「system testing」を含む例文一覧(1356)
＜前へ 1 2 .... 15 16 17 18 19 20 21 22 23 .... 27 28 次へ＞- The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.
そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁 - SOFTWARE TESTING SYSTEM AND SOFTWARE TESTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE PROGRAM RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER RECORDED THEREON, AND PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER
ソフトウェア試験システム及びソフトウェア試験方法及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラムを記録した計算機で読み取り可能なプログラム記録媒体及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラム - 特許庁 - To provide a testing device using interactive communication, enabling simultaneous control of a plurality of testing devices from an interactive communication system in which the plurality of devices can participate, and an auxiliary device therefor.
双方向通信を利用した試験用装置とその補助装置に関し、特に複数参加可能な双方向通信システムから、複数の装置に対して同時制御可能とする試験用装置及びその補助装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a substrate for testing of a semiconductor integrated circuit capable of drawing out wirings to external connection terminals, even if the number of electrodes of a wafer level CSP in a state of a wafer is huge, and to provide a semiconductor integrated circuit testing system using the same.
ウェーハ状態のウェーハレベルＣＳＰの電極の数が膨大であっても外部接続端子への引き出しが可能な半導体集積回路試験用基板、およびそれを用いた半導体集積回路試験システムを提供する - 特許庁 - To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.
サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method for dust prevention and its system capable of grasping dust prevention performance of a vehicle by considering the effect of running wind.
走行風の影響を考慮して車両の防塵性能を把握することができる防塵試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing system equipped with a back annotation processing function for automatically reflecting the correction content of debugging on an original source file.
デバッグの修正内容を元のソースファイルに自動的に反映させることのできるバックアノテーション処理機能を備えた試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic beam-testing system for judging whether a signal without any potential change is high or low before a DC signal or timing to be observed.
ＤＣ信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもＨｉｇｈ／Ｌｏｗを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁 - A system for analyzing the cause of the fault includes a testing apparatus 20, a yield memory 14, a test result memory 15 and a process controller (CPU) 100.
不良原因解析システムは、テスト装置２０、歩留まり記憶装置１４、テスト結果記憶装置１５、処理制御装置（ＣＰＵ）１００を含む。 - 特許庁 - To provide an improved prober for an electronic apparatus testing system capable of adapting the prober to differential apparatus layouts and substrate sizes.
異なる装置レイアウト及び基板サイズに対して、プローバを適合させることができる電子装置テストシステム用の改良されたプローバを提供する。 - 特許庁 - To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.
商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a system for fault sensing prevention of an optical film and tape-shaped printed circuit board, and to provide its testing method.
光学を利用したフィルムおよびテープ形態の印刷回路基板の過検出防止のためのシステムおよびそれのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.
テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a remote operation system for testing a radio channel controlled by radio station controllers, while operating remotely the radio station controllers.
無線局制御装置を遠隔操作しながら、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する遠隔操作システムを提供する。 - 特許庁 - The device with the overvoltage protection function has further impedance 17, the impedance 17 is connected between the second connection part 8 and the ground when testing a high voltage system.
更なるインピーダンス１７を有し、このインピーダンス１７は、高電圧システムの試験時には第二の接続部８とアースとの間に接続される。 - 特許庁 - To obtain a PDS optical line supervisory system capable of specifying an abnormity point in a plurality of subscriber side transmission lines with one testing device.
一台の試験装置により複数の加入者側伝送路中の異常点の特定を可能とするＰＤＳ光線路監視システムを得る。 - 特許庁 - To provide a simulator for a semiconductor test device to allow maintenance for a soft ware used in a semiconductor testing system even when no actual equipment exists.
実機がなくとも半導体試験システムで使用されるソフトウェアの保守を可能とする半導体試験装置用シミュレータを提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.
受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁 - To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.
テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a system and method for metallic-testing a subscriber line that provides both voice and digital subscriber line services.
音声及びＤＳＬサービスを提供するメタル加入者回線のテストを行なうシステム及び方法を提供することが本発明の課題である。 - 特許庁 - If a changing content is permitted, a testing function part 34 confirms that a control system 22 operates properly after a change in the stored contents.
変更内容が許可されれば、記憶内容の変更後に、制御システム２２が正常に動作することをテスト機能部３４を使って確認する。 - 特許庁 - To provide an operation check system for integrated circuit boards which easily can make testing of two or more output elements and its disconnection, short circuiting, or other abnormalities.
複数の出力素子及びその断線、短絡、その他の異常の検査が容易な集積回路基板の動作チェック装置を提供する。 - 特許庁 - The system profile includes a set of compatible vendor software components and a selected TOS for testing a particular hardware test module version.
システムプロファイルは、１組の互換性のあるベンダソフトウェアコンポーネントと、特定のハードウェア試験モジュールバージョンを試験する選択されたＴＯＳとを含む。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.
単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING SYSTEM USING LINE SENSOR CCD CAMERA FOR CONVEYER INCORPORATED IN TEST HANDLER UNIT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT SUCH AS IC CHIP
ＩＣチップ等の電子部品を試験するテストハンドラ装置に組み込まれる搬送装置用のラインセンサーＣＣＤカメラを用いた画像処理システム - 特許庁 - To provide a semiconductor device failure analysis system that displays a fail bit map speedily so as to prevent increase in the cost of semiconductor device testing.
フェイルビットマップを速やかに表示し、半導体装置の検査コストの増大を防止できる半導体装置の不良解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a software test system testing target software in a short time at a low cost with improved reliability.
ソフトウェアを短時間にしかも安価でテストすることができ、そして、信頼性を向上させたソフトウェアテストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a microwave energy delivery and measurement system for use in testing microwave energy systems and for use in performing medical procedures.
マイクロ波エネルギーシステムを試験する際に使用し、医療手順を行う際に使用するマイクロ波エネルギー送達および測定システムを提供する。 - 特許庁 - The transport system includes a carrier holding a set of sample test devices and a drive subsystem for moving the carrier through the sample testing machine.
運搬システムは、一式の試験試料装置を保持する担体と、担体を試料試験機を通して移動させる駆動サブシステムとを備えている。 - 特許庁 - The system allows connecting the chips together and testing the collection as a whole by probing the test pads on the carrier.
システムは、キャリア上のテスト・パッドをプローブすることによってチップを一体に接続し、集合体を全体として試験することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a system of for appropriately confirming the recording state of data related to an environment test in environment testing equipment to recording paper.
環境試験装置における環境試験に関するデータの記録用紙への記録状況を適宜確認することができるシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.
本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a self-test controller which is useful for self-testing faults of various memories in which a manufacturer and a design system are different, and which is programmable.
メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁 - This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.
本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁 - To provide a system and a method for testing IC, which can efficiently prepare a program required for a test.
本発明の課題は、試験に必要なプログラムをより効率良く準備することが可能なＩＣ試験システム、及びＩＣ試験方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a testing device for accurately and efficiently achieving a test accompanied by the extension of the terminal of a monitoring control system.
監視制御システムの端末を増設する場合に、その増設に伴う試験を確実かつ高い効率で行なうことができる試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - To efficiently cool an objective component before a test, when testing the constitutional component related to a driving system of a vehicle executed in a stationary position.
定置状態で行われる車両の駆動系に関連する構成部品の試験に際し、その試験に先立って対象部品の冷却を効率的に行う。 - 特許庁 - This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.
本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a vibration testing system that applies two-axis vibration, where vibration of high-frequency region up to at least 1,000 Hz can be applied in one axis.
２軸の振動を与え、１軸は少なくとも１０００Ｈｚまでの高周波領域の振動を与えることができる振動試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test system that uses one measurement device at a comparatively low rate to generate a high rate burst traffic required for testing an ATM transmitter or the like.
比較的低速の１台の測定器を使用し、ＡＴＭ伝送装置等の試験に必要な高速バーストトラヒックを生成する試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a radio communication system capable of remarkably increasing test efficiency by enabling automatic testing of test items being specified not to be overlapped.
重複がないように規定された試験項目を自動試験で実施可能とし、試験効率を非常に高くすることが可能な無線通信システムを提供する。 - 特許庁 - To facilitate the generation of test specifications for testing the operations of a system to be tested and enhance the reliability of the test by reducing test leakage.
試験対象システムの動作を試験する試験仕様の生成を容易にするとともに、試験漏れを少なくして、試験の信頼性を向上する。 - 特許庁 - The first output voltage is obtained from the densitometer 222, in a state with the diagnostic system being not connected thereto, in order to carry out the diagnostic testing of the densitometer 222.
濃度計２２２の診断試験を実施するために、第１出力電圧が、診断システムが接続されていない状態の濃度計２２２から得られる。 - 特許庁 - To provide a performance counter monitoring plural events generated in a constituting element within a computer system in a monitoring period or a testing period.
監視期間または試験期間中にコンピュータ・システム内の構成要素中で発生する複数のイベントを監視する性能カウンタを提供すること。 - 特許庁 - To provide a verifying method capable of testing and verifying components of a safety system device such as a nuclear power plant with high standard reliability.
原子力プラント等の安全系装置の構成品を高効率かつ高水準の信頼性で試験・検証することができる検証方法を提供する。 - 特許庁 - Result data tested by a memory testing system 11 is collected by a data storage-forward-distribution machine 12, and then distributed to a plurality of distributed analyzing machines 13 (131 to 13n).
メモリテストシステム１１で試験された結果データはデータ集配・分配マシン１２により収集されたのち、複数の分散解析マシン１３に分配される。 - 特許庁 - To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.
追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for evaluating storage life of a product in a package, and to provide a system for accelerating penetration of testing gas inside the package.
パッケージ内の製品貯蔵寿命を評価するための方法、ならびにパッケージ内への試験気体の透過を加速させるための装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device reducing overhead time and reducing test time, by reducing the traffic of a command of a system bus.
システムバスのコマンドの通信量を軽減することでオーバーヘッド時間を短縮し、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a more efficient weld metal crack sensitivity evaluation testing method when a component-system welding wire which is difficult to be produced is developed.
製造が難しい成分系の溶接ワイヤを開発する際において、より効率のよい溶接金属の割れ感受性評価試験方法を提供する。 - 特許庁
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