「spectroscopy method」を含む例文一覧(213)
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分光素子、分光装置および分光方法 - 特許庁 - SPECTROSCOPY AND CALIBRATION METHOD FOR SPECTROSCOPY
分光装置および分光装置の校正方法 - 特許庁 - PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY ANALYTICAL METHOD
光電子分光分析法 - 特許庁 - SPECTROSCOPE AND SPECTROSCOPY METHOD
分光器及び分光方法 - 特許庁 - SPECTROSCOPIC DEVICE AND SPECTROSCOPY METHOD
分光装置、及び分光方法 - 特許庁 - SPECTROSCOPE AND METHOD OF SPECTROSCOPY
分光装置および分光方法 - 特許庁 - METHOD FOR NMR SPECTROSCOPY
ＮＭＲ分光法のための方法 - 特許庁 - NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY APPARATUS, NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEM, AND NON-LINEAR RAMAN SPECTROSCOPY METHOD
非線形ラマン分光装置、非線形ラマン分光システム及び非線形ラマン分光方法 - 特許庁 - X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY SYSTEM AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROSCOPY METHOD
蛍光Ｘ線分光システム及び蛍光Ｘ線分光方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR NONLINEAR RAMAN SPECTROSCOPY
非線形ラマン分光方法及び装置 - 特許庁 - TIME-RESOLVED SPECTROSCOPY SYSTEM, TIME-RESOLVED SPECTROSCOPY METHOD AND TERAHERTZ WAVE GENERATION SYSTEM
時間分解分光システム，時間分解分光方法及びテラヘルツ波発生システム - 特許庁 - THICKNESS MEASURING METHOD BY FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPY
フ—リエ分光法を用いた厚み測定方法 - 特許庁 - THICKNESS MEASURING METHOD USING FOURIER-TRANSFORM SPECTROSCOPY
フ—リエ分光法を用いた厚み測定方法 - 特許庁 - SPECTROSCOPY SYSTEM AND METHOD FOR SURFACE ANALYSIS
表面分析用分光装置と分析方法 - 特許庁 - EMISSION SPECTROSCOPY PROCESSOR AND PLASMA TREATMENT METHOD
発光分光処理装置及びプラズマ処理方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD OF REAL-TIME IR SPECTROSCOPY
実時間ＩＲ分光法の装置および方法 - 特許庁 - DEVICE FOR INTERFERENCE SPECTROSCOPY, METHOD USING INTERFERENCE SPECTROSCOPY, AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE
干渉分光法用の装置、干渉分光法を使用した方法、干渉測定装置 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING SENSITIVITY COEFFICIENT OF AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY
オージェ電子分光法の感度係数測定方法 - 特許庁 - QUANTITATIVE ANALYTICAL METHOD FOR SUBSTRATE BY RAMAN SPECTROSCOPY
ラマン分光法による基質の定量分析方法 - 特許庁 - DISCRIMINATING METHOD OF ABNORMAL MEAT BY NEAR-INFRARED SPECTROSCOPY
近赤外分光法による異常肉の判別方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SPECTROSCOPY OF BIOLOGICAL TISSUE
生物学的組織の分光法のための系および方法 - 特許庁 - CORRECTION METHOD OF CALIBRATION CURVE IN NEAR-INFRARED SPECTROSCOPY
近赤外分光法における検量線補正方法 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING SUBSTRATE FOR SURFACE-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY, AND SUBSTRATE FOR SURFACE-ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY
表面増強ラマン分光分析用基板の作成方法及び表面増強ラマン分光分析用基板 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MONOBASIC SUBSTITUTION BY FLUORESCENCE CORRELATION SPECTROSCOPY
蛍光相関分光法による１塩基置換検出方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING ORGANIC MATERIALS USING TERAHERTZ SPECTROSCOPY
テラヘルツ分光法を用いて有機物質を検出する方法 - 特許庁 - COMBINED ELECTRON SPECTROMETER AND ELECTRON SPECTROSCOPY METHOD
電子分光分析複合装置、及び電子分光分析方法 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD FOR SPECIMEN BY MOLECULAR ARRAY USING SPECTROSCOPY
分光法を利用した分子アレイによる検体の分析方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING CHEMICAL STATE BY AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY
オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置 - 特許庁 - TRACE COMPONENT ANALYSIS METHOD IN MATERIAL BY ARC EMISSION SPECTROSCOPY
アーク発光分光による材料中の微量成分分析法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR REMOTE UNMANNED RAMAN SPECTROSCOPY
遠隔の無人ラマン分光測定法のためのシステムおよび方法 - 特許庁 - SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY AND SEMICONDUCTOR WAFER ANALYSIS METHOD
二次イオン質量分析法及び半導体ウェハの分析方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD FOR PHOTOCATALYST BY TIME RESOLUTION INFRARED SPECTROSCOPY
時間分解赤外分光法による光触媒の評価方法 - 特許庁 - QUANTITATIVE MEASURING METHOD FOR DLC FILM BY USING RAMAN SPECTROSCOPY
ラマン分光法を用いたＤＬＣ膜の定量測定方法 - 特許庁 - TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATION METHOD AND SPECTROSCOPY/IMAGING MEASURING DEVICE
テラヘルツ電磁波発生方法及び分光・イメージング測定装置 - 特許庁 - STRESS EVALUATING METHOD USING RAMAN SPECTROSCOPY, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
ラマン分光を用いた応力評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Ｘ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光方法 - 特許庁 - FATIGUE LIFE PREDICTION METHOD BY ULTRASONIC SPECTROSCOPY TRANSPOSITION DENSITY MEASUREMENT
超音波スペクトロスコピー転位密度計測による疲労寿命予測法 - 特許庁 - STRESS MEASUREMENT APPARATUS BY LASER RAMAN SPECTROSCOPY, AND STRESS-MEASURING METHOD
レーザラマン分光法による応力測定装置、応力測定方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ION SCATTERING SPECTROSCOPY MEASUREMENT
イオン散乱分光測定方法及びイオン散乱分光測定装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Ｘ線光電子分光装置及びＸ線光電子分光方法 - 特許庁 - CAVITY RING-DOWN SPECTROSCOPY, AND SPECTROSCOPE USING THE METHOD
キャビティリングダウン分光方法及びその方法を用いた分光装置 - 特許庁 - SIMULTANEOUS MEASURING METHOD FOR TEMPERATURE AND PRESSURE BY X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY
Ｘ線吸収分光による温度・圧力同時測定方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Ｘ線光電子分光装置およびＸ線光電子分光法 - 特許庁 - IN-SITU BATTERY DIAGNOSIS METHOD USING ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE SPECTROSCOPY
電気化学インピーダンス分光法を使用するその場電池診断方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING GAS INSIDE AIR BUBBLES BY LASER RAMAN SPECTROSCOPY
レーザラマン分光による気泡内ガス分析装置及び分析法 - 特許庁 - ANALYZING METHOD AND DEVICE IN LASER INDUCED PLASMA SPECTROSCOPY
レーザー誘起プラズマ分光分析法における解析方法とその装置 - 特許庁 - METHOD AND TOOL FOR POSITIONING OF ION SOURCE FOR MASS SPECTROSCOPY
質量分析装置用イオン源のカラム位置決め方法および治具 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING CONCENTRATION OF GAS-HYDRATE BY SPECTROSCOPY
分光法によるガスハイドレートの濃度検出方法及びその装置 - 特許庁 - SIMULTANEOUS MEASUREMENT INSTRUMENT AND MEASURING METHOD FOR HEAT-CAPACITY SPECTROSCOPY AND PERMITTIVITY
熱容量スペクトロスコピーと誘電率の同時測定装置と測定方法 - 特許庁 - DETECTING METHOD FOR CONCENTRATION OF CONTENT IN SAMPLE BY USING LASER SPECTROSCOPY
レ—ザ分光測定を用いた試料の含有物濃度検出方法 - 特許庁
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