「technology test」を含む例文一覧(119)

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  • Now, we are currently testing this technology in test tubes
    この技術は現在 まだ試験管や - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • MULTI-MODE OPTIMIZATION TECHNOLOGY IN TEST FORMATION
    テスト生成におけるマルチモード最適化技術 - 特許庁
  • To test the application of this technology in particular tissues
    特定の組織に対する この技術の適用可能性― - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • We are developing a technology which can withstand this test.
    私たちはこの試験に耐えられる技術を開発している。 - Weblio Email例文集
  • A test component is molded by using the test mold and by a routine rotary molding technology.
    次いで従来の回転成形技術を用いて、試験金型で試験部品を成形する。 - 特許庁
  • The new technology is applicable for a full-function test system, a low-cost test circuit, and an on-chip test circuit.
    この新規な技術は、フル機能のテストシステム、低コストのテスト回路、及び、オンチップテスト回路に適用可能である。 - 特許庁
  • To provide a technology for realizing an efficient wafer burn-in test.
    効率的なウェハバーンインテストを実現する技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide test data backup technology capable of utilizing the data of a test such as a coal combustion test and the like for a long period.
    石炭燃焼試験等の試験データを長期間利用することが可能な試験データバックアップ技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for automatically generating a test case in the software test of a Web application.
    ウェブ・アプリケーションのソフトウェアテストにおけるテストケースを自動的に生成する技術を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a technology advantageous for measurement of a test surface including an aspherical surface.
    非球面を含む被検面の計測に有利な技術を提供する。 - 特許庁
  • (xvii) Equipment used to test rocket motors using non-destructive examination technology
    十七　非破壊検査技術を用いてロケットモータを検査するための装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide technology capable of enhancing the reliability of an airtightness test and conducting the airtightness test without spending long time.
    気密試験の信頼性を高め且つ気密試験を時間をかけないで行うことができる技術を提供する。 - 特許庁
  • MEDICAL TECHNOLOGY EQUIPMENT, TEST SPECIMEN AND CHECK METHOD OF POSITIONING ACCURACY OF PATIENT TABLE
    医療技術機器、試験体、および患者テーブルの位置決め精度のチェック方法 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage device in which test technology and redundancy technology can be optimized in a high dimension.
    テスト技術とリダンダンシ技術を高い次元で最適化できる半導体記憶装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • To provide a technology with which a drag test can be performed easily and properly.
    引き摺り試験を簡易かつ適正に行うことができる技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for performing simulation of a BCI test in shorter time.
    ＢＣＩ試験のシミュレーションをより短時間に行えるようにする技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology of applying high voltage to a trench insulation isolation section in the breakdown voltage screening test of the trench insulation isolation section.
    トレンチ絶縁分離部の耐圧スクリーニング試験において、高電圧を印加する。 - 特許庁
  • To provide a technology for shortening generation time of a test pattern in ATPG.
    ＡＴＰＧにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide test circuit constitution technology for a semiconductor device which conducts a test of the semiconductor without using a tester (test device) on the market and reduces the necessary cost.
    市販のテスタ（テスト装置）を用いることなく半導体装置のテストを行なえ、所要コストが少なくて済む半導体装置のテスト回路構成技術を提供する。 - 特許庁
  • CONTROL SYSTEM AND TEST FOR MEDICAL TECHNOLOGY AND/OR METHOD OF OPERATION OF TREATMENT APPARATUS
    医療技術の制御システムおよび医療技術の検査および／または治療装置の操作方法 - 特許庁
  • To achieve a network access management technology that improves reliability and reduces a workload in design or test.
    信頼性が高く設計やテストの負担の少ないネットワークアクセス管理技術を実現する。 - 特許庁
  • To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.
    簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁
  • The Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology has released a report on an academic aptitude test that was held in January and February 2002.
    文部科学省が2002年１月と２月に行った学力テストに関する報告書を公表した。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • To provide a technology for surely executing the test of a semiconductor integrated circuit having a flip-chip structure.
    フリップチップ構造の半導体集積回路の試験を低コストで確実に実施する技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for enabling a test using a scan path compression circuit in response to a power limitation in an LSI tester and a power supply noise limitation in a test environment.
    ＬＳＩテスタの電力制限やテスト環境での電源ノイズ制限に応じて、スキャンパス圧縮回路を用いたテストを可能にする技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for automatically generating a test table of desired equipment even without creating, preparing the test table.
    所望の機器の試験テーブルを作成・用意しなくても、当該試験テーブルを自動的に生成することが可能な技術を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The Japan Agency for Marine-Earth Science and Technology recently announced a successful test of its new unmanned deep-sea research vehicle “ABISMO.”
    海洋研究開発機構は先日，新しい無人深海探査機｢アビスモ｣の試験に成功したと発表した。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • To provide a technology to reduce the occurrence of defective in a printed circuit board having a circuit pattern for a continuity test.
    導通テスト用の回路パターンを有するプリント基板において、不具合発生を低減する技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for performing an operation test where data Read and data Write of a memory chip are consecutive.
    メモリチップのデータＲｅａｄとデータＷｒｉｔｅとを連続させた動作テストする技術を提供する。 - 特許庁
  • J2ME MIDP 2.0/CLDC 1.1 standard support in NetBeans IDE 4.0 lets you write, test, and debug applications for Java technology-enabledmobile devices.
    NetBeans IDE 4.0 では J2ME MIDP 2.0/CLDC 1.1 規格をサポートしており、Java テクノロジ対応のモバイルデバイス用のアプリケーション作成、テスト、デバッグが可能です。 - NetBeans
  • To provide a technology with which testing to break off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage and a technology for easily generating cracks in the test piece in advance.
    打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術であって、供試体に予め設けるひび割れを容易に発生させることが可能な技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ion beam processing-observing technology in which, in a technology for observing a cross-section of an electronic component, a test piece is processed and an observation of the processed portion of the test piece can be made possible by using ion beam taken out of a same ion source.
    電子部品の断面を観察するための技術において、同一のイオン源から引き出したイオンビームを用いて、試料を加工し、試料の被加工部分の観察を可能にするイオンビーム加工・観察技術を提供する。 - 特許庁
  • The test pattern generator dynamically arranges a test signal to a line selected in advance for a VBI period in the video frame at a period of the frame by adopting a concealment technology.
    テスト・パターン・ジェネレータはＶＢＩ期間における事前選択されたラインに、ビデオ・フレームの時間周期でテスト信号を隠蔽技法を使用してそのフレームに動的に配置する。 - 特許庁
  • To provide technology for improving reliability of a product by efficiently performing a test by automatic generation/execution of test conditions obtained in combination of conditions of software and conditions of hardware to improve a covering rate of the test.
    ソフトウェアの条件、ハードウェアの条件を合わせたテスト条件の自動生成・実行により、効率的にテストを行い、テストの網羅率を向上させ、製品の信頼性を高めることができる技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for smoothly performing a test of a packet network used in relation to a network technology.
    ネットワーク技術と関連して使用されるパケットネットワークの試験を円滑に実行する方法及び装置を提供する - 特許庁
  • To provide a technology that can more accurately predict an optical characteristic of a test patch that is printed by a digital printer.
    デジタルプリンタによりプリントされるテストパッチの光学的特性をより正確に予測するための技術を提供する。 - 特許庁
  • The test runs are conducted in order to collect data to help improve train technology and safety.
    走行試験は，列車の技術と安全性の向上の手助けになるようデータを収集するために行われている。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • An exemplary embodiment of the disclosed technology can be used, e.g. to test one or multiple memories located on an integrated circuit during the manufacturing test.
    開示された技術の例示的実施形態は、例えば、製造時テストにおいて、集積回路上に配置された１つ又は複数のメモリをテストするために用いられることが可能である。 - 特許庁
  • To provide a testing technology obtaining a more accurate test result by stabilizing a load system, simplifying structure and subdividing a testing interval.
    負荷系の安定化を図り、構造を簡素化して試験間隔を細分し、より正確な試験結果を得る試験技術の提供。 - 特許庁
  • Use the Mobility Pack to write, test, and debug applications for Java Micro Edition platform(Java ME platform) technology-enabled mobile devices.
    Mobility Pack を使用すると、Java[tm] Micro Edition プラットフォーム (Java[tm] ME プラットフォーム) テクノロジ対応のモバイルデバイス用のアプリケーションを作成、テスト、およびデバッグできます。 - NetBeans
  • To provide a deterioration test equipment for facilitating technology development for preventing non-uniform charging by accelerating deterioration of a corona charger.
    コロナ帯電器の劣化を加速させることで、帯電ムラを抑制する技術開発を容易にする劣化試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology by which the control of a shooting mechanism when carrying out the test of a pachinko game machine can be carried out with no man.
    パチンコ遊技機の試験を行う際の発射機構の制御を、無人で行えるようにするための技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology capable of achieving probe inspection even to a chip having a narrow-pitched test pad, by using a prober having a probe formed by a manufacturing technology of a semiconductor integrated circuit device.
    半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用い、テストパッドが狭ピッチ化したチップに対してもプローブ検査が実現できる技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide technology obtaining characteristic information of a photodiode cell constituting a CMOS (complementary metal oxide semiconductor) image sensor in a TEG (test element group) cell.
    ＣＭＯＳイメージセンサを構成するフォトダイオードセルの特性情報をＴＥＧセルにおいて得ることのできる技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for decreasing the number of channels for communication with an external device and performing an accurate and speedy test by a simplified circuit constitution.
    対外部装置通信用チャンネル数低減と正確・迅速な試験を、簡略化回路構成で可能とする技術の提供。 - 特許庁
  • To provide a technology for holding confidentiality of a printed document, even when test printing is performed according to a secure job.
    セキュアジョブに基づいて試し印刷を行う場合であっても、印刷される文章の機密性を保持する為の技術を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.
    集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁
  • Classes includes a procedure class, a test class, a measurement class, a datapoint class, a parameter class, a DUT (data use technology) class, a test system class, a specification class, a run procedure class, a result class, a plug-in class, an exec class, as well as other classes.
    クラスは、プロシージャクラス、試験クラス、測定クラス、データポイントクラス、パラメータクラス、ＤＵＴクラス、テストシステムクラス、仕様クラス、起動プロシージャクラス、結果クラス、プラグインクラス、ｅｘｅｃクラス、およびその他のクラスを含む。 - 特許庁
  • Endo Yasukazu, the director of the maglev test center, said to the press, "We have confidence in our technology. Now all we need to do is conduct test runs to confirm the train is safe to operate."
    リニア実験センターの遠藤泰(やす)和(かず)所長は「技術面では自信を持っている。あとはリニアが安全に動くことを確認するため，走行試験を行うだけだ。」と報道陣に話した。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • JAXA plans to test the latest technology quickly and cheaply in space so that future high-performance satellites can be developed at a reduced cost.
    将来の高性能衛星を低いコストで開発できるよう，宇宙機構は最新技術を宇宙で早く安く試験する計画である。 - 浜島書店 Catch a Wave
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