「temperature Test」を含む例文一覧(944)
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温度試験装置 - 特許庁 - TEMPERATURE TEST SYSTEM
温度試験装置 - 特許庁 - TEMPERATURE TEST DEVICE, AND TEMPERATURE TEST METHOD
温度試験装置、温度試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE CYCLE TEST DEVICE AND TEMPERATURE CYCLE TEST METHOD
温度サイクル試験装置及び温度サイクル試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE TEST METHOD AND TEMPERATURE TEST DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT
電子部品の温度試験方法及び温度試験装置 - 特許庁 - PROBE CARD FOR HIGH TEMPERATURE TEST AND TEST EQUIPMENT
高温テスト用プローブカード及びテスト装置 - 特許庁 - TEMPERATURE TESTER AND TEMPERATURE TEST METHOD
温度試験装置及び温度試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE CONTROL DEVICE FOR LOW-TEMPERATURE TEST OF IC
ＩＣ低温テストの温度制御装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE FOR TEMPERATURE TEST
温度試験用半導体装置 - 特許庁 - AUTOMATIC TEMPERATURE IMPACT TEST SYSTEM
自動温度衝撃試験システム - 特許庁 - WAFER AND ITS TEMPERATURE TEST METHOD
ウエハ及びその温度試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE MEASURING DEVICE OF LEAKAGE TEST DEVICE AND LEAKAGE TEST DEVICE
洩れ検査装置の温度測定装置・洩れ検査装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST TEMPERATURE STABLY CONTROL METHOD
半導体試験システムおよび試験温度安定制御方法 - 特許庁 - TEST PROCEDURE FOR TEMPERATURE RISE OF TRANSFORMER
変圧器の温度上昇試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE TEST DEVICE AND TEMPERATURE SETTING METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT
電子機器の温度試験装置および温度設定方法 - 特許庁 - To perform a high-temperature compression test of a test piece by heating two surfaces of the test piece to different temperatures.
供試体の２面を異なる温度に加熱して試験できるようにする。 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING TEMPERATURE OF OIL FOR ENGINE TEST
エンジン試験用オイル温度調整装置 - 特許庁 - CONNECTION MECHANISM BETWEEN LOW TEMPERATURE HANDLER AND TEST HEAD
低温ハンドラとテストヘッドの接続機構 - 特許庁 - LOW TEMPERATURE TANK AND WATER FILLING TEST METHOD THEREOF
低温タンクおよびその水張り試験方法 - 特許庁 - NONCONTACT TEMPERATURE SENSOR FOR WEATHERING TEST SYSTEM
耐候性試験装置用の非接触温度センサ - 特許庁 - Let's check your temperature and have a blood test.
体温を測って、血液検査をしましょう。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文 - Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed.
バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。 - 特許庁 - TEMPERATURE AND HUMIDITY CONTROLLER AND ENVIRONMENT TEST DEVICE
調温調湿装置および環境試験装置 - 特許庁 - LOW TEMPERATURE TEST DEVICE PROVIDED WITH PROBE AND PROBER
プローバ及び該プローバを備えた低温試験装置 - 特許庁 - TEMPERATURE CONTROLLING METHOD FOR CHARACTERISTIC TEST ON IC
ＩＣの特性試験のための温度制御方式 - 特許庁 - The temperature test device 1 has the test bath 3 with the opening 10.
温度試験装置１は、開口１０を有する試験槽３を備えている。 - 特許庁 - HOW TO CONTROL TEMPERATURE AND HUMIDITY IN TEST CHAMBER OF WEATHERING TEST EQUIPMENT
耐候性試験装置の試験チャンバ内の温度及び湿度を制御する方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.
温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To properly perform quality discrimination of a semiconductor device such that a test is performed in order of high temperature test and room temperature test.
高温試験、常温試験の順に試験が行われる半導体装置の品質判別を適正に行うことができるようにする。 - 特許庁 - CONSTANT TEMPERATURE APPARATUS FOR TEST OF DEVICE WITH HEAT GENERATING PROPERTY
発熱性を有する機器の試験用恒温装置 - 特許庁 - TEMPERATURE/HUMIDITY ADJUSTING DEVICE AND METHOD FOR ENVIRONMENTAL TEST
温度・湿度調製装置及び環境試験方法 - 特許庁 - A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G.
高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。 - 特許庁 - CONSTANT TEMPERATURE TEST METHOD, AND TEMPERATURE PROTECTIVE CONTAINER FOR THERMOSTATIC CHAMBER USED FOR THE SAME
恒温試験方法およびそれに用いる恒温室用温度保護容器 - 特許庁 - While temperature is being raised, high-temperature overheated steam is supplied from a high temperature tank 40 to a test chamber 12.
昇温時は、高温槽４０から高温の過熱蒸気を試験室１２に供給する。 - 特許庁 - TEMPERATURE TEST CONTROL SYSTEM FOR THERMAL SHOCK TESTING APPARATUS
冷熱衝撃試験装置の温度試験制御方式 - 特許庁 - METHOD FOR FITTING THERMOCOUPLE TO HIGH-TEMPERATURE MATERAL TEST PIECE
高温材料試験片への熱電対取付け方法 - 特許庁 - (c) Acoustic vibration test machines in which the laboratory temperature exceeds 1,000 degrees centigrade
ハ 試験室の温度が一、〇〇〇度を超えるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム - METHOD AND APPARATUS FOR TEST OF TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT
電子部品の温度特性試験方法および装置 - 特許庁 - To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment.
本発明は、電子機器の試験対象のモジュール近傍の雰囲気のみを昇温して試験を行う温度試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical member which clears various environment tests such as a test on adhesive force, a durability test, a high-temperature test, a cycle temperature test and a humidity test without reducing transmittance, and to provide its manufacture method.
透過率を低減させず、密着力、耐久性試験、高温試験、サイクル温度試験、湿度試験等の種々の環境試験をクリアする光学部材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thereafter, a low-temperature medium is supplied from a low temperature tank 60 to the test chamber 12.
その後、低温槽６０から低温媒体を試験室１２に供給する。 - 特許庁 - Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.
次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁 - To provide a temperature test system for an electronic apparatus by which a temperature test corresponding to each apparatus to be tested is executed regarding the temperature test of the electronic apparatus, and by which a temperature is tested and controlled by type and by apparatus.
電子機器の温度試験に関し、個別の被試験装置に対応する温度試験を実行して機種別、号機別に温度試験管理を実現する電子機器の温度試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.
効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁 - While the temperature is being lowered, medium-temperature overheated steam is first supplied from a medium temperature tank 50 to the test chamber 12.
降温時は、まず中温槽５０から中温の過熱蒸気を試験室１２に供給する。 - 特許庁 - Based on the measuring results with the first temperature sensor 11 and the second temperature sensor 12, the temperature of a test liquid in the test vessel 5 is calculated.
第１温度センサ１１及び第２温度センサ１２による測定結果に基づいて、試験容器５内の試験液の温度を算出する。 - 特許庁 - By independently heating the upper and lower press plates, the high-temperature compression test of the test piece TP can be performed in a state that a temperature difference is provided between the upper and under surfaces of the test piece TP.
このように上下圧盤を独立に加熱することで、供試体ＴＰの上下面に温度差を持たせての高温圧縮試験が可能となる。 - 特許庁 - Then the temperature and humidity of a test room and the temperature of the coil to be inspected are measured.
次に，試験室内の温度・湿度，および被検査コイルの温度を測定する。 - 特許庁 - To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range.
試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。 - 特許庁 - The temperature at an outer peripheral surface of a test vessel 5 is measured with a first temperature sensor 11.
第１温度センサ１１により試験容器５の外周面の温度を測定する。 - 特許庁
- 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
