irradiating the testing object.
    該装置は試験物を照射するため、レーザ光源を使用する。 - 特許庁
  • RAY PATH TESTING SYSTEM AND LIGHT SOURCE POWER LEVEL MONITORING METHOD
    光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法 - 特許庁
  • The multiplexer connected to the testing voltage source receives an enable signal from the BIST unit, and the testing voltage source outputs the testing voltage, on the basis of the enable signal.
    テスト電圧源に接続したマルチプレクサがＢＩＳＴ装置からイネーブル信号を受信し、イネーブル信号に基づいてテスト電圧源がテスト電圧を出力する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING DRIVING SOURCE OUTPUT TRANSMISSION BODY FOR VEHICLE
    車両の駆動源出力伝達体の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING STABILIZED POWER SOURCE IN INTEGRATED CIRCUIT
    集積回路中の安定化電源を試験するための方法および回路 - 特許庁
  • POWER SOURCE UNIT AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
    電源ユニット、半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁
  • The source of the virus was traced back... to drug testing done at gensys laboratories in san francisco.
    ウィルスの起源は サンフランシスコの ジェンシ製薬会社の研究室です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • If the testing strategy changes, there is no need to change the source code.
    テスト戦略を変更した場合でも、ソースコードを変更する必要がない。 - Python
  • The testing control unit selects one testing voltage source from among a plurality of voltage sources, outputs a testing voltage-source selection commanding signal to an input/output pad, and outputs a target voltage to a single pad.
    試験制御装置は複数の電圧源からテスト電圧源を１つ選択し、テスト電圧源選択指示信号を入出力パッドに出力し、目標電圧を単一パッドに出力する。 - 特許庁
  • This circuit is applicable to the test mode only by a combination of a testing power source terminal 7 and a mode decision control circuit 12 without combining a power source switching circuit 5 and a power source control terminal 8 with the testing power source terminal 7.
    テスト用電源端子７に電源切り替え回路５と電源制御端子８を組み合わせずとも、テスト用電源端子７とモード判別制御回路１２の組み合わせだけでテストモードに対応する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE HAVING SOURCE SYNCHRONIZING SIGNAL OUTPUT
    源同期信号出力を有する電子デバイスを試験する方法および装置 - 特許庁
  • A programmable voltage generator source 13 controls a power source unit and supplies power to a device under testing (DUT) 1.
    プログラマブル電圧発生源１３は電源ユニット１４を制御してＤＵＴ１へ電源を供給する。 - 特許庁
  • A testing apparatus connects the output of an operational amplifier 18 to the gate of a testing object transistor 14, and allows the source of the testing object transistor 14 to negatively feed back to a negative input end of the operation amplifier 18.
    オペアンプ１８の出力を試験対象トランジスタ１４のゲートに接続し、試験対象トランジスタ１４のソースは、オペアンプ１８の負入力端に負帰還する。 - 特許庁
  • The functions of two terminals, i.e., the testing power source terminal 7 and power source control terminal 8 are integrated into the testing power source terminal 7 to simplify the circuit constitution and also improve the mounting density on a circuit board.
    テスト用電源端子７と電源制御端子８の２つの端子の機能をテスト用電源端子７に集約し、回路構成を簡単化するとともに、回路基板上の実装密度を向上させる。 - 特許庁
  • REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF
    赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁
  • To enable a power source short circuit testing to be performed, without having to provide a testing pad in a semiconductor device having power shutdown function.
    電源遮断機能を有する半導体装置において試験用パッドを設けることなく電源ショート試験の実施を可能にする。 - 特許庁
  • When we talk about unit testing, we mean testing that developers do to validate that individual units of an application's source code work properly.
    単体テストとは、アプリケーションのソースコードの各ユニットが適切に動作することを検証するために開発者が行うテストを意味します。 - NetBeans
  • To provide a pressure strength testing machine capable of performing a pressure strength test, even on a construction site where a driving source such as a power source or a pressure source cannot be secured.
    電源、圧力源等の駆動源を確保できない工事現場であっても、圧力強度試験を可能とする圧力強度試験機を提供すること。 - 特許庁
  • At the time of testing power source voltage variation, the sequence circuit 8 transmits a power source voltage change request signal to the power source voltage control circuit 10, and stops a test.
    電源電圧変動テスト時には、シーケンス回路８が電源電圧制御回路１０に電源電圧変更要求信号を伝達し、テストを中断する。 - 特許庁
  • The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.
    また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁
  • The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.
    また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a testing device for experimentally testing for a prescribed period operation of a power distribution system linking a distributed power source.
    分散型電源を連系した配電系統の運用を所定期間にわたり実験的に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • When the driver 31 is off, the electric potential of the common testing electrode 39 turns into a potential v1 of testing power source V1 to be input into a detector 43.
    ドライバ３１がオフではテスト用共通電極３９の電位は検査用電源Ｖ1 の電位ｖ1 となって検知器４３に入力される。 - 特許庁
  • A sound source board 3 for testing generates the musical tones based on the parameter (after encryption) after the processing.
    記憶媒体７には、ユーザによって加工され、次いで暗号化されたパラメータが記憶される。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor device testing device including a power source unit to supply a low noise voltage.
    低ノイズ電圧を供給する電源ユニットを含む半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The battery energy remaining amount testing unit 15a is connected to the output terminal of a battery 9 through a power source unit 10.
    電池残量測定部１５ａは電源部１０を介して電池９の出力端に接続される。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and method for testing code clones that efficiently tests code-cloned source codes.
    コードクローンされたソースコードのテストを効率的に行うコードクローンのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • In the case of testing the wafer, in addition to supplying a power to be executed via the pads 9 for the power source, the power is also supplied via the pads 17 for testing the wafer and the pads 19 for testing the wafer.
    ウェハテストの際には、電源用のボンディングパッド９を介して行なわれる電源供給の他、ウェハテスト用電源パッド１７及びウェハテスト用グランドパッド１９を介しても電源供給が行なわれる。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing an information processor and a power source connection/disconnection device for automatically testing the connection/disconnection of a power source.
    電源を接続／切断する試験を自動的に行うことができる情報処理装置の製造方法および電源接続切断装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an atmospheric-pressure chemical ionization source (an APCI ion source) to optimally ionizing a sample containing a test object with a moderately low polarity and a testing object having high polarity.
    適度に低い極性の被検体と高い極性の被検体とを含む試料を最適にイオン化する大気圧イオン化イオン源(APCI)を実現する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for highly reliably testing an electronic device having source synchronizing signal output.
    源同期信号出力を有する電子デバイスの高信頼性試験のための方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD
    補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁
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